一种PTC发热芯性能检测装置制造方法及图纸

技术编号:20928047 阅读:35 留言:0更新日期:2019-04-20 12:16
本实用新型专利技术涉及PTC发热芯片技术领域,尤其是一种PTC发热芯性能检测装置,包括盒体,所述盒体内部中端水平焊接有固定板,所述盒体内部两侧上端中部均开设有竖槽,所述竖槽内滑动设置有滑柱,两个所述滑柱之间连接有板体,所述板体下端均匀安装有多个温度测试针,所述固定板上端两侧与板体下端两侧之间连接有弹簧,所述盒体内部下端通过滑动机构滑动设置有移动架,所述移动架内部安装有多个U型盒,所述U型盒内部卡设有PTC芯片本体,所述U型盒一侧上端开设有贯穿U型盒的圆孔,所述盒体一侧下端开设有方形孔,所述盒体一侧上端安装有LED显示器。本实用新型专利技术结构稳定,能够一次性对多个PTC发热芯片进行温度检测,且操作便捷。

A Performance Testing Device for PTC Heating Core

The utility model relates to the technical field of PTC heating chips, in particular to a performance detection device for PTC heating core, which comprises a box body. The middle end of the box body is horizontally welded with a fixed plate. The upper and middle ends of both sides of the box body are provided with vertical grooves, and sliding columns are arranged in the vertical groove. A plate body is connected between the two sliding columns. The lower end of the plate body is evenly installed with multiple temperatures. A test needle is connected between the two sides of the upper end of the fixing plate and the two sides of the lower end of the plate body. The lower end of the box body slides through a sliding mechanism and is provided with a movable frame. A plurality of U-shaped boxes are installed inside the movable frame. The inner card of the U-shaped box is provided with a PTC chip body. The upper end of the U-shaped box is provided with a circular hole through the U-shaped box, and the lower end of the box body is provided with a square hole. The upper end of one side of the box body is provided with an LED display. The utility model has stable structure, can detect temperature of multiple PTC heating chips at one time, and is convenient to operate.

【技术实现步骤摘要】
一种PTC发热芯性能检测装置
本技术涉及PTC发热芯片
,尤其涉及一种PTC发热芯性能检测装置。
技术介绍
PTC产品的核心是PTC芯片,所以PTC芯片的性能直接决定了PTC产品性能,为此芯片的测试便是重中之重。现有技术中的PTC芯片的表面温度的测试设备,结构复杂,无法同时对多个元件进行检测,且操作繁琐,因此不利于推广。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种PTC发热芯性能检测装置。为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:设计一种PTC发热芯性能检测装置,包括盒体,且盒体上端为开口设置,所述盒体内部中端水平焊接有固定板,所述固定板上均匀安装有多个贯穿固定板的圆管,所述盒体内部两侧上端中部均开设有竖槽,所述竖槽内滑动设置有滑柱,且滑柱与竖槽间隙配合,两个所述滑柱之间连接有板体,且板体位于固定板的上方,所述板体下端均匀安装有多个温度测试针,且温度测试针的位置与圆管的位置一一对应,所述固定板上端两侧与板体下端两侧之间连接有弹簧,所述盒体内部下端通过滑动机构滑动设置有移动架,且移动架上端为开口设置,所述移动架内部安装有多个U型盒,多个所述U型盒位于圆管的下方,且多个圆管与多个U型盒的位置相对应,所述U型盒内部卡设有PTC芯片本体,所述U型盒一侧上端开设有贯穿U型盒的圆孔,所述盒体一侧下端开设有方形孔,且方形孔的高度大于移动架的高度,所述盒体一侧上端安装有LED显示器,且LED显示器位于方形孔的上方。优选的,所述滑动机构包括水平开设在盒体内侧下端中部的横槽以及固定安装在移动架下端两侧的滑块,所述横槽一端与方形孔相连通,且滑块滑动设置在横槽内。优选的,所述移动架一侧中部固定安装有把手,且把手位于靠近方形孔的一端。优选的,所述U型盒内表面粘接有绝缘层,所述绝缘层具体为软体硅胶层,所述圆孔贯穿U型盒以及绝缘层,且绝缘层内表面与PTC芯片本体相接触。本技术提出的一种PTC发热芯性能检测装置,有益效果在于:该PTC发热芯性能检测装置结构稳定,便于操作,有利于提高检测的效率,且该装置能够同时对多个芯片进行表面温度的测试,误差小,对检测零件也有很好的保护效果,因此有利于推广。附图说明图1为本技术提出的一种PTC发热芯性能检测装置的结构正视图。图2为本技术提出的一种PTC发热芯性能检测装置的结构俯视图。图中:竖槽1、弹簧2、固定板3、温度测试针4、圆管5、盒体6、移动架7、圆孔8、绝缘层9、PTC芯片本体10、U型盒11、横槽12、滑块13、把手14、LED显示器15、滑柱16、板体17、方形孔18。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。参照图1-2,一种PTC发热芯性能检测装置,包括盒体6,且盒体6上端为开口设置,盒体6内部中端水平焊接有固定板3,固定板3上均匀安装有多个贯穿固定板3的圆管5,板体17下端均匀安装有多个温度测试针4,且温度测试针4的位置与圆管5的位置一一对应,固定板3上端两侧与板体17下端两侧之间连接有弹簧2,通过按压板体17,使得板体17下端的温度测试针4下端穿过圆管5与PTC芯片本体10的上表面相接触,从而对PTC芯片本体10的表面温度进行测量,温度测试针4与LED显示器15之间为电性连接,温度测试针4将测得的温度以电信号的方式传输到LED显示器15上,且每个温度测试针4的数据均会呈现在LED显示器15上,提高了测量的准确性。盒体6内部两侧上端中部均开设有竖槽1,竖槽1内滑动设置有滑柱16,且滑柱16与竖槽1间隙配合,两个滑柱16之间连接有板体17,且板体17位于固定板3的上方,通过竖槽1内滑动设置有滑柱16,能够使得板体17能够进行上下移动,从而达到调节温度测试针4高度的目的。盒体6内部下端通过滑动机构滑动设置有移动架7,且移动架7上端为开口设置,滑动机构包括水平开设在盒体6内侧下端中部的横槽12以及固定安装在移动架7下端两侧的滑块13,横槽12一端与方形孔18相连通,且滑块13滑动设置在横槽12内,通过该设计,能够使得移动架7能够在盒体6内被移出,从而使得多个PTC芯片本体10在放置以及拆卸时更加便捷,提高了测试的速度,从而有利于提高工作效率。移动架7内部安装有多个U型盒11,多个U型盒11位于圆管5的下方,且多个圆管5与多个U型盒11的位置相对应,移动架7一侧中部固定安装有把手14,且把手14位于靠近方形孔18的一端,把手14的设计,能够使得移动架7在移动时,更加便捷。U型盒11内部卡设有PTC芯片本体10,U型盒11一侧上端开设有贯穿U型盒11的圆孔8,盒体6一侧下端开设有方形孔18,且方形孔18的高度大于移动架7的高度,盒体6一侧上端安装有LED显示器15,且LED显示器15位于方形孔18的上方,PTC芯片本体10通过导线与供电装置相连接,从而进行加热,圆孔8的设计便于导线与PTC芯片本体10相连接,从而避免测量时出现误差较大的情况。U型盒11内表面粘接有绝缘层9,绝缘层9具体为软体硅胶层,圆孔8贯穿U型盒11以及绝缘层9,且绝缘层9内表面与PTC芯片本体10相接触,绝缘层9具有绝缘性的同时由于软体硅胶自身具有的收缩性,能够将PTC芯片本体10稳定的卡设在U型盒11,提高了装置的稳定性。以上所述,仅为本技术较佳的具体实施方式,但本技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内,根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种PTC发热芯性能检测装置,包括盒体(6),且盒体(6)上端为开口设置,所述盒体(6)内部中端水平焊接有固定板(3),其特征在于,所述固定板(3)上均匀安装有多个贯穿固定板(3)的圆管(5),所述盒体(6)内部两侧上端中部均开设有竖槽(1),所述竖槽(1)内滑动设置有滑柱(16),且滑柱(16)与竖槽(1)间隙配合,两个所述滑柱(16)之间连接有板体(17),且板体(17)位于固定板(3)的上方,所述板体(17)下端均匀安装有多个温度测试针(4),且温度测试针(4)的位置与圆管(5)的位置一一对应,所述固定板(3)上端两侧与板体(17)下端两侧之间连接有弹簧(2),所述盒体(6)内部下端通过滑动机构滑动设置有移动架(7),且移动架(7)上端为开口设置,所述移动架(7)内部安装有多个U型盒(11),多个所述U型盒(11)位于圆管(5)的下方,且多个圆管(5)与多个U型盒(11)的位置相对应,所述U型盒(11)内部卡设有PTC芯片本体(10),所述U型盒(11)一侧上端开设有贯穿U型盒(11)的圆孔(8),所述盒体(6)一侧下端开设有方形孔(18),且方形孔(18)的高度大于移动架(7)的高度,所述盒体(6)一侧上端安装有LED显示器(15),且LED显示器(15)位于方形孔(18)的上方。...

【技术特征摘要】
1.一种PTC发热芯性能检测装置,包括盒体(6),且盒体(6)上端为开口设置,所述盒体(6)内部中端水平焊接有固定板(3),其特征在于,所述固定板(3)上均匀安装有多个贯穿固定板(3)的圆管(5),所述盒体(6)内部两侧上端中部均开设有竖槽(1),所述竖槽(1)内滑动设置有滑柱(16),且滑柱(16)与竖槽(1)间隙配合,两个所述滑柱(16)之间连接有板体(17),且板体(17)位于固定板(3)的上方,所述板体(17)下端均匀安装有多个温度测试针(4),且温度测试针(4)的位置与圆管(5)的位置一一对应,所述固定板(3)上端两侧与板体(17)下端两侧之间连接有弹簧(2),所述盒体(6)内部下端通过滑动机构滑动设置有移动架(7),且移动架(7)上端为开口设置,所述移动架(7)内部安装有多个U型盒(11),多个所述U型盒(11)位于圆管(5)的下方,且多个圆管(5)与多个U型盒(11)的位置相对应,所述U型盒(11)内部卡设有PTC芯片本体(10),所述U型盒(11)一侧上端开设...

【专利技术属性】
技术研发人员:张正华张仔华张正瑞
申请(专利权)人:襄阳源创工业控制有限公司
类型:新型
国别省市:湖北,42

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