集成电路输入/输出引脚上的错误检测制造技术

一种用于检测集成电路的输入/输出(IO)引脚上的错误的方法，包括通过接收或发送作为模拟数据或数字数据的第一值来在第一模式中使用集成电路的输入/输出引脚。在第一模式中使用输入/输出引脚的每个实例之后，在测试模式中切换输入/输出引脚。测试模式包括在第一模式中使用输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与第一值不同的第二值、在设置时间期间接收回基于提供第二值的结果值、测量结果值、以及基于测量的结果值来标识集成电路的输入/输出引脚上的错误。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】集成电路输入/输出引脚上的错误检测
本公开涉及集成电路领域。更具体地，本公开涉及集成电路输入/输出引脚上的错误检测领域。
技术介绍
集成电路包括处理器和微处理器(诸如微控制器)。微控制器具有引脚，其可能被卡住的，或者在例如模拟输入模式中可能被错误寻址。常规地，使用2个通道来检测卡住的引脚或错误寻址，以便调用保护。US2002/0135391、US2008/0265262、US2011/0148429和US2011/0234105示出了使用反馈回路来监视输出值的不同方式。这种反馈环路是提供输出值的集成电路的一部分。
技术实现思路
本专利技术提供了一种在包括微处理器的集成电路的输入/输出引脚上进行引脚卡住检测的解决方案。集成电路的输入/输出引脚链接到输入节点。输入节点通过至少一个电阻器来接收输入信号，并且通过第二电阻器连接到基准电压，并且通过第三电阻器连接到零伏。方法包括：通过接收作为模拟数据或数字数据的第一值，来在输入模式中使用集成电路的所述输入/输出引脚；以及在输入模式中使用输入/输出引脚的多个实例中的每个实例之后，在测试模式中切换输入/输出引脚，其中测试模式包括：使用输入/输出引脚作为输出，该输出在输入模式中使用输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与第一值不同的第二值，在设置时间期间接收回基于提供第二值的结果值，测量结果，以及基于测量的结果值来标识集成电路的输入/输出引脚上的错误。根据一个优选实施例，方法还包括：-输出脉冲，以提供第二值作为测试模式中在集成电路的输出处的输出脉冲值；-内部地读取输出脉冲，以通过获得输出脉冲值来接收回结果值；-测量输出脉冲值作为测量的结果值；以及-将从输出读取的输出脉冲值与第二值进行比较，-其中标识的错误是基于比较被标识的。根据另一方面，本专利技术涉及一种控制电路，其包括集成电路、第一电阻器、第二电阻器和第三电阻器。集成电路包括微处理器，微处理器可操作以执行用于检测集成电路的输入/输出引脚上的错误的指令，集成电路的输入/输出引脚链接到输入节点。第一电阻器连接到输入节点并且接收输入信号。第二电阻器连接在基准电压与输入节点之间。第三电阻连接在零电压与输入节点之间。优选地，控制电路可以包括将集成电路的输入/输出引脚链接到输入节点的第四电阻器。控制电路可以包括与第三电阻器并联连接的电容器。根据一个具体应用，控制电路位于发光二极管驱动电路的输出部中，发光二极管驱动电路具有主控制部和与主控制部隔离的输出部。根据一个优选实施例，当由微处理器执行时，指令使发光二极管驱动电路执行包括以下项的过程：-通过接收作为模拟数据或数字数据的第一值，来在输入模式中使用集成电路的输入/输出引脚；以及-在第一模式中使用输入/输出引脚的多个实例中的每个实例之后，在测试模式中切换输入/输出引脚，-其中测试模式包括：使用输入/输出引脚作为输出，该输出在输入模式中使用输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与第一值不同的第二值，在设置时间期间接收回基于提供第二值的结果值，测量结果值，以及基于所测量的结果值来标识微处理器的输入/输出引脚上的错误。附图说明图1示出了根据本公开的一个方面的包括驱动电路的示例性电子设备，驱动电路具有带有输入/输出引脚的微处理器；图2示出了根据本公开的一个方面的具有微处理器的示例性电路；图3示出了根据本公开的一个方面的具有微处理器的另一示例性电路；图4示出了根据本公开的一个方面的具有微处理器的示例性电路；图5示出了根据本公开的一个方面的用于集成电路输入/输出引脚上的错误检测的示例性过程；图6示出了根据本公开的一个方面的用于集成电路输入/输出引脚上的错误检测的另一示例性过程；图7示出了根据本公开的一个方面的用于集成电路输入/输出引脚上的错误检测的另一示例性过程；以及图8示出了根据本公开的一个方面的用于集成电路输入/输出引脚上的错误检测的另一示例性过程。具体实施方式鉴于前述内容，因此，通过本公开的各个方面、实施例和/或特定特征或子部件中的一个或多个，本公开旨在表现出如下面具体指出的优点中的一个或多个优点。本公开描述了一种可以针对引脚执行错误检测的微控制器。当微控制器用于控制发光二极管驱动电路以满足UL2类要求以及温度P类要求时，软件需要兼容UL60730可兼容。本文描述的微控制器可以检测引脚是否卡在高水平或低水平、以及模拟输入复用器寻址是否出错。当检测到错误时，可以触发保护。本文包含的公开描述了例如如何检测被配置用于数字输出的卡住的输入/输出引脚、以及针对模拟输入引脚的错误的复用器寻址。本文描述的方法是说明性的示例，并且因此不旨在要求或暗示以所呈现的顺序来执行任何实施例的任何特定过程。诸如“此后”、“然后”、“接下来”等词语并不旨在限制过程的顺序，而是这些词语用于引导读者浏览方法的描述。此外，对单数形式的权利要求要素的任何引用(例如，使用冠词“一”、“一个”或“该”)不应当被解释成将该要素限制为单数。另外，在本文中可以互换地使用诸如微处理器和微控制器之类的术语。在没有区分这些术语的解释的情况下，出于本文提供的解释的目的，类似和可比的术语应被视为等价。在微处理器的示例中，本文描述的任何微处理器也可以是例如微处理器芯片或控制器。图1示出了示例性电子设备，其包括具有微处理器的驱动电路。在图1中，电子设备10是包括微处理器140的设备。图1中的微处理器140被示出为驱动电路的一部分，驱动电路用于驱动由(一个或多个)发光二极管199施加的负载。电子设备10的一个示例是包括由驱动电路驱动的发光二极管的设备。驱动电路可以被设计成符合UL2类LED驱动器要求，并且可以帮助确保驱动电路的参数满足这种要求。这种驱动电路可以包括主控制部和在至少一个方面与主控制部隔离的输出部。电子设备10可以是例如照明器材、娱乐显示器、通信设备等。这种设备还可以包括具有存储器和专用于驱动电路100的输出部100b的微处理器100之外的附加微处理器的电子设备。这种设备可以作为独立设备操作，或者可以例如使用网络而连接到其他设备或系统。电子设备10可以被合并作为特定设备或被合并在特定设备中，特定设备又在包括附加设备的集成系统中。在一个特定实施例中，可以使用提供语音、视频或数据通信的电子设备来实现电子设备10。此外，虽然图示了单个电子设备10，但是电子设备10可以被包括在“系统”中，“系统”包括单独或联合执行一组或多组指令以执行一个或多个计算机软件功能的系统或子系统的任何集合。本文描述的微处理器是有形的和非暂态的。如本文所使用的，术语“非暂态”不应当被解释为状态的永恒特性，而是被解释为将持续一段时间的状态的特性。术语“非暂态”明确地否定了稍纵即逝的特性，诸如特定载波或信号或在任何时间在任何地方仅暂态存在的其他形式的特性。微处理器是制品和/或机器部件。用于电子设备10的微处理器被配置成执行软件指令，以便执行如本文的各种实施例中描述的功能。用于电子设备10的微处理器可以是通用微处理器，或者可以是专用集成电路(ASIC)的一部分。另外，本文描述的任何微处理器可以包括多个微处理器、并行微处理器或两者。多个微处理器可以被包括在单个设备或多个设备中，或者被耦合到单个设备或多个设备。此外，本文描述的设备可以包括诸如存储器的存储装置。本文描述的存储器是可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测集成电路的输入/输出引脚上的错误的方法，所述集成电路的所述输入/输出引脚链接到输入节点，其中所述输入节点通过至少一个电阻器(R1，202、402)接收输入信号(Vin)并且其中所述输入节点通过第二电阻器(R2，204、404)连接到基准电压(Vref)并且通过第三电阻器(R3，206，R5，410)连接到零电压，所述方法包括：通过接收作为模拟数据或数字数据的第一值，在输入模式中使用所述集成电路的所述输入/输出引脚；以及在所述输入模式中使用所述输入/输出引脚的多个实例中的每个实例之后，在测试模式中切换所述输入/输出引脚，其中所述测试模式包括：使用所述输入/输出引脚作为输出，所述输出在所述输入模式中使用所述输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与所述第一值不同的第二值，在所述设置时间期间接收回基于提供所述第二值的结果值，测量所述结果，以及基于所测量的所述结果值来标识所述集成电路的所述输入/输出引脚上的错误。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.06.17 EP 16174882.7;2016.06.01 US 62/343,9981.一种用于检测集成电路的输入/输出引脚上的错误的方法，所述集成电路的所述输入/输出引脚链接到输入节点，其中所述输入节点通过至少一个电阻器(R1，202、402)接收输入信号(Vin)并且其中所述输入节点通过第二电阻器(R2，204、404)连接到基准电压(Vref)并且通过第三电阻器(R3，206，R5，410)连接到零电压，所述方法包括：通过接收作为模拟数据或数字数据的第一值，在输入模式中使用所述集成电路的所述输入/输出引脚；以及在所述输入模式中使用所述输入/输出引脚的多个实例中的每个实例之后，在测试模式中切换所述输入/输出引脚，其中所述测试模式包括：使用所述输入/输出引脚作为输出，所述输出在所述输入模式中使用所述输入/输出引脚之后的设置时间期间提供与所述第一值不同的第二值，在所述设置时间期间接收回基于提供所述第二值的结果值，测量所述结果，以及基于所测量的所述结果值来标识所述集成电路的所述输入/输出引脚上的错误。2.根据权利要求1所述的方法，还包括：输出脉冲，以提供所述第二值作为所述测试模式中在所述集成电路的输出处的输出脉冲值；内部地读取所述输出脉冲，以通过获得所述输出脉冲值来接收回所述结果值；测量所述输出脉冲值作为所测量的所述结果值；以及将从所述输出读取的所述输出脉冲值与所述第二值进行比较，其中标识的所述错误是基于所述比较被标识的。3.根据权利要求1所述的方法，其中在所述第一模式中使用所述输入/输出引脚包括：在由模数转换器进行的转换之后，从来自所述输入/输出引脚的首先接收的模拟输入中读取所述第一值；其中在所述测试模式中的所述切换包括：在接收到所述首先接收的模拟输入之后，在所述测试模式中第一次重新配置所述输入/输出引脚以用于数字输出；并且其中所述提供包括：将所述第二值设置为数字输出值，以用于在所述设置时间期间来自在所述测试模式中被重新配置用于数字输出的所述输入/输出引脚的输出；其中所述方法还包括：对在所述测试模式中被重新配置用于数字输出的所述输入/输出引脚处的电容器充电或放电，以在所述设置时间期间在将所述第二值设置为所述数字输出值之后维持电压水平；在所述设置时间期间在将所述第二值设置为所述数字输出值之后，在所述测试模式中第二次重新配置所述输入/输出引脚以再次用于模拟输入；测量所述输入/输出引脚处的所述电压水平，以获得在由所述模数转换器进行的转换之后的所测量的所述结果值，以及将从所述输入/输出引脚获得的所测量的所述结果值与所述第二值进行比较，其中标识的所述错误是基于所述比较被标识的。4.根据权利要求1所述的方法，其中所述集成电路包括用于控制发光二极管驱动电路的微控制器。5.根据权利要求4所述的方法，其中所述发...

【专利技术属性】
技术研发人员：方玉红，M·乔勒克，H·古迪帕蒂，G·格瑞沃，
申请(专利权)人：飞利浦照明控股有限公司，
类型：发明
国别省市：荷兰,NL