一种小型元器件密封性检漏试验治具制造技术

技术编号:20362710 阅读:23 留言:0更新日期:2019-02-16 16:27
本实用新型专利技术公开了一种小型元器件密封性检漏试验治具,包括底架、多个承载篮和盖板,所述底架和所述盖板通过加紧螺栓连接;多个所述承载篮设置在所述底架与所述盖板之间,所述加紧螺栓上设有提手。通过提拉提手方便地移动和取放所有试验产品。在使用本实用新型专利技术所公开的试验治具分拣时可以将无漏气迹象的一整篮元器件产品一次取出,提高工作效率。该治具的所有组成部分均由不锈钢制成,解决了现有检漏治具容易吸附示踪气体干扰试验结果的问题,从而更有效的对元器件产品进行筛选和检测。

【技术实现步骤摘要】
一种小型元器件密封性检漏试验治具
本技术涉及元器件产品检测领域,特别是涉及一种小型元器件密封性检漏试验治具。
技术介绍
电子元器件密封腔体的密封性对产品的可靠性影响很大,因此几乎所有的元器件生产单位都把密封性检漏作为筛选的试验项目。目前小型元器件产品的密封性检漏大多都采用氦质谱细检漏、氟油粗检漏的方法。氦质谱细检漏时需要将被检件放入高压密闭容器中充高压示踪气体一定时间,再取出放入氦质谱检漏仪的检塌室中观察分析。氟油粗检漏需要先将被检件放入有轻氟油的压力箱中,再取出放入重氟油中观察。目前所用检漏治具为表面氧化处理的铝制圆柱状承载篮,内加固定的分栏板,当元器件数量较多时可多层叠加放置,然而多个叠放的承载篮在操作中不便于整体移动和取放,容易因晃动或滑落损伤元器件。当发现某一栏里有漏气元器件需要继续试验确定单个漏气元器件时,需要把其它栏内的元器件逐个取出再分栏再试验。这个过程消耗较长的时间,另外,元器件反复取放增加了摩擦磨损。铝制检漏治具表面氧化处理后虽然硬度、耐蚀性、耐磨性、耐热性都提高了,但是很容易吸附示踪气体,干扰甚至完全破坏氦质谱检漏的测试数据。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种小型元器件密封性检漏试验治具,以解决现有技术中检漏治具不方便移动和取放,在分拣时效率低以及吸附示踪气体等问题。为达到上述目的,本技术采用下述技术方案:本技术公开了一种小型元器件密封性检漏试验治具,包括底架、多个承载篮和盖板,所述底架和所述盖板通过加紧螺栓连接;多个所述承载篮设置在所述底架与所述盖板之间,所述加紧螺栓上设有提手。优选地,在所述底架包括底盘、第一侧围和中心柱,所述底盘为圆盘状,在所述底盘上设有多个第一圆形通孔;所述中心柱为一实心圆柱,所述中心柱的一端垂直连接在所述底盘的中心处,另一端与所述盖板通过所述加紧螺栓连接;所述第一侧围为筒状结构,所述第一侧围的一端与所述底盘连接,所述第一侧围与所述中心柱共轴线。优选地,在所述中心柱与所述盖板连接的一端设有与所述加紧螺栓配合连接的内螺纹。优选地,所述的底架为一体化结构。优选地,所述承载篮为扇形结构,所述承载篮的扇形角垂直于所述底架的轴心线,多个所述承载篮围绕所述底架的轴心线拼接成圆形。优选地,所述承载篮包括承载篮底和第二侧围,所述承载篮底为扇形平面结构,在所述承载篮底上设有多个第二圆形通孔;所述第二侧围包括同心设置的第一曲面和第二曲面以及分别连接第一曲面和第二曲面对应端点的两个侧面。优选地,所述多个承载篮为一层或者多层设置。优选地,所述盖板为圆形平面结构,在所述盖板上设置有多个第三圆形通孔,在所述盖板中心设有装配圆孔。优选地,所述加紧螺栓带有外螺纹的一端与所述底架连接,另一端端帽设有与所述提手插接连接的对称的两个提手插孔。优选地,所述试验治具材料选用钢材质。本技术的有益效果如下:本技术提供了一种检漏治具,便于在各项操作中整体移动和取放,也便于在分拣时一次取出一篮无需继续试验的元器件,减少了产品损伤,提高了工作效率,另外,由于选择了合适的材料制造该治具,解决了检漏治具吸附示踪气体的问题,能够对元器件的密封性进行更有效的筛选和检测,提高晶体元器件的可靠性。附图说明下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步详细的说明。图1示出本实施例中小型元器件密封性检漏试验治具的示意图;图2示出本实施例中小型元器件密封性检漏试验治具的仰视图;图3示出本实施例中小型元器件密封性检漏试验治具的组成示意图;图4示出本实施例中小型元器件密封性检漏试验治具的底架示意图;图5示出本实施例中小型元器件密封性检漏试验治具的承载篮示意图;图6示出本实施例中小型元器件密封性检漏试验治具的盖板示意图;图7示出本实施例中小型元器件密封性检漏试验治具的加紧螺栓示意图;图8示出本实施例中小型元器件密封性检漏试验治具的提手示意图。图中:101、底架;1011、底盘;1012第一侧围;1013、中心柱;1014、第一圆形通孔;102、承载篮;1021、承载篮底;1022、第二圆形通孔;1023、侧面;1024、第一曲面;1025、第二曲面;103、盖板;1031、装配圆孔;1032、第三圆形通孔;104、加紧螺栓;1041、提手插孔;105、提手。具体实施方式为了更清楚地说明本技术,下面结合优选实施例和附图对本技术做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解,下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的,不应以此限制本技术的保护范围。如图1-3所示,本技术公开了一种小型元器件密封性检漏试验治具,能够基于氦质谱和氟油检漏试验对元器件产品密封性进行检漏。所述的小型元器件密封性检漏试验治具包括底架101、承载篮102、盖板103、加紧螺栓104、提手105五部分组成,其中所述底架101和所述盖板103通过所述加紧螺栓104连接;多个所述承载篮102设置在所述底架101与所述盖板103之间,所述加紧螺栓104上设有提手105。所述底架101用于放置所述承载篮102,使多个所述承载篮102在各项试验间同时移动而不存在滑落危险,提高检测效率。所述承载篮102,用于承载被检测小型元器件产品,当发现某一所述承载篮102内有漏气产品时,可以直接将该承载篮连同装在承载篮内的产品一同取出,再对含有漏气产品的承载篮内的产品进行分拣试验,进而更快速地找到漏气产品。所述盖板103用于覆盖承载篮102,避免试验产品在浮力作用下飘出所述承载篮102,同时通过所述加紧螺栓104压紧承载篮102,防止所述承载篮102在所述底架101内滑动。所述提手105用于提拉整个试验治具,方便治具的搬运和取放,同时在试验中通过位于中心的所述提手105取放治具可以保证治具平稳,避免治具晃动时产品相对移动造成的产品之间的摩擦损伤。所述提手105通过设置在所述加紧螺栓104端帽上的提手插孔1041安装在螺钉上,方便整个治具的搬运和取放。使用时,将试验元器件放在各个承载篮102内,多个承载篮102拼成圆形,放在底架101内,盖上盖板103,再用带有提手105的加紧螺栓104压紧承载篮。通过提拉所述提手105可方便地移动和取放所有试验产品。另外,也可通过所述提手105对所述加紧螺栓104进行松紧调整。在分拣时可以将无漏气迹象的一整篮元器件产品一次取出,提高工作效率。该治具的所有组成部分均选用钢材质,选用不锈钢制成的该试验治具解决了现有检漏治具容易吸附示踪气体干扰试验结果的问题,从而更有效的对元器件产品进行筛选和检测。如图4所示。所述底架101包括底盘1011、第一侧围1012和中心柱1013。所述底盘1011设计成圆盘状,在所述底盘1011上均匀分布有多个较大的第一圆形通孔1014,使示踪气体和氟油可以快速通过这些孔。所述中心柱1013采用实心圆柱,所述中心柱1013的一端垂直连接在所述底盘1011的中心处,另一端与所述盖板103通过所述加紧螺栓104连接。所述第一侧围1012为一筒状结构,所述第一侧围1012的一端与所述底盘1011连接,所述第一侧围1012与所述中心柱1013共轴线。在所述中心柱1013与所述盖板103连接的一端设有与所述加紧螺栓104配合连接的内螺纹。所述中心柱101本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种小型元器件密封性检漏试验治具,其特征在于,包括底架(101)、多个承载篮(102)和盖板(103),所述底架(101)和所述盖板(103)通过加紧螺栓(104)连接;多个所述承载篮(102)设置在所述底架(101)与所述盖板(103)之间,所述加紧螺栓(104)上设有提手(105)。

【技术特征摘要】
1.一种小型元器件密封性检漏试验治具,其特征在于,包括底架(101)、多个承载篮(102)和盖板(103),所述底架(101)和所述盖板(103)通过加紧螺栓(104)连接;多个所述承载篮(102)设置在所述底架(101)与所述盖板(103)之间,所述加紧螺栓(104)上设有提手(105)。2.根据权利要求1所述的一种小型元器件密封性检漏试验治具,其特征在于,在所述底架(101)包括底盘(1011)、第一侧围(1012)和中心柱(1013),所述底盘(1011)为圆盘状,在所述底盘(1011)上设有多个第一圆形通孔(1014);所述中心柱(1013)为一实心圆柱,所述中心柱(1013)的一端垂直连接在所述底盘(1011)的中心处,另一端与所述盖板(103)通过所述加紧螺栓(104)连接;所述第一侧围(1012)为筒状结构,所述第一侧围(1012)的一端与所述底盘(1011)连接,所述第一侧围(1012)与所述中心柱(1013)共轴线。3.根据权利要求2所述的一种小型元器件密封性检漏试验治具,其特征在于,在所述中心柱(1013)与所述盖板(103)连接的一端设有与所述加紧螺栓(104)配合连接的内螺纹。4.根据权利要求2或3所述的一种小型元器件密封性检漏试验治具,其特征在于,所述的底架(101)为一体化结构。5.根据权利要求1所述的一种小型元器件密封性检漏试验治具,...

【专利技术属性】
技术研发人员:哈斯图亚刘小光郑文强崔巍段友峰睢建平张磊宋广平孙莹戚伟
申请(专利权)人:北京无线电计量测试研究所
类型:新型
国别省市:北京,11

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