电子元器件传送装置以及电子元器件检查装置制造方法及图纸

技术编号:20516533 阅读:29 留言:0更新日期:2019-03-06 02:12
本申请提供电子元器件传送装置以及电子元器件检查装置,以简单的构成即可准确判断载置部中有无电子元器件、或载置部中的电子元器件的姿势。电子元器件传送装置具备电子元器件传送部,具有载置电子元器件的载置部,能在第一位置与第二位置间传送所述电子元器件;流体吸引部,能从所述载置部吸引流体;照射部,能向所述载置部侧照射光;以及受光部,能接收所述照射部照射的所述光,在所述电子元器件传送部位于所述第一位置时,通过所述流体吸引部进行所述流体的吸引,并通过所述照射部进行所述光的照射,并且基于所述流体的流量以及所述受光部中的所述光的受光量,判断所述载置部中有无所述电子元器件、或者所述载置部中的所述电子元器件的姿势。

Electronic Component Transfer Device and Electronic Component Inspection Device

The application provides an electronic component transmission device and an electronic component inspection device, which can accurately determine the posture of an electronic component in the carrier unit or the electronic component in the carrier unit with a simple structure. The electronic component transmission device has an electronic component transmission unit, which has a carrier unit for carrying the electronic component and can transmit the electronic component between the first position and the second position; a fluid attraction unit, which can attract fluid from the carrier unit; an irradiation unit, which can irradiate light to the side of the carrier unit; and a light receiving unit, which can receive the light irradiated by the irradiation unit, and the electronic component can be transmitted between the first position and the second position. When the component transmission part is at the first position, the fluid is absorbed by the fluid attraction part, and the light is irradiated by the illumination part. Based on the flow of the fluid and the light received by the light receiving part, the attitude of the electronic component in the carrier part or the electronic component in the carrier part is judged. Potential.

【技术实现步骤摘要】
电子元器件传送装置以及电子元器件检查装置
本专利技术涉及电子元器件传送装置以及电子元器件检查装置。
技术介绍
以往,已知有例如对IC器件等电子元器件的电气特性进行检查的电子元器件检查装置,在该电子元器件检查装置中组装有用于将IC器件传送至检查部的保持部的电子元器件传送装置。在IC器件的检查时,IC器件被配置于保持部,并使设置于保持部的多个探针与IC器件的各端子接触。所述电子元器件传送装置具有事先对IC器件进行加热或者冷却而将IC器件调整为适于检查的温度的均温板、将经均温板进行了温度调整的IC器件传送至检查部附近的供给穿梭件、进行配置有IC器件的托盘与均温板之间的IC器件的传送以及均温板与供给穿梭件之间的IC器件的传送的第一器件传送头、传送检查后的IC器件的回收穿梭件、进行供给穿梭件与检查部之间的IC器件的传送以及检查部与回收穿梭件之间的IC器件的传送的第二器件传送头、以及进行回收穿梭件与供要回收的IC器件配置的托盘之间的IC器件的传送的第三器件传送头等。供给穿梭件以及回收穿梭件分别具有供IC器件配置的多个袋形部。另外,在专利文献1中公开了能够判定IC器件是否残留于插座上的电子元器件试验装置。该电子元器件试验装置具有对插座进行拍摄的拍摄单元、存储由拍摄单元拍摄取得的未安装有IC器件的状态下的插座的基准图像数据的存储单元、以及判定IC器件是否残留于插座上的残留判定单元。并且,在该电子元器件试验装置中,由拍摄单元拍摄插座,获取该插座的检查图像数据,并通过残留判定单元对所述检查图像数据与所述基准图像数据进行比较,从而判定IC器件是否残留于插座。专利文献1:国际公开第2007/17953号在以往的电子元器件传送装置中,检查前的IC器件被供给穿梭件运入检查部附近。另外,检查后的IC器件被回收穿梭件运出。于是,不管在哪个穿梭件中,当穿梭件上的IC器件的落座状态差时,有时会由于穿梭件的移动而导致IC器件飞出。在该情况下,有可能破坏合格的IC器件。另外,存在使电子元器件传送装置的驱动停止、检查的时间效率降低的问题。另外,在将判定IC器件是否残留于插座上的装置应用于判定IC器件是否残留于穿梭件的装置的情况下,在硬件方面和软件方面均使装置大规模化,即、存在装置大型化、且装置的构成以及控制变得复杂的问题。
技术实现思路
本专利技术是为了解决上述问题的至少一部分而完成的,可作为以下的方式而实现。本专利技术的电子元器件传送装置的特征在于,具备:电子元器件传送部,具有载置电子元器件的载置部,并能够在第一位置与第二位置之间传送所述电子元器件;流体吸引部,能够经由流体可通过的流路从所述载置部吸引所述流体;照射部,能够向所述载置部侧照射光;受光部,能够接收所述照射部照射的所述光;以及控制部,控制所述电子元器件传送部、所述流体吸引部、所述照射部以及所述受光部的动作,所述控制部在所述电子元器件传送部位于所述第一位置时,通过所述流体吸引部进行所述流体的吸引,并通过所述照射部进行所述光的照射,并且基于通过所述流路的所述流体的流量以及所述受光部中的所述光的受光量,判断所述载置部中有无所述电子元器件、或者所述载置部中的所述电子元器件的姿势。由此,通过在第一位置进行流体的吸引与光的照射这一简单的构成即可准确地判断电子元器件传送部的载置部中有无电子元器件、载置部中的电子元器件的姿势。并且,在该判断中使用检测流体的流量与光的受光量而得的检测结果。通过使用这两种信息,能够提高判断的准确性。在本专利技术的电子元器件传送装置中,优选的是,在通过所述流路的所述流体的流量为事先设定的流量阈值以下时,所述控制部判断为在所述载置部中有所述电子元器件,并且所述载置部中的所述电子元器件的姿势适当。由此,能够根据例如泵的吸引力的大小等那样的各种条件适当地设定流量阈值,因此,能够准确地进行基于流体的流量的电子元器件的姿势好坏的判断。在本专利技术的电子元器件传送装置中,优选的是,在通过所述流路的所述流体的流量超过事先设定的流量阈值,并且所述受光部中的所述光的受光量超过事先设定的受光量阈值时,所述控制部判断为在所述载置部中无所述电子元器件。由此,能够基于流体的流量与光的受光量这两信息,准确地进行有无电子元器件的判断。在本专利技术的电子元器件传送装置中,优选的是,在通过所述流路的所述流体的流量超过事先设定的流量阈值,并且所述受光部中的所述光的受光量为事先设定的受光量阈值以下时,所述控制部判断为在所述载置部中有所述电子元器件,但所述载置部中的所述电子元器件的姿势不适当。由此,能够基于流体的流量以及光的受光量这两信息,一并准确地进行电子元器件的有无以及姿势的判断。在本专利技术的电子元器件传送装置中,优选的是,在所述受光部中的所述光的受光量超过事先设定的受光量阈值,并且通过所述流路的所述流体的流量为事先设定的流量阈值以下时,所述控制部判断为在所述载置部中有所述电子元器件,并且所述载置部中的所述电子元器件的姿势适当。由此,能够基于光的受光量与流体的流量这两信息,准确地进行电子元器件的姿势好坏的判断。在本专利技术的电子元器件传送装置中,优选的是,在所述受光部中的所述光的受光量超过事先设定的受光量阈值,并且通过所述流路的所述流体的流量超过事先设定的流量阈值时,所述控制部判断为在所述载置部中无所述电子元器件。由此,能够基于光的受光量与流体的流量这两信息,准确地进行有无电子元器件的判断。在本专利技术的电子元器件传送装置中,优选的是,所述控制部在所述受光部中的所述光的受光量为事先设定的受光量阈值以下时,进行规定时间的所述流体的吸引,在所述受光部中的所述光的受光量仍旧为所述受光量阈值以下的情况下,判断为在所述载置部中有所述电子元器件,但所述载置部中的所述电子元器件的姿势不适当,在所述受光部中的所述光的受光量超过所述受光量阈值时,判断为在所述载置部中有所述电子元器件,并且所述载置部中的所述电子元器件的姿势适当。由此,例如并非立即判断电子元器件的有无以及姿势,而是能够尽可能地花费时间来准确地进行该判断。在本专利技术的电子元器件传送装置中,优选的是,所述电子元器件具有突出形成的端子,所述载置部具有在载置所述电子元器件时供所述端子进入的微小凹部。由此,在利用流体吸引部吸引载置部时,检测的流量产生足够的变化。并且,能够将该结果用于电子元器件传送部中有无电子元器件、电子元器件的姿势的判断。在本专利技术的电子元器件传送装置中,优选的是,所述载置部由与所述流路连通的凹部构成,在所述流路的中途设置或者连接有对通过所述流路的所述流体的流量进行检测的流量检测部。由此,能够准确地检测通过流路的流体的流量。本专利技术的电子元器件检查装置其特征在于,具备:电子元器件传送部,具有载置电子元器件的载置部,并能够在第一位置与第二位置之间传送所述电子元器件;流体吸引部,能够经由流体可通过的流路从所述载置部吸引所述流体;照射部,能够向所述载置部侧照射光;受光部,能够接收所述照射部照射的所述光;检查部,检查所述电子元器件;以及控制部,控制所述电子元器件传送部、所述流体吸引部、所述照射部以及所述受光部的动作,所述控制部在所述电子元器件传送部位于所述第一位置时,通过所述流体吸引部进行所述流体的吸引,并通过所述照射部进行所述光的照射,并且基于通过所述流路的所述流体的流量以及所述受光部本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种电子元器件传送装置,其特征在于,具备:电子元器件传送部,具有载置电子元器件的载置部,并在第一位置与第二位置之间传送所述电子元器件;流体吸引部,经由供流体通过的流路从所述载置部吸引所述流体;照射部,向所述载置部照射光;受光部,接收所述照射部照射的所述光;以及控制部,控制所述电子元器件传送部、所述流体吸引部、所述照射部以及所述受光部的动作,所述控制部在所述电子元器件传送部位于所述第一位置时,通过所述流体吸引部进行所述流体的吸引,并通过所述照射部进行所述光的照射,并且基于通过所述流路的所述流体的流量以及所述受光部中的所述光的受光量,判断所述载置部中有无所述电子元器件、或者所述载置部中的所述电子元器件的姿势。

【技术特征摘要】
2017.08.31 JP 2017-1665501.一种电子元器件传送装置,其特征在于,具备:电子元器件传送部,具有载置电子元器件的载置部,并在第一位置与第二位置之间传送所述电子元器件;流体吸引部,经由供流体通过的流路从所述载置部吸引所述流体;照射部,向所述载置部照射光;受光部,接收所述照射部照射的所述光;以及控制部,控制所述电子元器件传送部、所述流体吸引部、所述照射部以及所述受光部的动作,所述控制部在所述电子元器件传送部位于所述第一位置时,通过所述流体吸引部进行所述流体的吸引,并通过所述照射部进行所述光的照射,并且基于通过所述流路的所述流体的流量以及所述受光部中的所述光的受光量,判断所述载置部中有无所述电子元器件、或者所述载置部中的所述电子元器件的姿势。2.根据权利要求1所述的电子元器件传送装置,其特征在于,在通过所述流路的所述流体的流量为事先设定的流量阈值以下时,所述控制部判断为在所述载置部中有所述电子元器件、且所述载置部中的所述电子元器件的姿势适当。3.根据权利要求1所述的电子元器件传送装置,其特征在于,在通过所述流路的所述流体的流量超过事先设定的流量阈值、且所述受光部中的所述光的受光量超过事先设定的受光量阈值时,所述控制部判断为在所述载置部中无所述电子元器件。4.根据权利要求1所述的电子元器件传送装置,其特征在于,在通过所述流路的所述流体的流量超过事先设定的流量阈值、且所述受光部中的所述光的受光量为事先设定的受光量阈值以下时,所述控制部判断为在所述载置部中有所述电子元器件、且所述载置部中的所述电子元器件的姿势不适当。5.根据权利要求1所述的电子元器件传送装置,其特征在于,在所述受光部中的所述光的受光量超过事先设定的受光量阈值、且通过所述流路的所述流体的流量为事先设定的流量阈值以下时,所述控制部判断为在所述载置部中有所述电子元器件、且所述载置部中的所述电子元器件的姿势适当。6...

【专利技术属性】
技术研发人员:中村敏
申请(专利权)人:精工爱普生株式会社
类型:发明
国别省市:日本,JP

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