一种减少机台差异对模组一致性影响的方法技术

本发明专利技术涉及一种减少机台差异对模组一致性影响的方法。解决现有技术中不同机台间摄像头模组效果参数存在差异性的问题。通过选取接近平均效果参数的模组，检测该模组在机台之间的效果参数的差异，获取差异系数，并将系数对应与其他模组的效果参数相乘进行校准，减少了机台差异对模组一致性的影响。

A Method to Reduce the Effect of Machine Station Difference on Module Consistency

The invention relates to a method for reducing the influence of machine platform differences on module consistency. To solve the problem of differences in the effect parameters of camera modules between different machines in the existing technology. By choosing the module which is close to the average effect parameters, the difference between the effect parameters of the module is detected, the difference coefficient is obtained, and the coefficient is multiplied with the effect parameters of other modules to calibrate, which reduces the influence of the difference of the machine on the consistency of the module.

【技术实现步骤摘要】
一种减少机台差异对模组一致性影响的方法
本专利技术涉及一种摄像模制造
，尤其是涉及一种减少机台差异对模组一致性影响的方法。
技术介绍
随着手机摄像头的应用推广，越来越多的地方需要用到摄像头模组，由于各方面因素的影响摄像头模组在白平衡，解析，暗角等效果参数上存在一定的差异性，如果用同一套参数去校准，效果不尽人意，为了保证摄像头模组的一致性，有必要提出一种减少机台差异对模组一致性影响的方法。
技术实现思路
本专利技术主要是解决现有技术中不同机台间摄像头模组效果参数存在差异性的问题，提供了一种减少机台差异对模组一致性影响的方法。本专利技术的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：一种减少机台差异对模组一致性影响的方法，机台包括基准机台和校准机台，包括以下步骤：S1.在基准机台上用一定数量的模组选取出目标模组；S2.在校准机台上获取目标模组的效果参数；即在校准机台上获取目标模组的R/G值和B/G值。S3.根据目标模组在基准机台和校正机台上的效果参数计算差异系数；S4.比较目标模组在基准机台和校准机台上效果参数的差异，在差异超标时，将校准机台上的模组效果参数乘上差异系数进行校准，然后存储到芯片中。本专利技术通过选取接近平均效果参数的模组，检测该模组在机台之间的效果参数的差异，获取差异系数，并将系数对应与其他模组的效果参数相乘进行校准，减少了机台差异对模组一致性的影响。作为一种优选方案，步骤S1中选取目标模组的具体步骤为：S11.在基准机台上对不少于200个基数的模组效果参数R/G、B/G值进行统计；模组基数要求不低于200颗。效果参数包括R/G、B/G值。S12.计算出这些模组的平均R/G值和平均B/G值；将基准机台上所有模组的R/G值相加除于数量得到平均R/G值，同样将所有模组的B/G值相加除于数量得到平均B/G值。S13.选取出效果参数R/G值和B/G值都接近平均R/G值和平均B/G值的模组，作为目标模组；S14.获取基准机台上目标模组在的效果参数。作为一种优选方案，步骤S3中计算差异系数采用以下公式：KRG=RG基准机台/RG校准机台KBG=BG基准机台/BG校准机台其中KRG和KBG分别为R/G值和B/G值的差异系数，RG基准机台为目标模组在基准机台上的R/G值，RG校准机台为目标模组在校准机台上的R/G值，BG基准机台为目标模组在基准机台上的R/G值，BG校准机台为目标模组在校准机台上的B/G值。作为一种优选方案，步骤S4中校准的具体步骤为：S41.计算目标模组在基准机台和校准机台上效果参数的差异，采用以下公式：Distance=sqrt（（（RG校准机台-RG基准机台）/RG基准机台）^2+（（BG校准机台-BG基准机台）/BG基准机台)^2)其中Distance为差异值，RG基准机台为目标模组在基准机台上的R/G值，RG校准机台为目标模组在校准机台上的R/G值，BG基准机台为目标模组在基准机台上的R/G值，BG校准机台为目标模组在校准机台上的B/G值；S42.比较差异值是否大于预设阈值，若否，判断未超标，按照原来的效果参数，若是，判*断超标，将校准机台上的模组效果参数乘上差异系数，获得校准后的效果参数，RG校准=KRG*RG校准机台BG校准=KBG*BG校准机台将校准后的效果参数存储到芯片中。本方案中计算得到的差异值为一个数值，将这个数值与预设阈值进行比较，超过预设阈值即超标。作为一种优选方案，还包括步骤S5，检测校准机台运行时间是否超过设定的额定时间，若否继续检测校准机台运行时间，若是重复步骤S1-S4的操作，对校准机台再次做校准。本方案是每隔设定的时间进行校准。因此，本专利技术的优点是：通过选取接近平均效果参数的模组，检测该模组在机台之间的效果参数的差异，获取差异系数，并将系数对应与其他模组的效果参数相乘进行校准，减少了机台差异对模组一致性的影响。附图说明图1是本专利技术的一种流程结构示意图。具体实施方式下面通过实施例，并结合附图，对本专利技术的技术方案作进一步具体的说明。实施例：本实施例一种减少机台差异对模组一致性影响的方法，如图1所示，包括以下步骤：S1.在基准机台上用一定数量的模组选取出目标模组；具体步骤为：S11.在基准机台上对不少于200个基数的模组效果参数R/G、B/G值进行统计；本实施例中以200个模组为例。S12.计算出这些模组的平均R/G值和平均B/G值，具体的，将基准机台上所有模组的R/G值相加除于数量得到平均R/G值，将所有模组的B/G值相加除于数量得到平均B/G值。S13.选取出效果参数R/G值和B/G值都接近平均R/G值和平均B/G值的模组，作为目标模组；S14.获取基准机台上目标模组在的效果参数RG基准机台、BG基准机台。S2.在校准机台上获取目标模组的效果参数RG校准机台、BG校准机台。S3.根据目标模组在基准机台和校正机台上的效果参数计算差异系数；差异系数采用以下公式：KRG=RG基准机台/RG校准机台KBG=BG基准机台/BG校准机台其中KRG和KBG分别为R/G值和B/G值的差异系数，RG基准机台为目标模组在基准机台上的R/G值，RG校准机台为目标模组在校准机台上的R/G值，BG基准机台为目标模组在基准机台上的R/G值，BG校准机台为目标模组在校准机台上的B/G值。S4.比较目标模组在基准机台和校准机台上效果参数的差异，在差异超标时，将校准机台上的模组效果参数乘上差异系数进行校准，然后存储到芯片中。具体步骤为：S41.计算目标模组在基准机台和校准机台上效果参数的差异，采用以下公式：Distance=sqrt（（（RG校准机台-RG基准机台）/RG基准机台）^2+（（BG校准机台-BG基准机台）/BG基准机台)^2)其中Distance为差异值，RG基准机台为目标模组在基准机台上的R/G值，RG校准机台为目标模组在校准机台上的R/G值，BG基准机台为目标模组在基准机台上的R/G值，BG校准机台为目标模组在校准机台上的B/G值；S42.比较差异值是否大于预设阈值5%，若否，判断未超标，按照原来的效果参数，若是，判断超标，将校准机台上的模组效果参数乘上差异系数，获得校准后的效果参数，RG校准=KRG*RG校准机台BG校准=KBG*BG校准机台将校准后的效果参数存储到芯片中。步骤S5，检测校准机台运行时间是否超过设定的时间，本实施例设定为12小时，若否继续检测校准机台运行时间，若是返回步骤S14，重复步骤S1-S4，具体的为S14-S42的操作，对校准机台再次做校准。本文中所描述的具体实施例仅仅是对本专利技术精神作举例说明。本专利技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本专利技术的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种减少机台差异对模组一致性影响的方法，机台包括基准机台和校准机台，其特征在于：包括以下步骤：S1.在基准机台上用一定数量的模组选取出目标模组；S2.在校准机台上获取目标模组的效果参数；S3.根据目标模组在基准机台和校正机台上的效果参数计算差异系数；S4.比较目标模组在基准机台和校准机台上效果参数的差异，在差异超标时，将校准机台上的模组效果参数乘上差异系数进行校准，然后存储到芯片中。

【技术特征摘要】
1.一种减少机台差异对模组一致性影响的方法，机台包括基准机台和校准机台，其特征在于：包括以下步骤：S1.在基准机台上用一定数量的模组选取出目标模组；S2.在校准机台上获取目标模组的效果参数；S3.根据目标模组在基准机台和校正机台上的效果参数计算差异系数；S4.比较目标模组在基准机台和校准机台上效果参数的差异，在差异超标时，将校准机台上的模组效果参数乘上差异系数进行校准，然后存储到芯片中。2.根据权利要求1所述的一种减少机台差异对模组一致性影响的方法，其特征是步骤S1中选取目标模组的具体步骤为：S11.在基准机台上对不少于200个基数的模组效果参数R/G、B/G值进行统计；S12.计算出这些模组的平均R/G值和平均B/G值；S13.选取出效果参数R/G值和B/G值都接近平均R/G值和平均B/G值的模组，作为目标模组；S14.获取基准机台上目标模组在的效果参数。3.根据权利要求1所述的一种减少机台差异对模组一致性影响的方法，其特征是步骤S3中计算差异系数采用以下公式：KRG=RG基准机台/RG校准机台KBG=BG基准机台/BG校准机台其中KRG和KBG分别为R/G值和B/G值的差异系数，RG基准机台为目标模组在基准机台上的R/G值，RG校准机台为目标模组在校准机台上的R/...

【专利技术属性】
技术研发人员：骆淑君，李江迪，许烨焓，
申请(专利权)人：横店集团东磁有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33