透明物品厚度测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及非接触式检测技术领域，特别涉及一种透明物品厚度测量装置，包括底座、光学模组以及显示单元，所述底座用于托撑被测物品，光学模组设置在被测物品的下方，光学模组射出的光线经过被测物品的两个面反射后的光线被光学模组接收，光学模组根据接收到的光线计算出被测物品厚度并输出至显示单元显示。通过设置光学模组，根据被测物品两个表面所反射光线的差别可以方便的计算出被测物品的厚度，这种检测无需接触被测物品，不会污染或破坏被测物品，相较于光谱离焦的方案，本装置成本大大降低，使用时，只需要将被测物品放置在底座上即可在显示单元上显示出其厚度，检测非常方便。

【技术实现步骤摘要】
透明物品厚度测量装置
本技术涉及非接触式检测
，特别涉及一种透明物品厚度测量装置。
技术介绍
目前市面上的透明物品的厚度检测主要采用物理接触式测量方法，例如采用卡尺、千分尺、高度计等测量工具直接对物品的厚度进行直接测量，物理接触式测量方法容易对对被测量的“透明物品”表面造成脏污、划伤等瑕疵，并且检测速度慢、效率低，一般常用于小批量的物品厚度检测。为了避免上述不足，技术人员提出了一种非接触式测量方案，其主要采用光谱离焦的方式进行测量，由于本方案是非接触式测量，故不会对被测量的“透明物品”表面造成影响，同时，其检测过程是自动的，检测速度快且效率高，但是，该装置制造工艺复杂、价格昂贵，不利于推广使用，且大幅增加企业成本。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种低成本且方便检测的非接触式透明物品厚度测量装置。为实现以上目的，本技术采用的技术方案为：一种透明物品厚度测量装置，包括底座、光学模组以及显示单元，所述底座用于托撑被测物品，光学模组设置在被测物品的下方，光学模组射出的光线经过被测物品的两个面反射后的光线被光学模组接收，光学模组根据接收到的光线计算出被测物品厚度并输出至显示单元显示。与现有技术相比，本技术存在以下技术效果：通过设置光学模组，根据被测物品两个表面所反射光线的差别可以方便的计算出被测物品的厚度，这种检测无需接触被测物品，不会污染或破坏被测物品，相较于光谱离焦的方案，本装置成本大大降低，使用时，只需要将被测物品放置在底座上即可在显示单元上显示出其厚度，检测非常方便。附图说明图1是本技术的结构示意图；图2是本装置沿方形盒体中心线方向的剖视图；图3是本装置沿方形盒体对角线方向的剖视图。具体实施方式下面结合图1至图3，对本技术做进一步详细叙述。参阅图1-图3，一种透明物品厚度测量装置，包括底座、光学模组10以及显示单元20，所述底座用于托撑被测物品，光学模组10设置在被测物品的下方，光学模组10射出的光线经过被测物品的两个面反射后的光线被光学模组10接收，光学模组10根据接收到的光线计算出被测物品厚度并输出至显示单元20显示。通过设置光学模组10，根据被测物品两个表面所反射光线的差别可以方便的计算出被测物品的厚度，这种检测无需接触被测物品，不会污染或破坏被测物品，相较于光谱离焦的方案，本装置成本大大降低，使用时，只需要将被测物品放置在底座上即可在显示单元20上显示出其厚度，检测非常方便。光学模组10属于现有技术，如中国专利《透明物件厚度的光学测量方法》(公开号：CN1033479A)中就详细阐述了如何通过反射光线进行厚度的测量，这里就不再详细赘述。优选地，所述的底座包括方形的盒体30，光学模组10设置在盒体30的内部，盒体30的上盖板31上设置有托撑单元40用于托撑被测物品，上盖板31位于被测物品下方设置有孔洞311供光学模组10射出和接收的光线通过。设置盒体30，一方便可以方便的容纳光学模组10，另一方便，可以降低环境光对光学模组10的影响，提高检测精度。托撑单元40的结构有很多种，本实施例中优选地，所述的托撑单元40包括导轨41以及沿导轨41进行位移的托爪42，通过设置导轨41和托爪42，可以方便的对托爪42的位置进行调节。孔洞311旁侧间隔布置有三个或三个以上的托撑单元40，这样才能可靠地对被测物品进行托撑，保证被测物品在放置时的稳定性。各托撑单元40的导轨41均指向孔洞311，由于多个托撑单元40是环绕孔洞311布置的，其调节方向为指向孔洞311方向，这样，托爪42的调节范围很大，对各种形状的被测物品都能很好的托撑，大大提高了本装置的适用范围。同样地，现有技术中，导轨41的结构有很多种，本实施例中具体的：所述的导轨41由两条呈长条状的滑轨固定座411构成，两条滑轨固定座411平行设置，两条滑轨固定座411朝向彼此的侧面上设置有第一凹槽412。通过两条滑轨固定座411构成导轨，其结构非常简单，加工、装配起来都很方便，并且这种结构也方便后面凹孔312的设置。具体地，所述的托爪42包括依次连接的托撑部421、滑移部422以及握持部423，滑移部422呈长条状，滑移部422是用于和导轨41构成滑移配合的，托撑部421呈“7”字型，托撑部421主要用于托撑被测物品，滑移部422位于两条滑轨固定座411之间且可顺延导轨41长度方向位移，滑移部422朝向孔洞311的一端设置托撑部421，滑移部422的另一端设置握持部423，握持部423的设置，方便操作人员滑动托爪42，滑移部422与第一凹槽412对应的位置处设置有第二凹槽424，第一凹槽412和第二凹槽424中设置滚珠43，设置滚珠43以后，滑动起来更加顺滑。由于滚珠43的设置，托爪42可以在导轨41中自由滑动，为了避免检测时托爪42发生位移，本实施例优选地，所述的滑移部422上安装有定位玻珠44，位于两条滑轨固定座411之间的上盖板31上沿导轨41长度方向间隔设置有凹孔312，定位玻珠44的玻珠和凹孔312构成限位配合。设置定位玻珠44后，定位玻珠44的玻珠位于凹孔312中时，就可以限制住托爪42的移动，当施加外力后，定位玻珠44的玻珠会克服其内弹簧的弹性作用力而缩回，这样就可以调节托爪42的位置，调节到合适位置后，定位玻珠44的玻珠还会在弹簧的作用力下向外弹出与凹孔312构成限位配合。该结构非常方便，需要调节位置时，只需要施加外力移动托爪42即可。为了保证待测物品固定的可靠性，本实施例中，所述孔洞311的轮廓为正方形，托撑单元40设置有四个，四个托撑单元40分别从正方形的四个顶点朝向远离正方形中心的方向向外延伸。四个托撑单元40可以更可靠地托撑待测物品。显示单元20有很多种方案可以实现，本实施例中优选地，所述的显示单元20为计算机或工控机，这样，不仅仅可以对检测到的厚度进行显示，还可以对数据进行保存、分析和处理。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种透明物品厚度测量装置，其特征在于：包括底座、光学模组(10)以及显示单元(20)，所述底座用于托撑被测物品，光学模组(10)设置在被测物品的下方，光学模组(10)射出的光线经过被测物品的两个面反射后的光线被光学模组(10)接收，光学模组(10)根据接收到的光线计算出被测物品厚度并输出至显示单元(20)显示。

【技术特征摘要】
1.一种透明物品厚度测量装置，其特征在于：包括底座、光学模组(10)以及显示单元(20)，所述底座用于托撑被测物品，光学模组(10)设置在被测物品的下方，光学模组(10)射出的光线经过被测物品的两个面反射后的光线被光学模组(10)接收，光学模组(10)根据接收到的光线计算出被测物品厚度并输出至显示单元(20)显示。2.如权利要求1所述的透明物品厚度测量装置，其特征在于：所述的底座包括方形的盒体(30)，光学模组(10)设置在盒体(30)的内部，盒体(30)的上盖板(31)上设置有托撑单元(40)用于托撑被测物品，上盖板(31)位于被测物品下方设置有孔洞(311)供光学模组(10)射出和接收的光线通过。3.如权利要求2所述的透明物品厚度测量装置，其特征在于：所述的托撑单元(40)包括导轨(41)以及沿导轨(41)进行位移的托爪(42)，孔洞(311)旁侧间隔布置有三个或三个以上的托撑单元(40)，各托撑单元(40)的导轨(41)均指向孔洞(311)。4.如权利要求3所述的透明物品厚度测量装置，其特征在于：所述的导轨(41)由两条呈长条状的滑轨固定座(411)构成，两条滑轨固定座(411)平行设置，两条滑轨固定座(411)朝向彼此的侧面上设置有第一凹槽(412)。5....

【专利技术属性】
技术研发人员：向五峰，
申请(专利权)人：深圳市贝诺光科科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44