接近识别方法和装置制造方法及图纸

本申请提出一种接近识别方法和装置，其中，方法包括：获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集触摸屏在初始状态下的第一自容数据；采集触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据；确定触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从第一自容数据到基准自容参考数据的数据变化信息，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件；若获知数据变化信息满足全局变化条件，则以第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对第一自容数据和第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。由此，实现了接近状态判断时基准自容数据的校准，提高了接近状态判断的准确性。

【技术实现步骤摘要】
接近识别方法和装置
本申请涉及终端设备控制
，尤其涉及一种接近识别方法和装置。
技术介绍
随着终端设备制造技术的进步，终端设备可以实现基于接近传感器的接近事件识别功能，比如，为了避免对触摸屏的误触发，基于接近传感器识别外界物体距离触摸屏的距离，当距离较近时，则熄屏处理。相关技术中，在接近识别功能开始时，直接以获取的初始接近数据作为接近状态检测的基准数据，然而，当初始状态的终端设备即为接近状态时，则会导致基准数据对应于接近状态下的接近数据，从而，无法检测到接近状态。申请内容本申请旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。本申请第一方面实施例提出了一种接近识别方法，获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集所述触摸屏在初始状态下的第一自容数据；采集所述触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据；确定所述触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从所述第一自容数据到所述基准自容参考数据的数据变化信息，判断所述数据变化信息是否满足预设的全局变化条件；若获知所述数据变化信息满足所述全局变化条件，则以所述第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对所述第一自容数据和所述第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。本申请第二方面实施例提出了一种接近识别装置，包括：采集模块，用于获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集所述触摸屏在初始状态下的第一自容数据；所述采集模块，还用于采集所述触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据；判断模块，用于确定所述触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从所述第一自容数据到所述基准自容参考数据的数据变化信息，判断所述数据变化信息是否满足预设的全局变化条件；接近判断模块，用于在获知所述数据变化信息满足所述全局变化条件时，以所述第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对所述第一自容数据和所述第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。本申请第三方面实施例提出了一种终端设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如前述第一方面实施例所述的接近识别方法。本申请第四方面实施例提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如前述第一方面实施例所述的接近识别方法。本申请提供的技术方案，至少包括如下有益效果：获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集触摸屏在初始状态下的第一自容数据，采集触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据，确定触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从第一自容数据到基准自容参考数据的数据变化信息，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件，进而，若获知数据变化信息满足全局变化条件，则以第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对第一自容数据和第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。由此，实现了接近状态判断时基准自容数据的校准，提高了接近状态判断的准确性。本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。附图说明本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是根据本申请一个实施例的接近识别方法的流程图；图2-1是根据本申请一个实施例的自容电极阵列的阵列划分示意图；图2-2是根据本申请另一个实施例的自容电极阵列的阵列划分示意图；图3-1是根据本申请一个实施例的接近识别方法的应用场景示意图；图3-2是根据本申请另一个实施例的接近识别方法的应用场景示意图；图4是根据本申请另一个实施例的接近识别方法的流程图；图5是本申请某些实施方式的终端设备的平面示意图；图6是本申请某些实施方式的终端设备的一个截面示意图；图7是本申请某些实施方式的终端设备的另一个截面示意图；以及图8是根据本申请一个实施例的接近识别装置的结构示意图。具体实施方式下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。针对上述
技术介绍
所提到的，终端设备中目前接近数据的基准数据依赖于初始状态为无物体接近状态，当有物体接近时，导致设置的基准数据设定偏差，难以检测到接近事件。为了解决上述技术问题，本申请提出了一种基准数据自动校准的方式，排除外界环境对基准数据确定的影响，确保接近状态检测的灵敏度。其中，本申请实施例中的触摸屏为自互一体的电容屏，可以检测到触摸屏上的自容数据和互容数据，基于自容数据和互容数据的结合准确的进行接近事件的判断。由于自容数据能够识别较大范围内的接近事件，比如，可以识别1.4厘米范围内的接近事件等。因而，在本申请的实施例中，为了进一步提高接近状态确定的精度，使用自动数据判断接近状态，从而，在下述实施例中，以基准自容数据表述上述提到的基准数据。下面参考附图描述本申请实施例的接近识别方法和装置。图1是根据本申请一个实施例的接近识别方法的流程图，如图1所示，该方法包括：步骤101，获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集触摸屏在初始状态下的第一自容数据。其中，终端设备的触摸屏接近功能开启指令可以是由用户主动触发相关控件实现的，也可以是由需要接近功能检测的应用开启时向系统发送的，比如，电话应用在开启时，为了避免人脸或者人耳的误触，向系统发送接近功能开启指令。具体地，在获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令后，采集触摸屏在初始状态下的第一自容数据，该第一自容数据对应于当前触摸屏的当前状态，现有技术中，直接默认当前状态为无物体接近状态将第一自容数据设定为基准自容数据，为了避免出现在当前状态不为无物体接近状态时，将第一自容数据设定为基准自容数据导致的接近状态无法准确检测，在本申请的实施例中，基于该第一自容数据进行自容基准数据的校准。步骤102，采集触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据。具体地，获取触摸屏在接近状态下的第二自容数据，比如，人脸接近状态或者人耳接近状态，该接近状态可以由终端设备提示用户完成等。步骤103，确定触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从第一自容数据到基准自容参考数据的数据变化信息，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件。在本申请的实施例中，基准自容参考数据包括上一次历史基准自容数据或第二自容数据，其中，上一次历史基准自容数据对应于终端设备的触摸屏无物体接近状态。基准自容参考数据用于判断当前第一自容数据是否对应于触摸屏无物体接近状态，应当理解的是，当第一自容数据对应于触摸屏有物体接近状态，则其接近状态对应的局部区域的自容数据必然相比于其他区域不同，当第一自容数据对应于触摸屏无物体接近状态，则触摸屏中全局的自容数据的相对较为一致，因而，根据触摸屏的自融数据是否为全局变化，来确定其是否处于无物体接近状态。具体地，确定触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从第一自容数据到基准自容参考数据的数据变化信息，判断数据变化信息是否满足预设的全局变化条件，其中，获取从第一自容数据到基准自容参考数据的数据变化信息的方式根据自容电极阵列的排布方式本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种接近识别方法，其特征在于，包括以下步骤：获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集所述触摸屏在初始状态下的第一自容数据；采集所述触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据；确定所述触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从所述第一自容数据到所述基准自容参考数据的数据变化信息，判断所述数据变化信息是否满足预设的全局变化条件；若获知所述数据变化信息满足所述全局变化条件，则以所述第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对所述第一自容数据和所述第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。

【技术特征摘要】
1.一种接近识别方法，其特征在于，包括以下步骤：获取终端设备的触摸屏接近功能开启指令，采集所述触摸屏在初始状态下的第一自容数据；采集所述触摸屏在接近检测状态下的第二自容数据；确定所述触摸屏的基准自容参考数据，根据预设策略获取从所述第一自容数据到所述基准自容参考数据的数据变化信息，判断所述数据变化信息是否满足预设的全局变化条件；若获知所述数据变化信息满足所述全局变化条件，则以所述第一自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对所述第一自容数据和所述第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述判断所述数据变化信息是否满足预设的全局变化条件之后，还包括：若获知所述数据变化信息不满足所述全局变化条件，则以存储的上一次历史基准自容数据为当前的基准自容数据，按照预设算法对所述历史基准自容数据和所述第二自容数据进行计算，根据计算结果确定当前状态是否满足接近状态。3.如权利要求1所述的方法，所述基准自容参考数据包括上一次历史基准自容数据或所述第二自容数据。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预设策略获取从所述第一自容数据到所述基准自容参考数据的数据变化信息，判断所述数据变化信息是否满足预设的全局变化条件，包括：从所述第一自容数据中获取各个横向排布的自容电极阵列中的每预设个数横向自容电极的第一横向自容数据，和，各个纵向排布的自容电极阵列中的每预设个数的第一纵向自容数据；从所述基准自容参考数据中获取各个横向排布的自容电极阵列中的所述每预设个数横向自容电极的第二横向自容数据，和，各个纵向排布的自容电极阵列中的所述每预设个数第二纵向自容数据；获取所述每预设个数横向自容电极的所述第一横向自容数据和所述第二横向自容数据的差值，确定差值大于第一预设阈值的目标横向自容电极；获取所述每预设个数纵向自容电极的所述第一纵向自容数据和所述第二纵向自容数据的差值，确定差值大于第二预设阈值的目标纵...

【专利技术属性】
技术研发人员：戴聪，莫斐，郑灿杰，张强，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44