一种复磁导率测试制样模具及应用方法技术

本发明专利技术涉及一种复磁导率测试制样模具及应用方法，以解决现有模具各部分配合不恰当、不易拆卸、易发生相对滑动导致成品率低的问题，本发明专利技术提供的一种复磁导率测试制样模具及应用方法，模具结构包括上盖板、中间环、底板、定位轴，上盖板、底板均为凹形，上盖板中心设置有中间杆，所述上盖板、底板凹槽面相对，上盖板、底板将中间环夹紧固定，应用方法步骤包括安装、填料、加热、拆卸模具、样品处理，本发明专利技术提供的模具及应用方法具有制样样品厚度可控、误差小、样品容易从模具中取出，节约模具制样时间的优势。

A Sampling Mould for Complex Permeability Testing and Its Application

The present invention relates to a complex permeability test sample-making die and its application method, in order to solve the problem of low yield caused by improper matching, difficult disassembly and relative sliding of various parts of the existing die. The present invention provides a complex permeability test sample-making die and its application method. The die structure includes an upper cover plate, an intermediate ring, a bottom plate, a positioning shaft, and both the upper cover plate and the bottom plate are concave. The center of the upper cover plate is provided with an intermediate rod. The upper cover plate and the groove surface of the bottom plate are relative. The upper cover plate and the bottom plate clamp and fix the middle ring. The application method steps include installation, filling, heating, disassembly of the mould and sample treatment. The mould and application method provided by the invention have the advantages of controllable sample thickness, small error, easy sample extraction from the mould, and saving the sample preparation time of the mould. Advantage.

【技术实现步骤摘要】
一种复磁导率测试制样模具及应用方法
本专利技术涉及一种测试材料电磁特性的装置，具体涉及一种材料复磁导率测试的制样模具。
技术介绍
复磁导率测试用样品有特殊的结构尺寸要求，具体要求为：外径＜8mm，内径＞3.1mm，厚度＜5mm(一般为2-3mm)，形状：圆环形。一般测试复磁导率的材料为无机粉体，无机粉体的制样是将适量粉体加入模具，然后施加一定的压力，从而制得样品。目前无机粉体制样模具结构较为简单，传统制样模具不能精确控制样品的厚度，因此制样完成后需要测试样品的厚度，增加了材料复磁导率测试的步骤。此外常规无机粉体的制样模具无法用于颗粒型高分子-无机复合材料的制样，因为颗粒型高分子-无机复合材料的制样需要进行加热和加压，加热使颗粒复合材料熔化后，再对复合材料熔体施加一定的压力，将多余的复合材料熔体从模具一定的位置中排出模具，而常规制样模具缺陷是无余料排出结构。而且，常规的制样模具为冷压制样，故对模具施加一定压力后，模具易于打开取出样品，而该复合材料加热再冷却后，复合材料与模具粘合牢固，模具不易打开，因此需设计专门的结构以方便模具打开从而取出样品。综上，为解决颗粒型高分子-无机复合材料制样，迫切需要设计一种新型的制样模具。
技术实现思路
本专利技术所要解决的问题是克服现有技术存在的问题，提供一种复磁导率测试制样模具及应用方法，具体的，本专利技术专利中所涉及的制样模具是为测试颗粒型高分子—无机复合材料的复磁导率而设计的制样模具，使用该制样模具能制得特定结构尺寸的样品，便于材料复磁导率的测试；使用该制样模具能方便的拆开模具，取出样品，并且该制样模具广泛适宜于采用加热加压法制样的颗粒复合材料的制样。为解决上述技术问题，本专利技术的技术解决方案是这样实现的：一种复磁导率测试制样模具及应用方法，包括:一种复磁导率测试制样模具，包括上盖板1、中间环2、底板3、定位轴4，其特征在于：所述上盖板1、底板3均为凹形，所述上盖板1中心设置有中间杆9，所述上盖板1、底板3凹槽面相对，所述中间环2与所述上盖板1、底板3凹槽部分配合置于中间，所述上盖板1、底板3将中间环2夹紧固定，所述上盖板1、中间环2、底板3中心设置有开孔且所述定位轴4置于该开孔处，所述中间杆9外径小于所述中间环2开孔内径，所述中间杆9与中间环2之间的空隙为溢料口10，所述中间杆9和定位轴4、中间环2及底板3之间的空隙处为放料处7。进一步的，所述上盖板1设置有上盖板螺丝孔5，所述中间环2设置有中间环螺丝孔11，所述底板3上设置有底板螺丝孔6和柱形沉头孔12。进一步的，所述中间环螺丝孔11与底板所述柱形沉头孔12在垂直方向位置对应，所述上盖板螺丝孔5与所述底板螺丝孔6与中间环螺丝孔11垂直方向位置错位不对应。进一步的，所述放料处7的各边为锐边无倒角。一种权利要求2所述的复磁导率测试制样模具的应用方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：安装，首先将底板3放置在平面上，然后将中间环2放入底板3的凹槽，同时将底板3上的柱形沉头孔12对准中间环2的螺丝孔，并用螺丝拧紧，插入定位轴4；步骤2：填料，然后在放料处7中填入待制样的颗粒复合材料，再将上盖板1盖在中间环2上，调整上盖板螺丝孔5使其不与中间环螺丝孔11垂直方向位置对应；步骤3：加热，将模具放入硫化仪平台进行加热加压；步骤4：拆卸模具，取出样品：将连接底板3和中间环2的螺丝退出，然后将与螺丝孔5配套的螺丝装入上盖板螺丝孔5，随着螺丝的拧入，上盖板1将会与中间环2分离，然后将上盖板1取下，后将螺丝装入底板螺丝孔6，随着螺丝的拧入，底板3将会与中间环2分离，然后将底板3取下，再将定位轴4取下，此时样品会粘附于定位轴4上，然后将样品从定位轴上取下；步骤5：样品处理，将样品打磨，切边。本专利技术可带来以下有益效果：本专利技术相对于传统制样模具增加了模具的台阶设计、溢料口设计、模具定位设计及方便拆卸取样的设计，提供模具各部分装配效果良好，放入颗粒复合材料在平板硫化仪上进行加热加压后，有多余的熔融料从溢料口逸出。通过在底板和上盖板上拧入螺丝钉，顺利将模具拆开，取出样品，样品表面光滑，若有飞边，将多余的飞边用锋利刀刃削平后，得到的样品外观圆整，厚度一致，适合复磁导率的测试。与采用普通制样模具制备样品的过程相比，采用本专利技术提供模具制备样品的过程有以下优势：样品厚度可控，制样误差小；样品容易从模具中取出，节约了制样时间。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。附图说明图1为本专利技术优选实施例的复磁导率测试制样模具剖面示意图(以螺丝孔5和螺丝孔6的中心轴所确定的平面为剖面的剖面示意图)；图2为本专利技术优选实施例的复磁导率测试制样模具A部分局部放大示意图；图3为本专利技术优选实施例中复磁导率测试制样模具的整体结构示意图；图4为本专利技术优选实施例中复磁导率测试制样模具的剖面示意图(以螺丝孔11和柱形沉头孔12的中心轴所确定的平面为剖面的剖面示意图)；1上盖板2中间环3底板4定位轴5上盖板螺丝孔6底板螺丝孔7放料处8上盖板内环9上盖板中间杆10溢料口11中间环螺丝孔12底板柱形沉头孔具体实施方式为进一步阐述本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，以下结合附图及较佳实施例，对依据本专利技术提供的一种复磁导率测试制样模具及安装方法具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如下。一种复磁导率测试制样模具，包括上盖板1、中间环2、底板3、定位轴4，上盖板1、底板3均为凹形，上盖板1中心设置有中间杆9，上盖板1、底板3凹槽面相对，中间环2与所述上盖板1、底板3凹槽部分配合置于中间，上盖板1、底板3将中间环2夹紧固定，上盖板1、中间环2、底板3中心设置有开孔且定位轴4置于该开孔处，中间杆9外径小于所述中间环2开孔内径，中间杆9与中间环2之间的空隙为溢料口10，所述中间杆9和定位轴4、中间环2及底板3之间的空隙处为放料处7。放料处7中多余的材料在高温高压下会从溢料口10处溢出，当上盖板1在压力下下移至中间环2时，上盖板与中间环2配合到位，上盖板无法继续下移，从而保证了样品的固定厚度，这区别于其他普通制样模具，无法控制样品厚度，放料处7的各边为锐边无倒角。上盖板1设置有上盖板螺丝孔5，中间环2设置有中间环螺丝孔11，底板3上设置有底板螺丝孔6和柱形沉头孔12，中间环螺丝孔11与底板柱形沉头孔12在垂直方向位置对应，以方便用螺丝将底板和中间环固定，上盖板螺丝孔5不能与中间环螺丝孔11垂直方向位置对应，因为制样完成后拆卸模具时，首先将连接中间环和底板的螺丝退出，然后用与上盖板螺丝孔5对应的螺丝拧入螺丝孔5，当螺丝拧入螺丝孔5并与中间环2的平面接触时，反作用力会使中间环2与上盖板1分开，若螺丝孔5与中间环螺丝孔11垂直方向对应，将会导致从螺丝孔5拧入的螺丝无法触及一个平面，从而无法通过反作用力将上盖板1取下。上盖板螺丝孔5与底板螺丝孔6为模具拆卸用螺丝孔，当制样完毕时，模具各部分被中间样品粘合为一体，通过在上盖板螺丝孔5和底板螺丝孔6上装入螺丝，能方便的将上盖板1和底板3拆卸下来。本实施例提供的复磁导率测试制样模本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种复磁导率测试制样模具，包括上盖板(1)、中间环(2)、底板(3)、定位轴(4)，其特征在于：所述上盖板(1)、底板(3)均为凹形，所述上盖板(1)中心设置有中间杆(9)，所述上盖板(1)、底板(3)凹槽面相对，所述中间环(2)与所述上盖板(1)、底板(3)凹槽部分配合置于中间，所述上盖板(1)、底板(3)将中间环(2)夹紧固定，所述上盖板(1)、中间环(2)、底板(3)中心设置有开孔且所述定位轴(4)置于该开孔处，所述中间杆(9)外径小于所述中间环(2)开孔内径，所述中间杆(9)与中间环(2)之间的空隙为溢料口(10)，所述中间杆(9)和定位轴(4)、中间环(2)及底板(3)之间的空隙处为放料处(7)。

【技术特征摘要】
1.一种复磁导率测试制样模具，包括上盖板(1)、中间环(2)、底板(3)、定位轴(4)，其特征在于：所述上盖板(1)、底板(3)均为凹形，所述上盖板(1)中心设置有中间杆(9)，所述上盖板(1)、底板(3)凹槽面相对，所述中间环(2)与所述上盖板(1)、底板(3)凹槽部分配合置于中间，所述上盖板(1)、底板(3)将中间环(2)夹紧固定，所述上盖板(1)、中间环(2)、底板(3)中心设置有开孔且所述定位轴(4)置于该开孔处，所述中间杆(9)外径小于所述中间环(2)开孔内径，所述中间杆(9)与中间环(2)之间的空隙为溢料口(10)，所述中间杆(9)和定位轴(4)、中间环(2)及底板(3)之间的空隙处为放料处(7)。2.一种如权利要求1所述的复磁导率测试制样模具，其特征在于：所述上盖板(1)设置有上盖板螺丝孔(5)，所述中间环(2)设置有中间环螺丝孔(11)，所述底板(3)上设置有底板螺丝孔(6)和柱形沉头孔(12)。3.一种如权利要求2所述的复磁导率测试制样模具，其特征在于：所述中间环螺丝孔(11)与底板所述柱形沉头孔(12)在垂直方向位置对应，所述上盖板螺丝孔(5)与所述底板螺丝孔(6)与中间环螺丝孔(11...

【专利技术属性】
技术研发人员：吉玉玲，王磊，王海玉，王增辉，纪延磊，
申请(专利权)人：上海传输线研究所中国电子科技集团公司第二十三研究所，
类型：发明
国别省市：上海,31