一种螺旋波纹结构的平均外径测量工具制造技术

本实用新型专利技术涉及螺旋波纹结构辅助用具的技术领域，更具体地，涉及一种螺旋波纹结构的平均外径测量工具，所述测量工具包括可环绕与螺旋波纹结构外周的量片，所述量片的宽度大于相邻外波峰之间的距离；所述量片的边缘均布有若干刻度线，所述刻度线与螺旋波纹管的轴向平行设置；量片包括轴线重合的第一测量部以及第二测量部，第一测量部与第二测量部连接，第一测量部设有能够容纳第二测量部穿过的槽孔。本实用新型专利技术使用时将测量工具围绕螺旋波纹结构外波峰一圈，同时跨过螺旋波纹结构两个以上的外波峰，通过刻度读取数据，能够获得准确的外径参数；本实用新型专利技术结构简单，能够更好地控制和检验螺旋波纹结构的尺寸，提高产品合格率，降低客户的投诉频次。

【技术实现步骤摘要】
一种螺旋波纹结构的平均外径测量工具
本技术涉及螺旋波纹结构辅助用具的
，更具体地，涉及一种螺旋波纹结构的平均外径测量工具。
技术介绍
螺旋波纹管/模具，在产品生产/模具制造过程中，由于螺旋波纹结构的特殊性，波峰不在同一垂直方向上，没有测量工具能在同一垂直方向围绕螺旋波纹管/模具的外波峰进行测量，获得准确的平均外径数据，导致生产制造中的尺寸难以保证，特别是涉及螺旋波纹管需要和配件装配时，由于尺寸难以保证，会出现干涉、无法安装等情况。而在螺旋波纹管的生产销售过程中，发生多次由于生产时产品无法准确和控制尺寸，导致管件和管材无法配套，频遭客户投诉。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种螺旋波纹结构的平均外径测量工具，能够在同一个垂直方向上，同时跨过螺旋波纹结构的两个以上外波峰，获得准确的平均外径参数，能够更好地控制和检验产品/模具尺寸，提高产品的合格率。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是：提供一种螺旋波纹结构的平均外径测量工具，螺旋波纹结构的外周均匀环绕设有若干外波峰；其特征在于，所述测量工具包括可环绕与螺旋波纹结构外周的量片，所述量片的宽度大于相邻外波峰之间的距离；所述量片的边缘均布有若干刻度线，所述刻度线与螺旋波纹管的轴向平行设置。本技术的螺旋波纹结构的平均外径测量工具，使用时将测量工具围绕螺旋波纹结构外波峰一圈，测量工具同时跨过螺旋波纹结构两个以上的外波峰，通过刻度读取数据，能够获得准确的外径参数。本技术结构简单，能够更好地控制和检验螺旋波纹结构的尺寸，提高产品合格率，降低客户的投诉。进一步地，所述量片包括轴线重合的第一测量部以及第二测量部，所述第一测量部与第二测量部连接，所述第二测量部的宽度小于第一测量部的宽度。这样设置便于螺旋波纹结构外径参数的读取。进一步地，所述第一测量部设有能够容纳第二测量部穿过的槽孔。在测量螺旋波纹结构的外径时，将第二测量部通过槽孔穿入第一测量部中环绕形成与螺旋波纹结构匹配的环状结构，以保证外径测量的准确性。进一步地，所述第一测量部远离第二测量部的一端设有第一手持部，所述第二测量部远离第一测量部的一端设有第二手持部。测量时，需要手持量片的端部施加外力使得量尺的表面与螺旋波纹结构的波峰紧密接触，第一手持部和第二手持部的设置便于测量者施加外力。进一步地，所述第一手持部、第二手持部为分别包覆于第一测量部、第二测量部端部的橡胶结构，所述橡胶结构的表面设有若干凸起的防滑结构。防滑结构的设置一方面增加测量者与第一手持部、第二手持部之间的摩擦力，改善操作的便捷性；一方面能够避免锋利的量片边缘对测量者造成的伤害。进一步地，所述刻度线包括设于第一测量部边缘的第一刻度线以及设于第二量片边缘的第二刻度线，所述螺旋波纹结构的周长为第一刻度线的起始刻度线和第二刻度线与起始刻度线对齐位置之间的距离。测量时，量片紧贴的螺旋波纹结构的表面，起始刻度线与第二刻度线对齐的位置即为螺旋波纹结构的外径，测量便捷，读数方便。进一步地，所述第一刻度线为十条均匀分布的线条，相邻第一刻度线之间的距离为0.9mm；所述第二刻度线为若干均匀分布的线条，相邻第二刻度线之间的距离为1mm。第一测量部为十分度的副尺，第二测量部为主尺，读数时，先读取主尺读数，后根据第一刻度线与第二刻度线对齐的刻度线读取的副尺读数，螺旋波纹结构的外径为主尺读数和副尺读数之和，读数准确，其螺旋波纹结构的周长可精确到0.1mm。进一步地，两端的第一刻度线的长度大于中间位置的第一刻度线的长度。两端的第二刻度线的长度大于中间位置的第二刻度线的长度，便于周长读数的快速读取。进一步地，第二刻度线靠近第二测量部的内侧设有刻度。便于周长读数的快速读取，减小周长的读数误差。进一步地，所述量片为钢片结构，所述刻度线为由激光加工得到的线型结构。钢片结构的设置能够避免测量工具的外表腐蚀，延长测量工具的使用寿命；激光加工的刻度线的设置，能够防止长期使用对测量工具的磨损。与现有技术相比，本技术的有益效果是：（1）本技术使用时将测量工具围绕螺旋波纹结构外波峰一圈，同时跨过螺旋波纹结构两个以上的外波峰，通过刻度读取数据，能够获得准确的外径参数；本技术结构简单，能够更好地控制和检验螺旋波纹结构的尺寸，提高产品合格率，降低客户的投诉。（2）本技术操作方便，读数快捷且准确，读数可精确至0.1mm；且本技术的测量工具能够避免测量工具的外表腐蚀和长期使用对测量工具表面造成的磨损，具有较长的使用寿命。附图说明图1为本技术的螺旋波纹结构的平均外径测量工具的结构示意图。图2为本技术的螺旋波纹结构的剖面图。附图中，1-螺旋波纹结构；11-外波峰；2-量片；21-第一测量部；22-第二测量部；23-槽孔；24-第一手持部；25-第二手持部；3-刻度线；31-第一刻度线；32-第二刻度线；33-刻度。具体实施方式下面结合具体实施方式对本技术作进一步的说明。其中，附图仅用于示例性说明，表示的仅是示意图，而非实物图，不能理解为对本专利的限制；为了更好地说明本技术的实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。本技术实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本技术的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。实施例1如图1至图2所示为本技术的螺旋波纹结构的平均外径测量工具的第一实施例，螺旋波纹结构1的外周均匀环绕设有若干外波峰11；其特征在于，测量工具包括可环绕与螺旋波纹结构外周的量片2，量片2的宽度大于相邻外波峰11之间的距离；量片2的边缘均布有若干刻度线3，刻度线3与螺旋波纹结构的轴向平行设置。本实施例在实施时，将测量工具围绕螺旋波纹结构1外波峰11一圈，测量工具同时跨过螺旋波纹结构两个以上的外波峰11，通过刻度读取数据，能够获得准确的外径参数。本实施例的量片2为钢片结构，能够避免测量工具的外表腐蚀，延长测量工具的使用寿命；刻度线3为由激光加工得到的线型结构，能够防止长期使用对测量工具的磨损。具体地，量片2包括轴线重合的第一测量部21以及第二测量部22，第一测量部21与第二测量部22连接，第二测量部22的宽度小于第一测量部21的宽度。其中，第一测量部21设有能够容纳第二测量部22穿过的槽孔23，在测量螺旋波纹结构1的外径时，将第二测量部22通过槽孔23穿入第一测量部21中环绕形成与螺旋波纹结构1匹配的环状结构，以保证外径测量的准确性；第一测量部21远离第二测量部22的一端设有第一手持部24，第二测量部22远离第一测量部21的一端设有第二手持部25，便于测量者施加外力，使得量片2的表面与螺旋波纹结构的波峰紧密接触。本实施例的第一手持部24、第二手持部25为分别包覆于第一测量部本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种螺旋波纹结构的平均外径测量工具，所述螺旋波纹结构的外周均匀环绕设有若干外波峰；其特征在于，所述测量工具包括可环绕与螺旋波纹结构外周的量片，所述量片的宽度大于相邻外波峰之间的距离；所述量片的边缘均布有若干刻度线，所述刻度线与螺旋波纹管的轴向平行设置。

【技术特征摘要】
1.一种螺旋波纹结构的平均外径测量工具，所述螺旋波纹结构的外周均匀环绕设有若干外波峰；其特征在于，所述测量工具包括可环绕与螺旋波纹结构外周的量片，所述量片的宽度大于相邻外波峰之间的距离；所述量片的边缘均布有若干刻度线，所述刻度线与螺旋波纹管的轴向平行设置。2.根据权利要求1所述的螺旋波纹结构的平均外径测量工具，其特征在于，所述量片包括轴线重合的第一测量部以及第二测量部，所述第一测量部与第二测量部连接，所述第二测量部的宽度小于第一测量部的宽度。3.根据权利要求2所述的螺旋波纹结构的平均外径测量工具，其特征在于，所述第一测量部设有能够容纳第二测量部穿过的槽孔。4.根据权利要求2所述的螺旋波纹结构的平均外径测量工具，其特征在于，所述第一测量部远离第二测量部的一端设有第一手持部，所述第二测量部远离第一测量部的一端设有第二手持部。5.根据权利要求4所述的螺旋波纹结构的平均外径测量工具，其特征在于，所述第一手持部、第二手持部为分别包覆于第一测量部、第二测量部端部的橡...

【专利技术属性】
技术研发人员：康泳华，梁健雄，
申请(专利权)人：广东联塑科技实业有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44