The invention provides a method for processing the processed body. Provides a technology that can flexibly set the execution sequence and timing of the execution process when multiple processes are executed serially. The method of processing the processed body according to an embodiment includes the main process and the first-to-second M sub-processes and carries out several processes in series, indicating that the index value of one execution of the main process is accumulated each time the main process is executed, the main process is executed many times, the first sub-process (1 < I < M) is executed one or more times, and the second sub-process is executed from the beginning of the process. The cumulative index values are applied when the variable I application conditions are satisfied, and the total index values of the second sub-process are executed from the execution time of the last executed sub-process (when the sub-process is not executed in the process at the beginning of the process) at the time when the variable I execution conditions are met.
【技术实现步骤摘要】
对被处理体进行处理的方法
本专利技术的实施方式涉及一种对被处理体进行处理的方法。
技术介绍
在半导体设备的制造工序中,针对晶圆依次执行蚀刻、成膜等各种工艺。在制造工序的前后进行处理室内的清洁。在各工艺执行后,对在该工艺的执行中使用的气体进行吹扫。在专利文献1中公开了如下一种技术:用于通过将按每一批次进行的气体清洁按每多个批次进行来缩短气体清洁准备时间并提高生产率。在专利文献2中公开了一种通过进行与处理的类型相应的清洁来按每个处理的类型进行清洁的技术。在专利文献3中公开了一种以在批次切换时以适当的清洁条件和适当的定时进行清洁为目的的技术。专利文献1:日本特开平10-149990号公报专利文献2:日本特开2007-250791号公报专利文献3:日本特开2010-98053号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题在半导体设备的制造工序中串行(serial)地执行多个工艺的情况下,执行工艺的顺序、执行工艺的定时等工艺的执行方式能够对半导体设备的制造效率等带来影响。因而,期望一种在串行地执行多个工艺的情况下能够灵活地设定执行工艺的顺序、执行工艺的定时等工艺的执行方式的技术。用于解决问题的方案在一个方式中,提供一种对被处理体进行处理的方法。该方法具备串行(serial)地执行包括主工艺和第一副工艺~第M副工艺(M为正整数)的多个工艺的工序(以下称为工序A),表示主工艺的一次执行的指标值在每次执行主工艺时被累加,主工艺在工序A中被执行多次,第i副工艺(i为满足1≤i≤M的正整数)在工序A中被执行一次或多次,第i副工艺继主工艺的一次或连续多次的执行之后被执行,在从工序A开始 ...
【技术保护点】
1.一种对被处理体进行处理的方法,具备串行地执行包括主工艺和第一副工艺~第M副工艺的多个工艺的工序,其中,M为正整数,表示所述主工艺的一次执行的指标值在每次执行该主工艺时被累加,所述主工艺在所述工序中被执行多次,第i所述副工艺在所述工序中被执行一次或多次,i为满足1≤i≤M的正整数,第i所述副工艺继所述主工艺的一次或连续多次的执行之后被执行,在从所述工序开始起累加的所述指标值的累计满足第i应用条件的情况下,第i所述副工艺在该工序中被应用,在从所述工序开始起累加的所述指标值的累计满足第i所述应用条件的情况下,第i所述副工艺在该工序开始后存在已经执行的副工艺时从最后被执行的该副工艺的执行时起累加得到的该指标值的合计满足第i执行条件的时间点被执行,或者,第i所述副工艺在该工序开始后不存在已经执行的副工艺时从该工序开始时起累加得到的该指标值的合计满足第i执行条件的时间点被执行,第i所述应用条件和第i所述执行条件均能够变更。
【技术特征摘要】
2017.10.10 JP 2017-1970241.一种对被处理体进行处理的方法,具备串行地执行包括主工艺和第一副工艺~第M副工艺的多个工艺的工序,其中,M为正整数,表示所述主工艺的一次执行的指标值在每次执行该主工艺时被累加,所述主工艺在所述工序中被执行多次,第i所述副工艺在所述工序中被执行一次或多次,i为满足1≤i≤M的正整数,第i所述副工艺继所述主工艺的一次或连续多次的执行之后被执行,在从所述工序开始起累加的所述指标值的累计满足第i应用条件的情况下,第i所述副工艺在该工序中被应用,在从所述工序开始起累加的所述指标值的累计满足第i所述应用条件的情况下,第i所述副工艺在该工序开始后存在已经执行的副工艺时从最后被执行的该副工艺的执行时起累加得到的该指标值的合计满足第i执行条件的时间点被执行,或者,第i所述副工艺在该工序开始后不存在已经执行的副工艺时从该工序开始时起累加得到的该指标值的合计满足第i执行条件的时间点被执行,第i所述应用条件和第i所述执行条件均能够变更。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,第k所述应用条件为从所述工序开始起累加的所述指标值的累计值α满足L...
【专利技术属性】
技术研发人员:森泽大辅,
申请(专利权)人:东京毅力科创株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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