一种平面阵列拦截杂质的双向微流控芯片制造技术

本发明专利技术公开一种平面阵列拦截杂质的双向微流控芯片。所述的微流控芯片由基片和玻璃片键合构成，包括由孔道连通的样品入口和样品出口。样品入口包括样品过滤室、滤液收集室和多个柱状体组成的平面阵列；多个柱状体组成的平面阵列将长方体腔室分割为样品过滤室和滤液收集室；样品出口结构与样品入口结构相同。本发明专利技术的微流控芯片的样品入口和样品出口结构简单，样品进口与样品出口可以拦截样品中的杂质并让其它物质通过，因为样品进口与样品出口可互换使用，在提高检测精准度的同时也使检测过程中的操作变得更为方便。

A Bidirectional Microfluidic Chip with Planar Array for Intercepting Impurities

The invention discloses a bidirectional microfluidic chip for intercepting impurities with a planar array. The microfluidic chip is composed of a substrate bonded with a glass sheet, including a sample inlet connected by a channel and a sample outlet. The sample inlet includes a planar array composed of a sample filter chamber, a filter collection chamber and multiple cylinders; a planar array composed of multiple cylinders divides the cuboid chamber into a sample filter chamber and a filter collection chamber; the structure of the sample outlet is the same as that of the sample inlet. The sample inlet and the sample outlet of the microfluidic chip of the invention have simple structure, and the sample inlet and the sample outlet can intercept impurities in the sample and allow other substances to pass through, because the sample inlet and the sample outlet can be used interchangeably, which improves the detection accuracy and makes the operation in the detection process more convenient.

【技术实现步骤摘要】
一种平面阵列拦截杂质的双向微流控芯片
本专利技术属于微流控芯片，具体涉及一种带有样品入口和样品出口的微流控芯片。
技术介绍
市场上的微流控芯片包括样品入口、样品检测单元和样品出口，这种微流控芯片的样品入口不能拦截待检样品中的杂质，由于待检样品中会含有杂质，需设置专门的拦截单元来拦截待检样品中的杂质，因而这种微流控芯片结构复杂。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种结构简单且样品入口可拦截待检样品中的杂质的微流控芯片。为了实现上述目的，本专利技术的技术方案是：一种微流控芯片，由基片和玻璃片(即平面阵列)键合构成，基片内开有两端开放的“凵”形腔室，该腔室包括样品入口、样品检测单元、样品出口，所述样品入口与样品检测单元以及样品出口依次相连通；所述样品检测单元为现有成熟检测模块。所述样品出口位于基片“凵”形腔室的其中一臂，具体包括第一样品过滤室、第一滤液收集室、以及多个柱状体组成的第一平面阵列；第一样品过滤室入口位于第一样品过滤室顶部，第一样品过滤室的底部与第一滤液收集室入口连通，第一样品过滤室的底部与第一滤液收集室入口尺寸一致，且两者间通过多个柱状体组成的第一平面阵列隔开；第一滤液收集室出口设置在基片“凵”形腔室臂部的侧壁，且第一滤液收集室出口与样品检测单元的入口相连通；多个柱状体组成的第一平面阵列将长方体腔室分割为第一样品过滤室和第一滤液收集室。上述微流控芯片的样品过滤室为底面为正方形的长方体腔室，2000μm≤长方体腔室的底面边长≤4000μm,1600μm≤样品过滤室高度≤3200μm。上述微流控芯片的滤液收集室为底面为正方形的长方体腔室，2000μm≤长方体腔室的底面边长≤4000μm,1600μm≤滤液收集室高度≤3200μm。上述微流控芯片第一滤液收集室出口的宽度为495-505μm，高度为495-505μm。上述微流控芯片多个柱状体组成的第一平面阵列中柱状体之间的最小距离是40μm。上述微流控芯片的样品出口位于基片“凵”形腔室的另一臂，具体包括第二滤液收集室、第二样品过滤室以及多个柱状体组成的第二平面阵列；第二样品过滤室出口位于第二样品过滤室顶部，第二样品过滤室的底部与第二滤液收集室出口连通，第二样品过滤室的底部与第二滤液收集室出口尺寸一致，且两者间通过多个柱状体组成的第二平面阵列隔开；第二滤液收集室入口设置在基片“凵”形腔室臂部的侧壁，且第二滤液收集室入口与样品检测单元的出口相连通；上述微流控芯片样品出口的结构与尺寸与样品入口的结构及尺寸相同。本专利技术的好处是：1)由于样品入口的滤液收集室中设置可拦截样品中杂志的柱状体阵列，不需要设置专门的拦截单元对待检样品中的杂质进行拦截，因而结构简单；2)柱状形阵列位于滤液收集室之间，待检样品中和杂质被拦截而滤液则由滤液收集室出口流出，因此这种微流控芯片样品入口可吸咐待检测样品的杂质并让其余物质流出；3)样品进口与样品出口可互换使用，操作更为方便。附图说明图1是本专利技术的微流控芯片的一种实施例的结构示意图；图2是本专利技术的微流控芯片的俯视图；图3是本专利技术的微流控芯片的立体示意图；图4是样品入口的俯视图；图5是样品入口的侧视图。图中标记：样品入口1，第一样品过滤室入口1-1，第一样品过滤室1-2，第一平面阵列1-3，第一滤液收集室1-4，第一滤液收集室出口1-5，样品出口3，第二滤液收集室入口3-1，第二滤液收集室3-2，第二平面阵列3-3，第二样品过滤室3-4，第二样品过滤室出口3-5；具体实施方式以下结合附图以及给出的实施例，对本专利技术作进一步的说明。如图1～5所示，一种微流控芯片，由基片和玻璃片键合构成，包括样品入口1和样品出口3,所述样品入口1和样品出口3相连通；所述样品入口1包括第一样品过滤室1-2、第一样品过滤室入口1-1、第一滤液收集室1-4、第一滤液收集室出口1-5和多个柱状体组成的第一平面阵列1-3，第一样品过滤室1-2与第一滤液收集室1-4为上下设置，整体组合成底面为正方形的长方体腔室，第一样品过滤室入口1-1位于长方体腔室顶部，第一滤液收集室出口1-5位于长方体腔室侧壁上；多个柱状体组成的第一平面阵列1-3将长方体腔室分割为第一样品过滤室1-2和第一滤液收集室1-4。上述第一样品过滤室1-2的尺寸为：2000μm≤长方体腔室的底面边长≤4000μm,1600μm≤样品过滤室高度≤3200μm。上述第一滤液收集室1-4的尺寸为：2000μm≤长方体腔室的底面边长≤4000μm,1600μm≤滤液收集室高度≤3200μm。上述第一滤液收集室出口1-5的宽度为500±5μm，高度为500±5μm。上述多个柱状体组成的第一平面阵列1-3中柱状体之间的距离是40μm。如图1～3所示，上述微流控芯片的样品出口3包括第二滤液收集室入口3-1、第二滤液收集室3-2、多个柱状体组成的第二平面阵列3-3、第二样品过滤室3-4和第二样品过滤室出口3-5；第二样品过滤室3-4与第二滤液收集室3-2为上下设置，整体组合成底面为正方形的长方体腔室，第二样品过滤室出口3-5位于长方体腔室顶部，第二滤液收集室入口3-1位于长方体腔室侧壁上；多个柱状体组成的第二平面阵列3-3将长方体腔室分割为第二样品过滤室3-4和第二滤液收集室3-2。上述样品出口3的的结构与尺寸与样品入口1的结构及尺寸相同。如图1所示上述微流控芯片还包括样品检测单元2，所述样品入口1与样品检测单元2以及样品出口3依次相连通。用本专利技术的可拦截直径大于40μm杂质的微流控芯片的样品入口1进行样品检测时，按图1所示，将本专利技术的微流控芯片的样品入口1与样品检测单元2及样品出口3依次相连通后就可以对待检测样品进行检测。如图1-5所示，当待检测样品从第一样品过滤室1-2顶部入口1-1注入后，由于样品过滤室1-2底部柱状体第一平面阵列1-3的过滤作用，直径大于40μm的杂质将被拦截在第一样品过滤室1-2中，其余滤液汇集于第一滤液收集室1-4中并通过第一滤液收集室出口1-5流进检测单元2进行检测后经样品出口3流出。上述实施例并非是对于本专利技术的限制，本专利技术并非仅限于上述实施例，只要符合本专利技术要求，均属于本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种平面阵列拦截杂质的双向微流控芯片，其特征在于由基片和玻璃片键合构成，基片内开有两端开放的“凵”形腔室，该腔室包括样品入口、样品检测单元、样品出口，所述样品入口与样品检测单元以及样品出口依次相连通；所述样品出口位于基片“凵”形腔室的其中一臂，具体包括第一样品过滤室、第一滤液收集室、以及多个柱状体组成的第一平面阵列；第一样品过滤室入口位于第一样品过滤室顶部，第一样品过滤室的底部与第一滤液收集室入口连通，第一样品过滤室的底部与第一滤液收集室入口尺寸一致，且两者间通过多个柱状体组成的第一平面阵列隔开；第一滤液收集室出口设置在基片“凵”形腔室臂部的侧壁，且第一滤液收集室出口与样品检测单元的入口相连通；所述样品出口位于基片“凵”形腔室的另一臂，具体包括第二滤液收集室、第二样品过滤室以及多个柱状体组成的第二平面阵列；第二样品过滤室出口位于第二样品过滤室顶部，第二样品过滤室的底部与第二滤液收集室出口连通，第二样品过滤室的底部与第二滤液收集室出口尺寸一致，且两者间通过多个柱状体组成的第二平面阵列隔开；第二滤液收集室入口设置在基片“凵”形腔室臂部的侧壁，且第二滤液收集室入口与样品检测单元的出口相连通；上述微流控芯片样品出口的结构与尺寸与样品入口的结构及尺寸相同。...

【技术特征摘要】
1.一种平面阵列拦截杂质的双向微流控芯片，其特征在于由基片和玻璃片键合构成，基片内开有两端开放的“凵”形腔室，该腔室包括样品入口、样品检测单元、样品出口，所述样品入口与样品检测单元以及样品出口依次相连通；所述样品出口位于基片“凵”形腔室的其中一臂，具体包括第一样品过滤室、第一滤液收集室、以及多个柱状体组成的第一平面阵列；第一样品过滤室入口位于第一样品过滤室顶部，第一样品过滤室的底部与第一滤液收集室入口连通，第一样品过滤室的底部与第一滤液收集室入口尺寸一致，且两者间通过多个柱状体组成的第一平面阵列隔开；第一滤液收集室出口设置在基片“凵”形腔室臂部的侧壁，且第一滤液收集室出口与样品检测单元的入口相连通；所述样品出口位于基片“凵”形腔室的另一臂，具体包括第二滤液收集室、第二样品过滤室以及多个柱状体组成的第二平面阵列；第二样品过滤室出口位于第二样品过滤室顶部，第二样品过滤室的底部与第二滤液收集室出口连通，第二样品过滤室的底部与第二滤液收集室出口尺寸一致，且两者间通过多个柱状体组成的第二平面阵列隔开...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕云平，王继业，姚伟宣，王学军，
申请(专利权)人：浙江警察学院，
类型：发明
国别省市：浙江,33