测试设备、测试载板及测试系统技术方案

本实用新型专利技术的实施例提出一种测试设备、测试载板及测试系统。该测试设备包括：第一输入输出端口，配置为输出第一测试信号并接收第三反馈信号，其中所述第一测试信号用于生成第二测试信号和第三测试信号，所述第三反馈信号根据第一反馈信号和第二反馈信号生成；判断逻辑电路，配置为根据所述第三反馈信号判断第一待测芯片和第二待测芯片是否处于正常工作状态。通过本实用新型专利技术提供的技术方案，可以提高测试设备同时测量的待测芯片的数量。

Test equipment, test board and test system

The embodiment of the utility model provides a test device, a test carrier and a test system. The test device includes a first input and output port configured to output a first test signal and receive a third feedback signal, wherein the first test signal is used to generate a second test signal and a third test signal, the third feedback signal is generated from the first feedback signal and the second feedback signal, and a judgment logic circuit configured to judge the first according to the third feedback signal. Whether the chip to be tested and the second chip to be tested are in normal working state. Through the technical scheme provided by the utility model, the number of chips to be measured at the same time by the testing equipment can be increased.

【技术实现步骤摘要】
测试设备、测试载板及测试系统
本技术属于测试
，具体而言，涉及一种测试设备、测试载板及测试系统。
技术介绍
现有技术中，各种芯片例如DRAM(DynamicRandomAccessMemory，即动态随机存取存储器)对性能的要求极高，为了保证在应用过程不出现差错，需要对出厂的芯片性能进行测试。由于现有的测试设备(Tester)的测试端口数量有限，为了能够加快芯片的测试速度，提高芯片的产能，就需要增加测试设备的数量，但这样相应的会增加生产成本。需要说明的是，在上述
技术介绍
部分技术的信息仅用于加强对本技术的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
根据本技术的一个方面，提供一种测试设备，包括：第一输入输出端口，配置为输出第一测试信号并接收第三反馈信号，其中所述第一测试信号用于生成第二测试信号和第三测试信号，所述第三反馈信号根据第一反馈信号和第一反馈信号生成；判断逻辑电路，配置为根据所述第三反馈信号判断第一待测芯片和第二待测芯片是否处于正常工作状态。在本技术的一种示例性实施例中，所述第一反馈信号由所述第一待测芯片响应于所述第二测试信号生成，所述第二反馈信号由所述第二待测芯片响应于所述第三测试信号生成。在本技术的一种示例性实施例中，所述判断逻辑电路还配置为：若所述第三反馈信号小于第一阈值或者大于第二阈值，则判定所述第一待测芯片和所述第二待测芯片处于正常工作状态；若所述第三反馈信号大于等于所述第一阈值且小于等于所述第二阈值，则判定所述第一待测芯片或所述第二待测芯片处于非正常工作状态。在本技术的一种示例性实施例中，所述判断逻辑电路还配置为：根据所述第三反馈信号获得第四反馈信号；若所述第四反馈信号小于第三阈值或者大于第四阈值，则判定所述第一待测芯片和所述第二待测芯片处于正常工作状态；若所述第四反馈信号大于等于所述第三阈值且小于等于所述第四阈值，则判定所述第一待测芯片或所述第二待测芯片处于非正常工作状态。根据本技术的一个方面，提供一种测试载板，包括：第一通道，配置为接收第一测试信号和发送第三反馈信号；第二通道，配置为发送第二测试信号并接收第一反馈信号；第三通道，配置为发送第三测试信号并接收第二反馈信号；第一信号处理电路，所述第一通道、所述第二通道和所述第三通道均电连接至所述第一信号处理电路，所述第一信号处理电路配置为根据所述第一测试信号生成所述第二测试信号和所述第三测试信号，并根据所述第一反馈信号和所述第二反馈信号生成所述第三反馈信号。在本技术的一种示例性实施例中，所述第二测试信号和所述第三测试信号的频率和相位均相同。在本技术的一种示例性实施例中，所述第二测试信号和所述第三测试信号的频率、幅度和相位均相同。在本技术的一种示例性实施例中，所述第一信号处理电路还配置为：分别复用所述第一测试信号生成所述第二测试信号和所述第三测试信号。在本技术的一种示例性实施例中，所述第一信号处理电路还配置为：合并所述第一反馈信号和所述第二反馈信号获得所述第三反馈信号。在本技术的一种示例性实施例中，所述第一信号处理电路还配置为：对所述第一反馈信号和所述第二反馈信号求平均获得所述第三反馈信号。根据本技术的一个方面，提供一种测试系统，包括：如上述任一实施例所述的测试设备；如上述任一实施例所述的测试载板；以及测试插槽，所述测试设备和所述测试插槽均电连接至所述测试载板。在本技术的一种示例性实施例中，所述测试插槽用于置放待测芯片，且所述待测芯片的引脚电连接至所述测试插槽的引脚。本技术一些实施例中提供的测试设备、测试载板及测试系统，通过测试设备的同一输入输出端口提供的第一测试信号，经过测试载板生成第二测试信号和第三测试信号，并将该第二测试信号和该第三测试信号分别提供给第一待测芯片和第二待测芯片，该第一待测芯片和该第二待测芯片分别响应于该第二测试信号和该第三测试信号生成第一反馈信号和第二反馈信号，再经过所述测试载板将该第一反馈信号和该第二反馈信号生成第三反馈信号，并将该第三反馈信号传入该测试设备的该同一输入输出端口，从而可以根据该第三反馈信号判断该第一待测芯片和该第二待测芯片是否处于正常工作状态，实现了测试设备的同一输入输出端口的复用，提高了测试设备同时测量的待测芯片的数量，提高了芯片的产能，并降低了生产成本。附图说明通过结合附图考虑以下对本技术的优选实施方式的详细说明，本技术的各种目标、特征和优点将变得更加显而易见。附图仅为本技术的示范性图解，并非一定是按比例绘制。在附图中，同样的附图标记始终表示相同或类似的部件。其中：图1是相关技术中一种测试系统的结构示意图；图2是示出根据本技术实施例的一种测试方法的流程图；图3是基于图2所示测试方法的步骤S230的一种示例性实施例的流程图；图4是基于图2所示测试方法的步骤S230的另一种示例性实施例的流程图；图5是示出根据本技术实施例的另一种测试方法的流程图；图6是示出根据本技术实施例的一种测试设备的框图；图7是示出根据本技术实施例的一种测试载板的框图；图8是示出根据本技术实施例的一种测试系统的框图；图9是示出根据本技术实施例的一种测试系统的结构示意图；图10是基于图1所示测试系统的测试信号的输入时序图；图11是基于图9所示测试系统的测试信号的输入时序图；图12是基于图1所示测试系统的反馈信号的输出时序图；图13是基于图9所示测试系统的反馈信号的输出时序图。具体实施方式体现本技术特征与优点的典型实施例将在以下的说明中详细叙述。应理解的是本技术能够在不同的实施例上具有各种的变化，其皆不脱离本技术的范围，且其中的说明及附图在本质上是作说明之用，而非用以限制本技术。在对本技术的不同示例性实施方式的下面描述中，参照附图进行，所述附图形成本技术的一部分，并且其中以示例方式显示了可实现本技术的多个方面的不同示例性结构、系统和步骤。应理解，可以使用部件、结构、示例性装置、系统和步骤的其他特定方案，并且可在不偏离本技术范围的情况下进行结构和功能性修改。图1是相关技术中一种测试系统的结构示意图。如图1所示，相关技术中，测试系统可以包括测试设备(Tester)110、测试载板(LoadBoard)120以及测试插槽(Socket)130。这里假设测试设备110具有两个输入(input)输出(output)端口，即图1中的IO1和IO2，待测芯片设置于测试插槽130中，通过将待测芯片的待测引脚与相应的测试插槽130中的引脚电连接，待测芯片即可通过测试插槽130的相应引脚接收测试设备110提供的测试信号，这里假设每一待测芯片(图中未示出)具有一个待测引脚，则如图1所示，一台测试设备110在同一时间如果希望能够测试两片待测芯片，则需要使用两个输入输出端口。反之，若一台测试设备110只有一个输入输出端口，则在同一时间只能测试一片待测芯片。需要说明的是，上述举例说明中测试设备的输入输出端口以及待测芯片的待测引脚数量并不一定与真实测试情况相符，待测芯片的待测引脚和测试设备的输入输出端口数量可以根据实际情况确定。图2是示出根据本技术实施例的一种测试方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试设备，其特征在于，包括：第一输入输出端口，配置为输出第一测试信号并接收第三反馈信号，其中所述第一测试信号用于生成第二测试信号和第三测试信号，所述第三反馈信号根据第一反馈信号和第二反馈信号生成；判断逻辑电路，配置为根据所述第三反馈信号判断第一待测芯片和第二待测芯片是否处于正常工作状态。

【技术特征摘要】
1.一种测试设备，其特征在于，包括：第一输入输出端口，配置为输出第一测试信号并接收第三反馈信号，其中所述第一测试信号用于生成第二测试信号和第三测试信号，所述第三反馈信号根据第一反馈信号和第二反馈信号生成；判断逻辑电路，配置为根据所述第三反馈信号判断第一待测芯片和第二待测芯片是否处于正常工作状态。2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一反馈信号由所述第一待测芯片响应于所述第二测试信号生成，所述第二反馈信号由所述第二待测芯片响应于所述第三测试信号生成。3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述判断逻辑电路还配置为：若所述第三反馈信号小于第一阈值或者大于第二阈值，则判定所述第一待测芯片和所述第二待测芯片处于正常工作状态；若所述第三反馈信号大于等于所述第一阈值且小于等于所述第二阈值，则判定所述第一待测芯片或所述第二待测芯片处于非正常工作状态。4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述判断逻辑电路还配置为：根据所述第三反馈信号获得第四反馈信号；若所述第四反馈信号小于第三阈值或者大于第四阈值，则判定所述第一待测芯片和所述第二待测芯片处于正常工作状态；若所述第四反馈信号大于等于所述第三阈值且小于等于所述第四阈值，则判定所述第一待测芯片或所述第二待测芯片处于非正常工作状态。5.一种测试载板，其特征在于，包括：第一通道，配置为接收第一测试信号和发送第三反馈信号；第二通道，配置为发送第二测试信号并接收第...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽,34