质量分析装置和质量分析方法制造方法及图纸

提供质量分析装置和质量分析方法。一种质量分析装置(200)，其具有加热含有第一物质和在比第一物质高的温度下气化的第二物质的试样而产生气体成分的加热部(10)，检测通过加热部而生成的气体成分，所述质量分析装置(200)具有：加热控制部(212)，其以第一温度(T1)对加热部进行加热直至达到第一时间(t1)，在超过了第一时间时，对加热部进行加热直至达到使第二物质的气体产生的第二温度(T2)，该第一温度(T1)和第一时间(t1)是预先求出的使第一物质的气体产生而不使第二物质的气体产生的温度和时间条件；以及分析控制部(219)，其在第一温度下，在分配给第一物质的第一测定条件下进行质量分析，直至达到所述第一时间，在第二温度下，在分配给第二物质的第二测定条件下进行质量分析。

Quality Analysis Device and Quality Analysis Method

Provide quality analysis device and quality analysis method. A mass analysis device (200) has a heating part (10) for heating a sample containing a first substance and a second substance gasified at a temperature higher than the first substance to produce a gas component, and detects the gas component generated by the heating part. The mass analysis device (200) has a heating control unit (212), which heats the heating part at a first temperature (T1) until the first time. The first temperature (T1) and the first time (t1) are the pre-determined temperature and time conditions for the gas of the first substance to be produced without the gas of the second substance; and the analysis control unit (219), which is distributed to the first substance at the first temperature. The mass analysis is carried out under the first determination condition of the substance until the first time is reached, and the mass analysis is carried out under the second determination condition allocated to the second substance at the second temperature.

【技术实现步骤摘要】
质量分析装置和质量分析方法
本专利技术涉及质量分析装置和质量分析方法。
技术介绍
在对包含于树脂中的多个限制对象物质(例如邻苯二甲酸酯类、溴系阻燃剂化合物等)进行加热并对其气体成分进行质量分析的情况下，利用气化温度根据每个测定对象而不同这一情况，以与气化温度低的邻苯二甲酸类对应的温度进行加热并进行质量分析，然后与气化温度高的溴系阻燃剂化合物对应地升温而依次进行质量分析。并且，也开发了对通过热重量测定而产生的气体进行质量分析的技术(专利文献1)。在该技术中，为了提高热重量测定的分辨率，使加热温度的变化速度根据试样的重量变化速度而连续地变化。专利文献1：日本特许平7-260663号公报另外，限制对象物质等的质量分析要求短时间内的测定，但通过热重量测定而使气体产生的方法存在加热模式复杂并且测定花费时间的这样的问题。另一方面，如果使加热时间过快，则邻苯二甲酸类和溴系阻燃剂化合物混合地气化，很难将两者分离以进行分析。
技术实现思路
因此，本专利技术是为了解决上述的课题而完成的，其目的在于，提供能够在短时间内对各自的气化温度不同的两个以上的物质进行质量分析的质量分析装置和质量分析方法。为了达成上述的目的，本专利技术的质量分析装置具有加热含有第一物质和在比该第一物质高的温度下气化的第二物质的试样而产生气体成分的加热部，检测通过该加热部而生成的所述气体成分，其特征在于，所述质量分析装置具有：加热控制部，其以第一温度对所述加热部进行加热直至达到第一时间，在超过了所述第一时间时，对所述加热部进行加热直至达到使所述第二物质的气体产生的第二温度，其中，该第一温度和第一时间是预先求出的使所述第一物质的气体产生而不使所述第二物质的气体产生的温度和时间条件；以及分析控制部，其在所述第一温度下，在分配给所述第一物质的第一测定条件下进行质量分析，直至达到所述第一时间，在所述第二温度下，在分配给所述第二物质的第二测定条件下进行质量分析。根据该质量分析装置，预先求取使第一物质的气体产生并且不使第二物质的气体产生的第一温度和第一时间，通过以该第一温度对加热部进行加热直至达到第一时间，能够对不与第二物质混合存在的仅第一物质的气体成分进行质量分析。而且，接着，通过对加热部进行加热直至达到使第二物质的气体产生的第二温度，能够对第一物质的气体排净后的仅第二物质的气体成分进行质量分析。这样，能够按照预先求出的加热模式，在短时间内对各自的气化温度不同的两种以上的物质进行质量分析。并且，当在试样中含有具有第一温度以下的气体产生温度且与第一物质和第二物质不同的杂质的情况下，能够在第一温度下去除该杂质，提高之后的第二物质的测定精度。作为杂质，在试样为树脂的情况下，能够举出作为基质的树脂。也可以是，当在所述第一测定条件下进行所述第一物质的质量分析时，所述分析控制部将直至该第一物质的峰强度成为规定的阈值以下为止的时间定为所述第一时间。例如，由于测定条件变动等，有可能即使超过了预先求出的第一时间，第一物质的气体也没有排净。因此，根据该质量分析装置，在质量分析中的第一物质的峰强度超过阈值的情况下，延长第一时间直至第一物质的峰强度成为阈值以下，因此第一物质的测定精度提高。相反地，如果直至峰强度成为阈值以下为止的时间比第一时间短，则能够实现测定时间的缩短。也可以是，所述第一物质是邻苯二甲酸酯，所述第二物质是溴化物。在本专利技术的质量分析装置的质量分析方法中，该质量分析装置具有加热含有第一物质和在比该第一物质高的温度下气化的第二物质的试样而产生气体成分的加热部，检测通过该加热部而生成的所述气体成分，其特征在于，所述质量分析方法具有如下的步骤：加热控制步骤，以第一温度对所述加热部进行加热直至达到第一时间，在超过了所述第一时间时，对所述加热部进行加热直至达到使所述第二物质的气体产生的第二温度，其中，该第一温度和第一时间是预先求出的使所述第一物质的气体产生而不使所述第二物质的气体产生的温度和时间条件；以及分析控制步骤，在所述第一温度下，在分配给所述第一物质的第一测定条件下进行质量分析，直至达到所述第一时间，在所述第二温度下，在分配给所述第二物质的第二测定条件下进行质量分析。专利技术效果根据本专利技术，能够在短时间内对各自的气化温度不同的两个以上的物质进行质量分析。附图说明图1是示出本专利技术的实施方式的质量分析装置的结构的立体图。图2是示出气体产生部的结构的立体图。图3是示出气体产生部的结构的纵剖视图。图4是示出气体产生部的结构的横剖视图。图5是图4的局部放大图。图6是示出产生质量分析装置进行的气体成分的分析动作的框图。图7是示出加热部的加热模式和分析控制部的动作的时序图的图。标号说明10：加热部(加热炉)；200：质量分析装置；212：加热控制部；219：分析控制部；T1：第一温度；T2：第二温度；t1：第一时间。具体实施方式以下，参照附图对本专利技术的实施方式进行说明。图1是示出本专利技术的实施方式的质量分析装置200的结构的立体图，图2是示出气体产生部100的结构的立体图，图3是示出气体产生部100的结构的沿着轴心O的纵剖视图，图4是示出气体产生部100的结构的沿着轴心O的横剖视图，图5是图4的局部放大图。质量分析装置200具有作为箱体的主体部202、安装在主体部202的正面上的箱型的气体产生部安装部204、对整体进行控制的计算机(控制部)210、以及质量分析计110。计算机210具有进行数据处理的CPU、存储计算机程序和数据的硬盘等存储部215、监视器、以及键盘等输入部等。在气体产生部安装部204的内部收纳有气体产生部100，圆筒状的加热炉(加热部)10、试样架20、冷却部30、使气体分支的分流器40、离子化部50、以及惰性气体流路19f以组件的形式成为一个整体从而得到该气体产生部100。并且，在主体部202的内部收纳有对加热试样而产生的气体成分进行分析的质量分析计110。另外，如图1所示，从气体产生部安装部204的上表面朝向前表面地设置有开口204h，当使试样架20移动到加热炉10外侧的排出位置(后述)时，该试样架20位于开口204h处，因此能够从开口204h将试样从试样架20取出或放到试样架20上。并且，在气体产生部安装部204的前表面上设置有缝204s，通过使从缝204s露出到外部的开闭把手22H左右移动，能够使试样架20向加热炉10的内外移动以设置于上述的排出位置，从而取出或放入试样。另外，例如如果利用由计算机210控制的步进电机等使试样架20在移动轨道204L(后述)上移动，则能够将使试样架20向加热炉10的内外移动的功能自动化。接下来，参照图2～图6对气体产生部100的各部分的结构进行说明。首先，加热炉10以使轴心O为水平的方式安装在气体产生部安装部204的安装板204a上，具有呈以轴心O为中心而开口的大致圆筒状的加热室12、加热块14以及保温套16。在加热室12的外周配置有加热块14，在加热块14的外周配置有保温套16。加热块14由铝构成，通过对沿着轴心O向加热炉10的外部延伸的一对加热电极14a(参照图4)通电而被加热。另外，安装板204a沿与轴心O垂直的方向延伸，分流器40和离子化部50安装于加热炉10。而且，离子化部50被气体产生部安装部204的上下延伸的支柱204b支承。在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种质量分析装置，其具有加热含有第一物质和在比该第一物质高的温度下气化的第二物质的试样而产生气体成分的加热部，检测通过该加热部而生成的所述气体成分，其特征在于，所述质量分析装置具有：加热控制部，其以第一温度对所述加热部进行加热直至达到第一时间，在超过了所述第一时间时，对所述加热部进行加热直至达到使所述第二物质的气体产生的第二温度，其中，该第一温度和第一时间是预先求出的使所述第一物质的气体产生而不使所述第二物质的气体产生的温度和时间条件；以及分析控制部，其在所述第一温度下，在分配给所述第一物质的第一测定条件下进行质量分析，直至达到所述第一时间，在所述第二温度下，在分配给所述第二物质的第二测定条件下进行质量分析。

【技术特征摘要】
2017.07.21 JP 2017-1422361.一种质量分析装置，其具有加热含有第一物质和在比该第一物质高的温度下气化的第二物质的试样而产生气体成分的加热部，检测通过该加热部而生成的所述气体成分，其特征在于，所述质量分析装置具有：加热控制部，其以第一温度对所述加热部进行加热直至达到第一时间，在超过了所述第一时间时，对所述加热部进行加热直至达到使所述第二物质的气体产生的第二温度，其中，该第一温度和第一时间是预先求出的使所述第一物质的气体产生而不使所述第二物质的气体产生的温度和时间条件；以及分析控制部，其在所述第一温度下，在分配给所述第一物质的第一测定条件下进行质量分析，直至达到所述第一时间，在所述第二温度下，在分配给所述第二物质的第二测定条件下进行质量分析。2.根据权利要求1所述的质量分析装置，其中，当在所述第一测定条件下进行了所述第一物质的质量分析时，所述分析控...

【专利技术属性】
技术研发人员：广瀬龙介，秋山秀之，坂井范昭，
申请(专利权)人：日本株式会社日立高新技术科学，
类型：发明
国别省市：日本,JP