质量分析装置和质量分析方法制造方法及图纸

提供质量分析装置和质量分析方法，能够在视觉上清晰地识别质量分析困难的副成分有无存在。一种质量分析装置(110)，其具有显示部(220)，并且对含有测定物质的试样进行分析，其中，质量分析装置(110)还具有：存储部(215)，其存储针对测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰(T)；一致度计算部(217)，其根据区域内的试样的质谱(N)与理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制部(219a)，其使显示部显示一致度；以及重叠显示控制部(219b)，其使显示部以质荷比一致的方式将试样的质谱和理论峰重叠显示。

Quality Analysis Device and Quality Analysis Method

Provide quality analysis devices and methods to visually identify the presence or absence of components that are difficult for quality analysis. A mass analysis device (110) has a display unit (220) and an analysis of a sample containing a determined substance. The mass analysis device (110) also has a storage unit (215), which stores theoretical peaks (T) obtained by calculating the mass spectrometry region of the measured substance, and a consistency calculation unit (217), which is based on the respective mass spectrometry (N) and theoretical peaks of the samples in the region. Multiple peaks are used to calculate the consistency of the degree of consistency; the consistency display control unit (219a), which enables the display unit to display the consistency; and the overlapping display control unit (219b), which enables the display unit to overlap the mass spectra and theoretical peaks of the sample in a manner consistent with the mass-charge ratio.

【技术实现步骤摘要】
质量分析装置和质量分析方法
本专利技术涉及质量分析装置和质量分析方法。
技术介绍
关于作为一种多溴二苯醚类的十溴二苯醚(以下DBDE)，溴含有率高，作为阻燃材料使用，但近年来成为限制对象物质。因此，需要分析在树脂等的试样中是否含有DBDE。由于DBDE是挥发性成分，因此能够使用现有公知的产生气体分析(EGA；EvolvedGasAnalysis：逸出气分析)进行分析。关于该产生气体分析，是指通过气相色谱仪或质谱分析等各种分析装置对加热试样而产生的气体成分进行分析。而且，公开有如下的技术：对作为溴系阻燃剂的四溴双酚A(TBBPA)进行质量分析，以两个峰强度比进行判定(专利文献1)。专利文献1：日本特许第5502648号公报然而，来自试样中的其他物质(在试样中含有的其他成分)等的信号作为噪声而与作为测定物质的DBDE的质谱区域重叠，存在DBDE的质量分析困难这样的问题。
技术实现思路
因此，本专利技术是为了解决上述的课题而完成的，其目的在于，提供能够在视觉上清晰地识别测定物质有无存在的质量分析装置和质量分析方法。为了达成上述的目的，本专利技术的质量分析装置具有显示部，并且对含有测定物质的试样进行分析，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置还具有：存储部，其存储针对所述测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰；一致度计算部，其根据所述区域内的所述试样的质谱和所述理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制部，其使所述显示部显示所述一致度；以及重叠显示控制部，其使所述显示部以质荷比一致的方式将所述试样的所述质谱和所述理论峰重叠显示。根据该质量分析装置，计算并显示试样的质谱与测定物质的理论峰的一致度。并且，将试样的质谱和测定物质的理论峰重叠显示。由此，即使在质量分析困难的状况下，也能够在视觉上清晰地识别测定物质有无存在。而且，通过使用理论峰来表示与试样的质谱的一致度，即使例如质谱自身的波形包含噪声而不清晰，也只要以与理论峰的一致度进行判定即可，因此能够可靠地判定测定物质有无存在。在本专利技术的质量分析装置中，也可以是，所述一致度显示控制部对所述一致度和规定的第一阈值进行比较，使所述显示部显示所述测定物质有无存在。根据该质量分析装置，对一致度与第一阈值进行比较，在系统侧显示所述测定物质有无存在，因此即使作业人员部不判断也能够识别测定物质有无存在。尤其是，在第一阈值按照每个测定物质而不同的情况下，判断各个一致度的值和有无存在需要经验，但能够在系统上容易地进行该判断。在本专利技术的质量分析装置中，也可以是，所述一致度计算部还对与所述理论峰相同的质荷比下的所述试样的质谱的强度进行合计，计算其强度合计值，所述一致度显示控制部使所述显示部显示所述强度合计值。根据该质量分析装置，除了一致度之外也将与理论峰相同的质荷比下的试样的质谱的强度合计值显示于显示部，因此能够提供使得更可靠地判断测定物质有无存在的材料。在本专利技术的质量分析装置中，也可以是，所述一致度显示控制部对所述强度合计值和规定的第二阈值进行比较，使所述显示部显示所述测定物质有无存在的可靠度。根据该质量分析装置，对强度合计值和第二阈值进行比较，在系统侧显示所述测定物质有无存在的可靠度，因此能够更可靠地判断测定物质有无存在。在本专利技术的质量分析装置中，也可以是，所述一致度计算部根据所述理论峰的规定宽度范围内的所述试样的所述质谱的强度的平均值来计算所述一致度。质谱有时根据时间而发生变动，在该情况下与理论峰的一致度的值变得不稳定。因此，在理论峰的质荷比的方向上求取规定宽度范围内的质谱的强度的平均值，根据该平均值来计算一致度，由此能够更可靠地判断测定物质有无存在。在本专利技术的质量分析装置中，也可以是，所述显示控制部以使所述理论峰中的最大峰的强度和所述试样的所述质谱中的与所述最大峰相同的质荷比下的强度一致的方式将所述理论峰和所述试样的所述质谱重叠显示于所述显示部。根据该质量分析装置，容易对试样的质谱和理论峰进行比较、观察。在本专利技术的质量分析装置中，也可以是，所述一致度计算部使用相关系数来计算所述一致度。本专利技术的质量分析方法对含有测定物质的试样进行分析，该质量分析方法的特征在于，所述质量分析方法还具有以下的步骤：存储步骤，存储针对所述测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰；一致度计算步骤，根据所述区域内的所述试样的质谱和所述理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制步骤，使显示部显示所述一致度；以及重叠显示控制步骤，使所述显示部以质荷比一致的方式将所述试样的所述质谱和所述理论峰重叠显示。专利技术效果根据本专利技术，能够在视觉上清晰地识别测定物质有无存在。附图说明图1是示出包含本专利技术的实施方式的质量分析装置在内的产生气体分析装置的结构的立体图。图2是示出气体产生部的结构的立体图。图3是示出气体产生部的结构的纵剖视图。图4是示出气体产生部的结构的横剖视图。图5是图4的局部放大图。图6是示出产生气体分析装置进行的气体成分的分析动作的框图。图7是示出含有测定物质和DBDE的试样的气体质谱的图。图8是示出DBDE的质谱的理论峰的图。图9是示出计算质谱与理论峰的一致度的方法的示意图。图10是示出根据理论峰的规定宽度范围内的试样的质谱的强度的平均值来计算一致度的方法的示意图。图11是示出将试样的质谱和理论峰以质荷比一致的方式重叠显示的形态的图。标号说明110：质量分析计(质量分析装置)；217：一致度计算部；215：存储部；219a：一致度显示控制部；219b：重叠显示控制部；220：显示部；T：理论峰；N：区域内的试样的质谱；S：试样；W：理论峰的规定宽度；Pmax：理论峰中的最大峰的强度；Nmax：试样的质谱中的与最大峰相同的质荷比下的强度。具体实施方式以下，参照附图对本专利技术的实施方式进行说明。图1是示出包含本专利技术的实施方式的质量分析计(质量分析装置)110在内的产生气体分析装置200的结构的立体图，图2是示出气体产生部100的结构的立体图，图3是示出气体产生部100的结构的沿着轴心O的纵剖视图，图4是示出气体产生部100的结构的沿着轴心O的横剖视图，图5是图4的局部放大图。产生气体分析装置200具有作为箱体的主体部202、安装在主体部202的正面上的箱型的气体产生部安装部204以及对整体进行控制的计算机(控制部)210。计算机210具有进行数据处理的CPU、存储计算机程序和数据的存储部215、液晶监视器等显示部220、以及键盘等输入部222等。在气体产生部安装部204的内部收纳有气体产生部100，圆筒状的加热炉10、试样架20、冷却部30、使气体分支的分流器40、离子源50、以及惰性气体流路19f以组件的形式成为一个整体从而得到该气体产生部100。并且，在主体部202的内部收纳有对加热试样而产生的气体成分进行分析的质量分析计110。另外，如图1所示，从气体产生部安装部204的上表面朝向前表面地设置有开口204h，当使试样架20移动到加热炉10外侧的排出位置(后述)时，该试样架20位于开口204h处，因此能够从开口204h将试样从试样架20取出或放到试样架20上。并且，在气体产生部安装部204的前表面上设置有缝204s，通过使从缝204s露出到外部的开闭本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种质量分析装置，其具有显示部，并且对含有测定物质的试样进行分析，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置还具有：存储部，其存储针对所述测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰；一致度计算部，其根据所述区域内的所述试样的质谱和所述理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制部，其使所述显示部显示所述一致度；以及重叠显示控制部，其使所述显示部以质荷比一致的方式将所述试样的所述质谱和所述理论峰重叠显示。

【技术特征摘要】
2017.07.21 JP 2017-1422351.一种质量分析装置，其具有显示部，并且对含有测定物质的试样进行分析，该质量分析装置的特征在于，所述质量分析装置还具有：存储部，其存储针对所述测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰；一致度计算部，其根据所述区域内的所述试样的质谱和所述理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制部，其使所述显示部显示所述一致度；以及重叠显示控制部，其使所述显示部以质荷比一致的方式将所述试样的所述质谱和所述理论峰重叠显示。2.根据权利要求1所述的质量分析装置，其特征在于，所述一致度显示控制部对所述一致度和规定的第一阈值进行比较，使所述显示部显示所述测定物质有无存在。3.根据权利要求1或2所述的质量分析装置，其特征在于，所述一致度计算部还对与所述理论峰相同的质荷比下的所述试样的质谱的强度进行合计，计算其强度合计值，所述一致度显示控制部使所述显示部显示所述强度合计值。4.根据权利要求2或3所述的质量分析装置，其特征在于，所述一致度显示控制部对所述强度合计值和规定的第二阈值...

【专利技术属性】
技术研发人员：佐久田昌博，
申请(专利权)人：日本株式会社日立高新技术科学，
类型：发明
国别省市：日本,JP