分析装置和分析方法制造方法及图纸

技术编号:20515988 阅读:19 留言:0更新日期:2019-03-06 02:01
提供分析装置和分析方法,在遵照标准规格进行基于规定的分析方法的分析时能够减轻操作人员的负担、防止错误的分析。分析装置(100)具有:存储部(102),其存储按照一个以上的分析方法的每个分析方法分别规定了分析条件的一个以上的标准规格的分析条件;控制部(104);显示部(106);输入部(108);以及分析部(120),其进行与分析方法对应的分析,在指定了分析方法时,控制部读出相对应的标准规格的分析条件,按照时间序列顺序显示其中的分析部的分析所需的分析条件或按照时间序列顺序提示输入分析条件,在从输入部输入了分析条件的情况下,控制部判定所输入的分析条件是否适合读出的分析条件,在判定为肯定的情况下,显示分析部的分析所需的下一个分析条件、或提示输入下一个分析条件。

Analytical Device and Analytical Method

Provides analytical devices and methods, which can reduce the burden of operators and prevent errors in performing analysis based on prescribed analytical methods in accordance with standard specifications. The analysis device (100) has: a storage unit (102) which stores more than one standard specification analysis condition according to each analysis method of more than one analysis method; a control unit (104); a display unit (106); an input unit (108); and an analysis unit (120), which carries out analysis corresponding to the analysis method, and when the analysis method is specified, the control unit reads out the relative analysis. The analysis conditions of the corresponding standard specifications are displayed according to the sequence of time series or are prompted to input the analysis conditions according to the sequence of time series. When the analysis conditions are input from the input part, the control part decides whether the input analysis conditions are suitable for reading out the analysis conditions. When the determination is positive, the part of the analysis part is displayed. The next analysis condition required for analysis, or the next analysis condition prompted for input.

【技术实现步骤摘要】
分析装置和分析方法
本专利技术涉及在热分析装置等中例示的分析装置和分析方法。
技术介绍
在热分析等中规定了ISO、JIS、ASTM等标准规格,很多时候预先确定详细的测定条件等。例如,在热分析中具有差示扫描热量测定(DSC)、差热测定(DTA)、热重量测定(TG)、热机械的测定(TMA)等,但如图1所示,基于DSC的比热容测定的标准规格在ISO11357-4、JISK7123、ASTME1269中分别定义。各标准规格下的测定的目的和过程大致相同,但如图2所示,在细致的分析条件(加热模式、试样的质量等)中存在差异。而且,在提出分析结果的情况下,有时期望基于遵照在国内或海外与各个地域或领域对应的公定法的标准规格的分析方法。另一方面,在按照例程大量地进行各种分析的分析机构等中,通过使用流程文件进行一系列的分析的步骤,能够减轻操作人员的负担。因此,开发了能够简易地创建流程的技术(专利文献1)。专利文献1:日本特开2008-232654号公报然而,在专利文献1记载的技术的情况下,如果是操作人员平常操作而熟知的分析条件,则能够创建流程,但是,针对遵照复杂的各种标准规格进行的分析而一个个地创建流程很困难。即,如图1、图2所示,在基于DSC的比热容测定的情况下,需要逐一输入根据ISO11357-4、JISK7123、ASTME1269这多个标准规格中的每个标准规格而不同的测定条件来创建流程,存在如下的问题:操作人员的负担大,并且容易诱发弄错了要输入的数值等的人为错误。并且,在各标准规格之间,例如样品重量细微地不同,有可能使用错误的样品重量进行分析。而且,在对分析数据进行解析而求取目标结果时,对于解析的步骤,也需要遵照在标准规格中决定的内容进行,对于解析步骤,也需要读入标准规格并在分析装置中设定,操作人员的负担变得更大。
技术实现思路
因此,本专利技术是为了解决上述的课题而完成的,其目的在于,提供在遵照标准规格来进行基于规定的分析方法的分析时能够减轻操作人员的负担并且防止错误的分析的分析装置和分析方法。为了达成上述的目的,本专利技术的分析装置具有:存储部,其存储按照一个以上的分析方法的每个所述分析方法而分别规定了分析条件的一个以上的标准规格的分析条件;控制部;显示部;输入部;以及分析部,其进行与所述分析方法对应的分析,其中,在指定了所述分析方法时,所述控制部读出相对应的所述标准规格的所述分析条件,按照时间序列顺序显示所读出的分析条件中的所述分析部的分析所需的分析条件,或按照时间序列顺序提示输入所述分析条件,在从所述输入部输入了所述分析条件的情况下,所述控制部判定所输入的所述分析条件是否适合所述读出的分析条件,在判定为肯定的情况下,显示所述分析部的分析所需的下一个分析条件,或提示输入所述下一个分析条件。根据该分析装置,通过按照时间序列顺序显示与分析方法对应的标准规格的分析条件,对操作人员来说,成为判断是否在进行以标准规格为基准的分析的引导。并且,通过按照时间序列顺序提示输入分析条件,从而由系统侧判定所输入的分析条件是否适合标准规格的分析条件,在判定为肯定的情况下,通过显示下一个分析条件或提示输入,防止在与标准规格不符的分析条件下进行错误的分析。由此,即使在遵照繁杂的标准规格进行分析的情况下,也能够减轻操作人员的负担、防止错误的分析。也可以是,所述分析条件包含作为分析对象的试样的温度控制信息、试样气氛信息、质量、标准试样的组成、以及试样容器的质量。也可以是,所述分析条件包含每个所述分析方法的解析方法,所述控制部针对所述分析部的分析结果,基于所述读出的分析条件而自动地进行与所述分析方法对应的解析。根据该分析装置,分析结果的解析也是由分析装置侧遵照标准规格自动地进行的,因此操作人员的负担进一步减轻。在本专利技术的分析方法中,预先存储按照一个以上的分析方法的每个所述分析方法分别规定了分析条件的一个以上的标准规格的分析条件,进行与所述分析方法对应的分析,其中,该分析方法具有如下的过程:第一过程,在指定了所述分析方法时,读出相对应的所述标准规格的所述分析条件,按照时间序列顺序显示所读出的分析条件中的所述分析所需的分析条件、或按照时间序列顺序提示输入所述分析条件;以及第二过程,在从规定的输入部输入了所述分析条件的情况下,判定所输入的所述分析条件是否适合所述读出的分析条件,在判定为肯定的情况下,显示所述分析所需的下一个分析条件、或提示输入所述下一个分析条件。在本专利技术的分析方法中,也可以是,所述分析条件包含作为分析对象的试样的温度控制信息、试样气氛信息、质量、标准试样的组成、以及试样容器的质量。在本专利技术的分析方法中,也可以是,所述分析条件包含每个所述分析方法的解析方法,所述分析方法还具有第三过程,在该第三过程中,针对所述分析的分析结果,基于所述读出的分析条件而自动地进行与所述分析方法对应的解析。在本专利技术的分析方法中,也可以是,所述分析方法还具有第四过程,在该第四过程中,当在所述第二过程中判定为否定的情况下,通知规定的警告。在本专利技术的分析方法中,也可以是,所述警告包含使得在所述第二过程中判定为肯定的所述分析条件的通知。专利技术效果根据本专利技术,在遵照标准规格进行基于规定的分析方法的分析时,能够减轻操作人员的负担、防止错误的分析。附图说明图1是示出热分析的各分析方法各自的标准规格的图。图2是示出基于DSC的比热容测定的标准规格的分析条件的图。图3是示出本专利技术的实施方式的分析装置的结构的框图。图4是示出在分析装置内进行的处理流程的图。图5是接着图4的图。图6是示出在显示部上显示的画面转变例的图。图7是接着图6的图。图8是接着图7的图。图9是接着图8的图。图10是接着图9的图。图11是接着图10的图。图12是接着图11的图。图13是接着图12的图。图14是接着图13的图。图15是接着图14的图。图16是接着图15的图。图17是接着图16的图。标号说明100:分析装置;102:存储部;104:控制部;106:显示部;108:输入部;110:计算机;120:分析部。具体实施方式以下,参照附图对本专利技术的实施方式进行说明。图3是示出本专利技术的实施方式的分析装置100的结构的框图,图4、图5是示出在分析装置100内进行的处理流程的图,图6~图17是在显示部上显示的画面转变例。另外,在本例中,分析装置100是差示扫描热量测定(DSC)装置。如图3所示,分析装置100具有计算机110和进行DSC测定的分析部120。计算机110例如由个人计算机构成,具有硬盘等存储部102、CPU等控制部104、液晶监视器等显示部106以及键盘或触摸面板等输入部108。并且,计算机110与分析部120连接,控制部104也对分析部120的分析动作进行控制。存储部102存储一个以上的标准规格的分析条件。这里,标准规格是指规定的分析方法的分析条件的官方的规定、规格,例示了例如图1的ISO11357-4、JISK7123、ASTME1269等。分析条件例如像图2所示那样包含作为分析对象的试样的加热模式(温度控制信息)、试样气氛信息(导入到试样室中的气体类别和气体流量)、质量、标准试样的组成、试样容器的质量等,但只要是在标准规格中规定的条件即可,不限于此。并且,“分析方法”是指实际上进行分析的试验方法,在本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种分析装置,其具有:存储部,其存储按照一个以上的分析方法中的每个所述分析方法而分别规定了分析条件的一个以上的标准规格的分析条件;控制部;显示部;输入部;以及分析部,其进行与所述分析方法对应的分析,其中,在指定了所述分析方法时,所述控制部读出相对应的所述标准规格的所述分析条件,按照时间序列顺序显示所读出的分析条件中的所述分析部的分析所需的分析条件,或按照时间序列顺序提示输入所述分析条件,在从所述输入部输入了所述分析条件的情况下,所述控制部判定所输入的所述分析条件是否适合所述读出的分析条件,在判定为肯定的情况下,显示所述分析部的分析所需的下一个分析条件,或提示输入所述下一个分析条件。

【技术特征摘要】
2017.08.22 JP 2017-1595481.一种分析装置,其具有:存储部,其存储按照一个以上的分析方法中的每个所述分析方法而分别规定了分析条件的一个以上的标准规格的分析条件;控制部;显示部;输入部;以及分析部,其进行与所述分析方法对应的分析,其中,在指定了所述分析方法时,所述控制部读出相对应的所述标准规格的所述分析条件,按照时间序列顺序显示所读出的分析条件中的所述分析部的分析所需的分析条件,或按照时间序列顺序提示输入所述分析条件,在从所述输入部输入了所述分析条件的情况下,所述控制部判定所输入的所述分析条件是否适合所述读出的分析条件,在判定为肯定的情况下,显示所述分析部的分析所需的下一个分析条件,或提示输入所述下一个分析条件。2.根据权利要求1所述的分析装置,其中,所述分析条件包含作为分析对象的试样的温度控制信息、试样气氛信息、质量、标准试样的组成、以及试样容器的质量。3.根据权利要求1或2所述的分析装置,其中,所述分析条件包含每个所述分析方法的解析方法,所述控制部针对所述分析部的分析结果,基于所述读出的分析条件而自动地进行与所述分析方法对应的解析。4.一种分析方法,预先存储按照一个以上的分析方法中的每个所述分析方法分别规定了...

【专利技术属性】
技术研发人员:梅基毅西村晋哉伊藤晋大久保信明
申请(专利权)人:日本株式会社日立高新技术科学
类型:发明
国别省市:日本,JP

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