测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术涉及一种测试系统和测试方法，包括上位机、数据采集卡、主控模块、扩展的静电释放发生器及扩展的源表，上述测试系统能通过上位机、数据采集卡、主控模块和静电释放发生器对待测元件进行抗静电检测，能通过上位机、数据采集卡、主控模块和源表对待测元件进行光电检测及数据采集。并且对于上位机、数据采集卡、主控模块、扩展的静电释放发生器及扩展的源表，任一设备损坏，检测人员可以单独对损坏的设备进行更换，降低了生产成本。此外，通过主控模块可以对数据采集卡的输出接口进行扩展，可以同时采集多个待测元件根据测试信号产生的电信号，提高了数据采集卡的带载能力，进而提高了生产效率。

【技术实现步骤摘要】
测试系统及测试方法
本专利技术涉及测试
，特别是涉及一种测试系统及测试方法。
技术介绍
半导体芯片是电子工业中的核心元器件，而对芯片的抗静电检测与光电检测及数据采集又是芯片生产过程中十分重要的环节，直接影响芯片的产能。目前芯片检测领域的测试系统基本被国外垄断，进口的设备不仅价格高，而且售后维修麻烦。一般情况下，一个功能设备损坏，只能全套更换，增加了生产成本，影响芯片测试的效率。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种可以降低生产成本、能进行待测元件的抗静电检测与数据采集的测试系统及测试方法。一种测试系统，用于对待测元件进行测试，其特征在于，包括：上位机、数据采集卡、主控模块、扩展的静电释放发生器及扩展的源表；所述上位机连接所述数据采集卡和所述源表，所述主控模块连接所述数据采集卡、所述扩展的静电释放发生器及所述扩展的源表，所述扩展的静电释放发生器用于连接扩展的所述待测元件，所述扩展的源表用于连接扩展的所述待测元件；所述上位机用于发送第一控制信号给所述数据采集卡，还用于发送第二控制信号给所述源表，接收所述数据采集卡的电信号；所述数据采集卡用于接收所述第一控制信号，根据所述第一控制信号发送第三控制信号给所述主控模块，所述数据采集卡还用于接收所述主控模块输出的电信号并将所述电信号传输给所述上位机；所述源表用于接收所述第二控制信号，根据所述第二控制信号发送测试信号给所述待测元件；所述主控模块用于扩展所述数据采集卡的输出接口，根据所述数据采集卡的第三控制信号控制所述静电释放发生器对所述待测元件进行静电测试；所述主控模块还用于采集所述待测元件根据所述测试信号产生的第一电信号，并将所述第一电信号传输给所述数据采集卡；所述主控模块还用于将采集到的所述待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号，并将所述第二电信号进行放大后传输给所述数据采集卡；所述静电释放发生器用于根据所述第三控制信号对所述待测元件进行静电测试。在其中一个实施例中，所述主控模块包括静电释放发生器控制模块、测试信号采集模块和光信号采集模块；所述静电释放发生器控制模块的输入端连接所述数据采集卡，所述静电释放发生器控制模块的输出端连接扩展的所述静电释放发生器，所述静电释放发生器控制模块用于扩展所述数据采集卡的输出接口，隔离所述数据采集卡和所述扩展的静电释放发生器，并根据所述数据采集卡的所述第三控制信号控制所述静电释放发生器对所述待测元件进行静电测试；所述测试信号采集模块的输入端用于连接所述待测元件，所述测试信号采集模块连接所述数据采集卡和所述源表，所述源表还用于在发送所述测试信号时发送第一触发信号给所述数据采集卡，所述数据采集卡用于根据所述第一触发信号发送第六控制信号给所述测试信号采集模块，所述测试信号采集模块用于根据所述第六控制信号采集所述待测元件根据所述测试信号产生的所述第一电信号，并将所述第一电信号传输给所述数据采集卡；所述光信号采集模块的输出端连接所述数据采集卡，所述光信号采集模块用于将采集到的所述待测元件测试时发出的光信号转换成所述第二电信号，并将所述第二电信号进行放大后传输给所述数据采集卡。在其中一个实施例中，所述静电释放发生器控制模块包括模拟信号转换电路和继电器控制电路，所述模拟信号转换电路的输入端连接所述数据采集卡，所述模拟信号转换电路的输出端连接所述扩展的静电释放发生器的电源，所述模拟信号转换电路用于将所述数据采集卡输出的第一模拟信号转换为第二模拟信号，并经过隔离后传输给所述扩展的静电释放发生器的电源；所述继电器控制电路的输入端连接所述数据采集卡，所述继电器控制电路的输出端连接所述扩展的静电释放发生器的继电器，所述继电器控制电路用于将所述数据采集卡输出的第四控制信号进行扩展后传输给所述扩展的静电释放发生器的继电器。在其中一个实施例中，所述主控模块还包括切换模块，所述切换模块连接所述光信号采集模块，用于根据所述数据采集卡的第五控制信号切换所述光信号采集模块的放大倍数。在其中一个实施例中，所述测试信号采集模块包括触发电路和测试信号采集电路，所述触发电路的输入端连接所述数据采集卡，所述触发电路的输出端连接所述测试信号采集电路的受控端，所述测试信号采集电路的输入端用于连接所述待测元件，所述测试信号采集电路的输出端连接所述数据采集卡；所述触发电路用于接收所述数据采集卡发送的所述第六控制信号，并根据所述第六控制信号发送第二触发信号给所述测试信号采集电路；所述测试信号采集电路用于在接收到所述第二触发信号后采集所述待测元件根据所述测试信号产生的所述第一电信号，并将所述第一电信号传输给所述数据采集卡。在其中一个实施例中，所述光信号采集模块包括采光装置和光信号采集电路，所述采光装置的输出端连接所述光信号采集电路的输入端，所述光信号采集电路的输出端连接所述数据采集卡，所述采光装置用于将采集到的所述待测元件测试时发出的光信号转换成所述第二电信号并将所述第二电信号传输给所述光信号采集电路，所述光信号采集电路用于接收所述第二电信号，并将所述第二电信号进行放大后传输给所述数据采集卡。在其中一个实施例中，所述采光装置包括积分球和亮度传感器，所述亮度传感器连接所述积分球和所述光信号采集电路。在其中一个实施例中，还包括光谱仪，所述光谱仪连接所述积分球、所述源表和所述上位机，所述源表还用于在发送所述测试信号时发送所述第一触发信号给所述光谱仪，所述光谱仪用于接收所述第一触发信号，根据所述第一触发信号将所述积分球采集的所述待测元件测试时发出的光信号转换成第三电信号，并将所述第三电信号传输给所述上位机。在其中一个实施例中，所述静电释放发生器包括充电模块、放电模块及模式切换模块，所述充电模块的输入端用于连接输入电源，所述充电模块的输出端连接所述放电模块的输入端，所述放电模块的输出端用于连接所述待测元件；所述切换模块连接所述充电模块、所述放电模块和所述主控模块，所述充电模块用于储存电能；所述放电模块用于将所述电能释放给所述待测元件；所述模式切换模块用于根据所述主控模块的第一模式切换信号控制所述充电模块和所述放电模块进入人体静电模式，还用于根据所述主控模块的第二模式切换信号控制所述充电模块和所述放电模块进入机械静电模式。一方面，本专利技术还提出一种测试方法，使用测试系统对待测元件进行测试，所述测试系统包括上位机、数据采集卡、主控模块、扩展的静电释放发生器及扩展的源表，所述上位机连接所述数据采集卡和所述源表，所述主控模块连接所述数据采集卡、所述扩展的静电释放发生器及所述扩展的所述源表，所述扩展的静电释放发生器用于连接扩展的所述待测元件，所述方法包括：所述上位机发送第一控制信号；所述数据采集卡根据所述第一控制信号发送第三控制信号给所述主控模块；所述主控模块扩展所述数据采集卡的输出接口，根据所述第三控制信号控制所述静电释放发生器对所述待测元件进行静电测试；所述上位机发送第二控制信号；所述源表根据所述第二控制信号发送测试信号给所述待测元件；所述主控模块采集所述待测元件根据所述测试信号产生的第一电信号，并将所述第一电信号传输给所述数据采集卡；所述主控模块将采集到的所述待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号，并将所述第二电信号进行放大后传输给所述数据采集卡；所述数据采集卡分别获取所述第一电信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试系统，用于对待测元件进行测试，其特征在于，包括：上位机、数据采集卡、主控模块、扩展的静电释放发生器及扩展的源表；所述上位机连接所述数据采集卡和所述源表，所述主控模块连接所述数据采集卡、所述扩展的静电释放发生器及所述扩展的源表，所述扩展的静电释放发生器用于连接扩展的所述待测元件，所述扩展的源表用于连接扩展的所述待测元件；所述上位机用于发送第一控制信号给所述数据采集卡，还用于发送第二控制信号给所述源表，接收所述数据采集卡的电信号；所述数据采集卡用于接收所述第一控制信号，根据所述第一控制信号发送第三控制信号给所述主控模块，所述数据采集卡还用于接收所述主控模块输出的电信号并将所述电信号传输给所述上位机；所述源表用于接收所述第二控制信号，根据所述第二控制信号发送测试信号给所述待测元件；所述主控模块用于扩展所述数据采集卡的输出接口，根据所述数据采集卡的第三控制信号控制所述静电释放发生器对所述待测元件进行静电测试；所述主控模块还用于采集所述待测元件根据所述测试信号产生的第一电信号，并将所述第一电信号传输给所述数据采集卡；所述主控模块还用于将采集到的所述待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号，并将所述第二电信号进行放大后传输给所述数据采集卡；所述静电释放发生器用于根据所述第三控制信号对所述待测元件进行静电测试。...

【技术特征摘要】
1.一种测试系统，用于对待测元件进行测试，其特征在于，包括：上位机、数据采集卡、主控模块、扩展的静电释放发生器及扩展的源表；所述上位机连接所述数据采集卡和所述源表，所述主控模块连接所述数据采集卡、所述扩展的静电释放发生器及所述扩展的源表，所述扩展的静电释放发生器用于连接扩展的所述待测元件，所述扩展的源表用于连接扩展的所述待测元件；所述上位机用于发送第一控制信号给所述数据采集卡，还用于发送第二控制信号给所述源表，接收所述数据采集卡的电信号；所述数据采集卡用于接收所述第一控制信号，根据所述第一控制信号发送第三控制信号给所述主控模块，所述数据采集卡还用于接收所述主控模块输出的电信号并将所述电信号传输给所述上位机；所述源表用于接收所述第二控制信号，根据所述第二控制信号发送测试信号给所述待测元件；所述主控模块用于扩展所述数据采集卡的输出接口，根据所述数据采集卡的第三控制信号控制所述静电释放发生器对所述待测元件进行静电测试；所述主控模块还用于采集所述待测元件根据所述测试信号产生的第一电信号，并将所述第一电信号传输给所述数据采集卡；所述主控模块还用于将采集到的所述待测元件测试时发出的光信号转换成第二电信号，并将所述第二电信号进行放大后传输给所述数据采集卡；所述静电释放发生器用于根据所述第三控制信号对所述待测元件进行静电测试。2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述主控模块包括静电释放发生器控制模块、测试信号采集模块和光信号采集模块；所述静电释放发生器控制模块的输入端连接所述数据采集卡，所述静电释放发生器控制模块的输出端连接扩展的所述静电释放发生器，所述静电释放发生器控制模块用于扩展所述数据采集卡的输出接口，隔离所述数据采集卡和所述扩展的静电释放发生器，并根据所述数据采集卡的所述第三控制信号控制所述静电释放发生器对所述待测元件进行静电测试；所述测试信号采集模块的输入端用于连接所述待测元件，所述测试信号采集模块连接所述数据采集卡和所述源表，所述源表还用于在发送所述测试信号时发送第一触发信号给所述数据采集卡，所述数据采集卡用于根据所述第一触发信号发送第六控制信号给所述测试信号采集模块，所述测试信号采集模块用于根据所述第六控制信号采集所述待测元件根据所述测试信号产生的所述第一电信号，并将所述第一电信号传输给所述数据采集卡；所述光信号采集模块的输出端连接所述数据采集卡，所述光信号采集模块用于将采集到的所述待测元件测试时发出的光信号转换成所述第二电信号，并将所述第二电信号进行放大后传输给所述数据采集卡。3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述静电释放发生器控制模块包括模拟信号转换电路和继电器控制电路，所述模拟信号转换电路的输入端连接所述数据采集卡，所述模拟信号转换电路的输出端连接所述扩展的静电释放发生器的电源，所述模拟信号转换电路用于将所述数据采集卡输出的第一模拟信号转换为第二模拟信号，并经过隔离后传输给所述扩展的静电释放发生器的电源；所述继电器控制电路的输入端连接所述数据采集卡，所述继电器控制电路的输出端连接所述扩展的静电释放发生器的继电器，所述继电器控制电路用于将所述数据采集卡输出的第四控制信号进行扩展后传输给所述扩展的静电释放发生器的继电器。4.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述主控模块还包括切换模块，所述切换模块连接所述光信号采集模块，用于根据所述数据采集卡的第五控制信号切换所述光信号采集模块的放大倍数。5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：马会林，杨明强，尹建刚，曾威，黄嘉，张红江，顾郧，魏贤哲，何家福，叶武海，洪斌，高云峰，
申请(专利权)人：大族激光科技产业集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44