测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种测试装置及测试方法，测试装置包括基座、顶部结构、多个支撑柱、驱动模块、测试模块与承载模块。测试模块包括中心具有中空区域的主体单元以及位于主体单元上的多个检测单元。承载模块承载待测物件，驱动模块受控制而驱使测试模块位移至预定位置，以使待测物件位于中空区域，且每一个检测单元可拆卸地连接于待测物件上所对应的连接端口。借此，通过上述技术方案，以实现自动换板测试的技术效果，进而减少人员换板的时间。

Testing device and testing method

The invention discloses a test device and a test method, which comprises a base, a top structure, a plurality of support pillars, a driving module, a test module and a bearing module. The test module includes a main unit with a hollow area in the center and a plurality of detection units located on the main unit. The loading module bears the object to be tested, and the driving module is controlled to drive the test module to move to a predetermined position so that the object to be tested can be located in the hollow area, and each detection unit can be detachably connected to the corresponding connection port on the object to be tested. In this way, through the above technical scheme, the technical effect of automatic board changing test can be realized, and the time of personnel board changing can be reduced.

【技术实现步骤摘要】
测试装置及测试方法
本专利技术涉及一种测试装置及测试方法，特别是涉及一种具有自动检测功能的测试装置及测试方法。
技术介绍
一般电子元件在进行功能测试时，部分功能测试须在特殊环境下进行，例如信号隔离箱或温湿度控制箱中。然而，电子元件的检测数量庞大，这些须在特殊环境下进行的测试需要花费大量的人力频繁地更换待测物以进行测试。而更换待测物的同时也不断地破坏已设定的测试环境，造成温度降低或升高、湿度错误等问题，需等待测试环境回复到原设定值才能开始测试，造成耗时费工。因此，必须有一个可减少人力更换待测物(或可自动化地更换待测物)并且维持检测环境的测试装置与方法。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足提供一种测试装置及测试方法。为了解决上述的技术问题，本专利技术所采用的其中一技术方案是，提供一种测试装置，包括基座、顶部结构、多个支撑柱、至少一驱动模块、测试模块与至少一承载模块。顶部结构对应基座设置。多个支撑柱的一端连接于基座，多个支撑柱的另一端连接于顶部结构。至少一个驱动模块的一端连接于基座，至少一个驱动模块的另一端连接于顶部结构，至少一个驱动模块对应于至少两个支撑柱，且至少一个驱动模块与基座、顶部结构及多个支撑柱之间界定出容置空间。测试模块包括中心具有中空区域的主体单元以及位于主体单元上的多个检测单元，主体单元位于容置空间，并可活动地与多个支撑柱与至少一个驱动模块连接。至少一个承载模块可拆卸地置于基座，并对应于测试模块的主体单元的中空区域。其中，至少一个承载模块承载至少一个待测物件，至少一个驱动模块受控制而驱使测试模块位移至预定位置，以使至少一个待测物件位于测试模块的主体单元的中空区域，且每一个检测单元可拆卸地连接于至少一个待测物件上所对应的连接端口。优选地，所述顶部结构包括对应所述基座的一本体单元以及能活动地穿设于所述本体单元的一固定单元，所述本体单元与多个所述支撑柱的所述另一端及至少一个所述驱动模块的所述另一端连接；其中，所述固定单元受驱动地朝所述基座位移且顶抵至少一个所述待测物件，以固定至少一个所述待测物件。优选地，所述主体单元还具有至少一个开口与多个通孔，至少一个所述驱动模块通过穿设于至少一个所述开口，每一个所述支撑柱穿设于所对应的所述通孔。优选地，所述主体单元对应至少一个所述开口的内壁还具有一第一接合部，至少一个所述驱动模块具有一第二接合部，所述主体单元通过所述第一接合部活动地连接于至少一个所述驱动模块的所述第二接合部。优选地，每一个所述检测单元包括设置于所述主体单元上的一动力件以及位于所述动力件上的一接头件；其中，所述动力件受控制而驱使所述接头件朝所对应的连接端口趋近，以使所述接头件连接于所对应的所述连接端口。优选地，至少一个所述承载模块具有多个定位部，每一个定位部对应穿设于至少一个所述待测物件上所对应的一定位孔。优选地，所述基座包括一基座本体以及位于所述基座本体上且具有多个限位部的一载台单元，所述基座本体与多个所述支撑柱组的所述一端及至少一个所述驱动模块的所述一端连接；其中，所述载台单元通过承载至少一个所述承载模块，以使每一个所述限位部对应穿设于至少一个所述承载模块上所对应的一限位孔。为了解决上述的技术问题，本专利技术所采用的另外一技术方案是，提供一种测试方法，用于一种测试装置，所述测试装置包括基座、顶部结构、多个支撑柱、至少一个驱动模块、测试模块及至少一承载模块，其中，多个支撑柱的一端连接于基座，多个支撑柱的另一端连接于顶部结构。至少一驱动模块的一端连接于基座，至少一驱动模块的另一端连接于顶部结构，至少一驱动模块对应于至少两个支撑柱，且至少一驱动模块与基座、顶部结构及多个支撑柱之间界定出容置空间。测试模块包括中心具有中空区域的主体单元以及位于主体单元上的多个检测单元，主体单元位于容置空间，并可活动地与多个支撑柱与至少一驱动模块连接。至少一承载模块可拆卸地置于基座，并对应于测试模块的主体单元的中空区域。所述测试方法包括下列步骤：通过至少一承载模块承载至少一待测物件；控制至少一驱动模块而驱使测试模块位移至一预定位置，以使至少一待测物件位于测试模块的主体单元的中空区域；以及每一个检测单元可拆卸地连接位于至少一待测物件上所对应的连接端口。优选地，所述顶部结构包括一本体单元及一固定单元，且在驱使所述测试模块位移至所述预定位置的步骤前，还包括下列步骤：驱使所述固定单元朝所述基座位移且顶抵至少一个所述待测物件，以固定至少一个所述待测物件。优选地，所述测试模块包括一主体单元及多个检测单元，每一个所述检测单元包括一动力件及一接头件，且在通过每一个所述检测单元能拆卸地连接于至少一个所述待测物件上所对应的所述连接端口的步骤中，还包括下列步骤：通过控制所述动力件而驱使所述接头件朝所对应的连接端口趋近，以使所述接头件连接于所对应的所述连接端口。本专利技术的其中一有益效果在于，本专利技术所提供的测试装置及测试方法，能通过上述技术方案，以实现自动换板测试的技术效果，并能大大的减少人员换板的时间，进而降低人力成本的支出。为使能更进一步了解本专利技术的特征及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然而所提供的附图仅用于提供参考与说明，并非用来对本专利技术加以限制。附图说明图1为本专利技术第一实施例的测试装置的其中一立体示意图。图2为本专利技术第一实施例的测试装置的另外一立体示意图。图3为本专利技术第一实施例的承载模块的立体示意图。图4为本专利技术第二实施例的测试装置的立体示意图。图5为本专利技术第三实施例的测试模块的立体示意图。图6为本专利技术第四实施例的测试模块的立体示意图。图7为本专利技术第五实施例的承载模块的其中一立体示意图。图8为本专利技术第五实施例的承载模块的另外一立体示意图。图9为本专利技术第五实施例的测试装置的立体示意图。图10为本专利技术的测试方法的第一种流程图。图11为本专利技术的测试方法的第二种流程图。具体实施方式以下是通过特定的具体实施例来说明本专利技术所公开有关“测试装置及测试方法”的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所公开的内容了解本专利技术的优点与效果。本专利技术可通过其他不同的具体实施例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用，在不悖离本专利技术的构思下进行各种修改与变更。另外，本专利技术的附图仅为简单示意说明，并非依实际尺寸的描绘，事先声明。以下的实施方式将进一步详细说明本专利技术的相关
技术实现思路
，但所公开的内容并非用以限制本专利技术的保护范围。应当可以理解的是，虽然本文中可能会使用到“第一”、“第二”、“第三”等术语来描述各种元件或者信号，但这些元件或者信号不应受这些术语的限制。这些术语主要是用以区分一元件与另一元件，或者一信号与另一信号。另外，本文中所使用的术语“或”，应视实际情况可能包括相关联的列出项目中的任一个或者多个的组合。[第一实施例]请参阅图1至图3，分别为本专利技术第一实施例的测试装置的其中一立体示意图、本专利技术第一实施例的测试装置的另外一立体示意图及本专利技术第一实施例的承载模块的立体示意图。如图所示，本专利技术第一实施例提供一种测试装置1，包括基座10、顶部结构11、多个支撑柱12、至少一个驱动模块13与测试模块14与至少一个承载模块15。顶部结构11对应基座10设置。多个支撑柱12的一端连接于基座10，多个支撑柱12的另一端连接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：一基座；一顶部结构，对应所述基座设置；多个支撑柱，多个所述支撑柱的一端连接于所述基座，多个所述支撑柱的另一端连接于所述顶部结构；至少一个驱动模块，至少一个所述驱动模块的一端连接于所述基座，至少一个所述驱动模块的另一端连接于所述顶部结构，至少一个所述驱动模块对应于至少一个所述支撑柱，且至少一个所述驱动模块与所述基座、所述顶部结构及多个所述支撑柱之间界定出一容置空间；一测试模块，包括中心具有一中空区域的一主体单元以及位于所述主体单元上的多个检测单元，所述主体单元位于所述容置空间，并能活动地与多个所述支撑柱与至少一个所述驱动模块连接；以及至少一个承载模块，可拆卸地置于所述基座，并对应于所述中空区域；其中，至少一个所述承载模块承载至少一个待测物件，至少一个所述驱动模块受控制而驱使所述测试模块位移至一预定位置，以使至少一个所述待测物件位于所述中空区域，且每一所述检测单元能拆卸地连接于至少一个所述待测物件上所对应的一连接端口。

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：一基座；一顶部结构，对应所述基座设置；多个支撑柱，多个所述支撑柱的一端连接于所述基座，多个所述支撑柱的另一端连接于所述顶部结构；至少一个驱动模块，至少一个所述驱动模块的一端连接于所述基座，至少一个所述驱动模块的另一端连接于所述顶部结构，至少一个所述驱动模块对应于至少一个所述支撑柱，且至少一个所述驱动模块与所述基座、所述顶部结构及多个所述支撑柱之间界定出一容置空间；一测试模块，包括中心具有一中空区域的一主体单元以及位于所述主体单元上的多个检测单元，所述主体单元位于所述容置空间，并能活动地与多个所述支撑柱与至少一个所述驱动模块连接；以及至少一个承载模块，可拆卸地置于所述基座，并对应于所述中空区域；其中，至少一个所述承载模块承载至少一个待测物件，至少一个所述驱动模块受控制而驱使所述测试模块位移至一预定位置，以使至少一个所述待测物件位于所述中空区域，且每一所述检测单元能拆卸地连接于至少一个所述待测物件上所对应的一连接端口。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述顶部结构包括对应所述基座的一本体单元以及能活动地穿设于所述本体单元的一固定单元，所述本体单元与多个所述支撑柱的所述另一端及至少一个所述驱动模块的所述另一端连接；其中，所述固定单元受驱动地朝所述基座位移且顶抵至少一个所述待测物件，以固定至少一个所述待测物件。3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述主体单元还具有至少一个开口与多个通孔，至少一个所述驱动模块通过穿设于至少一个所述开口，每一个所述支撑柱穿设于所对应的所述通孔。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述主体单元对应至少一个所述开口的内壁还具有一第一接合部，至少一个所述驱动模块具有一第二接合部，所述主体单元通过所述第一接合部活动地连接于至少一个所述驱动模块的所述第二接合部。5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：高合助，
申请(专利权)人：环旭电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31