自动修复NOR型存储阵列位线故障的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的方法及装置，包括：测试存储阵列中的每一条位线上的位线电流，若位线电流为负值，则标记位线上为故障位线，并记录故障位线上的存储单元的地址；则建立故障位线上的存储单元与冗余列中的存储单元的映射关系。本发明专利技术实施例提供了一种自动修复NOR型存储阵列字线故障的方法及装置，通过存储阵列中的每一条位线上的位线电流来确认故障位线，再建立故障位线上包含的存储单元与冗余列中的存储单元的映射关系，来修复位线故障上包含的存储单元，降低了测试的开销，提高了存储阵列的良率以及可靠性。

【技术实现步骤摘要】
自动修复NOR型存储阵列位线故障的方法及装置
本专利技术实施例涉及非易失性存储器
，尤其涉及一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的方法及装置。
技术介绍
以浮栅的场效应管作为存储单元组成的NOR型存储阵列中，控制栅端电压的信号称为字线，而控制漏端电压的信号称为位线。在实际应用的过程中，一方面，随着半导体工艺的发展，单位储存单元的面积越来越小，位线和有源区之间通过过孔连接，打孔工艺在制造的过程中很容易产生偏差。另一方面，多次的编程和擦除操作会导致字线和位线之间的隔离层产生缺陷。由于工艺的偏差和隔离层的缺陷，位线和字线之间会出现短路的问题，称之为位线故障。现有技术中对于位线和字线出现短路的问题之后，采用的方法是直接弃用位于这条位线上包含的所有的存储单元，这样整个存储阵列中可用于存储的存储单元越来越少，因此，这并不是一种很好的方法。或者现有技术中经常使用外部设备进行冗余分析，然后通过使用外部激光设备修改存储阵列熔丝盒的设置，实现存储阵列的修复，使用外部设备对存储阵列进行故障诊断和冗余资源分析带来较大的开销。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的方法及装置，不仅降低了测试的开销，提高了存储阵列的良率，而且提高了存储阵列的可靠性。第一方面，本专利技术实施例提供了一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的方法，包括：测试所述存储阵列中的每一条位线上的位线电流，若所述位线电流为负值，则标记所述位线为故障位线，并记录所述故障位线上包含的存储单元的地址；若所述故障位线首次被标记，则建立所述故障位线上包含的存储单元与冗余列中的存储单元的映射关系，所述故障位线上包含的存储单元与所述冗余列的存储单元一一对应。可选的，若所述故障位线不是首次被标记，记录所述故障位线的标记次数，继续进行所述测试所述存储阵列中的每一条位线上的位线电流。可选的，在若所述故障位线首次被标记，则建立所述故障位线上包含的存储单元与冗余列中的存储单元的映射关系步骤之后，还包括：进入正常工作模式，所述正常工作模式包括对所述存储阵列中的选中存储单元进行读、写或者擦除操作中的任意一种。可选的，在所述正常工作模式下，对所述选中存储单元进行读、写或者擦除操作中的任意一种时，记录所述选中存储单元的地址；根据所述选中存储单元的地址，判断所述选中存储单元是否为所述故障位线上包含的存储单元，若是，则对所述选中存储单元与所述冗余列中存在映射关系的存储单元进行所述操作。可选的，判断所述选中存储单元是否为所述故障位线上包含的存储单元，若否，则对所述选中存储单元进行所述操作。第二方面，本专利技术实施例提供了一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的装置，包括：测试模块，所述测试模块用于测试所述存储阵列中的每一条位线上的位线电流，若所述位线电流为负值，则标记模块用于标记所述位线为故障位线，并记录所述故障位线上包含的存储单元的地址，所述标记模块与所述测试模块相连；映射建立模块，所述映射建立模块与所述标记模块相连，用于若所述故障位线首次被标记，则建立所述故障位线上包含的存储单元与冗余列中的存储单元的映射关系，所述故障位线上包含的存储单元与所述冗余列的存储单元一一对应。可选的，所述标记模块还用于若所述故障位线不是首次被标记，记录所述故障位线的标记次数，所述测试模块用于继续进行所述测试所述存储阵列中的每一条位线上的位线电流。可选的，还包括功能模块，所述功能模块与所述测试模块相连，用于在正常工作模式下，对所述存储阵列中的选中存储单元进行读、写或者擦除操作中的任意一种。可选的，还包括记录模块，所述记录模块与所述功能模块相连，用于在所述正常工作模式下，对所述选中存储单元进行读、写或者擦除操作中的任意一种时，记录所述选中存储单元的地址；判断模块，所述判断模块分别与所述标记模块、所述记录模块和所述映射建立模块相连，用于根据所述选中存储单元的地址，判断所述选中存储单元是否为所述故障位线上包含的存储单元，若是，则所述功能模块对所述选中存储单元与所述冗余列中存在映射关系的存储单元进行所述操作。可选的，所述判断模块用于判断所述选中存储单元是否为所述故障位线上包含的存储单元，若否，则所述功能模块对所述选中存储单元进行所述操作。本专利技术实施例提供了一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的方法及装置，通过测试并判定存储阵列中的每一条位线上的位线电流是否为负值，来确定故障位线以及故障位线上包含的存储单元的地址，对于首次被标记的故障位线，则建立故障位线上包含的存储单元与冗余列中的存储单元的映射关系并将故障位线上包含的存储单元的数据复制到冗余列中的存储单元中，减少了现有技术中对外部仪器的依赖，降低存储阵列的成本，并且提高了存储阵列的良率，而且提高了存储阵列的可靠性。附图说明图1为本专利技术实施例一提供的一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例二提供的一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的方法的流程示意图；图3为本专利技术实施例三提供的一种自动修复NOR型存储阵列位线故障装置的结构示意图；图4为本专利技术实施例三提供的又一种自动修复NOR型存储阵列位线故障装置的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。实施例一图1为本专利技术实施例一提供的一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的方法的流程示意图，该方法可以由一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的装置来执行，其中，该装置可由硬件和/或软件来实现，具体包括如下步骤：步骤101、测试存储阵列中的每一条位线上的位线电流，若位线电流为负值，则标记位线为故障位线，并记录故障位线上包含的存储单元的地址。在本实施例中，在NOR型存储阵列中一条位线上连接着多个存储单元的漏极，测试存储阵列中的每一条位线上的位线电流，具体的是，在该条位线上的某一个存储单元的字线上的电压大概是7V左右，位线上的电压大概是1V左右，源极接地，基底接地，如果该条位线没有被标记为故障位线，那么测试到的电流是从与位线连接的漏极到源极的电流，是一个比较小的正值。如果，该条位线被标记为故障位线，那么这条位线上的任意一个存储单元都有可能是因为发生了位线与字线之间的短路问题，此时，位线电流既包括漏极到源极之间的电流(正值，数值很小)，又包括从栅极到漏极之间的电流(负值，数值大于漏极到源极之间的电流)，最后得到的位线电流便是一个负值。在实际应用的过程中，由于位线和漏极之间连接是通过过孔连接的，如果由于工艺问题，过孔太靠近于字线，那么很容易造成位线和字线短路。另一方面，由于多次的读取、擦除和编程操作，存储单元中字线与位线之间的绝缘层存在老化或者出现缺陷的问题，也有可能造成位线与字线之间存在短路问题。需要注意的是，NOR型存储阵列中，包括多个存储单元，到底是其中哪一个存储单元会存在位线与字线之间存在短路问题很难具体判定。因为在测试某一个存储单元的时候，测试到的位线电流是整条位线上所有存储单元的一个等效电流值，因此，当测试到存储阵列中的某一条位线上的位线电流，若位线电流为负值，则标记位线为故障位线，并记本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的方法，其特征在于，包括：测试所述存储阵列中的每一条位线上的位线电流，若所述位线电流为负值，则标记所述位线为故障位线，并记录所述故障位线上包含的存储单元的地址；若所述故障位线首次被标记，则建立所述故障位线上包含的存储单元与冗余列中的存储单元的映射关系，所述故障位线上包含的存储单元与所述冗余列的存储单元一一对应。

【技术特征摘要】
1.一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的方法，其特征在于，包括：测试所述存储阵列中的每一条位线上的位线电流，若所述位线电流为负值，则标记所述位线为故障位线，并记录所述故障位线上包含的存储单元的地址；若所述故障位线首次被标记，则建立所述故障位线上包含的存储单元与冗余列中的存储单元的映射关系，所述故障位线上包含的存储单元与所述冗余列的存储单元一一对应。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述故障位线不是首次被标记，记录所述故障位线的标记次数，继续进行所述测试所述存储阵列中的每一条位线上的位线电流。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在若所述故障位线首次被标记，则建立所述故障位线上包含的存储单元与冗余列中的存储单元的映射关系步骤之后，还包括：进入正常工作模式，所述正常工作模式包括对所述存储阵列中的选中存储单元进行读、写或者擦除操作中的任意一种。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述正常工作模式下，对所述选中存储单元进行读、写或者擦除操作中的任意一种时，记录所述选中存储单元的地址；根据所述选中存储单元的地址，判断所述选中存储单元是否为所述故障位线上包含的存储单元，若是，则对所述选中存储单元与所述冗余列中存在映射关系的存储单元进行所述操作。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，判断所述选中存储单元是否为所述故障位线上包含的存储单元，若否，则对所述选中存储单元进行所述操作。6.一种自动修复NOR型存储阵列位线故障的装置，其特征在于，包括：测试模块，所述测试模块用于测试所述存储阵列中的每一条位线上的位...

【专利技术属性】
技术研发人员：张赛，刘晓庆，
申请(专利权)人：北京兆易创新科技股份有限公司，合肥格易集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11