一种致冷芯片热像检测设备制造技术

本发明专利技术公开了一种致冷芯片热像检测设备，其特征是，包括机架,机架上设可循环运转的输送线，输送线上划分有上料区、成品区和不良品区；机架上还设有用于检测待检致冷芯片的检测模块；检测模块包括朝待检致冷芯片布置的热成像仪、至少一组用于接通待检致冷芯片导线的导电头组，导电头组压合于工装模块上并与待检致冷芯片的导线电连通；还包括数据处理模块，热成像仪与数据处理模块通信连接；数据处理模块接收热成像仪上传的数据并判定待检致冷芯片的质量，控制输送线将待检致冷芯片送入成品区或不良品区。本发明专利技术具有自动化程度高、能准确分析不合格产品问题、提高工作效率和减少人工成本的优点。

A Thermal Image Testing Equipment for Refrigerating Chips

The invention discloses a thermal image detection device for refrigerating chips, which is characterized by a rack, a circulating conveyor line on the rack, a feeding area, a finished product area and a defective product area on the conveyor line, a detection module for detecting the chips to be inspected on the rack, a thermal imager arranged towards the chips to be inspected, and at least a set of thermal imagery devices for connecting the chips to be inspected. Conducting head group of cold chip conductor, which is pressed on the tooling module and connected with the conductor of the chips to be inspected, also includes data processing module, communication connection between thermal imager and data processing module, data processing module receives data uploaded by thermal imager and determines the quality of chips to be inspected, and controls the transmission line to send chips to the finished product area or the undesirable product area. This is the case. The invention has the advantages of high automation, accurate analysis of unqualified products, improving work efficiency and reducing labor costs.

【技术实现步骤摘要】
一种致冷芯片热像检测设备
本专利技术涉及致冷芯片制造领域，尤其是一种致冷芯片热像检测设备。
技术介绍
半导体致冷芯片，也叫热电致冷芯片，是一种热泵。它的优点是没有滑动部件，应用在一些空间受到限制，可靠性要求高，无制冷剂污染的场合。利用半导体材料的Peltier效应，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端即可分别吸收热量和放出热量，可以实现制冷的目的。它是一种产生负热阻的制冷技术，其特点是无运动部件，可靠性也比较高。在致冷芯片的生产加工后，检测致冷芯片是否合格是一道不可或缺的工序。但在实际检测中，通过给致冷芯片通电，检测致冷芯片的电阻从而判断致冷芯片是否合格，但这种方法只能区分合格和不合格，不能准确的分析究竟是致冷芯片哪个位置，什么原因导致不合格。而且，现有的致冷芯片检测设备自动化程度低，还需要人工干预，所以，现有的致冷芯片检测设备已经无法满足人们的需求。因此，需要开发一种致冷芯片热像检测设备来解决上述的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种自动化程度高、检测效率高、能准确分析不合格产品问题、提高工作效率减少人工成本的致冷芯片热像检测设备。为了实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种致冷芯片热像检测设备，其特征是，包括机架,所述机架上设可循环运转的输送线，所述输送线上划分有上料区、成品区和不良品区；所述输送线上设有若干个用于放置待检致冷芯片的工装模块，所述工装模块随所述输送线运转于所述上料区、成品区与不良品区内移动；所述机架上还设有用于检测待检致冷芯片的检测模块；所述检测模块包括朝待检致冷芯片布置的热成像仪、至少一组用于接通待检致冷芯片导线的导电头组，所述导电头组压合于工装模块上并与待检致冷芯片的导线电连通；还包括数据处理模块，所述热成像仪与所述数据处理模块通信连接；所述数据处理模块接收所述热成像仪上传的数据并判定待检致冷芯片的质量，控制所述输送线将待检致冷芯片送入成品区或不良品区。本专利技术的工作原理如下：首先启动机器，输送线开始运转，在工装模块上，带检测的致冷芯片被输送到输送线上；然后输送线将致冷芯片输送到检测模块；继而，导电头组电连接致冷芯片的电线接口；导电头组接通致冷芯片，热像仪对致冷芯片进行检测，并将数据输送到数据处理模块，并判断待检测致冷芯片的质量，进而控制输送线将致冷芯片送入成品去或不良品区。为了适应不同型号的致冷芯片，适应不同致冷芯片的电线长度，有选的是，所述工装模块包括工装座，所述工装座上设有用于放置待检致冷芯片的定位板和用于夹紧待检致冷芯片导线的夹线器，所述夹线器滑动连接于所述工装座；所述定位板与所述夹线器之间布置有用于调整夹线器与定位板间距的导向条，所述导向条内设置有沿自身纵向布置的导向长孔，所述导向长孔内滑动连接有连接块，所述连接块与所述夹线器相连；所述夹线器滑动连接于所述工装座与所述导向条之间。为了保证致冷芯片顺利接入电源，优选的是，所述机架上设置有检测机械手组件；所述检测机械手组件包括与所述工装座同向布置的直线导向模组、安设在直线导向模组上且可往复升降的第一驱动部；所述第一驱动部朝向待检致冷芯片的导线布置并与导电头组相连；所述导电头组上设有可与待检致冷芯片的导线电连接的探针。为了适应不同型号的致冷芯片，优选的是，所述导电头组与待检致冷芯片导线接触的端面的截面呈波浪状。为了提高设备的自动化程度，提高工作效率，保证致冷芯片被远远不断地转移到输送线上，优选的是，所述机架上设有将待检致冷芯片置入上料区内的上料组件；所述上料组件包括若干个用于装承待检致冷芯片的料盒和用于推动料盒升降的推升组件；所述料盒内设有开口朝上的安装腔，所述安装前的底部设有与外部连通的预留口，待检致冷芯片位于所述安装腔内并置于所述预留口内；所述推升组件包括可相对料盒升降的推升块和驱动所述推升块动作的推升驱动装置，所述推升块伸入预留口内并与待检致冷芯片抵接；所述机架上设有将待检致冷芯片放入工装模块的转移装置；所述转移装置包括位于所述上料区内并处于所述输送线上方的取料组件和驱动取料组件移动的取料驱动装置，所述取料组件包括用于吸附待检致冷芯片的吸附部和用于抓取待检致冷芯片导线的夹取部。为了保证检测致冷芯片的精准性，保证成像的准确性，优选的是，所述热成像仪的数量至少为两个，其中一个热成像仪位于所述输送线的上方并朝向待检致冷芯片布置，另一个热成像仪位于所述输送线的下方并朝向待检致冷芯片布置。为了保证更好的检测致冷芯片的质量，优选的是，所述热成像仪倾斜于所述待检致冷芯片布置；位于所述输送线上方的热成像仪的拍摄方向与待检致冷芯片之间的夹角在75°～90°范围内，位于所述输送线下方的热成像仪的拍摄方向与待检致冷芯片之间的夹角在50°～70°范围内。为了区分出合格致冷芯片和不合格的致冷芯片，优选的是，还包括第一输送带和第二输送带；所述第一输送带位与所述成品区相接，所述第二输送带与所述不良品区相接；所述成品区内设有用于将致冷芯片从所述成品区转移到第一输送带上的第一机械手组件；所述不良品区内设有用于将致冷芯片从不良品区转移到第二输送带上的第二机械手组件。本专利技术具有自动化程度高、检测效率高、能准确分析不合格产品问题、提高工作效率减少人工成本的致冷芯片热像检测设备的优点。附图说明图1是本专利技术实施例中检测设备的立体结构示意图之一；图2是本专利技术实施例中检测设备的俯视结构示意图；图3是本专利技术实施例中检测设备的工装座的结构示意图；图4是本专利技术实施例中检测设备的料盒的结构示意图；图5是本专利技术实施例中检测设备的立体结构示意图之二；图6是图5中A的局部结构示意图；图7是本专利技术实施例中检测设备的立体结构示意图之三；图8是图7中B的局部结构示意图；图9是本专利技术实施例中检测设备的立体结构示意图之四图10是图9中C的局部结构示意图。附图标记说明：1-机架；2-输送线；3-第一热像仪；4-第二热像仪；5-第一检测工位；6-第二检测工位；7-第一导电头；8-第二导电头；9-工装座；91-定位板；92-夹线器；921-底座；922-夹持部；923-调整块；93-导向条；931-长条型通孔；10-通电机械手；101-测试直线模组；102-第一驱动气缸；103-探针；104-连接板；11-上料组件；111-上料直线模组；112-料盒；1121-安装腔；1122-预留孔；113-推升组件；12-转移装置；121-取料直接模组；122-夹取部；123-吸料直线模组；13-第一输出工位；14-第二输出工位；15-第一输送带；16-第二输送带；17-第一机械手组件；171-第一下料直线模组；172-第一吸盘块；173-第一升降直线模组；18-第二机械手组件；181-第二下料直线模组；182-第二吸盘块；183-第二升降直线模组；19-致冷芯片。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术进行进一步说明。如图1～10所示的一种致冷芯片热像检测设备，包括机架1；机架1上设有用于输送致冷芯片19的输送线2；输送线上划分有上料区、成品区和不良品区，沿输送线2的输送方向，机架1上依次设有用于将致冷芯片19放置在输送线2上的工装模块、用于检测致冷芯片19是否合格的检测模块、用于区分且输出合格致冷芯片19和不合格致冷芯片19的输出模块。其中，检测模块包括用于检测致冷本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种致冷芯片热像检测设备，其特征是，包括机架,所述机架上设可循环运转的输送线，所述输送线上划分有上料区、成品区和不良品区；所述输送线上设有若干个用于放置待检致冷芯片的工装模块，所述工装模块随所述输送线运转于所述上料区、成品区与不良品区内移动；所述机架上还设有用于检测待检致冷芯片的检测模块；所述检测模块包括朝待检致冷芯片布置的热成像仪、至少一组用于接通待检致冷芯片导线的导电头组，所述导电头组压合于工装模块上并与待检致冷芯片的导线电连通；还包括数据处理模块，所述热成像仪与所述数据处理模块通信连接；所述数据处理模块接收所述热成像仪上传的数据并判定待检致冷芯片的质量，控制所述输送线将待检致冷芯片送入成品区或不良品区。

【技术特征摘要】
1.一种致冷芯片热像检测设备，其特征是，包括机架,所述机架上设可循环运转的输送线，所述输送线上划分有上料区、成品区和不良品区；所述输送线上设有若干个用于放置待检致冷芯片的工装模块，所述工装模块随所述输送线运转于所述上料区、成品区与不良品区内移动；所述机架上还设有用于检测待检致冷芯片的检测模块；所述检测模块包括朝待检致冷芯片布置的热成像仪、至少一组用于接通待检致冷芯片导线的导电头组，所述导电头组压合于工装模块上并与待检致冷芯片的导线电连通；还包括数据处理模块，所述热成像仪与所述数据处理模块通信连接；所述数据处理模块接收所述热成像仪上传的数据并判定待检致冷芯片的质量，控制所述输送线将待检致冷芯片送入成品区或不良品区。2.根据权利要求1所述的一种致冷芯片热像检测设备，其特征是，所述工装模块包括工装座，所述工装座上设有用于放置待检致冷芯片的定位板和用于夹紧待检致冷芯片导线的夹线器，所述夹线器滑动连接于所述工装座。3.根据权利要求2所述的一种致冷芯片热像检测设备，其特征是，所述定位板与所述夹线器之间布置有用于调整夹线器与定位板间距的导向条，所述导向条内设置有沿自身纵向布置的导向长孔，所述导向长孔内滑动连接有连接块，所述连接块与所述夹线器相连；所述夹线器滑动连接于所述工装座与所述导向条之间。4.根据权利要求1所述的一种致冷芯片热像检测设备，其特征是，所述机架上设置有检测机械手组件；所述检测机械手组件包括与所述工装座同向布置的直线导向模组、安设在直线导向模组上且可往复升降的第一驱动部；所述第一驱动部朝向待检致冷芯片的导线布置并与导电头组相连；所述导电头组上设有可与待检致冷芯片的导线电连接的探针。5.根据权利要求1所述的一种致冷芯片热像检测设备，其特征是，所述导电头组与待检致冷芯片导线接触的端面的截面呈波浪...

【专利技术属性】
技术研发人员：李宇驰，刘荣富，刘喜发，朱文娟，卢建荣，杜健飞，王顺英，卢金玲，邱木长，杨冲，李剑波，左湘，
申请(专利权)人：佛山市佛大华康科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44