【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于分析装配玻璃质量的光学装置的校准以及相关方法
本专利技术涉及装配玻璃质量分析领域,尤其涉及淬火或半淬火(换言之,硬化)装配玻璃中的淬火痕迹或加热不均匀性的分析。
技术介绍
众所周知,具有应力的钢化玻璃是光学各向异性的。它展现出双折射属性。在专利WO2011/157815中,正是这些属性用于分析淬火痕迹。为了进行淬火痕迹的分析,装配玻璃通过一个组合件以便测量由淬火产生的双折射的存在。该组合件的主要组件由通过光弹性测量进行测量的装置或偏振器构成,包括:-在装配玻璃上游,光源、第一直线偏光镜、第一波片;-在装配玻璃下游,第二波片、检偏振器(第二直线偏光镜)、然后是光电探测器。这产生位于装配玻璃上的痕迹的严重性和分布的图像。然后根据预先建立的标准分析所存在的痕迹的图像,以对应于观察者对这些痕迹的出现的感知。向一系列淬火装配玻璃被提交给的专家小组进行统计评估。该分析缺乏可靠性,因为被分析的图像将依赖于所使用的光学系统。本专利技术的目的是提供不依赖于所使用的硬件的淬火和甚至半淬火装配玻璃的质量分析。
技术实现思路
为此,本专利技术首先目的在于一种光学装置,包括第一偏振器,优选地为竖直向偏振器,其沿着与光轴(优选地,竖直轴Z或水平轴)光学对齐的方式以此顺序包括:-第一(可见)光源,优选为多色光源,其具有给定光谱、尤其是白色光谱,其释放光束——其中优选地在由所述光轴给出的方向上发射光,第一光源特别是多个无机电致发光二极管(称为LED)或甚至一个或多个有机电致发光二极管(称为OLED),第一光源尤其是正交于所述光轴;-第一圆形(或准圆形)偏光镜,其在第一旋转(偏振)方向—— ...
【技术保护点】
1.光学装置(1000、1001、1002),其特征在于,其包括第一偏振器,第一偏振器沿着按照光轴(Z)的光学对齐以此顺序包括:‑ 第一光源(1),优选为多色光源,其具有给定光谱、正交于所述光轴、释放光束,‑ 第一圆形偏光镜(2),其在第一偏振旋转方向上、正交于所述光轴、包括第一线性偏光镜接着是第一四分之一波片,‑ 第一检偏振器(2),其为圆形偏光镜,其在与第一旋转方向相反的第二偏振旋转方向上、正交于所述光轴,第一检偏振器包括第二四分之一波片接着是第二线性偏光镜,并且其特征在于,所述光学装置在第一检偏振器的下游并且沿着所述光学对齐包括,正交于所述光轴的第一数字传感器(6、6')以及正交于所述光轴并限定焦平面的第一物镜(5、5'),第一物镜面向第一数字传感器、在第一检偏振器与第一数字传感器之间,其特征在于,所述光学装置在第一偏光镜与第一检偏振器之间并且沿着所述光学对齐包括已检定的第一光学延迟发生器(3),其正交于所述光轴,在范围AB中,其中值A优选为在从0nm至100nm的范围内,并且差B‑A优选为至少100nm,第一光学延迟发生器处于所述焦平面中,其特征在于,第一数字传感器包括一组第一 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2017.05.31 FR 17547991.光学装置(1000、1001、1002),其特征在于,其包括第一偏振器,第一偏振器沿着按照光轴(Z)的光学对齐以此顺序包括:-第一光源(1),优选为多色光源,其具有给定光谱、正交于所述光轴、释放光束,-第一圆形偏光镜(2),其在第一偏振旋转方向上、正交于所述光轴、包括第一线性偏光镜接着是第一四分之一波片,-第一检偏振器(2),其为圆形偏光镜,其在与第一旋转方向相反的第二偏振旋转方向上、正交于所述光轴,第一检偏振器包括第二四分之一波片接着是第二线性偏光镜,并且其特征在于,所述光学装置在第一检偏振器的下游并且沿着所述光学对齐包括,正交于所述光轴的第一数字传感器(6、6')以及正交于所述光轴并限定焦平面的第一物镜(5、5'),第一物镜面向第一数字传感器、在第一检偏振器与第一数字传感器之间,其特征在于,所述光学装置在第一偏光镜与第一检偏振器之间并且沿着所述光学对齐包括已检定的第一光学延迟发生器(3),其正交于所述光轴,在范围AB中,其中值A优选为在从0nm至100nm的范围内,并且差B-A优选为至少100nm,第一光学延迟发生器处于所述焦平面中,其特征在于,第一数字传感器包括一组第一光电探测器(6、6'),其对第一光源的光谱敏感,具有给定的光谱响应,第一光电探测器中的一个或多个——称为第一校准光电探测器——面向第一光学延迟发生器,每个第一校准光电探测器针对所述范围AB中的所述光学延迟中的每一个连续接收从第一检偏振器出射的光束发出的光能,然后第一数字传感器针对所述范围AB中的所述光学延迟生成称作校准数字图像的数字图像,每个校准数字图像是用一个或多个参考通道Ck由一个或多个像素形成的,所述一个或多个像素表示一个或多个第一校准光电探测器的光谱响应,并且其特征在于,所述光学装置还包括用于处理校准数字图像的集合的第一数字处理单元,第一处理单元形成校准库,所述校准库针对所述范围AB中的每个光学延迟包含针对参考通道Ck中的每一个的数值Ik,Ik表示由一个或多个第一校准光电探测器收集的光能。2.根据权利要求1所述的光学装置(1000、1001、1002),其特征在于,已检定的第一光学延迟发生器包括由双折射材料制成的光学系统,选自:-一组已检定的静止光学平面波片,所述波片是可互换的,每个波片依次插入所述光学装置中;或者系统(3),如补偿器,尤其是索累-巴比涅补偿器,包括由双折射材料制成的第一和第二劈片,第二片相对于静止的第一片可平移地移动,尤其是所述补偿器通过以所述光轴为中心的孔径(31)来限定,所述孔径被第一光源完全照射,所述孔径在所述焦平面中,一个或多个第一校准光电探测器面向所述孔径。3.根据前述权利要求之一所述的光学装置(1000、1001、1002),其特征在于,光学延迟的改变是自动化的,尤其是计算机控制的,尤其是第一光学延迟发生器(3)是补偿器,如索累-巴比涅补偿器,其是机械化的且尤其是由计算机控制的,并且能够在所述范围AB中自动使所述光学延迟增量,尤其是以P0的增量步长,P0为至多0.5nm甚至至多0.3nm,特别是在15至25nm甚至0至25nm之间,或者其特征在于,静止的光学平面波片的改变例如利用转盘或平移移动型的自动化系统而是自动化的。4.根据权利要求2或3之一所述的光学装置(1000、1001、1002),其特征在于,所述补偿器的孔径(31)是圆形的,直径O1为至多30mm、或者所述补偿器的孔径具有等效于至多30mm的直径的直径O1、或者等效直径为至多30mm,所述孔径的中心位于直径为O1/2的中心圆盘中,所使用的一个或多个第一校准光电探测器完全面向所述中心圆盘,所述中心圆盘的直径或等效直径为至多25mm、甚至至多10mm并且更好为至少5mm。5.根据前述权利要求之一所述的光学装置(1000、1001、1002),其特征在于,参考通道Ck包括或甚至是称为RGB通道的红色、绿色和蓝色三个通道。6.根据前述权利要求之一所述的光学装置(1000、1001、1002),其特征在于,第一光学延迟发生器包括入射表面(31),所述入射表面被光束照射,限定了校准表面,所述校准表面的直径或等效直径为至多30mm,并且优选地在5mm至25mm的范围内。7.根据前述权利要求之一所述的光学装置(1000、1001、1002),其特征在于,所述光轴是竖直的(Z),第一偏振器、第一数字传感器(6)、物镜(5)和第一光学延迟发生器是在加热和淬火流水线上、在淬火系统的下游,在装配玻璃没有在校准区域中纵向前行的情况下并且更好地是在停机时,所述流水线包括沿传送轴Y的装配玻璃传送装置,其优选为水平的,并且可能地,所述流水线是淬火弯曲流水线,第一偏振器、第一数字传感器、物镜(5)和第一光学延迟发生器位于弯曲系统的下游。8.根据前一权利要求所述的光学装置(1000、1001),其特征在于,所述传送装置(8)包括两个辊,所述辊由辊间空间隔开,第一光源位于传送区域下方、在两个辊之间和/或在两个辊下方,可能地,第一光源位于与地面隔开的源支架上,并且第一数字传感器是线性的并且与两个辊隔开且在两个辊上方。9.根据权利要求7至8之一所述的光学装置(1000、1001),其特征在于,所述传送装置包括两个辊,所述两个辊由辊间空间隔开,第一光学延迟发生器固定在两个辊上的安装支架(7)上,所述安装支架具有面向第一光学延迟发生器的校准表面的孔,所述校准表面是被光束照射的入射表面。10.根据前述权利要求之一所述的光学装置(1000、1001),其特征在于,第一数字传感器(6)是线性的。11.根据前述权利要求之一所述的光学装置(1000、1001、1002),其特征在于,第一光源,尤其是无机电致发光二极管(1)或一个或多个有机电致发光二极管,形成线状发光带,并且尤其是所述发光带的侧表面被遮蔽,中央表面照射第一光学延迟发生器。12.根据权利要求1至8之一所述的光学装置(1002),其特征在于,第一数字传感器是矩阵式的,第一光电探测器是在矩阵中。13.根据前述权利要求之一所述的光学装置(1002),其特征在于,其在第一光源(1')下游且在第一光学延迟发生器上游并且甚至优选地在第一偏光镜(2)上游包括第一准直部件,并且其特征在于,第一物镜(5')是远心的。14.根据前述权利要求之一所述的光学装置(1000、1002),其特...
【专利技术属性】
技术研发人员:R德库尔塞勒,O迪穆兰,T里巴齐克,
申请(专利权)人:法国圣戈班玻璃厂,
类型:发明
国别省市:法国,FR
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