成像质谱分析装置制造方法及图纸

技术编号:20881296 阅读:27 留言:0更新日期:2019-04-17 13:00
关注区域设定部(41)根据用户的指定来决定试样上的二维的关注区域和该区域中的多个测定点(微小区域)。测定区域设定部(42)在关注区域内的各测定点的附近且与该测定点完全不重叠的位置处分别决定不同的测定点,并设定包括所述多个不同的测定点的测定区域。当用户从输入部(5)分别对关注区域和测定区域单独地指定测定方法时,测定方法分配部(44)对各区域分配测定方法并进行存储。分析控制部(3)按照对关注区域中和测定区域中的各测定点分配的测定方法来执行质谱分析并将数据保存到数据保存部(21)。测定区域是稍微偏离了关注区域的位置,测定区域与关注区域视为成分的二维分布大致相同。因此,能够几乎不受由激光照射产生的成分或基质的消耗的影响地获取不同的测定方法下的针对关注区域的高品质的MS成像图像。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】成像质谱分析装置
本专利技术涉及如下一种成像质谱分析装置:对试样上的二维区域内的多个测定点(微小区域)分别进行质谱分析,基于由此得到的信息来制作反映了上述二维区域内的物质的分布等的图像。
技术介绍
质谱分析成像法是如下一种方法:通过对生物体组织切片等试样的二维区域内的多个测定点分别进行质谱分析,来研究具有特定质量的物质的分布,该质谱分析成像法正不断应用于药物发现(drugdiscovery)、生物标记探索、各种疾病/疾患的原因探明等。用于实施质谱分析成像法的质谱分析装置一般被称为成像质谱分析装置(参照非专利文献1、专利文献1等)。另外,通常利用光学显微镜对试样上的任意的二维区域进行观察,基于该光学图像来决定测定对象区域并执行针对该区域的成像质谱分析,因此有时也被称为显微质谱分析装置、质谱显微镜等,但在本说明书中决定称为“成像质谱分析装置”。成像质谱分析装置一般利用离子化法,在该离子化法中,通过对放置在试样台上的试样照射收敛为细径的激光、电子线、离子线、中性原子线等粒子线、含有带电液滴的气体流、或者等离子气体流等,来将该试样中含有的物质进行离子化。向试样照射的细径的激光、粒子线等经常被统称为探针或离子化探针,因此在此决定称为离子化探针。一般地,在这种离子化法中,通过对试样照射一次脉冲形式的离子化探针而生成的离子的量少。因此,为了使作为检测对象的离子的信号强度增加,一般将对试样上的某一个测定点照射离子化探针并获取质谱数据这样的测定重复进行多次,通过对所得到的多个质谱数据进行累计来获得与该测定点对应的质谱。关于如上所述的离子化法,虽然根据离子化探针的种类不同,离子化的机理不同,但由于在使试样中的目标成分解吸之后进行离子化,因此基本上是有损分析。因此,当对相同的测定点重复进行离子化探针的照射也就是重复进行测定时,该测定点处的试样中的目标成分逐渐地减少,质谱的品质下降。特别是在基质辅助激光解吸离子化(MALDI)法的情况下,通过对试样照射激光,不仅消耗试样中的目标成分,还消耗为了辅助离子化而对试样添加的基质,因此重复测定同一测定点时的质谱的品质下降明显。基于这样的理由,通常预先决定针对同一测定点的测定的重复次数(离子化探针的照射总次数)、离子化探针的总照射时间的上限,使得所获得的质谱的品质下降收敛于允许范围,以不超过该上限的方式设定每个测定点的离子化探针的照射次数、照射时间之类的分析条件。另外,一般地,在质谱分析装置中尤其对成分的种类、量未知的试样进行测定的情况下,为了获得尽可能高的信号强度,需要通过预备的测定,来将离子化条件(例如在MALDI法中为激光功率、激光脉冲照射次数等)、对离子输送光学系统施加的施加电压等MS分析条件、例如包括碰撞诱导裂解时的碰撞能量、碰撞气体压力等的MSn分析条件等各种参数值调整为最佳值。这种所谓的测定方法的调整在成像质谱分析装置中也是重要的。在成像质谱分析装置中,通常根据试样上的测定位置的不同,所含有的成分不同,对于每个用户来说,想要观测的试样上的关注区域(ROI=RegionofInterest)不同。因此,原本期望通过在用户想要观测的试样上的关注区域内一边变更离子化条件等参数值一边实施预备测定来进行测定方法的调整。然而,为了适当地调整测定方法,需要重复进行多次测定,但如上所述,随着重复测定,消耗了试样成分和基质。因此,一般对试样上的与关注区域不同的其它区域进行预备测定,基于其结果来进行测定方法的调整,但这样的话存在以下问题:由于所检测的成分未必与关注区域的成分相同,因此难以进行准确的调整。对此,也考虑以下方法:以在关注区域内不超过每个测定点的测定次数的总数的上限值的方式分别对参数值不同的测定方法分配测定次数,对关注区域内的各测定点进行多个测定方法下的测定。即,该方法是以下方法:在每一个测定点的测定次数的总数的上限值为N且测定方法的数量为p的情况下,按每一个测定方法对一个测定点执行N/p以下的次数的测定。然而,在这样的方法中,每一个测定方法的测定次数少,因此所获得的信号强度易于变低,难以进行不同的测定方法下的质谱的准确的比较。特别是在MALDI法等中,每次测定的信号强度的偏差比较大,因此当每一个测定方法的测定次数少时,易于出现每次测定的信号强度的偏差的影响,测定方法的调整的可靠性降低。另外,也存在以下问题:由于决定了针对一个测定点的测定次数的总数的上限值,因此能够设定的测定方法的数量本身也受到制约,难以细微地变更一个分析条件的参数值。另外,在进行测定方法的调整的情况以外的情况中也存在以下情况:想要对关注区域内的各测定点进行多个测定方法下的测定。该情况例如是以下情况:想要通过对关注区域内的各测定点进行质荷比范围不同的多个质谱分析、普通的质谱分析及MSn分析或者前体离子的质荷比值不同的多个MSn分析等,来从一个关注区域收集更多的质谱分析信息或者对各个结果进行比较。在这样的情况下,也能够与测定方法的调整时同样地,采用以在关注区域内不超过每个测定点的测定次数的总数的上限值的方式分别对分析条件等不同的多个测定方法分配测定次数的方法,但如上所述那样存在以下问题:由于每一个测定方法的测定次数少,因此所获得的信号强度易于变低,难以获得准确的质谱分析信息。专利文献1:国际公开第2014/175211号非专利文献1:“iMScopeTRIOイメージング質量顕微鏡”,[线上],株式会社岛津制作所,[平成28年8月8日检索],因特网<URL:http://www.an.shimadzu.co.jp/bio/imscope/msn.htm>
技术实现思路
专利技术要解决的问题本专利技术是鉴于上述问题而完成的,其主要目的在于提供如下一种成像质谱分析装置:以能够在用户想要观测的试样上的关注区域的附近获得足够的信号强度那样的测定次数分别执行不同的测定方法下的测定,从而能够获得该不同的测定方法下的高品质的质谱分析成像图像。用于解决问题的方案为了解决上述问题而完成的本专利技术是一种成像质谱分析装置,对在试样上的二维区域内设定的多个微小区域分别照射离子化探针并执行质谱分析,该成像质谱分析装置具备:a)关注区域设定部,其决定试样上的关注区域以及离散地位于该关注区域内的多个微小区域;b)测定区域设定部,其决定与所述关注区域部分重叠的一个以上的测定区域、以及离散地位于该测定区域内并位于与所述关注区域内的多个微小区域及其它测定区域内的多个微小区域完全不重叠的位置的多个微小区域;c)测定方法设定部,其对所述关注区域和一个以上的所述测定区域分别设定包括执行质谱分析时的分析条件的测定方法,或者对多个所述测定区域分别设定包括执行质谱分析时的分析条件的测定方法;以及d)分析执行部,其按照在所述测定方法设定部中对所述关注区域和所述测定区域设定的测定方法,对所述关注区域和一个以上的所述测定区域中分别包括的多个微小区域执行质谱分析,或者对多个所述测定区域中分别包括的多个微小区域执行质谱分析。在本专利技术所涉及的成像质谱分析装置中,上述离子化探针例如是被收敛为细径的激光、电子线、离子线、中性原子线等粒子线、含有带电液滴的气体流、或者等离子气体流等。在利用激光来作为离子化探针的情况下,离子化法除了是上述的MALDI法以外,也是不使用基质的激光本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种成像质谱分析装置,对在试样上的二维区域内设定的多个微小区域分别照射离子化探针并执行质谱分析,该成像质谱分析装置的特征在于,具备:a)关注区域设定部,其决定试样上的关注区域以及离散地位于该关注区域内的多个微小区域;b)测定区域设定部,其决定与所述关注区域部分重叠的一个以上的测定区域、以及离散地位于该测定区域内并位于与所述关注区域内的多个微小区域及其它测定区域内的多个微小区域完全不重叠的位置的多个微小区域;c)测定方法设定部,其对所述关注区域和一个以上的所述测定区域分别设定包括执行质谱分析时的分析条件的测定方法,或者对多个所述测定区域分别设定包括执行质谱分析时的分析条件的测定方法;以及d)分析执行部,其按照在所述测定方法设定部中对所述关注区域和所述测定区域设定的测定方法,对所述关注区域和一个以上的所述测定区域中分别包括的多个微小区域执行质谱分析,或者对多个所述测定区域中分别包括的多个微小区域执行质谱分析。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种成像质谱分析装置,对在试样上的二维区域内设定的多个微小区域分别照射离子化探针并执行质谱分析,该成像质谱分析装置的特征在于,具备:a)关注区域设定部,其决定试样上的关注区域以及离散地位于该关注区域内的多个微小区域;b)测定区域设定部,其决定与所述关注区域部分重叠的一个以上的测定区域、以及离散地位于该测定区域内并位于与所述关注区域内的多个微小区域及其它测定区域内的多个微小区域完全不重叠的位置的多个微小区域;c)测定方法设定部,其对所述关注区域和一个以上的所述测定区域分别设定包括执行质谱分析时的分析条件的测定方法,或者对多个所述测定区域分别设定包括执行质谱分析时的分析条件的测定方法;以及d)分析执行部,其按照在所述测定方法设定部中对所述关注区域和所述测定区域设定的测定方法,对所述关注区域和一个以上的所述测定区域中分别包括的多个微小区域执行质谱分析,或者对多个所述测定区域中分别包括的多个微小区域执行质谱分析。2.根据权利要求1所述的成像质谱分析装置,其特征在于,所述测定方法设定部按照对作为测定方法中包括的至少一个分析条件的参数值进行变更的条件,来制作该参数值不同的多个测定方法,对所述关注区域和一个以上的所述测定区域分别设定所述多个测定方法,或者对多个所述测定区域分别设定所述多个测定方法。3.根据权利要求2所述的成像质谱分析装置,其特征在于,还具备最佳测定方法决定部,该最...

【专利技术属性】
技术研发人员:竹下建悟
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所
类型:发明
国别省市:日本,JP

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