【技术实现步骤摘要】
一种激光频率扫描装置及方法
本专利技术涉及激光频率扫描技术,具体是一种激光频率扫描装置及方法。
技术介绍
超冷原子样品广泛应用于精密测量、超冷化学、量子气体、超冷分子、量子信息、原子钟等领域。磁光阱是目前制备超冷原子样品最为成熟的技术之一。通过探测磁光阱中超冷原子样品的数量和密度,可以实现磁光阱的参数测量及优化。在探测磁光阱中超冷原子样品的数量和密度时,要求在扫描探测激光的频率的同时不能改变探测激光的指向。为了满足上述要求,目前普遍采用双次通过声光调制器的方法来扫描探测激光的频率。然而实践表明,双次通过声光调制器的方法由于自身原理所限,会导致扫频后的探测激光的频率发生大幅偏移进而原理共振,由此带来如下问题:倘若探测激光的频率锁定在原子共振频率附近,则该方法会导致扫频后的探测激光的频率偏出原子共振频率很远,由此导致探测激光的频率变化范围无法覆盖原子共振跃迁的频率,从而导致探测无法顺利进行。基于此,有必要专利技术一种全新的激光频率扫描装置及方法,以解决现有激光频率扫描技术导致扫频后的探测激光的频率发生大幅偏移进而原理共振的问题。
技术实现思路
本专利技术为了解决现有激光频率扫描技术导致扫频后的探测激光的频率发生大幅偏移进而原理共振的问题,提供了一种激光频率扫描装置及方法。本专利技术是采用如下技术方案实现的:一种激光频率扫描装置,包括光纤准直器、第一声光调制器、凸透镜、第二声光调制器、雪崩光电探测器、第一压控振荡器、第二压控振荡器、第一光束收集池、第二光束收集池、示波器;其中,光纤准直器的出射端与第一声光调制器的入射端正对;第一声光调制器的出射端与第二声光调制器的入 ...
【技术保护点】
1.一种激光频率扫描装置,其特征在于:包括光纤准直器(1)、第一声光调制器(2)、凸透镜(3)、第二声光调制器(4)、雪崩光电探测器(5)、第一压控振荡器(6)、第二压控振荡器(7)、第一光束收集池(8)、第二光束收集池(9)、示波器;其中,光纤准直器(1)的出射端与第一声光调制器(2)的入射端正对;第一声光调制器(2)的出射端与第二声光调制器(4)的入射端之间设有焦距为100mm的凸透镜(3);第一声光调制器(2)、第二声光调制器(4)均位于凸透镜(3)的二倍焦距处;第二声光调制器(4)的出射端与雪崩光电探测器(5)的入射端正对;雪崩光电探测器(5)的输出端与示波器的输入端连接;第一压控振荡器(6)的输出端与第一声光调制器(2)的调制端连接;第二压控振荡器(7)的输出端与第二声光调制器(4)的调制端连接;第一光束收集池(8)位于第一声光调制器(2)与凸透镜(3)之间,且第一光束收集池(8)与第一声光调制器(2)的出射端正对;第二光束收集池(9)位于第二声光调制器(4)与雪崩光电探测器(5)之间,且第二光束收集池(9)与第二声光调制器(4)的出射端斜对。
【技术特征摘要】
1.一种激光频率扫描装置,其特征在于:包括光纤准直器(1)、第一声光调制器(2)、凸透镜(3)、第二声光调制器(4)、雪崩光电探测器(5)、第一压控振荡器(6)、第二压控振荡器(7)、第一光束收集池(8)、第二光束收集池(9)、示波器;其中,光纤准直器(1)的出射端与第一声光调制器(2)的入射端正对;第一声光调制器(2)的出射端与第二声光调制器(4)的入射端之间设有焦距为100mm的凸透镜(3);第一声光调制器(2)、第二声光调制器(4)均位于凸透镜(3)的二倍焦距处;第二声光调制器(4)的出射端与雪崩光电探测器(5)的入射端正对;雪崩光电探测器(5)的输出端与示波器的输入端连接;第一压控振荡器(6)的输出端与第一声光调制器(2)的调制端连接;第二压控振荡器(7)的输出端与第二声光调制器(4)的调制端连接;第一光束收集池(8)位于第一声光调制器(2)与凸透镜(3)之间,且第一光束收集池(8)与第一声光调制器(2)的出射端正对;第二光束收集池(9)位于第二声光调制器(4)与雪崩光电探测器(5)之间,且第二光束收集池(9)与第二声光调制器(4)的出射端斜对。2.一种激光频率扫描方...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘文良,马杰,武寄洲,肖连团,贾锁堂,
申请(专利权)人:山西大学,
类型:发明
国别省市:山西,14
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。