The invention discloses a high-intensity high-frequency radiation anti-jamming window testing device and process, including: signal generator, power amplifier, directional coupler, antenna, full-wave anechoic chamber, field intensity probe, test table and control equipment, wherein the signal generator, power amplifier, directional coupler and control equipment are all located outside the full-wave anechoic chamber; The field intensity probe and the test table are arranged in the full-wave anechoic chamber, and the relative distance between the antenna and the test table is less than 3m. The signal generator is electrically connected with the control device and the power amplifier, respectively. The power amplifier is electrically connected with the signal generator and the directional coupler, and the directional coupler is electrically connected with the control device and the antenna, respectively. The invention has the advantages of strong applicability, low cost, high reliability, strong stability and data consistency.
【技术实现步骤摘要】
高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置及工艺
本专利技术涉及到检测领域,特别涉及到一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置及其工艺。
技术介绍
伴随着电子技术的发展,电子产品已经成为我们生活中不可或缺的一部分,电子产品或多或少都会向外部空间辐射电磁干扰同时也会受到外部电磁干扰的影响。特别是最近这些年无线技术的飞速发展,手机通讯已经从2G,3G,4G面向5G发展了,智能产品已经走入千家万户导致外部空间的电磁环境也越来越糟糕,电磁兼容成为所有电子产品都必须面对的问题。特别是辐射抗干扰问题,对于一些敏感的电子设备,辐射抗干扰会对产品的工作状态,工作性能,工作模式产生影响。处理不当可能会导致重大的损失。辐射抗干扰测试主要是评估当电子产品处在正常工作状态下出现了电磁干扰是否会对其工作性能产生影响,本专利技术只针对1GHz到6GHz的高频部分进行阐述,常规的测试方法是全面辐射抗干扰测试法。全面辐射抗干扰测试法:简称“全面辐射法”,对产品测试之前需要对场地进行校准,以确保发射天线发射到被测产品的场强满足要求,测试和校准都需要在全波暗室里面进行,全面辐射法要求被测设备全部浸入到均匀面上,发射天线到被测设备的距离为3m,按常规的被测尺寸的大小,校准至少需要在1.5m*1.5m场均匀面进行,在一个平面上至少要求校准16个点,在同一个信号发生器的发射等级下,在16个点产生的场强偏差在0-6dB以内,才认为校准面是均匀的场强。目前技术存在以下缺点:1)产生的辐射场强值小,适用范围较窄。E(V/m)=(30*P*G)0.5/d根据场强计算公式如上,其中P为功放的输出功率,G为发射天线的增益, ...
【技术保护点】
1.一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置,其特征在于,包括信号发生器、功率放大器、定向耦合器、天线、全波暗室、场强探头、测试桌、控制设备,其中,所述信号发生器、功率放大器、定向耦合器和控制设备均设于所述全波暗室外;所述天线、场强探头和测试桌设于所述全波暗室内,且所述天线与测试桌的相对距离小于3m;所述信号发生器分别与所述控制设备和功率放大器电连接,所述功率放大器分别与所述信号发生器和定向耦合器电连接,所述定向耦合器分别与所述控制设备和天线电连接;所述控制设备控制所述信号发生器产生未调制载波信号传输给功率放大器,所述定向耦合器将功率放大器放大后的载波信号值传输给天线,并实时监控传输至天线的载波信号的频率反馈至所述控制设备;场强探头与控制设备电连接,所述场强探头探测天线生成的场强强度,并将探测数据反馈给所述控制设备。
【技术特征摘要】
1.一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置,其特征在于,包括信号发生器、功率放大器、定向耦合器、天线、全波暗室、场强探头、测试桌、控制设备,其中,所述信号发生器、功率放大器、定向耦合器和控制设备均设于所述全波暗室外;所述天线、场强探头和测试桌设于所述全波暗室内,且所述天线与测试桌的相对距离小于3m;所述信号发生器分别与所述控制设备和功率放大器电连接,所述功率放大器分别与所述信号发生器和定向耦合器电连接,所述定向耦合器分别与所述控制设备和天线电连接;所述控制设备控制所述信号发生器产生未调制载波信号传输给功率放大器,所述定向耦合器将功率放大器放大后的载波信号值传输给天线,并实时监控传输至天线的载波信号的频率反馈至所述控制设备;场强探头与控制设备电连接,所述场强探头探测天线生成的场强强度,并将探测数据反馈给所述控制设备。2.根据权利要求1所述的高强度高频辐射抗干扰窗口测试装置,其特征在于,所述天线与地面垂直距离为1.05m;所述天线与待测样品的水平相对距离为1.0m;所述测试桌的桌面的垂直高度为0.8m。3.一种高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺,包括校准和测试,其特征在于,校准包括步骤:根据被测物的尺寸大小换算出需要开启的指定校准点数量:获取每一个指定校准点在指定频率范围内的前向功率值,并根据预设的对应的前向功率标准值,计算出每一个指定校准点在每一个指定频率段中的功率偏差;判断是否存在大于指定值的功率偏差值;若无,则校准完成。4.根据权利要求3所述高强度高频辐射抗干扰窗口测试工艺,其特征在于测试包括步骤:将信号发生器产生的载波信号调节至所述校准时得到的信号发生器的输出值;按指定方向和单位位移移...
【专利技术属性】
技术研发人员:姚伟强,祝天文,
申请(专利权)人:深圳天祥质量技术服务有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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