射频电路及电路测试设备、测试方法、电子设备技术

本公开是关于一种射频电路及电路测试设备、测试方法、电子设备，该射频电路可以包括：主集通路和分集通路；测试座；切换开关，所述切换开关的一端分别与所述主集通路和所述分集通路连接，另一端与所述测试座连接；所述切换开关在所述主集通路为待测目标的情况下切换至第一状态以与所述主集通路导通，在所述分集通路为待测目标的情况下切换至第二状态以与所述分集通路导通。

【技术实现步骤摘要】
射频电路及电路测试设备、测试方法、电子设备
本公开涉及终端
，尤其涉及一种射频电路及电路测试设备、测试方法、电子设备。
技术介绍
随着手机、平板等电子设备在人们日常生活中的应用越来越广泛，人们对电子设备的结构和功能也在不断提出新的需求，比如要求更小的设备规格、更大的屏占比、手感更佳的金属壳体等。然而，电子设备的任何结构和功能上的变化，都可能对天线结构的性能造成影响，从而影响电子设备最为基础的通讯功能、降低人们的使用体验。
技术实现思路
本公开提供一种射频电路及电路测试设备、测试方法、电子设备，以解决相关技术中的不足。根据本公开实施例的第一方面，提供一种射频电路，包括：主集通路和分集通路；测试座；切换开关，所述切换开关的一端分别与所述主集通路和所述分集通路连接，另一端与所述测试座连接；所述切换开关在所述主集通路为待测目标的情况下切换至第一状态以与所述主集通路导通，在所述分集通路为待测目标的情况下切换至第二状态以与所述分集通路导通。可选的，所述切换开关在所述主集通路用于发射和接收数据的情况下被切换至所述第一状态。可选的，还包括：连接座，所述连接座连接于所述切换开关的另一端，在所述切换开关切换至所述第二状态的情况下与所述主集通路导通，以使得所述主集通路维持在数据发射状态；所述切换开关在所述分集通路用于接收数据的情况下被切换至所述第二状态。可选的，所述连接座包括cable线缆座。可选的，所述切换开关包括双刀双掷开关。根据本公开实施例的第二方面，提供一种电路测试设备，所述电路测试设备用于测试上述实施例中任一所述的射频电路；所述电路测试设备包括：测试模块，所述测试模块用于测试所述主集通路和所述分集通路；第一测试针，所述第一测试针一端用于与所述待测目标的测试座电连接，另一端与所述测试模块电连接；第一天线，所述第一天线用于在与所述主集通路导通的情况下发射和接收数据，以及在与所述分集通路导通的情况下接收数据；控制模块，所述控制模块可与所述切换开关电连接，以切换所述切换开关的开关状态。可选的，所述射频电路还包括连接座，所述连接座连接于所述切换开关的另一端，在所述切换开关切换至所述第二状态的情况下与所述主集通路导通，以使得所述主集通路维持在数据发射状态，所述切换开关在所述分集通路用于接收数据的情况下切换至所述第二状态；所述设备还包括：第二测试针，所述第二测试针一端用于与所述连接座电连接，另一端与所述测试模块电连接；第二天线，所述第二天线用于在与所述主集通路导通的情况下发射数据。根据本公开实施例的第三方面，提供一种射频电路的测试方法，所述方法基于上述实施例中任一所述的射频电路实现；所述方法包括：根据所述主集通路和所述分集通路的工作状态确定待测目标；其中，所述主集通路在用于发射和接收数据时被作为待测目标，所述分集通路在用于接收数据时被作为待测目标；当所述主集通路为待测目标时，将所述切换开关切换至所述第一状态；当所述分集通路为待测目标时，将所述切换开关切换至所述第二状态。根据本公开实施例的第四方面，提供一种电子设备，包括：如上述实施例中任一项所述的射频电路。可选的，所述电子设备的主集天线与所述射频电路的主集通路电连接，所述电子设备的分集天线与所述射频电路的分集通路电连接。本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：由上述实施例可知，本公开通过切换开关来切换与测试座相连的对象，一方面可保证利用测试座对主集通路和分集通路分别进行精准的测试，另一方面只需通过同一测试座便可完成对射频电路中主集通路和分集通路的测试，而无需分别针对主集通路和分集通路设置相应的测试座，从而降低了硬件成本，并减少了射频电路所占用的空间。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。图1是相关技术中测试射频电路的示意图。图2是根据一示例性实施例示出的一种射频电路的结构示意图。图3是根据一示例性实施例示出的另一种射频电路的结构示意图。图4是根据一示例性实施例示出的测试射频电路的示意图。图5是根据一示例性实施例示出的射频电路的测试方法的流程图。图6-7是根据一示例性实施例示出的切换切换开关的开关状态的示意图。图8是根据一示例性实施例示出的一种射频电路的测试装置的框图。图9是根据一示例性实施例示出的一种用于射频电路的测试装置的结构示意图。具体实施方式这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。应当理解，尽管在本申请可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本申请范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。在相关技术中，针对射频电路中的每个通路，均需设置相应的测试座以供射频研发人员进行测试。举例而言，如图1所示，射频电路1包含主集通路10和分集通路11；其中，针对主集通路10设置有测试座12，针对分集通路11设置有测试座13。然而，相关技术中设置测试座的方式导致测试座占用了PCB(PrintedCircuitBoard，印制电路板)大量的空间，且成本较高。因此，本公开通过对射频电路的结构予以改进，以解决相关技术中存在的上述技术问题。请参见图2，图2是根据一示例性实施例示出的一种射频电路的结构示意图。如图2所示，射频电路2包括主集通路20、分集通路21、测试座22和切换开关23。其中，测试座22可通过与测试设备电连接以供该测试设备对主集通路20和分集通路21进行精确的测试；切换开关23的一端(图2中以右端为例)分别与主集通路20和分集通路21连接，另一端(图2中以左端为例)与测试座22连接。基于上述射频电路2的结构，切换开关23在主集通路20为待测目标的情况下切换至第一状态以与主集通路20导通，以及在分集通路21为待测目标的情况下切换至第二状态以与分集通路21导通。当然，图2以射频电路2仅包含一个分集通路的情况为例进行说明，实际上射频电路2还可包含多个分集通路，其原理可参考上述图2所示的实施例，在此不再赘述。可见，在本公开的射频电路中，通过切换开关来切换与测试座相连的对象(即待测目标)，一方面可保证利用测试座实现对主集通路和分集通路的精准测试，另一方面只需通过同一测试座便可完成对射频电路中主集通路和分集通路的测试，而无需分别针对主集通路和分集通路设置相应的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种射频电路，其特征在于，包括：主集通路和分集通路；测试座；切换开关，所述切换开关的一端分别与所述主集通路和所述分集通路连接，另一端与所述测试座连接；所述切换开关在所述主集通路为待测目标的情况下切换至第一状态以与所述主集通路导通，在所述分集通路为待测目标的情况下切换至第二状态以与所述分集通路导通。

【技术特征摘要】
1.一种射频电路，其特征在于，包括：主集通路和分集通路；测试座；切换开关，所述切换开关的一端分别与所述主集通路和所述分集通路连接，另一端与所述测试座连接；所述切换开关在所述主集通路为待测目标的情况下切换至第一状态以与所述主集通路导通，在所述分集通路为待测目标的情况下切换至第二状态以与所述分集通路导通。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述切换开关在所述主集通路用于发射和接收数据的情况下被切换至所述第一状态。3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，还包括：连接座，所述连接座连接于所述切换开关的另一端，在所述切换开关切换至所述第二状态的情况下与所述主集通路导通，以使得所述主集通路维持在数据发射状态；所述切换开关在所述分集通路用于接收数据的情况下被切换至所述第二状态。4.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述连接座包括cable线缆座。5.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述切换开关包括双刀双掷开关。6.一种电路测试设备，其特征在于，所述电路测试设备用于测试上述权利要求1-2中任一所述射频电路；所述电路测试设备包括：测试模块，所述测试模块用于测试所述主集通路和所述分集通路；第一测试针，所述第一测试针一端用于与所述待测目标的测试座电连接，另一端与所述测试模块电连接；第一天线，所述第一天线用于在与所述主集通路导通的情况下发射和接收数据，以及在与所述分集通路导通的...

【专利技术属性】
技术研发人员：李鹏，王琦，
申请(专利权)人：北京小米移动软件有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11