一种磨样装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种磨样装置，包括两个H形支架和磨盘，两个H形支架上端设有两个横梁，两个横梁之间架设有滑动部件，滑动部件左右移动；滑动部件上设有下压部件；下压部件下端设有弹性夹持件，弹性夹持件内是待磨试样；两个H形支架之间前后分别水平设置有第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆和第四滑动杆，第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆、第四滑动杆与待磨试样之间水平设置有连接件；磨盘设于待磨试样下方，磨盘上装设有磨样件。本发明专利技术解决了手工磨样过程中出现的过磨或磨斜的问题，提高了介电参数测试的准确性；实现了结构疏松的待测试样介电参数测试试样制样过程的标准化、规范化，避免了磨样过程中对试样的损坏。

A Sample Grinding Device

The invention discloses a sample grinding device, which comprises two H-shaped brackets and a grinding disc. The upper ends of the two H-shaped brackets are provided with two beams, and sliding parts are arranged between the two beams, which move left and right; the sliding parts are provided with a down-pressing part; the lower end of the down-pressing part is provided with an elastic clamping part, and the inside of the elastic clamping part is a sample to be grinded; and the front and back of the two H-shaped brackets are respectively horizonta The first sliding rod, the second sliding rod, the third sliding rod and the fourth sliding rod are connected horizontally between the first sliding rod, the second sliding rod, the third sliding rod, the fourth sliding rod and the specimen to be grinded; the grinding disc is located below the specimen to be grinded, and the grinding sample is installed on the grinding disc. The invention solves the problem of over-grinding or abrasion in the process of manual grinding sample, improves the accuracy of dielectric parameter measurement, realizes the standardization and standardization of the sample preparation process of dielectric parameter test sample with loose structure, and avoids the damage to the sample in the process of grinding sample.

【技术实现步骤摘要】
一种磨样装置
本专利技术涉及电磁屏蔽材料
，尤其涉及一种磨样装置。
技术介绍
随着电子产品快速走进人们的生活，随之而来的是电磁波污染，因此电磁屏蔽材料的研发就显得尤为重要。介电性能是指在电场作用下，表现出对静电能的储蓄和损耗的性质，通常用介电常数和介质损耗来表示，材料的介电性能直接表征了材料的电磁屏蔽性能，因此，对材料介电性能的研究是解决电磁屏蔽问题的关键。介电性能是指物质分子中的束缚电荷对外加电场的响应特性，通常主要由相对介电常数εr'、相对介质损耗因数εr〃、介质损耗角正切tanδ等参数来表征。在实验研究过程中，材料的相对介电常数εr'和相对介质损耗因数εr〃是可以通过矢量网络分析仪测试出来的，而在测试的过程中对样品的的尺寸要求很严格，要求是规整的长方体，因此，一般烧结或喷涂所制备出来的试样都需要经过磨样以达到测试所要求的尺寸。目前，实验室均是采用手动人工用砂纸打磨来制备尺寸合适的试样，而人工操作过程中会出现过磨或将试样的边磨成斜边的现象，这样的试样无法完成介电参数的测试，需要进行重新制样；即使勉强进行测试，测试结果的误差很大准确率也会非常低。而传统的镶样再磨样的制样过程，在试样磨好后需要将整个镶制样砸碎，取出待测试样，此过程会对待测试样带来一定程度的破坏，特别是在待测试样为结构疏松、较脆的涂层时，该过程直接会导致试样的破碎；且在夹持件的夹持力较大时，较脆的材料中极易出现微裂纹，微裂纹会导致介电参数测试结果误差进一步加大。
技术实现思路
为了解决上述问题，本专利技术的目的是提出一种磨样装置，解决了手工磨样过程中出现的过磨或磨斜的问题，实现了介电参数测试试样尺寸的精准控制，进而大大的提高介电参数测试的准确性；同时实现了待测试样为结构疏松、较脆的涂层时，介电参数测试试样制样过程的标准化、规范化，避免了磨样过程中对试样的损坏。为了达到上述目的，本专利技术采用以下技术方案予以解决。一种磨样装置，包括两个H形支架和磨盘，两个H形支架分别对称设置于所述磨盘的左侧和右侧，两个H形支架的上端设置有两个横梁，两个横梁之间架设有滑动部件，所述滑动部件沿横梁左右移动；所述滑动部件上设置有下压部件，所述下压部件上下移动；所述下压部件的下端设置有弹性夹持件，所述弹性夹持件内是待磨试样；两个H形支架上前后分别水平设置有第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆和第四滑动杆，所述第一滑动杆与第二滑动杆位于同一水平面，所述第三滑动杆与第四滑动杆位于同一水平面，且所述第三滑动杆与第四滑动杆设置于所述第一滑动杆和第二滑动杆的上方，所述第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆和第四滑动杆分别左右移动；所述第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆、第四滑动杆与待磨试样之间水平设置有连接件；所述第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆、第四滑动杆分别与连接件铰接，且连接件绕对应的滑动杆在竖直面上逆时针转动；所述磨盘设置于待磨试样下方，所述磨盘上装设有磨样件。另外，本专利技术提供的磨样装置还可以具有以下附加技术特征：优选的，还包括驱动部件，所述第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆和第四滑动杆分别与驱动部件连接。进一步优选的，所述驱动部件为推杆，所述推杆分别水平连接于第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆和第四滑动杆的左端或/和右端，且第一滑动杆与第二滑动杆、第三滑动杆与第四滑动杆对称设置于所述推杆的中心线两侧。进一步优选的，所述驱动部件包含减速电机、第一滚珠丝杠和第二滚珠丝杠，所述减速电机的输出轴上套设有第一从动轮，所述第一从动轮的前后分别对称齿合有第二从动轮和第三从动轮，所述第二从动轮的转轴与第一滚珠丝杠的端部连接，所述第一滚珠丝杠的螺母与第一滑动杆连接；所述第三从动轮的转轴与第二滚珠丝杠的端部连接，所述第二滚珠丝杠的螺母与第二滑动杆连接；所述第一从动轮的上下分别对称齿合有第四从动轮和第五从动轮，第四从动轮的转轴、第五从动轮的转轴分别通过对应的第三滚珠丝杠、第四滚珠丝杠与第三滑动杆、第四滑动杆连接。优选的，所述下压部件包含下压螺杆，所述滑动部件包含滑动块，所述滑动块上开设有竖直通孔，所述下压螺杆穿过所述竖直通孔，所述竖直通孔内设有内螺纹，所述内螺纹与下压螺杆的外螺纹相匹配。进一步优选的，横梁上水平设置有滑槽，滑动块的前后两侧分别设置有凸起，凸起卡设于滑槽内左右滑动。进一步优选的，所述下压螺杆的上端设置有转盘，所述转盘上设置有把手。优选的，所述下压部件的中心线与待磨试样的竖直中心线共线。优选的，两个H形支架的竖直杆上分别对称设置有水平通孔，所述第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆和第四滑动杆分别穿过所述水平通孔。优选的，两个H形支架之间的水平距离大于两倍的待磨试样的长度。进一步优选的，所述第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆和第四滑动杆的长度分别大于两个H形支架之间的水平距离与待磨试样长度之和。优选的，连接件包含空心杆和吸盘，空心杆的一端固定于对应的滑动杆上，另一端与吸盘连接，吸盘与待磨试样的对应表面连接；空心杆的固定端的侧壁上开设有抽真空口，抽真空口连接有真空泵，空心杆上设置有放气阀。优选的，还包括喷水管和接水槽，所述喷水管连接有水箱，所述喷水管的喷口朝向磨样件与待磨试样的接触面，所述磨盘设置于接水槽内，所述接水槽的底部设置有排水口。优选的，所述弹性夹持件为橡胶材质。优选的，所述磨样件通过磨盘罩固定于磨盘上。优选的，所述磨样件为砂纸或抛光布。与现有技术相比，本专利技术的有益效果如下：(1)本专利技术通过整体结构设计，解决了介电参数测试试样在磨样过程中出现的不可控因素，提高了介电参数测试试样的磨样质量，进而提高了介电性能测试的准确性。(2)本专利技术通过第一滑动杆、第二滑动杆、第三滑动杆和第四滑动杆的左右滑动，带动了待磨试样左右运动，进而实现待磨试样的磨样过程，避免了传统的镶样过程，及磨样结束后将镶嵌物砸碎并从中取样的过程中，发生的样品碎裂的问题；且避免了传统磨样过程通过夹持件夹住试样进行移动的过程中，夹持件的夹持力对待磨试样的损伤，减少了磨样过程中对待磨试样的表面应力和试样完整度的影响。(3)本专利技术通过连接件的设置，保证了磨样过程中待磨试样与磨样件之间保持垂直，进而避免了待磨试样在磨样过程中出现偏斜的现象，保证了最终待测试样的规整形状；同时，通过吸盘将滑动杆与待磨试样连接，避免了传统的夹持机构对待磨试样的损坏，尤其是待磨试样结构较疏松、材料较脆时，避免了待磨试样被夹碎的风险。(4)本专利技术通过下压部件的上下移动，实现了打磨过程中待磨试样的不断进给，通过量取下压部件在整个磨样过程中的位移，就能够获知待磨试样被磨掉的尺寸，进而避免了过磨现象的产生，提高介电参数测试试样的制样效率。(5)本专利技术操作方便安全，易于实现，使介电参数测试试样的制样过程规范化、标准化，进而大大提高了介电性能测试的准确性。附图说明下面结合附图和具体实施例对本专利技术做进一步详细说明。图1是本专利技术的一种磨样装置的一种实施例的正面结构示意图。图2是本专利技术的一种磨样装置的另一种实施例的正面结构示意图。图3是本专利技术的一种磨样装置的一种实施例的侧面结构示意图。图4是本专利技术中的第一滑动杆与待磨试样的连接结构示意图。以上图中，1H形支架；101第一滑动杆；102第二滑动杆；103第三滑动杆；104第四滑动杆；2横梁；201滑槽；3滑动部件本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磨样装置，其特征在于，包括两个H形支架(1)和磨盘(5)，两个H形支架(1)分别对称设置于所述磨盘(5)的左侧和右侧，两个H形支架(1)的上端设置有两个横梁(2)，两个横梁(2)之间架设有滑动部件(3)，所述滑动部件(3)沿横梁(2)左右移动；所述滑动部件(3)上设置有下压部件(4)，所述下压部件(4)上下移动；所述下压部件(4)的下端设置有弹性夹持件(401)，所述弹性夹持件(401)内是待磨试样(6)；两个H形支架(1)上前后分别水平设置有第一滑动杆(101)、第二滑动杆(102)、第三滑动杆(103)和第四滑动杆(104)，所述第一滑动杆(101)与第二滑动杆(102)位于同一水平面，所述第三滑动杆(103)与第四滑动杆(104)位于同一水平面，且所述第三滑动杆(103)与第四滑动杆(104)设置于所述第一滑动杆(101)和第二滑动杆(102)的上方，所述第一滑动杆(101)、第二滑动杆(102)、第三滑动杆(103)和第四滑动杆(104)分别左右移动；所述第一滑动杆(101)、第二滑动杆(102)、第三滑动杆(103)、第四滑动杆(104)与待磨试样(6)之间水平设置有连接件(7)；所述第一滑动杆(101)、第二滑动杆(102)、第三滑动杆(103)、第四滑动杆(104)分别与连接件(7)铰接，且连接件(7)绕对应的滑动杆在竖直面上逆时针转动；所述磨盘(5)设置于待磨试样(6)下方，所述磨盘(5)上装设有磨样件(501)。...

【技术特征摘要】
1.一种磨样装置，其特征在于，包括两个H形支架(1)和磨盘(5)，两个H形支架(1)分别对称设置于所述磨盘(5)的左侧和右侧，两个H形支架(1)的上端设置有两个横梁(2)，两个横梁(2)之间架设有滑动部件(3)，所述滑动部件(3)沿横梁(2)左右移动；所述滑动部件(3)上设置有下压部件(4)，所述下压部件(4)上下移动；所述下压部件(4)的下端设置有弹性夹持件(401)，所述弹性夹持件(401)内是待磨试样(6)；两个H形支架(1)上前后分别水平设置有第一滑动杆(101)、第二滑动杆(102)、第三滑动杆(103)和第四滑动杆(104)，所述第一滑动杆(101)与第二滑动杆(102)位于同一水平面，所述第三滑动杆(103)与第四滑动杆(104)位于同一水平面，且所述第三滑动杆(103)与第四滑动杆(104)设置于所述第一滑动杆(101)和第二滑动杆(102)的上方，所述第一滑动杆(101)、第二滑动杆(102)、第三滑动杆(103)和第四滑动杆(104)分别左右移动；所述第一滑动杆(101)、第二滑动杆(102)、第三滑动杆(103)、第四滑动杆(104)与待磨试样(6)之间水平设置有连接件(7)；所述第一滑动杆(101)、第二滑动杆(102)、第三滑动杆(103)、第四滑动杆(104)分别与连接件(7)铰接，且连接件(7)绕对应的滑动杆在竖直面上逆时针转动；所述磨盘(5)设置于待磨试样(6)下方，所述磨盘(5)上装设有磨样件(501)。2.根据权利要求1所述的磨样装置，其特征在于，还包括驱动部件(8)，所述第一滑动杆(101)、第二滑动杆(102)、第三滑动杆(103)和第四滑动杆(104)分别与驱动部件(8)连接。3.根据权利要求2所述的磨样装置，其特征在于，所述驱动部件(8)为推杆(801)，所述推杆(801)水平连接于第一滑动杆(101)、第二滑动杆(102)、第三滑动杆(103)和第四滑动杆(104)的左端或/和右端，且第一滑动杆(101)与第二滑动杆(102)、第三滑动杆(103)与第四滑动杆(104)对称设置于所述推杆(801)的中心线两侧。4.根据权利要求2所述的磨样装置，其特征在于，所述驱动部件(8)包含减速电机(802)、第一滚珠丝杠(803)和第二滚珠丝杠，所述减速电机...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘毅，徐杨，苏晓磊，贺辛亥，徐洁，屈银虎，王俊勃，付翀，王彦龙，
申请(专利权)人：西安工程大学，
类型：发明
国别省市：陕西,61