The invention discloses a preparation method of complete oxide film cross-section morphology. The method utilizes the characteristic of brittleness increase of metal material at low temperature, directly interrupts the oxide film sample after high temperature oxidation of metal material, and observes the oxide film cross-section morphology of sample fracture surface. The method of the invention effectively solves the problem that the surface of the oxide film of metal material after oxidation is polished and polished, the complete morphology of the oxide film is destroyed, the complete morphology, growth direction and stratification of the oxide film can not be observed, and the interrupted oxide film section has not been processed by other processes, thus the complete section morphology of the oxide film can be clearly displayed. It is important to show the complete morphology of the oxide film for studying the growth mechanism and formation law of the oxide film.
【技术实现步骤摘要】
一种氧化膜截面完整形貌制备方法
本专利技术涉及一种氧化膜截面完整形貌制备方法,属于高温氧化领域。
技术介绍
近年来,可再生能源短缺、大气环境污染等现象越来越引起人们的关注,节约能源、保护环境逐渐成为人们的共识。超超临界机组因具有耗能少、效率高、污染物排放低等优点逐渐成为火力发电建设的主要方向。目前我国在役火电机组最高蒸汽温度为620℃,未来可能逐步向630℃、650℃甚至700℃发展。蒸汽温度的不断提高必然对材料的抗蒸汽氧化性提出更高要求,因此对于超超临界机组而言,研究材料的抗蒸汽氧化性能逐步成为研究材料工作的重中之重。研究材料的抗蒸汽氧化性能的必要手段就是研究其氧化膜的生长规律,而通过研究氧化膜截面形貌可以确定氧化膜的生长方向以及氧化膜的分层等特征,往往对于研究氧化膜生长规律起到重要的支撑作用。完整的氧化膜截面形貌因能准确表达出氧化膜分层特征、形貌特征、生长方向等特点,对于研究氧化膜生长规律能够起到重要的作用。目前氧化膜截面形貌不能完整看到截面氧化膜的生长方向,难以判断氧化膜的生长规律,因此本专利技术提供一种针对金属材料的氧化膜截面完整形貌制备方法。
技术实现思路
针对现有技术的不足,本专利技术的目的是提供一种氧化膜截面完整形貌制备方法,以清晰观察截面氧化膜的生长方向。为实现上述目的及其他相关目的,本专利技术的技术方案是:一种氧化膜截面完整形貌制备方法,包括以下步骤:(1)切割试样,并用线切割机在试样上加工一U型槽,U型槽底部到最近试样表面距离为0.1~0.5mm;(2)将所得加工试样的6个面进行研磨,得到磨光试样;(3)将所得磨光后的试样置于坩埚中,试验温 ...
【技术保护点】
1.一种氧化膜截面完整形貌制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)切割试样,并用线切割机在试样上加工一U型槽,U型槽底部到最近试样表面距离为0.1~0.5mm;(2)将所得加工试样的6个面进行研磨,得到磨光试样;(3)将所得磨光后的试样置于坩埚中,试验温度下进行高温氧化,得到经过高温氧化的试样;(4)将高温氧化试样置于‑180℃以下环境中冷却2~5min,取出冷却试样,在10s内将试样沿缺口打断;(5)将试样断裂面置于扫描电镜下,观察氧化膜截面形貌并进行拍照。
【技术特征摘要】
1.一种氧化膜截面完整形貌制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)切割试样,并用线切割机在试样上加工一U型槽,U型槽底部到最近试样表面距离为0.1~0.5mm;(2)将所得加工试样的6个面进行研磨,得到磨光试样;(3)将所得磨光后的试样置于坩埚中,试验温度下进行高温氧化,得到经过高温氧化的试样;(4)将高温氧化试样置于-180℃以下环境中冷却2~5min,取出冷却试样,在10s内将试样沿缺口打断;(5)将试样断裂面置于扫描电镜下,观察氧化膜截面形貌并进行拍照。2.根据权利要求1所述的氧化膜截面完整形貌制备方法,其特征在于,优选的,试样为方形。3.根据权利要求1所述的氧化膜截面完整形貌制备方法,其...
【专利技术属性】
技术研发人员:句光宇,杨希锐,邓辉,乔梁,王昊,王东,
申请(专利权)人:中国大唐集团科学技术研究院有限公司华中电力试验研究院,
类型:发明
国别省市:河南,41
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。