当前位置: 首页 > 专利查询>长沙学院专利>正文

一种高精确度的薄膜厚度测量装置制造方法及图纸

技术编号:20362031 阅读:59 留言:0更新日期:2019-02-16 16:09
本实用新型专利技术提供了一种高精确度的薄膜厚度测量装置,该高精确度的薄膜厚度测量装置包括:支撑件,包括架体、通轴,以及圆形筒柱,其中,圆形筒柱用于缠绕薄膜;还包括用于驱动圆形筒柱转动的第一驱动机构;计量卷轴,薄膜的外露端平行收紧在计量卷轴上,计量转轴的一端连接有驱动计量卷轴旋转的第二驱动机构,计量卷轴远离第二驱动机构的一端设有凸起;记圈器,第二驱动机构驱动计量卷轴旋转至设定位置时,凸起抵压一次记圈器的开关;还包括计米器、直径测量仪、计算模块;通过计量卷轴每旋转一次按压一次记圈器,设有的记圈器和直径测量仪通过计算模块计算出每层薄膜的平均厚度,设有的计米器记录在同一设定长度反复进行测量,使该装置准确性更高。

【技术实现步骤摘要】
一种高精确度的薄膜厚度测量装置
本技术涉及到薄膜厚度测量装置
,尤其涉及到一种高精确度的薄膜厚度测量装置。
技术介绍
薄膜是非常薄的膜体,薄膜的厚度直接影响其质量和使用价值,在现有技术中测量薄膜时,往往只是对薄膜的某个位置进行测量,测量数据不准确,不足以拿来进行参考。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服现有技术的不足,提供了一种高精确度的薄膜厚度测量装置。本技术是通过以下技术方案实现:本技术提供了一种高精确度的薄膜厚度测量装置,该高精确度的薄膜厚度测量装置包括:支撑件,包括架体,与所述架体转动连接的通轴,以及套装在所述通轴上并与所述通轴固定连接的圆形筒柱,其中,所述圆形筒柱用于缠绕薄膜;还包括用于驱动所述圆形筒柱转动的第一驱动机构;计量卷轴,所述薄膜的外露端平行收紧在所述计量卷轴上,所述计量卷轴的一端连接有驱动所述计量卷轴旋转的第二驱动机构,所述计量卷轴远离所述第二驱动机构的一端设有凸起;记圈器,所述第二驱动机构驱动所述计量卷轴旋转至设定位置时,所述凸起抵压一次所述记圈器的开关;计米器,用于测量所述薄膜收纳在与所述计量卷轴上的米数;直径测量仪,用于测量所述测量所述计量卷轴上所收纳薄膜的厚度;计算模块,在所述计米器检测的所述薄膜缠绕到所述计量卷轴上设定长度时,根据所述直径测量仪测量的缠绕到所述计量卷轴上的直径以及所述记圈器测量的缠绕到所述计量卷轴上的薄膜的圈数计算所述设定长度的薄膜的平均厚度。优选的,所述通轴沿周向设有多个支撑腿,所述多个支撑腿分别支撑所述圆形筒柱的内壁。优选的,所述通轴延伸出所述圆形筒柱的两端分别与所述架体转动连接。优选的,所述第一驱动机构为第一电机,所述第一驱动电机的输出轴连接所述通轴的一端;所述第二驱动机构为第二驱动电机,所述第二驱动电机的输出轴连接所述计量卷轴的一端;其中,所述第一驱动电机和所述第二驱动电机同向旋转,并且转速相同。优选的,还包括安装所述计量卷轴、所述计米器、所述记圈器、所述直径测量仪以及所述第二驱动电机的安装架。优选的,所述计米器固定安装在所述安装架上,所述计米器的米轮与所述薄膜相抵压,所述薄膜运动带动所述米轮旋转。优选的,所述计米器为以毫米为单位的计米器。优选的,所述计算模块连接有显示计算数据结果的显示屏。本技术的有益效果是:通过计量卷轴每旋转一次按压一次记圈器,设有的记圈器和直径测量仪通过计算模块计算出每层薄膜的平均厚度,设有的计米器记录在同一设定长度反复进行测量,使该装置准确性更高。附图说明图1是本技术实施例提供的高精确度的薄膜厚度测量装置的结构示意图;图2是本技术实施例提供的第一驱动机构的结构示意图;图3是本技术实施例提供的第二驱动机构的结构示意图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。请参阅图1-3,图1是本技术实施例提供的高精确度的薄膜厚度测量装置的结构示意图;图2是本技术实施例提供的第一驱动机构的结构示意图;图3是本技术实施例提供的第二驱动机构的结构示意图。本技术实施例提供了一种高精确度的薄膜厚度测量装置,该高精确度的薄膜厚度测量装置包括:支撑件,包括架体1,与所述架体1转动连接的通轴2,以及套装在所述通轴2上并与所述通轴2固定连接的圆形筒柱3,其中,所述圆形筒柱3用于缠绕薄膜4;还包括用于驱动所述圆形筒柱3转动的第一驱动机构;计量卷轴6,所述薄膜4的外露端平行收紧在所述计量卷轴6上,所述计量卷轴6的一端连接有驱动所述计量卷轴6旋转的第二驱动机构,所述计量卷轴6远离所述第二驱动机构的一端设有凸起7;记圈器9,所述第二驱动机构驱动所述计量卷轴6旋转至设定位置时,所述凸起7抵压一次所述记圈器9的开关;计米器10,用于测量所述薄膜4收纳在与所述计量卷轴6上的米数;直径测量仪12,用于测量所述测量所述计量卷轴6上所收纳薄膜4的厚度;计算模块11,在所述计米器10检测的所述薄膜4缠绕到所述计量卷轴6上设定长度时,根据所述直径测量仪12测量的缠绕到所述计量卷轴6上的直径以及所述记圈器9测量的缠绕到所述计量卷轴6上的薄膜4的圈数计算所述设定长度的薄膜4的平均厚度。在上述实施例中,通过计量卷轴每旋转一次按压一次记圈器,设有的记圈器和直径测量仪通过计算模块计算出每层薄膜的平均厚度,设有的计米器记录在同一设定长度反复进行测量,使该装置准确性更高。为了方便理解本技术实施例提供的高精确度的薄膜4厚度测量装置,下面结合具体的实施例对其进行详细的描述。继续参考图1-3,该高精确度的薄膜厚度测量装置包括:支撑件,包括架体1,与架体1转动连接的通轴2,以及套装在通轴2上并与通轴2固定连接的圆形筒柱3,其中,圆形筒柱3用于缠绕薄膜4;还包括用于驱动圆形筒柱3转动的第一驱动机构;一并参阅图1-2,该装置设有通轴2沿周向设有多个支撑腿14,多个支撑腿14分别支撑圆形筒柱3的内壁。通轴2延伸出圆形筒柱3的两端分别与架体1转动连接。设有的通轴2上沿其周向均匀设有螺母,该支撑腿14为螺杆,支撑杆反向旋转即撑紧圆形筒柱3;该支撑杆正向旋转即不支撑圆形筒柱3,这样设计方便更换圆形筒柱3;可将不同的薄膜4产品分别缠绕在多个圆形筒柱3上,在对不同的薄膜4产品进行测量时,调节支撑腿14的长度来更换圆形筒柱3,简单容易操作。设有的第一驱动机构为第一电机,第一驱动电机5的输出轴18连接通轴2的一端;还包括有计量卷轴6,薄膜4的外露端平行收紧在计量卷轴6上,计量卷轴6的一端连接有驱动计量卷轴6旋转的第二驱动机构,第二驱动机构为第二驱动电机8,第二驱动电机8的输出轴连接计量卷轴6的一端(如图3所示);其中,第一驱动电机5和第二驱动电机8同向旋转,并且转速相同。需要具体说明的该装采用的驱动电机为低速旋转电机,也可采用驱动电机连接变速箱17,使驱动电机转速变慢。更优的,计量卷轴6远离第二驱动机构的一端设有凸起7;记圈器9,第二驱动机构驱动计量卷轴6旋转至设定位置时,凸起7抵压一次记圈器9的开关;所抵压一次记圈器9开关,表明计量卷轴6旋转一次,计量卷轴6收纳的薄膜4多一层,记圈器9在每抵压一次递增一次圈数。计米器10,用于测量薄膜4收纳在与计量卷轴6上的米数;所述计米器10为以毫米为单位的计米器10。直径测量仪12,用于测量测量计量卷轴6上所收纳薄膜4的厚度;计算模块11,在计米器10检测的薄膜4缠绕到计量卷轴6上设定长度时,根据直径测量仪12测量的缠绕到计量卷轴6上的直径以及记圈器9测量的缠绕到计量卷轴6上的薄膜4的圈数计算设定长度的薄膜4的平均厚度。计算模块11连接有显示计算数据结果的显示屏13。还包括安装计量卷轴6、计米器10、记圈器9、直径测量仪12以及第二驱动电机8的安装架15。计米器10固定安装在安装架15上,计米器10的米轮16与薄膜4相抵压,薄膜4运动带动米轮16旋转。具体使用该装置时,将圆形筒柱3上所要测量的薄膜4的端头缠绕在计量卷轴6上,使薄膜4平形收紧在计量卷轴6上;启动第一驱动电机5和第二驱动电机8,设置在平形展开的薄膜4上方是计米器10,在薄膜4向计量卷轴6卷入本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精确度的薄膜厚度测量装置,其特征在于,包括:支撑件,包括架体,与所述架体转动连接的通轴,以及套装在所述通轴上并与所述通轴固定连接的圆形筒柱,其中,所述圆形筒柱用于缠绕薄膜;还包括用于驱动所述圆形筒柱转动的第一驱动机构;计量卷轴,所述薄膜的外露端平行收紧在所述计量卷轴上,所述计量卷轴的一端连接有驱动所述计量卷轴旋转的第二驱动机构,所述计量卷轴远离所述第二驱动机构的一端设有凸起;记圈器,所述第二驱动机构驱动所述计量卷轴旋转至设定位置时,所述凸起抵压一次所述记圈器的开关;计米器,用于测量所述薄膜收纳在与所述计量卷轴上的米数;直径测量仪,用于测量所述测量所述计量卷轴上所收纳薄膜的厚度;计算模块,在所述计米器检测的所述薄膜缠绕到所述计量卷轴上设定长度时,根据所述直径测量仪测量的缠绕到所述计量卷轴上的直径以及所述记圈器测量的缠绕到所述计量卷轴上的薄膜的圈数计算所述设定长度的薄膜的平均厚度。

【技术特征摘要】
1.一种高精确度的薄膜厚度测量装置,其特征在于,包括:支撑件,包括架体,与所述架体转动连接的通轴,以及套装在所述通轴上并与所述通轴固定连接的圆形筒柱,其中,所述圆形筒柱用于缠绕薄膜;还包括用于驱动所述圆形筒柱转动的第一驱动机构;计量卷轴,所述薄膜的外露端平行收紧在所述计量卷轴上,所述计量卷轴的一端连接有驱动所述计量卷轴旋转的第二驱动机构,所述计量卷轴远离所述第二驱动机构的一端设有凸起;记圈器,所述第二驱动机构驱动所述计量卷轴旋转至设定位置时,所述凸起抵压一次所述记圈器的开关;计米器,用于测量所述薄膜收纳在与所述计量卷轴上的米数;直径测量仪,用于测量所述测量所述计量卷轴上所收纳薄膜的厚度;计算模块,在所述计米器检测的所述薄膜缠绕到所述计量卷轴上设定长度时,根据所述直径测量仪测量的缠绕到所述计量卷轴上的直径以及所述记圈器测量的缠绕到所述计量卷轴上的薄膜的圈数计算所述设定长度的薄膜的平均厚度。2.根据权利要求1所述的高精确度的薄膜厚度测量装置,其特征在于,所述通轴沿周向设有多个支撑腿,所述多个支撑腿分别支撑所述圆形筒柱的...

【专利技术属性】
技术研发人员:王平
申请(专利权)人:长沙学院
类型:新型
国别省市:湖南,43

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1