基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法，其包括以下步骤：S1、获取不同腐蚀程度绝缘子金具的等离子体光谱数据；S2、对等离子体光谱数据进行预处理；S3、获取绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型；S4、获取待检测绝缘子金具的等离子体光谱并进行预处理；S5、将预处理后的待检测绝缘子金具的等离子体光谱数据作为绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型的输入数据，得到待检测绝缘子金具的腐蚀程度，完成绝缘子金具的腐蚀检测。该方法实现了对绝缘子端部金具腐蚀问题快速、准确、非接触的检测，相对于传统检测方法，实现了在线检测，检测流程简单，结果可靠，大大简化了检测过程。

【技术实现步骤摘要】
基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法
本专利技术涉及绝缘子金具的腐蚀检测方法，具体涉及一种基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法。
技术介绍
输电线路绝缘子金具位于绝缘子两端，在输电线中，绝缘子金具起着连接和固定裸导线、导体及绝缘子，传递机械载荷、电气负荷的重要作用。绝缘子金具表面有一层致密的镀锌层，可以保护金具内部金属部分不被腐蚀。金具一般承受较大拉力，在拉力作用下，增大了镀锌层表面的破坏程度，使表面产生的裂纹扩展且增多，表面破坏程度变大，腐蚀介质更容易进入镀锌层，金属将比静止状态更容易腐蚀；当冰、风等附加载荷引起输电线路风偏、振动时，将带动金具之间相互接触部位的轻微摩擦和碰撞，在腐蚀环境下引起微动腐蚀；表面镀锌层由于雨水对基体的腐蚀效应导致磨损速度加快，同时磨损产生的缺陷也使得腐蚀速度加快，腐蚀和磨损协同作用，极大地增加了接触构件间的机械和化学损伤，加剧了腐蚀速度；此外，长期运行在酸性或碱性环境下是导致绝缘子金具腐蚀的另一个不可忽略的因素。金具表面的防腐镀层在复杂的环境下会加快腐蚀。绝缘子端部金具的腐蚀过程中，其表面和内部会缓慢的发生元素含量的变化，表层通常是镀锌层含量的变化，而内部金具则会在臭氧、酸、碱等化合物下发生化学反应，组成金具的金属含量也会有发生变化。金具的腐蚀失效，将造成连接线路断开或掉落，严重的引起停电跳闸的重大事故。人们对绝缘子端部金具腐蚀程度的检测方法还缺乏进一步深入的研究。目前实验室使用化学分析的方法对绝缘子金具腐蚀程度进行量化测量，现场由检修人员停电登杆对绝缘子金具进行人工检测，金具检修需高空停电作业，没有专业检测方法。因此，有必要找到一种方法能够快速检测得到绝缘子金具腐蚀程度，预防腐蚀金具给电力系统带来损失。
技术实现思路
针对现有技术中的上述不足，本专利技术提供的基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法解决了现有绝缘子金具腐蚀程度检测效率低的问题。为了达到上述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案为：提供一种基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法，其包括以下步骤：S1、通过激光诱导击穿光谱系统轰击已知腐蚀程度的绝缘子金具样品，获取不同腐蚀程度绝缘子金具的等离子体光谱数据；S2、对获取的等离子体光谱数据进行预处理，得到预处理后的数据；S3、将预处理后的数据和对应的腐蚀程度作为训练神经网络的样本，得到绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型；S4、采用与步骤S1相同的方法获取待检测绝缘子金具的等离子体光谱，并采用与步骤S2相同的方法对待检测绝缘子金具的等离子体光谱进行预处理；S5、将预处理后的待检测绝缘子金具的等离子体光谱数据作为绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型的输入数据，得到待检测绝缘子金具的腐蚀程度，完成绝缘子金具的腐蚀检测。进一步地，步骤S1的具体方法为：通过激光诱导击穿光谱系统采用M个不同光谱强度对N种已知腐蚀程度的绝缘子金具进行轰击，得到维度为N×M的等离子体光谱数据。进一步地，步骤S2的具体方法包括以下子步骤：S2-1、根据公式获取每个绝缘子金具样品等离子体光谱数据中第i列数据Xi和第j列数据Xj之间的相关程度ρij，并将相关程度大于0.8的数据作为该等离子体光谱数据的特征向量，进而得到每个绝缘子金具样品对应的特征向量；其中Cov(·)为协方差函数；D(·)为方差函数；S2-2、在特征向量中加入对应的轰击次数、环境变量、激光能量和等离子体温度，形成新的特征向量；S2-3、对新的特征向量进行归一化处理，得到预处理后的数据，其中归一化范围为[-1，1]。进一步地，步骤S3的具体方法包括以下子步骤：S3-1、构建神经网络评估模型；S3-2、将预处理后的数据作为样本输入神经网络评估模型进行预测，获取样本腐蚀程度预测结果；S3-3、根据样本腐蚀程度预测结果与原本腐蚀程度获取神经网络评估模型的评估误差；S3-4、判断评估误差是否在阈值范围内，若是则将得到的神经网络评估模型作为绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型，否则返回步骤S3-1。本专利技术的有益效果为：本专利技术利用激光诱导击穿光谱技术获得样品等离子体光谱，对数据预处理后加入衍生特征变量，特别地考虑了环境变量及激光测量参数等对检测结果的影响，通过建立等离子体光谱衍生特征向量与绝缘子端部金具腐蚀程度之间的非线性映射关系，最终得到绝缘子金具的腐蚀程度。本方法实现了对绝缘子端部金具腐蚀问题快速、准确、非接触的检测，相对于传统检测方法，实现了在线检测，检测流程简单，结果可靠，大大简化了检测过程。附图说明图1为本专利技术的流程示意图。具体实施方式下面对本专利技术的具体实施方式进行描述，以便于本
的技术人员理解本专利技术，但应该清楚，本专利技术不限于具体实施方式的范围，对本
的普通技术人员来讲，只要各种变化在所附的权利要求限定和确定的本专利技术的精神和范围内，这些变化是显而易见的，一切利用本专利技术构思的专利技术创造均在保护之列。如图1所示，该基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法包括以下步骤：S1、通过激光诱导击穿光谱系统轰击已知腐蚀程度的绝缘子金具样品，获取不同腐蚀程度绝缘子金具的等离子体光谱数据；S2、对获取的等离子体光谱数据进行预处理，得到预处理后的数据；S3、将预处理后的数据和对应的腐蚀程度作为训练神经网络的样本，得到绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型；S4、采用与步骤S1相同的方法获取待检测绝缘子金具的等离子体光谱，并采用与步骤S2相同的方法对待检测绝缘子金具的等离子体光谱进行预处理；S5、将预处理后的待检测绝缘子金具的等离子体光谱数据作为绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型的输入数据，得到待检测绝缘子金具的腐蚀程度，完成绝缘子金具的腐蚀检测。步骤S1的具体方法为：通过激光诱导击穿光谱系统采用M个不同光谱强度对N种已知腐蚀程度的绝缘子金具进行轰击，得到维度为N×M的等离子体光谱数据。步骤S2的具体方法包括以下子步骤：S2-1、根据公式获取每个绝缘子金具样品等离子体光谱数据中第i列数据Xi和第j列数据Xj之间的相关程度ρij，并将相关程度大于0.8的数据作为该等离子体光谱数据的特征向量，进而得到每个绝缘子金具样品对应的特征向量；其中Cov(·)为协方差函数；D(·)为方差函数；S2-2、在特征向量中加入对应的轰击次数、环境变量、激光能量和等离子体温度，形成新的特征向量；S2-3、对新的特征向量进行归一化处理，得到预处理后的数据，其中归一化范围为[-1，1]。步骤S3的具体方法包括以下子步骤：S3-1、构建神经网络评估模型；S3-2、将预处理后的数据作为样本输入神经网络评估模型进行预测，获取样本腐蚀程度预测结果；S3-3、根据样本腐蚀程度预测结果与原本腐蚀程度获取神经网络评估模型的评估误差；S3-4、判断评估误差是否在阈值范围内，若是则将得到的神经网络评估模型作为绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型，否则返回步骤S3-1。在本专利技术的一个实施例中，绝缘子金具腐蚀程度分别为未腐蚀、潜在腐蚀、轻度腐蚀、中度腐蚀、重度腐蚀五种状态下做100次激光诱导击穿实验，得到500个实验样品点的光谱数据，激光诱导击穿后有各种元素共M个光谱强度变量，则得到数据矩阵为500×M；五种不同腐蚀程度的标签分本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、通过激光诱导击穿光谱系统轰击已知腐蚀程度的绝缘子金具样品，获取不同腐蚀程度绝缘子金具的等离子体光谱数据；S2、对获取的等离子体光谱数据进行预处理，得到预处理后的数据；S3、将预处理后的数据和对应的腐蚀程度作为训练神经网络的样本，得到绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型；S4、采用与步骤S1相同的方法获取待检测绝缘子金具的等离子体光谱，并采用与步骤S2相同的方法对待检测绝缘子金具的等离子体光谱进行预处理；S5、将预处理后的待检测绝缘子金具的等离子体光谱数据作为绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型的输入数据，得到待检测绝缘子金具的腐蚀程度，完成绝缘子金具的腐蚀检测。

【技术特征摘要】
1.一种基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、通过激光诱导击穿光谱系统轰击已知腐蚀程度的绝缘子金具样品，获取不同腐蚀程度绝缘子金具的等离子体光谱数据；S2、对获取的等离子体光谱数据进行预处理，得到预处理后的数据；S3、将预处理后的数据和对应的腐蚀程度作为训练神经网络的样本，得到绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型；S4、采用与步骤S1相同的方法获取待检测绝缘子金具的等离子体光谱，并采用与步骤S2相同的方法对待检测绝缘子金具的等离子体光谱进行预处理；S5、将预处理后的待检测绝缘子金具的等离子体光谱数据作为绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型的输入数据，得到待检测绝缘子金具的腐蚀程度，完成绝缘子金具的腐蚀检测。2.根据权利要求1所述的基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法，其特征在于，所述步骤S1的具体方法为：通过激光诱导击穿光谱系统采用M个不同光谱强度对N种已知腐蚀程度的绝缘子金具进行轰击，得到维度为N×M的等离子体光谱数据。3.根据权利要求2所述的基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：张血琴，高润明，郭裕钧，吴广宁，刘凯，李院生，石超群，康永强，张广全，刘毅杰，
申请(专利权)人：西南交通大学，
类型：发明
国别省市：四川,51