A method for obtaining gain mismatch values and offset mismatch values corresponding to multiple analog-to-digital converters (ADCs) and an associated processing system are disclosed. One method includes coupling the receiver circuit of the processing system to a capacitive sensor including a plurality of sensor electrodes. The receiver circuit includes a plurality of ADCs, each of which is coupled to one or more corresponding sensor electrodes in a plurality of sensor electrodes. The method also includes using each ADC of multiple ADCs to obtain measurement results when at least part of the transmitter circuit of the processing system is disabled, and storing multiple offset mismatch values in the memory of the processing system using the obtained measurement results. The processing system is operable to apply multiple offset mismatch values to capacitance measurement results obtained using multiple ADCs.
【技术实现步骤摘要】
多个模拟前端的校准
本文中所公开的实施例总体上涉及电子设备,并且更具体地,涉及用于执行处理系统的多个模拟前端的校准的技术。
技术介绍
包括接近传感器设备(通常又称作触摸板或触摸传感器设备)的输入设备广泛用于多种电子系统中。接近传感器设备典型地包括常常通过表面来区分的感测区,在其中接近传感器设备确定一个或多个输入对象的存在、位置和/或运动。接近传感器设备可以用来提供用于电子系统的界面。例如,接近传感器设备常常用作用于较大计算系统的输入设备(诸如笔记本计算机或台式计算机中集成的或者作为其外设的不透明触摸板)。接近传感器设备还常常用于较小计算系统中(诸如蜂窝电话中集成的触摸屏)。
技术实现思路
本文中所描述的一个实施例是一种方法,所述方法包括将处理系统的接收器电路与包括多个传感器电极的电容性传感器耦合。接收器电路包括多个模数转换器(ADC),并且多个ADC中的每一个ADC与多个传感器电极中的一个或多个相应的传感器电极耦合。该方法还包括,当处理系统的发射器电路的至少一部分被禁用时,使用多个ADC中的每一个ADC来获取测量结果;以及使用所获取的测量结果将多个偏移失配值存储在处理系统的存储器中。处理系统可操作以将多个偏移失配值应用于使用多个ADC获取的电容性测量结果。本文中所描述的另一个实施例是一种处理系统,所述处理系统包括:发射器电路,其配置成将感测信号驱动到多个传感器电极上;以及接收器电路,其包括多个模数转换器(ADC)。多个ADC中的每一个ADC与多个传感器电极中的一个或多个相应的传感器电极耦合。接收器电路配置成:当发射器电路的至少一部分被禁用时,使用多个ADC中的 ...
【技术保护点】
1.一种方法,包括:将处理系统的接收器电路与包括多个传感器电极的电容性传感器耦合,所述接收器电路包括多个模数转换器(ADC),所述多个ADC中的每一个ADC与所述多个传感器电极中的一个或多个相应的传感器电极耦合;当所述处理系统的发射器电路的至少一部分被禁用时,使用所述多个ADC中的每一个ADC来获取测量结果;以及使用所获取的测量结果将多个偏移失配值存储在所述处理系统的存储器中,其中所述处理系统可操作以将所述多个偏移失配值应用于使用所述多个ADC获取的电容性测量结果。
【技术特征摘要】
2017.07.26 US 15/6603931.一种方法,包括:将处理系统的接收器电路与包括多个传感器电极的电容性传感器耦合,所述接收器电路包括多个模数转换器(ADC),所述多个ADC中的每一个ADC与所述多个传感器电极中的一个或多个相应的传感器电极耦合;当所述处理系统的发射器电路的至少一部分被禁用时,使用所述多个ADC中的每一个ADC来获取测量结果;以及使用所获取的测量结果将多个偏移失配值存储在所述处理系统的存储器中,其中所述处理系统可操作以将所述多个偏移失配值应用于使用所述多个ADC获取的电容性测量结果。2.如权利要求1所述的方法,其中所述多个偏移失配值中的每一个偏移失配值对应于所述多个ADC中的相应的ADC。3.如权利要求1所述的方法,其中使用所述多个ADC获取的所述电容性测量结果包括基线电容性测量结果。4.如权利要求3所述的方法,其中将所述多个偏移失配值应用于所述电容性测量结果包括:针对所述多个ADC中的第一ADC,从由所述第一ADC获取的第一基线电容性测量结果中减去对应于所述第一ADC的第一偏移失配值。5.如权利要求1所述的方法,还包括:禁用所述发射器电路,其中所述发射器电路包括以下项目中的至少一个:传感器电极发射器、保护放大器以及粗糙本底补偿发射器。6.如权利要求1所述的方法,还包括:当校准电容器被设定成第一非零电容值时,将所述多个ADC中的每一个ADC耦合至所述校准电容器以获取多个第一测量结果;当所述校准电容器被设定成第二非零电容值时,将所述多个ADC中的每一个ADC耦合至所述校准电容器以获取多个第二测量结果;以及使用所述第一测量结果和所述第二测量结果来确定对应于所述多个ADC的多个增益失配值,其中所述处理系统可操作以将所述多个增益失配值应用于使用所述多个ADC获取的电容性测量结果。7.如权利要求6所述的方法,还包括:在将所述多个偏移失配值应用于所述电容性测量结果之后,将所述多个增益失配值应用于所述电容性测量结果。8.一种处理系统,包括:发射器电路,其配置成将感测信号驱动到多个传感器电极上;以及接收器电路,其包括多个模数转换器(ADC),所述多个ADC中的每一个ADC与所述多个传感器电极中的一个或多个相应的传感器电极耦合,其中所述接收器电路配置成:当所述发射器电路的至少一部分被禁用时,使用所述多个ADC中的每一个ADC来获取测量结果;使用所获取的测量结果将多个偏移失配值存储在存储器中;以及将所述多个偏移失配值应用于使用所述多个ADC获取的电容性测量结果。9.如权利要求8所述的处理系统,其中所述多个偏移失配值中的每一个偏移失配值对应于所述多个ADC中的相应的ADC。10.如权利要求8所述的处理系统,其中使用所述多个ADC获取的所述电容性测量结果包括基线电容性测量结果。11.如权利要求10所述的处理系统,其中将所述多个偏移失配值应用于所述电容性测量结果包括:针对所述多个ADC中的第一ADC,从由所述第一ADC获取的第一基线电容性测量结...
【专利技术属性】
技术研发人员:ES柏汉农,SC罗,KK关,
申请(专利权)人:辛纳普蒂克斯公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。