一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法技术

本发明专利技术公开了一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法，属于检测技术领域。所述抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法，具体包括以下步骤：无干扰测试箱样机中测定组包曲线，得出样机测试斜率；在DUT的生产测试中，在干扰环境无屏蔽箱环境下测试wifi发包数，得出测试直线斜率；对比测试直线斜率与样机测试斜率偏差值是否在一定范围内；偏差值在一定范围内，生产测试样品达标。本发明专利技术的测试方案整体上缩短了测试站工位单机测试时间、缩减了屏蔽箱采购费用、缩减屏蔽箱操作培训费用、和箱内板测治具费用。并且可以有效生产大型，异形等屏蔽箱内无法安置产品。

【技术实现步骤摘要】
一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法
本专利技术属于检测
，特别涉及一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法。
技术介绍
检测用的金属屏蔽箱造价昂贵，开关繁琐需要时间，并且金属屏蔽箱的操作繁琐，对操作人员要求比较高，相应操作人员需要经过专门的培训。并且目前的金属屏蔽箱对于一些大型、异形的产品无法放置，导致检测困难。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述现有技术中存在的缺点与不足，提供一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法。所述的无线板检测方法，整体上缩短了测试站工位单机测试时间，缩减了屏蔽箱采购费用，缩减屏蔽箱操作培训费用，和箱内板测治具费用；并且可以有效生产大型，异形等屏蔽箱内无法安置产品。本专利技术的目的通过下述技术方案实现：一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法，具体包括以下步骤：步骤1：无干扰测试箱样机中测定组包曲线，获得样机测试斜率；步骤2：在DUT(被测设备)的生产测试中，在干扰环境无屏蔽箱环境下测试wifi发包数，获得测试直线斜率；步骤3：对比测试直线斜率与样机测试斜率偏差值是否在可控范围内；步骤4：偏差值在可控范围内，生产测试样品达标。其中：步骤1中所述的组包曲线为不同衰减下的wifi发包数曲线。步骤1中，采用无干扰金属屏蔽测试箱对样机进行两次更换衰减测试，测定组包曲线，推导出样机测试斜率。作为优选的实施方式，步骤2中所述的在干扰环境无屏蔽箱环境下测试wifi发包数：通过DUT在干扰环境下更换衰减，测试组包两次，得出测试直线斜率；所述的衰减采用shortcircuit绕接衰减方式，通过工装设置为自动更换，降低成本。步骤3中，所述偏差值在可控范围内，指将斜率转化为角度之后，偏差值在±5°以内，也就是说生产测试曲线应该是与金版样机测试曲线近似平行。在有干扰无屏蔽箱环境下测试wifi发包数后推导，被测DUT在干扰环境下更换衰减，测试组包两次；可以推导出样机在无干扰的屏蔽箱内测试数据。根据公式Rb＝W\cdot\log_2\left(1+S/N\right)；公式中S/N＝\sqrt{SNR_{dB}＝10\log_{10}\left(P_{sig}/P_{noi}\right)}；其中：Rb＝C＝数据可靠性，系统记录与发包数成正比；W为信道带宽；S为信号强度，单位有效功率；N为噪声强度，单位有效功率；SNR为信噪比，P是功率。同时由于MTU(MaximumTransmissionUnit，最大传输单元)数据包路由器一般默认1480字节(Byte)，且环境不变时组包成功率D'(W)<＝D+a，即组包成功率正比于数据可靠性，呈线性函数关系。本专利技术所用推导方法为依据上述公式上的任意两点(测试两次)，套入公式算的整条曲线，整条曲线当衰减达到客户指定的数值时，C应该大于等于客户要求。根据公式，干扰环境下的RB斜率小于无干扰的RB，所以生产前在用无干扰金属屏蔽测试箱样机做两次测试，就能确认样机组包曲线；对DUT的生产测试中，在干扰环境无屏蔽箱下更换衰减，测试组包两次，可以求得直线斜率，对比与无干扰金属屏蔽测试箱的实现测试斜率偏差值是否在一定范围内，从而推导，产品实际在屏蔽箱内是否达标。即干扰环境无屏蔽箱条件下测试所得的直线斜率，与无干扰金属屏蔽测试箱样机测试数据的范围大致平行。本专利技术相对于现有技术具有如下的优点及效果：经过综合对比，本专利技术的测试方案整体上缩短了测试站工位单机测试时间、缩减了屏蔽箱采购费用、缩减屏蔽箱操作培训费用、和箱内板测治具费用。并且可以有效生产大型，异形等屏蔽箱内无法安置产品。附图说明图1是本专利技术的抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法的实现流程图；图2是本专利技术的衰减值与单位时间发包率的比例关系曲线图；其中：A为设计理论最大值曲线，B为金属屏蔽箱样机无干扰值曲线(即客户要求达标值)，C为干扰下实际测试值曲线；R1为第一次测量衰减值，R2为第二次测量衰减值，R3为客户指定衰减值。具体实施方式下面结合实施例及附图对本专利技术作进一步详细的描述，但本专利技术的实施方式不限于此。实施例1如图1所示，本专利技术提供了一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法，具体包括以下步骤：步骤101：无干扰测试箱样机中测定组包曲线，得出样机测试斜率；步骤102：在DUT(被测设备)的生产测试中，在干扰环境无屏蔽箱环境下测试wifi发包数，得出测试直线斜率；步骤103：对比测试直线斜率与样机测试斜率偏差值是否在可控范围内；步骤104：偏差值在可控范围内，生产测试样品达标；步骤104-2：偏差值不在可控范围内，生产测试样品不达标。其中：步骤1中所述的组包曲线为不同衰减下的wifi发包数曲线。步骤101中，采用无干扰金属屏蔽测试箱对样机进行两次更换衰减测试，测定组包曲线，推导出样机测试斜率。步骤102中，所述的在干扰环境无屏蔽箱环境下测试wifi发包数：通过DUT在干扰环境下更换衰减，测试组包两次，得出测试直线斜率；所述的衰减采用shortcircuit绕接衰减方式，通过工装设置为自动更换，降低成本。步骤103中，所述偏差值在可控范围内，具体指将斜率转化为角度之后，偏差值在±5°以内在有干扰无屏蔽箱环境下测试wifi发包数后推导，被测DUT在干扰环境下更换衰减，测试组包两次；可以推导出样机在无干扰的屏蔽箱内测试数据。根据公式Rb＝W\cdot\log_2\left(1+S/N\right)；公式中S/N＝\sqrt{SNR_{dB}＝10\log_{10}\left(P_{sig}/P_{noi}\right)}；其中：Rb＝C＝数据可靠性，系统记录与发包数成正比；W为信道带宽；S为信号强度，单位有效功率；N为噪声强度，单位有效功率；SNR为信噪比，P是功率。同时由于MTU(MaximumTransmissionUnit，最大传输单元)数据包路由器一般默认1480字节(Byte)，且环境不变时组包成功率D'(W)<＝D+a，即组包成功率正比于数据可靠性，呈线性函数关系。本专利技术所用推导方法为依据上述公式上的任意两点(测试两次)，套入公式算的整条曲线，整条曲线当衰减达到客户指定的数值时，C应该大于等于客户要求。根据公式，干扰环境下的RB斜率小于无干扰的RB，所以生产前在用无干扰金属屏蔽测试箱样机做两次测试，就能确认样机组包曲线；对DUT的生产测试中，在干扰环境无屏蔽箱下更换衰减，测试组包两次，可以求得直线斜率，对比与无干扰金属屏蔽测试箱的实现测试斜率偏差值是否在一定范围内，从而推导，产品实际在屏蔽箱内是否达标。如图2所示，即干扰环境无屏蔽箱条件下测试所得的直线的斜率，与无干扰金属屏蔽测试箱样机测试数据的范围大致平行。经过综合对比，本专利技术的测试方案整体上缩短了测试站工位单机测试时间、缩减了屏蔽箱采购费用、缩减屏蔽箱操作培训费用、和箱内板测治具费用。并且可以有效生产大型，异形等屏蔽箱内无法安置产品。上述实施例为本专利技术较佳的实施方式，但本专利技术的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本专利技术的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法，其特征在于：具体包括以下步骤：步骤1：无干扰测试箱样机中测定组包曲线，得出样机测试斜率；步骤2：在DUT的生产测试中，在干扰环境无屏蔽箱环境下测试wifi发包数，得出测试直线斜率；步骤3：对比测试直线斜率与样机测试斜率偏差值是否在可控范围内；步骤4：偏差值在可控范围内，生产测试样品达标。

【技术特征摘要】
1.一种抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法，其特征在于：具体包括以下步骤：步骤1：无干扰测试箱样机中测定组包曲线，得出样机测试斜率；步骤2：在DUT的生产测试中，在干扰环境无屏蔽箱环境下测试wifi发包数，得出测试直线斜率；步骤3：对比测试直线斜率与样机测试斜率偏差值是否在可控范围内；步骤4：偏差值在可控范围内，生产测试样品达标。2.根据权利要求1所述抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法，其特征在于：步骤1中所述的组包曲线为不同衰减下的wifi发包数曲线。3.根据权利要求1所述抗干扰免屏蔽测试箱操作的无线板测方法，其特征在于：步骤1中，采用无干扰金属...

【专利技术属性】
技术研发人员：金志虎，
申请(专利权)人：深圳市共进电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44