质量分析装置和质量分析方法制造方法及图纸

提供质量分析装置和质量分析方法，能够提高包含杂质等第二物质在内的第一物质的检测精度并且缩短测定时间而不会使装置大型化。质量分析装置(110)对含有第一物质和一种以上的第二物质的试样进行分析，所述第一物质由有机化合物构成，所述第二物质由有机化合物构成并且质谱的峰与第一物质的质谱的峰重叠，该质量分析装置(110)的特征在于，其具有峰校正部(217)，当设各第二物质的标准物质的质谱的峰中的、不与第一物质的质谱的峰重叠的峰A和与第一物质的峰重叠的峰B的强度比(峰B)/(峰A)为校正系数W时，该峰校正部(217)从试样中的第一物质的质谱的峰C的强度减去W×(峰A的强度)来计算第一物质的质谱的净峰D的强度。

Quality Analysis Device and Quality Analysis Method

Providing a quality analysis device and a quality analysis method can improve the detection accuracy of the first substance including impurities and other second substances, and shorten the determination time without making the device large-scale. The mass analyzer (110) analyses the sample containing the first substance and more than one second substance. The first substance is composed of organic compounds. The second substance is composed of organic compounds and the peaks of mass spectra overlap with the peaks of mass spectra of the first substance. The mass analyzer (110) is characterized by having a peak correction unit (217) when a standard substance of each second substance is set up. When the intensity ratio of peak A to peak B (peak B)/(peak A) is the correction coefficient W, the peak correction section (217) subtracts the intensity of peak C from the intensity of peak C of mass spectrometry of the first substance in the sample to calculate the intensity of the net peak D of mass spectrometry of the first substance.

【技术实现步骤摘要】
质量分析装置和质量分析方法
本专利技术涉及质量分析装置和质量分析方法。
技术介绍
为了确保树脂的柔软性，在树脂中包含有邻苯二甲酸酯等增塑剂，但是在2019年及以后，根据欧洲特定有害物质限制(RoHS)，会限制四种邻苯二甲酸酯的使用。因此，需要对树脂中的邻苯二甲酸酯进行鉴别和定量。由于邻苯二甲酸酯是挥发性成分，因此能够使用现有公知的产生气体分析(EGA；EvolvedGasAnalysis：逸出气分析)进行分析。关于该产生气体分析，是指通过气相色谱仪或质谱分析等各种分析装置对加热试样而产生的气体成分进行分析。质量分析装置是公知的，例如也公开有为了测定同位素比而进行校正计算的技术(专利文献1)。专利文献1：日本特许第4256208号公报另外，在想要从包含有例如DBP、BBP、DEHP、DOTP作为邻苯二甲酸酯的试样中分别对作为限制对象物质的DBP、BBP、DEHP进行定量的情况下，通常，DBP、BBP、DEHP、DOTP的分子量不同，因此能够区分开来进行质量分析。然而，例如，以DBP的定量为例，当在质量分析装置中对从试样产生的气体成分进行离子化时，从DBP以外的BBP、DEHP、DOTP生成碎片离子，有时质谱的峰与DBP的质谱的峰重叠。而且，在该情况下，很难准确地对DBP进行定量。另一方面，也能够在质量分析装置的前级设置气相色谱仪，将碎片离子分离出而对DBP单体进行定量，但存在如下的问题：由于增加了气相色谱仪而导致装置整体大型化，并且测定时间变长。
技术实现思路
因此，本专利技术是为了解决上述的课题而完成的，其目的在于，提供能够提高包含杂质等第二物质在内的第一物质的检测精度并且缩短测定时间而不会使装置大型化的质量分析装置和质量分析方法。为了达成上述的目的，本专利技术的质量分析装置对含有第一物质和一种以上的第二物质的试样进行分析，所述第一物质由有机化合物构成，所述第二物质由有机化合物构成并且质谱的峰与所述第一物质的质谱的峰重叠，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置具有峰校正部，当设各所述第二物质的标准物质的质谱的峰中的、不与所述第一物质的质谱的峰重叠的峰A和与所述第一物质的所述峰重叠的峰B的强度比(峰B)/(峰A)为校正系数W时，该峰校正部从所述试样中的所述第一物质的质谱的峰C的强度减去W×(峰A的强度)来计算所述第一物质的质谱的净峰D的强度。根据该质量分析装置，根据第二物质中的不与第一物质的质谱的峰重叠的峰A的强度来消除质谱的峰与第一物质的质谱的峰重叠的第二物质的影响，因此能够精度良好地求取第一物质的质谱的净峰D的强度。此时，例如与使用色谱仪等将第一物质与第二物质分离以消除第二物质的影响的情况相比，不会使装置大型化，也能够缩短测定时间。在本专利技术的质量分析装置中，也可以是，存在两种以上的所述第二物质，所述峰校正部从所述峰C的强度减去针对各所述第二物质的W×(峰A的强度)的总和。根据该质量分析装置，即使存在两个以上的第二物质，也能够精度良好地消除其影响。在本专利技术的质量分析装置中，也可以是，所述峰校正部在W×(峰A的强度)超过了规定的阈值的情况下计算所述峰D的强度。根据该质量分析装置，在检测到的峰A为作为噪声等的强度而设定的阈值以下的情况下，视为检测到噪声，不计算峰D的强度，因此能够抑制峰D的校正不准确。在本专利技术的质量分析装置中，也可以是，所述质量分析装置还具有对所述第一物质和所述第二物质进行离子化的离子化部，所述峰B是因在所述离子化时由所述第二物质生成的碎片离子而引起的。在对第二物质进行离子化时，容易产生质谱的峰与第一物质的质谱的峰重叠的峰B，本专利技术更有效。本专利技术的质量分析方法对含有第一物质和一种以上的第二物质的试样进行分析，所述第一物质由有机化合物构成，所述第二物质由有机化合物构成并且质谱的峰与所述第一物质的质谱的峰重叠，该质量分析方法的特征在于，当设各所述第二物质的标准物质的质谱的峰中的、不与所述第一物质的质谱的峰重叠的峰A和与所述第一物质的所述峰重叠的峰B的强度比(峰B)/(峰A)为校正系数W时，从所述试样中的所述第一物质的质谱的峰C的强度减去W×(峰A的强度)来计算所述第一物质的质谱的净峰D的强度。专利技术效果根据本专利技术，能够提高包含杂质等第二物质在内的第一物质的质量分析的检测精度并且缩短测定时间而不会使装置大型化。附图说明图1是示出包含本专利技术的实施方式的质量分析装置在内的产生气体分析装置的结构的立体图。图2是示出气体产生部的结构的立体图。图3是示出气体产生部的结构的纵剖视图。图4是示出气体产生部的结构的横剖视图。图5是图4的局部放大图。图6是示出由产生气体分析装置进行的气体成分的分析动作的框图。图7是示出DBP、BBP、DEHP、DOTP各自的标准物质的质谱的图。图8是示出DBP和DOTP混合存在的试样的质谱的图。图9是示出T函数的图。标号说明50：离子化部；110：质量分析计(质量分析装置)；217：峰校正部。具体实施方式以下，参照附图对本专利技术的实施方式进行说明。图1是示出包含本专利技术的实施方式的质量分析计(质量分析装置)110在内的产生气体分析装置200的结构的立体图，图2是示出气体产生部100的结构的立体图，图3是示出气体产生部100的结构的沿着轴心O的纵剖视图，图4是示出气体产生部100的结构的沿着轴心O的横剖视图，图5是图4的局部放大图。产生气体分析装置200具有作为箱体的主体部202、安装在主体部202的正面上的箱型的气体产生部安装部204以及对整体进行控制的计算机(控制部)210。计算机210具有进行数据处理的CPU、存储计算机程序和数据的存储部218、监视器220、以及键盘等输入部等。在气体产生部安装部204的内部收纳有气体产生部100，圆筒状的加热炉10、试样架20、冷却部30、使气体分支的分流器40、离子化部50、以及惰性气体流路19f以组件的形式成为一个整体从而得到该气体产生部100。并且，在主体部202的内部收纳有对加热试样而产生的气体成分进行分析的质量分析计110。离子化部50相当于专利权利要求书的“离子化部”。另外，如图1所示，从气体产生部安装部204的上表面朝向前表面地设置有开口204h，当使试样架20移动到加热炉10外侧的排出位置(后述)时，该试样架20位于开口204h处，因此能够从开口204h将试样从试样架20取出或放到试样架20上。并且，在气体产生部安装部204的前表面上设置有缝204s，通过使从缝204s露出到外部的开闭把手22H左右移动，能够使试样架20向加热炉10的内外移动以设置于上述的排出位置，从而取出或放入试样。另外，例如如果利用由计算机210控制的步进电机等使试样架20在移动轨道204L(后述)上移动，则能够将使试样架20向加热炉10的内外移动的功能自动化。接下来，参照图2～图6对气体产生部100的各部分的结构进行说明。首先，加热炉10以使轴心O为水平的方式安装在气体产生部安装部204的安装板204a上，具有呈以轴心O为中心而开口的大致圆筒状的加热室12、加热块14以及保温套16。在加热室12的外周配置有加热块14，在加热块14的外周配置有保温套16。加热块14由铝构成，通过对沿着轴心O向加热炉10的外部延伸的一对加热电极14a(参照图4)通电而被加热。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种质量分析装置，其对含有第一物质和一种以上的第二物质的试样进行分析，所述第一物质由有机化合物构成，所述第二物质由有机化合物构成并且质谱的峰与所述第一物质的质谱的峰重叠，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置具有峰校正部，当设各所述第二物质的标准物质的质谱的峰中的、不与所述第一物质的质谱的峰重叠的峰A和与所述第一物质的所述峰重叠的峰B的强度比(峰B)/(峰A)为校正系数W时，该峰校正部从所述试样中的所述第一物质的质谱的峰C的强度减去W×(峰A的强度)来计算所述第一物质的质谱的净峰D的强度。

【技术特征摘要】
2017.07.21 JP 2017-1422341.一种质量分析装置，其对含有第一物质和一种以上的第二物质的试样进行分析，所述第一物质由有机化合物构成，所述第二物质由有机化合物构成并且质谱的峰与所述第一物质的质谱的峰重叠，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置具有峰校正部，当设各所述第二物质的标准物质的质谱的峰中的、不与所述第一物质的质谱的峰重叠的峰A和与所述第一物质的所述峰重叠的峰B的强度比(峰B)/(峰A)为校正系数W时，该峰校正部从所述试样中的所述第一物质的质谱的峰C的强度减去W×(峰A的强度)来计算所述第一物质的质谱的净峰D的强度。2.根据权利要求1所述的质量分析装置，其中，存在两种以上的所述第二物质，所述峰校正部从所述峰C的强度减去针对各所述第二物质的W×(峰A的强度)的总和。3.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：佐久田昌博，大川真，的场吉毅，
申请(专利权)人：日本株式会社日立高新技术科学，
类型：发明
国别省市：日本,JP