应用于ADC的高增益高线性度动态放大器制造技术

本发明专利技术公开了应用于ADC的高增益高线性度动态放大器，属于基本电子电路的技术领域。该动态放大器包括：共源结构的输入跨导级、共栅级、交叉耦合共栅级、共模检测电路及将交叉耦合共栅级源极电压、共栅级漏极电压复位为电源电压的复位电路，通过三层MOS管的堆叠增加运放的输出阻抗，从而提升运放的增益与线性度。

High Gain and High Linearity Dynamic Amplifier Applied to ADC

The invention discloses a high gain and high linearity dynamic amplifier applied to ADC, belonging to the technical field of basic electronic circuits. The dynamic amplifier consists of input transconductance stage, cascade stage, cross-coupled cascade stage, common mode detection circuit and reset circuit which resets cross-coupled cascade source voltage and cascade drain voltage to power supply voltage. The output impedance of the operational amplifier is increased by stacking three-layer MOS transistors, thereby increasing the gain and linearity of the operational amplifier.

【技术实现步骤摘要】
应用于ADC的高增益高线性度动态放大器
本专利技术公开了应用于ADC的高增益高线性度动态放大器，属于基本电子电路的

技术介绍
在高速高分辨率的流水线型逐次逼近模数转换器（pipeline-SARADC）中，需要采用放大器对第一级ADC的余量电压进行放大，放大器功耗是ADC的主要功耗来源。传统的ADC采用基于闭环结构的运算放大器作为余量放大器，为了在很短的时间内建立到足够的精度，运算放大器需要很大的增益带宽积，因此产生了大量的功耗。工作在开环状态的动态放大器速度很快且没有静态功耗，因此，将动态放大器应用于ADC能够提升速度并且极大地减小功耗。此外，离散时间的sigma-delta调制器与Incremental调制器均需要对模拟信号进行积分。然而传统的跨导运算放大器虽然具有很好的线性度与更高的增益，但是随着工艺节点迈向深亚微米，MOS管的低跨导与低电源电压使得传统跨导运放很难实现高增益与大输出电压摆幅，同时，跨导运放的功耗也非常可观，不适用于低功耗等应用场景。相比之下动态运放很好的解决了上述难题。ADC对余量放大器增益的要求很高，通常要求增益达到16倍以上，同时，要求余量放大器要达到8bit的线性度。常见的动态放大器中如图1所示，只采用一层共源共栅结构，因此增益通常无法达到16倍以上。
技术实现思路
本专利技术的专利技术目的是针对上述
技术介绍
的不足，提供了应用于ADC的高增益高线性度动态放大器，采用三层共源共栅结构提升动态放大器的增益并减小输出信号的失真，解决了现有动态放大器不能满足实际应用所需高增益高线性度要求的技术问题。本专利技术为实现上述专利技术目的采用如下技术方案：应用于ADC的高增益高线性度动态放大器包括：输入跨导级、共栅级、交叉耦合共栅级、共模检测电路和复位开关等。共栅级层叠在输入跨导级之上，交叉耦合共栅级层叠在共栅极之上，共模检测电路与动态放大器的输出相连。输入跨导级包括第一NMOS管和第二NMOS管，第一NMOS管的栅极接正端输入电压，源极接第三NMOS管的漏极，漏极接第四NMOS管的源极；第二NMOS管的栅极接负端输入电压，源极接第三NMOS管的漏极，漏极接第五NMOS管的源极。共栅级包括第四NMOS管和第五NMOS管，第四NMOS管的栅极接共模检测电路的输出电压，源极接第一NMOS管的漏极，漏极接第六NMOS管的源极；第五NMOS管的栅极接共模检测电路的输出电压，源极接第二NMOS管的漏极，漏极接第七NMOS管的源极。交叉耦合共栅级包括：第六NMOS管、第七NMOS管、第三电容和第四电容，第六NMOS管的栅极接第七NMOS管的漏极，源极接第四NMOS管的漏极，漏极接第七NMOS管的栅极；第七NMOS管的栅极接第六NMOS管的漏极，源极接第五NMOS管的漏极，漏极接第六NMOS管的栅极；第三电容的上极板接第六NMOS管的源极，下极板接地；第四电容的上极板接第七NMOS管的源极，下极板接地。共模检测电路包括：第一电容、第二电容、第一反相器和第二反相器，第一电容的上极板接负端输出电压，下极板接第一反相器的输入端；第二电容的上极板接正端输出电压，下极板接第一反相器的输入端；第一反相器的输入端接第一电容的下极板，输出端接第二反相器的输入端；第二反相器的输入端接第一反相器的输出端，输出端接第四NMOS管和第五NMOS管的栅极。复位开关包括：第一PMOS管、第二PMOS管、第三PMOS管、第四PMOS管和第三NMOS管，第一PMOS管栅极接时钟信号，源极接电源电压，漏极接负端输出电压；第二PMOS管栅极接时钟信号，源极接电源电压，漏极接正端输出电压；第三PMOS管栅极接时钟信号，源极接电源电压，漏极接第四NMOS管的漏极；第四PMOS管栅极接时钟信号，源极接电源电压，漏极接第五NMOS管的漏极；第三NMOS管栅极的输入信号为时钟信号和共模检测电路输出电压的与运算结果，漏极与第一NMOS管源极及第二NMOS管源极的并接点相连，源极接地。本专利技术采用上述技术方案，具有以下有益效果：本专利技术通过三层MOS管的堆叠增加运放的输出阻抗，从而提升运放的增益与线性度，采用交叉耦合二极管连接方式连接的NMOS管可以提供-2/gm的“负差分电阻”，同时引入正反馈，因此大大增加了运放的输出阻抗，该放大器可用于实现中高速pipeline-SARADC的级间增益放大器、离散时间sigma-delta调制器ADC的积分器、Incremental调制器的积分器。附图说明图1为常规的共源共栅动态放大器电路。图2为本专利技术实施例中采用的高增益高线性度动态放大器电路。图3为本专利技术的增益仿真图。图4为本专利技术的线性度仿真图。图中标号说明：NM1~NM7为第一至第七NMOS管，PM1~PM4为第一至第四PMOS管，C1~C6为第一至第六电容，Inv1、Inv2为第一、第二反相器，sw1、sw2为第一、第二开关。具体实施方式下面结合附图对专利技术的技术方案进行详细说明。如图2所示的是本专利技术所述的应用于ADC中的高增益高线性度动态放大器包括：输入跨导级、共栅级、交叉耦合共栅级、共模检测电路和复位开关等。共栅级层叠在输入跨导级之上，交叉耦合共栅级层叠在共栅极之上，共模检测电路与动态放大器的输出相连。输入跨导级包括第一NMOS管NM1和第二NMOS管NM2，第一NMOS管NM1的栅极接正端输入电压，源极接第三NMOS管NM3的漏极，漏极接第四NMOS管NM4的源极；第二NMOS管NM2的栅极接负端输入电压，源极接第三NMOS管NM3的漏极，漏极接第五NMOS管NM5的源极。共栅级包括第四NMOS管NM4和第五NMOS管NM5，第四NMOS管NM4的栅极接共模检测电路的输出电压Vcb，源极接第一NMOS管NM1的漏极，漏极接第六NMOS管NM6的源极；第五NMOS管NM5的栅极接共模检测电路的输出电压Vcb，源极接第二NMOS管NM2的漏极，漏极接第七NMOS管NM7的源极。交叉耦合共栅级包括：第六NMOS管NM6、第七NMOS管NM7、第三电容C3和第四电容C4，第六NMOS管NM6的栅极接第七NMOS管NM7的漏极，源极接第四NMOS管NM4的漏极，漏极接第七NMOS管NM7的栅极；第七NMOS管NM7的栅极接第六NMOS管NM6的漏极，源极接第五NMOS管NM5的漏极，漏极接第六NMOS管NM6的栅极；第三电容C3的上极板接第六NMOS管NM6的源极，下极板接地；第四电容C4的上极板接第七NMOS管NM7的源极，下极板接地。共模检测电路包括：第一电容C1、第二电容C2、第一反相器Inv1和第二反相器Inv2，第一电容C1的上极板接负端输出电压Von，下极板接第一反相器Inv1的输入端；第二电容C2的上极板接正端输出电压Vop，下极板接第一反相器Inv1的输入端；第一反相器Inv1的输入端接第一电容C1的下极板，输出端接第二反相器Inv2的输入端；第二反相器Inv2的输入端接第一反相器Inv1的输出端，输出端接第四NMOS管NM4和第五NMOS管NM5的栅极。复位开关包括：第一PMOS管PM1、第二PMOS管PM2、第三PMOS管PM3、第四PMOS管PM4和第三NMOS管NM3，第一PMOS管PM1栅极接时钟信号CLK，源极接电源电压VDD，漏极接负端本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.应用于ADC的高增益高线性度动态放大器，其特征在于，包括： 共源结构的输入跨导级，其栅极接差分输入信号，共栅级，其源极与输入跨导级的漏极连接，交叉耦合共栅级，其源极与共栅级的漏极连接，共模检测电路，其输入端与交叉耦合共栅级的漏极连接，其输出端与共栅级的共栅连接点连接，及，将交叉耦合共栅级源极电压、共栅级漏极电压复位为电源电压的复位电路。

【技术特征摘要】
1.应用于ADC的高增益高线性度动态放大器，其特征在于，包括：共源结构的输入跨导级，其栅极接差分输入信号，共栅级，其源极与输入跨导级的漏极连接，交叉耦合共栅级，其源极与共栅级的漏极连接，共模检测电路，其输入端与交叉耦合共栅级的漏极连接，其输出端与共栅级的共栅连接点连接，及，将交叉耦合共栅级源极电压、共栅级漏极电压复位为电源电压的复位电路。2.根据权利要求1所述的应用于ADC的高增益高线性度动态放大器，其特征在于，所述共源结构的输入跨导级包括：第一NMOS管，其栅极接正极性差分输入信号，及，第二NMOS管，其栅极接负极性差分输入信号，其源极与第一NMOS管的源极共接，其漏极与第一NMOS管的漏极构成输入跨导级的漏极。3.根据权利要求2所述的应用于ADC的高增益高线性度动态放大器，其特征在于，所述共栅级包括：第四NMOS管，其源极接第一NMOS管的漏极，及，第五NMOS管，其栅极与第四NMOS管的栅极共接，其源极接第二NMOS管的漏极，其漏极与第四NMOS管的漏极构成共栅级的漏极。4.根据权利要求3所述的应用于ADC的高增益高线性度动态放大器，其特征在于，所述交叉耦合共栅级包括：第六NMOS管，其源极接第四NMOS管的漏极，第七NMOS管，其栅极接第六NMOS管的漏极，其源极接第五NMOS管的漏极，其漏极接第六NMOS管的栅极，其漏极与第六NMOS管的漏极构成交叉耦合共栅级的漏极，第三电容，其上极板接第六NMOS管的源极，其下极板接地，及，第四电容，...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴建辉，高波，刘畅，傅娟，李红，
申请(专利权)人：东南大学，
类型：发明
国别省市：江苏,32