The invention discloses a biaxial stretching device and its method, which comprises a stretching mechanism, a stretching mechanism comprising a plurality of fixtures, a first stretching component, a second stretching component and a driving mechanism for fixing samples, a stress acquisition system for testing the tensile force of samples, a double-layer frame structure, comprising a first frame and a second frame superimposed on each other, and a stretching mechanism. Located in the temperature control furnace, an observation frame is arranged on the second frame; an X-ray detector corresponding to the observation frame is arranged; an X-direction adjusting device and a Z-direction adjusting device are arranged on the X-Z direction displacement support; the control and acquisition system includes a driving control unit controlling the operation of the driving mechanism, a stress and strain acquisition unit for the value of the tensile force detected by the acquisition system and an X-ray detector. Connected X-ray scattering pattern acquisition unit. The biaxial stretching device can realize high throughput processing, structure and performance relationship characterization, thus providing strong guidance for the production of high performance thin films.
【技术实现步骤摘要】
双向拉伸装置及其方法
本专利技术涉及高分子薄膜加工过程中的在线研究表征
,特别是涉及一种双向拉伸装置及其方法。
技术介绍
在高分子薄膜加工过程中的在线研究表征技术中,存在超小型薄膜双向拉伸装置,高速X射线探测器,X-Z大范围位置调节支架,温度、电气控制系统,以及相应的实验方法。通过上述装置,可以利用不同的拉伸方式、形变速率和模式,在非常宽的温度范围内进行薄膜的双向拉伸。利用高亮度的同步辐射X射线散射,记录拉伸过程中薄膜的聚集态结构参数演化,同时采集拉伸过程的应力,可以高速获得薄膜拉伸加工过程的外场和结构演化。通过双向拉伸工业加工条件的模拟和高通量的在线结构表征,可以用于揭示薄膜加工过程中的关键科学问题。双向拉伸工艺广泛的应用于光学膜及电池隔膜等高精尖薄膜的生产,已经成为高性能薄膜加工最主要的手段。不同于其他材料主要针对组分配方的设计,拉伸工艺对高分子薄膜的最终性能具有非常重要的决定作用。但是,高分子薄膜的拉伸加工是一个非常复杂的物理过程,涉及到多尺度结构在温度、应力和应变等复杂外场耦合驱动下的转化过程。目前的薄膜拉伸工艺面临着很多的挑战,如作为国家战略规划的显示器补偿膜,国内目前仍然无法实现自主生产,主要问题一方面是拉伸过程中各尺度结构的取向精确调节,另一方面是对拉伸加工过程近乎苛刻的薄膜厚度波动要求。同时,在能源材料的领域,也面临着微观结构的精确调控等问题。因此,解决加工工艺问题的关键,在于高分子形变的基础科学问题,其主要特点可以概括为:多加工外场参数,涉及到温度、应力、应变及拉伸方式等;多尺度结构,如链段、整链、晶体和片晶等;非线性和非平衡的形变 ...
【技术保护点】
1.一种双向拉伸装置,其特征在于,包括:拉伸机构(1),所述拉伸机构(1)包括多个用于固定样品的夹具(11)、驱动所述夹具(11)沿第一方向拉伸所述样品的第一拉伸部件(12)、驱动所述夹具(11)沿第二方向拉伸所述样品的第二拉伸部件(13)及调节所述第一拉伸部件(12)及所述第二拉伸部件(13)拉伸力的驱动机构(3),所述第一方向与所述第二方向垂直;用于检测所述样品拉伸力的应力采集系统(2);双层框架结构,其包括相互叠加的第一框架及第二框架,所述第一框架与所述第二框架之间形成温度控制炉,所述拉伸机构(1)位于所述温度控制炉中,所述第二框架上设置有所述拉伸机构(1)的样品安装部位对应设置的观察框(5);与所述观察框(5)对应设置的X射线探测器(6);调节所述双层框架结构沿平行于所述样品所在平面运动的X‑Z方向位移支架(4),所述X‑Z方向位移支架(4)具有调节所述双层框架结构水平运动的X方向调节装置及调节所述双层框架结构竖直运动的Z方向调节装置;控制及采集系统(7),所述控制及采集系统(7)包括控制所述驱动机构(3)运行的驱动控制单元、采集所述应力采集系统(2)检测得到的拉伸力数值的应力 ...
【技术特征摘要】
1.一种双向拉伸装置,其特征在于,包括:拉伸机构(1),所述拉伸机构(1)包括多个用于固定样品的夹具(11)、驱动所述夹具(11)沿第一方向拉伸所述样品的第一拉伸部件(12)、驱动所述夹具(11)沿第二方向拉伸所述样品的第二拉伸部件(13)及调节所述第一拉伸部件(12)及所述第二拉伸部件(13)拉伸力的驱动机构(3),所述第一方向与所述第二方向垂直;用于检测所述样品拉伸力的应力采集系统(2);双层框架结构,其包括相互叠加的第一框架及第二框架,所述第一框架与所述第二框架之间形成温度控制炉,所述拉伸机构(1)位于所述温度控制炉中,所述第二框架上设置有所述拉伸机构(1)的样品安装部位对应设置的观察框(5);与所述观察框(5)对应设置的X射线探测器(6);调节所述双层框架结构沿平行于所述样品所在平面运动的X-Z方向位移支架(4),所述X-Z方向位移支架(4)具有调节所述双层框架结构水平运动的X方向调节装置及调节所述双层框架结构竖直运动的Z方向调节装置;控制及采集系统(7),所述控制及采集系统(7)包括控制所述驱动机构(3)运行的驱动控制单元、采集所述应力采集系统(2)检测得到的拉伸力数值的应力应变采集单元及与所述X射线探测器(6)连接的X射线散射图谱采集单元。2.如权利要求1所述的双向拉伸装置,其特征在于,所述第一拉伸部件(12)及所述第二拉伸部件(13)的数量均为两个;所述夹具(11)为多个且分为四组,四组所述夹具(11)分别与两个所述第一拉伸部件(12)及两个所述第二拉伸部件(13)一一对应;所述驱动机构(3)能够单独控制各个所述第一拉伸部件(12)及所述第二拉伸部件(13)的运动,实现单向受限、单向非受限、双向同步及双向异步的拉伸模式。3.如权利要求2所述的双向拉伸装置,其特征在于,两个所述第一拉伸部件(12)及两个所述第二拉伸部件(13)呈“井”字布置;所述第一拉伸部件(12)及所述第二拉伸部件(13)的相交处设置有滑块(14),所述滑块(14)能够沿所述第一拉伸部件(12)及所述第二拉伸部件(1...
【专利技术属性】
技术研发人员:李良彬,陈晓伟,孟令蒲,王道亮,叶克,张文文,严琦,
申请(专利权)人:中国科学技术大学,
类型:发明
国别省市:安徽,34
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