双感应测井裂缝孔隙度分析方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种双感应测井裂缝孔隙度分析方法及系统，包括：基于地层裂缝发育情况，建立裂缝性地层双感应测井初始模型；基于双感应测井仪器几何因子，计算裂缝性地层初始模型双感应测井响应曲线；将计算裂缝性地层初始模型双感应测井响应曲线与实际双感应测井响应曲线比对，调整初始模型参数，直至两曲线拟合差小于最大容差，获取地层中裂缝孔隙度。其优点在于：为利用双感应测井资料确定裂缝发育带裂缝孔隙度提供了有效手段，从感应测井响应机理出发，建立了含裂缝地层正反演模型，在地层条件与模型情况相似的情况下，反演所得裂缝孔隙度与地层真实情况吻合较好，计算精度高，在裂缝参数定量评价方面有实用价值。

【技术实现步骤摘要】
双感应测井裂缝孔隙度分析方法及系统
本专利技术涉及感应测井数值模拟领域，更具体地，涉及一种双感应测井裂缝孔隙度分析方法及系统。
技术介绍
裂缝孔隙度的定量评价是测井解释面临的一个重要难题，裂缝既是重要的油气储集空间又是低渗透储层的运移通道。裂缝发育与否，直接关系到油气产能。随着油气勘探开发工作的深入，裂缝性储层的测井评价日益引起人们的重视。由于裂缝与基岩电性存在显著差异，电阻率测井是目前测井评价裂缝的主要手段。电阻率测井主要包括贴井壁测量的微电阻率成像测井及仪器位于井眼中心测量的侧向测井、感应测井。目前微电阻率成像测井裂缝评价技术已经成熟并得到了广泛的应用，可以精确评价单条裂缝角度、开度、裂缝孔隙度，裂缝发育带裂缝孔隙度、密度等参数(张晓峰.井中裂缝的定量表征及其应用研究[D].吉林大学，2011)。自Sibbit提出侧向测井裂缝参数评价模型后，侧向测井裂缝参数定量评价技术也得到了迅速发展应用(SibbitAM,FaivreQ.Theduallaterologresponseinfracturedrocks[C].In:SPWLA.26thannualloggingsymposium,1985,17–20June.高杰，刘传奇，万金彬.裂缝性储层双侧向测井响应临界角影响因素分析[J].测井技术2012，36(5)：456-459)。然而感应测井评价裂缝参数主要依赖于多分量感应测井、阵列感应测井等非常规测井方法(WangT,TangXM,YuLM,etal.Characterizingfractureswithmulticomponentinductionmeasurements[J].Petrophysics2005,46(1):42–51.WuP,BarberT,WangGL,etal.Fracturecharacterizationusingtriaxialinductiontools[C].In:SPWLA54thannualloggingsymposium,2013,22–26June)。针对砂泥岩剖面中广泛采用的双感应测井，目前还没有裂缝孔隙度定量评价方法。因此，有必要开发一种适用于双感应测井的裂缝孔隙度定量评价方法及系统。公开于本专利技术
技术介绍
部分的信息仅仅旨在加深对本专利技术的一般
技术介绍
的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
本专利技术提出了一种双感应测井裂缝孔隙度分析方法及系统，其能够通过研究不同裂缝孔隙度裂缝发育带的双感应测井响应规律，建立一种双感应裂缝孔隙度评价方法，实现双感应裂缝定量分析。根据本专利技术的一方面，提出了一种双感应测井裂缝孔隙度分析方法，包括：基于地层裂缝发育情况，建立裂缝性地层双感应测井初始模型；基于双感应测井仪器几何因子，计算裂缝性地层初始模型双感应测井响应曲线；将所述计算裂缝性地层初始模型双感应测井响应曲线与实际双感应测井响应曲线比对，调整所述初始模型的参数，直至两曲线拟合差小于最大容差，获取地层中裂缝孔隙度。优选地，所述建立裂缝性地层双感应测井初始模型，包括：根据实测双感应测井资料，采用双感应曲线极值点数量判断裂缝发育带数目，极值点位置判断裂缝发育带中心点位置；基于基岩和裂缝带电阻率的初始值，建立包含基岩、裂缝带、井眼、测井仪器裂缝性地层初始模型。优选地，基于所述双感应测井仪器几何因子理论，所述裂缝性地层双感应的视电导率曲线为：感应测井视电导率应为所述初始模型中的基岩、裂缝带、井眼及测井仪器的视电导率贡献的线性叠加。优选地，所述初始模型中的基岩、裂缝带、井眼及测井仪器的视电导率贡献通过基岩、裂缝带、井眼及测井仪器的复合线圈系几何因子与各部分的视电导率乘积获取。优选地，所述拟合差通过实际双感应测井响应曲线与初始模型双感应测井响应曲线离差的平方和按深度累加再开方获取。优选地，所述裂缝性地层双感应测井初始模型的参数改变量通过马奎特最小二乘法获取。根据本专利技术的另一方面，提出了一种双感应测井裂缝孔隙度分析系统，包括：存储器，存储有计算机可执行指令；处理器，所述处理器运行所述存储器中的计算机可执行指令，执行以下步骤：基于地层裂缝发育情况，建立裂缝性地层双感应测井初始模型；基于双感应测井仪器几何因子，计算裂缝性地层初始模型双感应测井响应曲线；将所述计算裂缝性地层初始模型双感应测井响应曲线与实际双感应测井响应曲线比对，调整所述初始模型的参数，直至两曲线拟合差小于最大容差，获取地层中裂缝孔隙度。优选地，所述建立裂缝性地层双感应测井初始模型，包括：根据实测双感应测井资料，采用双感应曲线极值点数量判断裂缝发育带数目，极值点位置判断裂缝发育带中心点位置；基于基岩和裂缝带电阻率的初始值，建立包含基岩、裂缝带、井眼、测井仪器裂缝性地层初始模型。根据本专利技术的一种双感应测井裂缝孔隙度分析方法，其优点在于：利用双感应测井资料确定裂缝发育带裂缝孔隙度提供了有效手段，从感应测井响应机理出发，建立了含裂缝地层正反演模型，在地层条件与模型情况相似的情况下，反演所得裂缝孔隙度与地层真实情况吻合较好，计算精度高，在裂缝参数定量评价方面有实用价值。本专利技术的方法具有其它的特性和优点，这些特性和优点从并入本文中的附图和随后的具体实施例中将是显而易见的，或者将在并入本文中的附图和随后的具体实施例中进行详细陈述，这些附图和具体实施例共同用于解释本专利技术的特定原理。附图说明通过结合附图对本专利技术示例性实施例进行更详细的描述，本专利技术的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显，其中，在本专利技术示例性实施例中，相同的附图标记通常代表相同部件。图1示出了根据本专利技术的一个示例性实施例的一种双感应测井裂缝孔隙度分析方法的步骤的流程图。图2示出了根据本专利技术的一个示例性实施例的一口井的裂缝参数分析结果图。图3示出了根据本专利技术的一个示例性实施例的感应测井裂缝性地层模拟模型的示意图。图4示出了根据本专利技术的一个示例性实施例的双感应测井正演曲线的示意图。图5a和图5b分别示出了根据本专利技术的一个示例性实施例的深感应正演曲线与观测曲线拟合效果的示意图和中感应正演曲线与观测曲线拟合效果的示意图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本专利技术。虽然附图中显示了本专利技术的优选实施例，然而应该理解，可以以各种形式实现本专利技术而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了使本专利技术更加透彻和完整，并且能够将本专利技术的范围完整地传达给本领域的技术人员。本专利技术提供了一种双感应测井裂缝孔隙度分析方法，包括：基于地层裂缝发育情况，建立裂缝性地层双感应测井初始模型；基于双感应测井仪器几何因子，计算裂缝性地层初始模型双感应测井响应曲线；将计算裂缝性地层初始模型双感应测井响应曲线与实际双感应测井响应曲线比对，调整初始模型的参数，直至两曲线拟合差小于最大容差，获取地层中裂缝孔隙度。作为优选方案，建立裂缝性地层双感应测井初始模型，包括：根据实测双感应测井资料，采用双感应曲线极值点数量判断裂缝发育带数目，极值点位置判断裂缝发育带中心点位置；基于基岩和裂缝带电阻率的初始值，建立包含基岩、裂缝带、井眼、测井仪器裂缝性地层初始模型。其中，地层初始模型如图3所示，模型参数包括：裂缝带条数m，基岩层数n，第j条裂缝带发育带电阻本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双感应测井裂缝孔隙度分析方法，其特征在于，包括：基于地层裂缝发育情况，建立裂缝性地层双感应测井初始模型；基于双感应测井仪器几何因子，计算裂缝性地层初始模型双感应测井响应曲线；将所述计算裂缝性地层初始模型双感应测井响应曲线与实际双感应测井响应曲线比对，调整所述初始模型的参数，直至两曲线拟合差小于最大容差，获取地层中裂缝孔隙度。

【技术特征摘要】
1.一种双感应测井裂缝孔隙度分析方法，其特征在于，包括：基于地层裂缝发育情况，建立裂缝性地层双感应测井初始模型；基于双感应测井仪器几何因子，计算裂缝性地层初始模型双感应测井响应曲线；将所述计算裂缝性地层初始模型双感应测井响应曲线与实际双感应测井响应曲线比对，调整所述初始模型的参数，直至两曲线拟合差小于最大容差，获取地层中裂缝孔隙度。2.根据权利要求1所述的双感应测井裂缝孔隙度分析方法，其中，所述建立裂缝性地层双感应测井初始模型，包括：根据实测双感应测井资料，采用双感应曲线极值点数量判断裂缝发育带数目，极值点位置判断裂缝发育带中心点位置；基于基岩和裂缝带电阻率的初始值，建立包含基岩、裂缝带、井眼、测井仪器裂缝性地层初始模型。3.权利要求1所述的双感应测井裂缝孔隙度分析方法，其中，基于所述双感应测井仪器几何因子理论，所述裂缝性地层双感应的视电导率曲线为：感应测井视电导率应为所述初始模型中的基岩、裂缝带、井眼及测井仪器的视电导率贡献的线性叠加。4.权利要求3所述的双感应测井裂缝孔隙度分析方法，其中，所述初始模型中的基岩、裂缝带、井眼及测井仪器的视电导率贡献通过基岩、裂缝带、井眼及测井仪器的复合线圈系几何因子与各部分...

【专利技术属性】
技术研发人员：南泽宇，李军，刘志远，张军，苏俊磊，武清钊，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11