图像处理设备和图像处理方法技术

偏振成像部分20包括处于多个偏振方向中的每一个上的偏振像素。偏振成像部分20包括偏振器。偏振成像部分20将偏振图像的图像信号输出至图像处理部分30的缺陷检测部分35。在由偏振成像部分生成的目标偏振像素的像素值与由与处于与目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上的周边像素的像素值相对应的偏振特征估计的目标偏振像素的像素值之间的差大于预定允许范围的情况下，缺陷检测部分35确定目标偏振像素为缺陷像素。因此，可以检测生成偏振图像的偏振成像部分中的像素的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】图像处理设备和图像处理方法
本专利技术技术涉及允许检测偏振成像装置的缺陷的一种图像处理设备和一种图像处理方法。
技术介绍
常规上，由于在电荷耦合装置(CCD)成像装置或互补金属氧化物半导体(CMOS)成像装置中发生像素缺陷，已经执行处理来检测和校正像素缺陷。例如，在专利文献1中，目标像素附近且具有与目标像素相同的颜色的像素用作比较像素。检测绝对差值大于第一阈值的比较像素的数目。每个绝对差值是目标像素与相对应的一个比较像素之间的差。在检测到的比较像素的数目大于第二阈值的情况下，目标像素被确定为缺陷像素。此外，在专利文献2中，在预定像素的信号输出水平与预定像素周边的多个像素中的每一个的信号输出水平之间的差大于缺陷检测阈值的情况下，预定像素被确定为缺陷像素。[引用列表][专利文献][专利文献1]未审查的日本专利2008-067158[专利文献2]未审查的日本专利2002-223391
技术实现思路
[技术问题]附带地讲，如上所述的缺陷像素确定不考虑偏振成像装置的使用，其中处于不同偏振方向上的偏振器提供于像素单元或多个像素的单元中的入射表面上。根据前文，本专利技术技术的一个目标是提供允许偏振成像装置的缺陷检测的一种图像处理设备和一种图像处理方法。[问题的解决方案]根据本专利技术技术的第一方面，一种图像处理设备包括缺陷检测部分，其被配置成使用由偏振成像部分生成的目标偏振像素的像素值和由与处于与目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上的周边像素的像素值相对应的偏振特征估计的目标偏振像素的像素值检测目标偏振像素是否为缺陷像素，偏振成像部分被配置成获得多个偏振方向上的偏振像素。根据本专利技术技术，缺陷检测部分由与周边像素的像素值相对应的偏振特征估计目标偏振像素的像素值，所述周边像素处于与由包括偏振器的偏振成像部分生成的目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上。偏振成像部分包括多个偏振方向中的每一个上的偏振像素。在目标偏振像素的像素值与所估计的像素值之间的差在预定允许范围之外的情况下，缺陷检测部分确定目标偏振像素为缺陷像素。此外，周边像素可以处于与目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上。在周边像素包括处于相同偏振方向上的多个像素的情况下，缺陷检测部分可切换有待从处于相同偏振方向上的多个像素中选择的像素。以此方式，缺陷检测部分可产生用于估计目标偏振像素的像素值的周边像素的多个组合并且针对每个组合估计目标偏振像素的像素值。在目标偏振像素的像素值与所估计的像素值之间的差在预定允许范围之外的组合的比率大于提前设定的预定比率的情况下，目标偏振像素可被确定为缺陷像素。此外，缺陷检测部分可以不仅使用目标偏振像素的像素值，而且还使用处于与目标偏振像素相同的偏振方向上的周边像素的像素值来检测目标偏振像素是否为缺陷像素。在这种情况下，在目标偏振像素的像素值与所估计的像素值之间的差在预定的第一允许范围之外并且目标偏振像素的像素值与处于相同偏振方向上的周边像素的像素值之间的差在预定的第二允许范围之外的情况下，缺陷检测部分确定目标偏振像素为缺陷像素。此外，在目标偏振像素的像素值与所估计的像素值之间的差在预定的第一允许范围之外的情况下以及在所述差在预定的第一允许范围之内并且目标偏振像素的像素值与处于相同偏振方向上的周边像素的像素值之间的差在预定的第二允许范围之外的情况下，缺陷检测部分可确定目标偏振像素为缺陷像素。此外，缺陷检测部分基于与周边像素的像素值相对应的偏振特征估计目标偏振像素的像素值，所述周边像素包括具有与目标偏振像素相同的颜色分量且处于与目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上的像素。此外，包括了白平衡调整部分。白平衡调整部分使每个颜色分量的像素值均等，像素值通过对白色对象成像生成。缺陷检测部分可使用相应像素的像素值中处于与目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上的周边像素的像素值估计目标偏振像素的像素值，通过白平衡调整部分针对每个颜色分量调整像素值，像素值通过对白色对象成像生成。此外，在周边像素的像素值中，缺陷检测部分可包括处于不同时间方向的周边像素的像素值。此外，在包括被配置成存储指示缺陷像素的缺陷信息的缺陷信息存储部分的情况下，缺陷检测部分基于目标偏振像素的缺陷检测的结果更新缺陷信息。周边像素包括处于与目标偏振像素的偏振方向不同的至少两个或更多个偏振方向上的像素。此外，周边像素可包括非偏振像素和处于与目标偏振像素的偏振方向不同的一个偏振方向上的像素。在这种情况下，目标偏振像素的偏振方向与周边像素的偏振方向之间的角度差在基于45°的预定范围之内。此外，可包括缺陷校正部分，其被配置成将基于与处于与缺陷像素的偏振方向不同的偏振方向上的周边像素的像素值相对应的偏振特征估计的像素值指定为缺陷像素的校正像素值，或可包括缺陷校正部分，其被配置成使用被确定处于与缺陷像素的偏振方向相同的偏振方向上且具有与缺陷像素的纹理相同的纹理的周边像素的像素值计算缺陷像素的校正像素值。缺陷校正部分例如将处于与缺陷像素的偏振方向相同的偏振方向上且具有与缺陷像素的纹理相同的纹理的周边像素的像素值的平均值指定为缺陷像素的像素值。根据本专利技术技术的第二方面，一种图像处理方法包括通过缺陷检测部分使用由偏振成像部分生成的目标偏振像素的像素值和由与处于与目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上的周边像素的像素值相对应的偏振特征估计的目标偏振像素的像素值检测目标偏振像素是否为缺陷像素，偏振成像部分被配置成获得多个偏振方向上的偏振像素。本专利技术的有益效果如下：根据本专利技术技术，使用由偏振成像部分生成的目标偏振像素的像素值和由与处于与目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上的周边像素的像素值相对应的偏振特征估计的目标偏振像素的像素值检测目标偏振像素是否为缺陷像素。偏振成像部分获得多个偏振方向上的偏振像素。因此，可以检测生成偏振图像的偏振成像部分中的像素的缺陷。应注意，本说明书中所述的效果仅为实例且不限于那些实例。此外，可以表现出另外的效果。附图说明[图1]图1为说明偏振图像的生成的辅助图。[图2]图2为示出亮度与偏振角之间关系的图。[图3]图3为说明图像处理设备的操作的辅助图。[图4]图4为示出使用图像处理设备的偏振图像系统的配置的图。[图5]图5为示出生成黑白偏振图像的偏振成像部分的配置的图。[图6]图6为示出缺陷检测部分的操作的流程图。[图7]图7描绘了说明根据第一实施例的缺陷检测部分的缺陷确定操作的辅助图。[图8]图8描绘了说明根据第二实施例的缺陷检测部分的缺陷确定操作的辅助图。[图9]图9为说明根据第三实施例的缺陷检测部分的缺陷确定操作的辅助图。[图10]图10为示出根据第三实施例的缺陷检测部分的缺陷确定操作的流程图。[图11]图11为示出根据第三实施例的缺陷检测部分的另一缺陷确定操作的流程图。[图12]图12为示出第六实施例的配置的图。[图13]图13为示出第七实施例的配置的图。[图14]图14为说明根据第七实施例的缺陷检测部分的操作的辅助图。图14为描绘S的图。[图15]图15为示出生成彩色偏振图像的偏振成像部分的配置的图。[图16]图16为说明根据第八实施例的缺陷检测部分的缺陷确定操作的辅助图。[图17]图17为示出第九实施例的配置的图。[图18]图18描绘了说明偏振像素的像素值与非偏振像素本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图像处理设备，包括：缺陷检测部分，其被配置成使用由偏振成像部分生成的目标偏振像素的像素值和由与处于与所述目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上的周边像素的像素值相对应的偏振特征估计的所述目标偏振像素的像素值检测所述目标偏振像素是否为缺陷像素，所述偏振成像部分被配置成获得多个偏振方向上的偏振像素。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.08.31 JP 2016-1692711.一种图像处理设备，包括：缺陷检测部分，其被配置成使用由偏振成像部分生成的目标偏振像素的像素值和由与处于与所述目标偏振像素的偏振方向不同的偏振方向上的周边像素的像素值相对应的偏振特征估计的所述目标偏振像素的像素值检测所述目标偏振像素是否为缺陷像素，所述偏振成像部分被配置成获得多个偏振方向上的偏振像素。2.根据权利要求1所述的图像处理设备，其中在所述目标偏振像素的所述像素值与所估计的所述像素值之间的差在预定允许范围之外的情况下，所述缺陷检测部分确定所述目标偏振像素为所述缺陷像素。3.根据权利要求1所述的图像处理设备，其中所述周边像素包括偏振方向彼此相同的多个像素，并且所述缺陷检测部分在所述多个像素的不同组合中多次估计所述目标偏振像素的所述像素值并且在所述目标偏振像素的所述像素值与所估计的所述像素值之间的差在预定允许范围之外的组合的比率大于提前设定的预定比率的情况下确定所述目标偏振像素为所述缺陷像素。4.根据权利要求1所述的图像处理设备，其中所述缺陷检测部分使用所述目标偏振像素的所述像素值和处于与所述目标偏振像素相同的偏振方向上的周边像素的像素值来检测所述目标偏振像素是否为所述缺陷像素。5.根据权利要求4所述的图像处理设备，其中在所述目标偏振像素的所述像素值与所估计的所述像素值之间的差在预定的第一允许范围之外并且所述目标偏振像素的所述像素值与处于相同偏振方向上的所述周边像素的所述像素值之间的差在预定的第二允许范围之外的情况下，所述缺陷检测部分确定所述目标偏振像素为所述缺陷像素。6.根据权利要求4所述的图像处理设备，其中在所述目标偏振像素的所述像素值与所估计的所述像素值之间的差在预定的第一允许范围之外的情况下以及在所述差在预定的第一允许范围之内并且所述目标偏振像素的所述像素值与处于相同偏振方向上的所述周边像素的所述像素值之间的差在预定的第二允许范围之外的情况下，所述缺陷检测部分确定所述目标偏振像素为所述缺陷像素。7.根据权利要求1所述的图像处理设备，其中在所述周边像素的所述像素值中，所述缺陷检测部分包括处于不同时间方向的周边像素的像素值。8.根据权利要求1所述的图像处理设备，其中所述缺陷检测部分基于与周边像素的像素值相对应的偏振特征估计所述目标偏振像素的所述像素值，所述周边像...

【专利技术属性】
技术研发人员：栗田哲平，海津俊，近藤雄飞，平泽康孝，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：日本,JP