高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置及工艺制造方法及图纸

本发明专利技术揭示了一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置及工艺，包括：包括信号发生器、功率放大器、定向耦合器、天线、全波暗室、场强探头、测试桌、控制设备，其中，所述信号发生器、功率放大器、定向耦合器和控制设备均设于所述全波暗室外；所述天线、场强探头和测试桌设于所述全波暗室内，且所述天线与测试桌的相对距离小于3m；所述信号发生器分别与所述控制设备和功率放大器电连接，所述功率放大器分别与所述信号发生器和定向耦合器电连接，所述定向耦合器分别与所述控制设备和天线电连接。本发明专利技术具有适用性强，成本低，可靠性高，稳定性强，数据具有一致性等优点。

Anti-jamming Window Testing Device and Technology for High Intensity High Frequency Radiation

The invention discloses a high-intensity high-frequency radiation anti-jamming window testing device and process, including: signal generator, power amplifier, directional coupler, antenna, full-wave anechoic chamber, field intensity probe, test table and control equipment, wherein the signal generator, power amplifier, directional coupler and control equipment are all located outside the full-wave anechoic chamber; The field intensity probe and the test table are arranged in the full-wave anechoic chamber, and the relative distance between the antenna and the test table is less than 3m. The signal generator is electrically connected with the control device and the power amplifier, respectively. The power amplifier is electrically connected with the signal generator and the directional coupler, and the directional coupler is electrically connected with the control device and the antenna, respectively. The invention has the advantages of strong applicability, low cost, high reliability, strong stability and data consistency.

【技术实现步骤摘要】
高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置及工艺
本专利技术涉及到检测领域，特别涉及到一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置及其工艺。
技术介绍
伴随着电子技术的发展，电子产品已经成为我们生活中不可或缺的一部分，电子产品或多或少都会向外部空间辐射电磁干扰同时也会受到外部电磁干扰的影响。特别是最近这些年无线技术的飞速发展，手机通讯已经从2G，3G，4G面向5G发展了，智能产品已经走入千家万户导致外部空间的电磁环境也越来越糟糕，电磁兼容成为所有电子产品都必须面对的问题。特别是辐射抗干扰问题，对于一些敏感的电子设备，辐射抗干扰会对产品的工作状态，工作性能，工作模式产生影响。处理不当可能会导致重大的损失。辐射抗干扰测试主要是评估当电子产品处在正常工作状态下出现了电磁干扰是否会对其工作性能产生影响，本专利技术只针对1GHz到6GHz的高频部分进行阐述，常规的测试方法是全面辐射抗干扰测试法。全面辐射抗干扰测试法：简称“全面辐射法”，对产品测试之前需要对场地进行校准，以确保发射天线发射到被测产品的场强满足要求，测试和校准都需要在全波暗室里面进行，全面辐射法要求被测设备全部浸入到均匀面上，发射天线到被测设备的距离为3m，按常规的被测尺寸的大小，校准至少需要在1.5m*1.5m场均匀面进行，在一个平面上至少要求校准16个点，在同一个信号发生器的发射等级下，在16个点产生的场强偏差在0-6dB以内，才认为校准面是均匀的场强。目前技术存在以下缺点：1)产生的辐射场强值小，适用范围较窄。E(V/m)＝(30*P*G)0.5/d根据场强计算公式如上，其中P为功放的输出功率，G为发射天线的增益，d为天线到场强探头的距离。当信号发生器输出1dBm功率时，由于功放的功率只有45W，天线增益为9dBi，根据场强公式推算，其3m距离能产生的最大场强为36V/m，这还是属于理想情况，实际校准当中还需要留有一部分余量，一般会保留3dB的余量，以防止信号发生器和功率放大器过载，保护测试设备，所以实际校准的时候，在3m距离出只能得到24V/m的场强，而且不均匀，不能在16个校准点达到0-6dB的偏差要求，所以校准出来的场强值远远达不到测试的54V/m要求。2)只能测试尺寸大小不超过1.5m*1.5m的设备。由于受制于校准面大小和场强均匀性的要求，最大的被测设备不能超过校准面大小，否则就不满足全面测试法的要求。3)需要校准16个位置点，校准流程繁杂。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置及工艺，使高频辐射抗干扰测试更经济，更方便，更快捷，适用性更广泛。本专利技术提出一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置，其特征在于，包括信号发生器、功率放大器、定向耦合器、天线、全波暗室、场强探头、测试桌、控制设备，其中，上述信号发生器、功率放大器、定向耦合器和控制设备均设于上述全波暗室外；上述天线、场强探头和测试桌设于上述全波暗室内，且上述天线与测试桌的相对距离小于3m；上述信号发生器分别与上述控制设备和功率放大器电连接，上述功率放大器分别与上述信号发生器和定向耦合器电连接，上述定向耦合器分别与上述控制设备和天线电连接；上述控制设备控制上述信号发生器产生未调制载波信号传输给功率放大器，上述定向耦合器将功率放大器放大后的载波信号值传输给天线，并实时监控传输至天线的载波信号的频率反馈至上述控制设备；场强探头与控制设备电连接，上述场强探头探测天线生成的场强强度，并将探测数据反馈给上述控制设备。进一步地，上述天线与地面垂直距离为1.05m；上述天线与待测样品的水平相对距离为1.0m；上述测试桌的桌面的垂直高度为0.8m。本专利技术提出一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺，包括校准和测试，其特征在于，校准包括步骤：根据被测物的尺寸大小换算出需要开启的指定校准点数量：获取每一个指定校准点在指定频率范围内的前向功率值，并根据预设的对应的前向功率标准值，计算出每一个指定校准点在每一个指定频率段中的功率偏差；判断是否存在大于指定值的功率偏差值；若无，则校准完成。进一步地，上述测试包括步骤：将信号发生器产生的载波信号调节至所述校准时得到的信号发生器的输出值；按指定方向和单位位移移动天线和待测样品的位置进行测试，并实时获取待测样品的工作状态参数；根据所述待测样品的工作状态参数得出测试评估结果。进一步地，上述指定位移步进为0.5m；上述前向功率偏差范围为0-6dB。进一步地，上述应该根据被测物的尺寸大小换算出需要开启的指定校准点数量的步骤包括：根据被测物的尺寸大小换算出校准窗口的数量；根据校准窗口的数量换算出需要开启的指定校准点数量。进一步地，上述校准窗口为0.5m*0.5m的正方形，且与地面的垂直距离最低为0.8m；上述校准窗口数量大于或等于1；上述指定校准点为校准窗口的顶点。进一步地，上述校准点数为所有开启的校准窗口顶点数量之和。进一步地，上述获取每一个指定校准点在指定频率范围内的前向功率值的步骤，包括：将所述场强探头分别移至每一个校准点，在所述场强探头移至任一校准点时控制所述信号发生器产生处于指定频率范围内的未调制载波信号。进一步地，上述指定频率范围内为1-6GHz，上述未调制载波信号产生的场强大于或等于54V/m；控制所述信号发生器产生处于指定频率范围内的未调制载波信号的步骤，包括：控制所述信号发生器产生频率为1GHz的所述未调制载波信号，并以1％步进/次的增频速度将所述未调制载波信号的频率从1GHz增加至6GHz。本专利技术与现有的技术相比，具有如下的优点：适用于要求高场强强度的抗干扰测试；无需购买价格昂贵的大功率射频功放；无需将射频功放搬到电波暗室，无需移动发射天线，避免人为损坏设备；场地校验和样机测试效率大大提高；减少测试系统不确定度，提高测试稳定性和一致性；适用性更广泛，适用于各种无线电，医疗设备和电子电器产品。附图说明图1为本专利技术一实施例的高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置示意图；图2为本专利技术一实施例的高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置示意图；图3为本专利技术一实施例的高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺流程示意图；图4为本专利技术一实施例的高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺流程示意图；图5为本专利技术一实施例的高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺示意图。1、信号发生器；2、功率放大器；3、定向耦合器；4、天线；5、测试桌；6、全波暗室；7、场强探头；8、控制设备；9、电线。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，下列各实施例中所述的电连接，均为电线连接，即，有线电连接。参照图1、2，本专利技术提出一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置，包括：信号发生器1，用于上述步骤中产生一个处于指定频率段的未调制载波信号；功率放大器2，简称“功放”，是指在给定失真率条件下，能产生最大功率输出以驱动某一负载的放大器，用于放大信号发生器1所产生的未调制载波信号；定向耦合器3，是一种通用的微波/毫米本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置，其特征在于，包括信号发生器、功率放大器、定向耦合器、天线、全波暗室、场强探头、测试桌、控制设备，其中，所述信号发生器、功率放大器、定向耦合器和控制设备均设于所述全波暗室外；所述天线、场强探头和测试桌设于所述全波暗室内，且所述天线与测试桌的相对距离小于3m；所述信号发生器分别与所述控制设备和功率放大器电连接，所述功率放大器分别与所述信号发生器和定向耦合器电连接，所述定向耦合器分别与所述控制设备和天线电连接；所述控制设备控制所述信号发生器产生未调制载波信号传输给功率放大器，所述定向耦合器将功率放大器放大后的载波信号值传输给天线，并实时监控传输至天线的载波信号的频率反馈至所述控制设备；场强探头与控制设备电连接，所述场强探头探测天线生成的场强强度，并将探测数据反馈给所述控制设备。

【技术特征摘要】
1.一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置，其特征在于，包括信号发生器、功率放大器、定向耦合器、天线、全波暗室、场强探头、测试桌、控制设备，其中，所述信号发生器、功率放大器、定向耦合器和控制设备均设于所述全波暗室外；所述天线、场强探头和测试桌设于所述全波暗室内，且所述天线与测试桌的相对距离小于3m；所述信号发生器分别与所述控制设备和功率放大器电连接，所述功率放大器分别与所述信号发生器和定向耦合器电连接，所述定向耦合器分别与所述控制设备和天线电连接；所述控制设备控制所述信号发生器产生未调制载波信号传输给功率放大器，所述定向耦合器将功率放大器放大后的载波信号值传输给天线，并实时监控传输至天线的载波信号的频率反馈至所述控制设备；场强探头与控制设备电连接，所述场强探头探测天线生成的场强强度，并将探测数据反馈给所述控制设备。2.根据权利要求1所述的高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置，其特征在于，所述天线与地面垂直距离为1.05m；所述天线与待测样品的水平相对距离为1.0m；所述测试桌的桌面的垂直高度为0.8m。3.一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺，包括校准和测试，其特征在于，校准包括步骤：根据被测物的尺寸大小换算出需要开启的指定校准点数量：获取每一个指定校准点在指定频率范围内的前向功率值，并根据预设的对应的前向功率标准值，计算出每一个指定校准点在每一个指定频率段中的功率偏差；判断是否存在大于指定值的功率偏差值；若无，则校准完成。4.根据权利要求3所述高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺，其特征在于测试包括步骤：将信号发生器产生的载波信号调节至所述校准时得到的信号发生器的输出值；按指定方向和单位位移移...

【专利技术属性】
技术研发人员：姚伟强，祝天文，
申请(专利权)人：深圳天祥质量技术服务有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44