一种测试设备用的对接机构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种测试设备用的对接机构，包括推送机构、与推送机构连接的测试机构以及用于压紧待测试产品的压紧机构，压紧机构装设于测试机构上方，测试机构卡设有快换测试插头，推送机构驱动测试机构移动以快换测试插头插接或脱离于待测试产品，本对接机构能够完成快换测试插头与待测试产品的自动对接和自动实现脱离，够有效提高生产效率，压紧机构能够压紧待测试产品，避免待测试产品在对接过程中晃动，推送机构驱动测试机构朝待测试产品移动时，使快换测试插头更为准确地插接于待测试产品对应的插口内，对接精度更高，同时，快换测试插头卡限于测试机构，可快速拆装，以快速更换不同规格或不良的测试插头，通用性更广。

【技术实现步骤摘要】
一种测试设备用的对接机构
本技术涉及自动测试
，特别是涉及一种测试设备用的对接机构。
技术介绍
当前，便携式电子电器在人们的日常生活中使用的越来越广泛，因而为便携式电子电器补充电能的充电器的需求量得到了很大的提高，但是厂家在大量生产充电器时必须保证充电器的品质和使用寿命，因此，需要对半成品的充电器进行检测，通过检测将生产产品中残次品、不良品筛选出来，防止进入下一道的工序，减少下一道工序中的冗余的制造费用，但目前现有的检测过程中，多采用手工送料和取料方式，效率低下。
技术实现思路
为解决上述问题，本技术提供一种测试对接机构，其通用性广，对接精度高。为解决上述目的，本技术采用的如下技术方案。一种测试设备用的对接机构，包括推送机构、与推送机构连接的测试机构以及用于压紧待测试产品的压紧机构，压紧机构装设于测试机构上方，测试机构卡设有快换测试插头，推送机构驱动测试机构移动以快换测试插头插接或脱离于待测试产品。作为本技术的进一步方案，测试机构设有与推送机构连接的安装基板，安装基板设有用于放置快换测试插头的收容槽和用于固定快换测试插头位置的定位锁紧组件，定位锁紧组件卡设有用于固定快换测试插头位置的锁止块。作为本技术的进一步方案，定位锁紧组件还设有第一固定块和第二固定块，第一固定块和第二固定块分别位于收容槽两侧，第一固定块和第二固定块分别与安装基板形成有第一卡位和第二卡位，锁止块两端分别卡入第一卡位和第二卡位，以将快换测试插头固定于收容槽内。作为本技术的进一步方案，第一固定块和第二固定块均设有用于卡住锁止块的弹簧销，锁止块设有与弹簧销对应的凹点，弹簧销可卡入所述凹点内。作为本技术的进一步方案，压紧机构设有用于压紧待测试产品外壳的第一压紧块组件和用于压紧待测试产品插脚的第二压紧块组件。作为本技术的进一步方案，第二压紧块组件设有压块，所述压块连接有缓冲弹簧。作为本技术的进一步方案，第二压紧块组件设有用于压紧待测试产品插脚的第一压块和第二压块。作为本技术的进一步方案，推送机构设有推送气缸和位于测试机构两端的导向导轨。作为本技术的进一步方案，快换测试插头设有与待测试产品插接的插头部和与测试设备连接的插座部。本技术的有益效果如下：采用上述技术方案，本对接机构能够完成快换测试插头与待测试产品的自动对接和自动实现脱离，自动化程度高，无需人工，能够有效提高生产效率，在实际应用过程中，压紧机构能够压紧待测试产品，避免待测试产品在对接过程中晃动，推送机构驱动测试机构朝待测试产品移动时，使快换测试插头更为准确地插接于待测试产品对应的插口内，对接精度更高，同时，快换测试插头卡限于测试机构，可快速拆装，以快速更换不同规格或不良的测试插头，通用性更广。附图说明图1为本技术的立体结构示意图；图2为本技术的另一视角的立体结构示意图；图3为图2的A处结构放大示意图；图4为本技术的推送机构和测试机构的结构示意图；图5为图4的B处结构放大示意图；图6为本技术的锁止块结构示意图。附图标记说明：1.机架、2.推送机构、21.推送气缸、22.导向导轨、3.测试机构、31.快换测试插头、311.插头部、312.插座部、32.安装基板、321.收容槽、33.定位锁紧组件、331.锁止块、3311.凹点、331.第一固定块、332.第一卡位、333.第二固定块、334.第二卡位、335.弹簧销、4.压紧机构、41.第一压紧块组件、42.第二压紧块组件、421.第一压块、422.第二压块、423.缓冲弹簧。具体实施方式下面将结合附图对本技术作进一步的说明。参照图1和图6，一种测试设备用的对接机构，包括机架1、推送机构2、与推送机构2连接的测试机构3以及用于压紧待测试产品的压紧机构4，压紧机构4装设于测试机构3上方，测试机构3卡设有快换测试插头31，推送机构2驱动测试机构3移动以快换测试插头31插接或脱离于待测试产品，采用上述技术方案，本对接机构能够完成快换测试插头31与待测试产品的自动对接和自动实现脱离，自动化程度高，无需人工，能够有效提高生产效率，在实际应用过程中，压紧机构4能够压紧待测试产品，避免待测试产品在对接过程中晃动，推送机构2驱动测试机构3朝待测试产品移动，使快换测试插头31更为准确地插接于待测试产品对应的插口内，对接精度更高，同时，快换测试插头31卡限于测试机构3，可快速拆装，以快速更换不同规格或不良的测试插头，通用性更广。图4和图5示出，本实施例的测试机构3设有与推送机构2连接的安装基板32，安装基板32设有用于放置快换测试插头31的收容槽321和用于固定快换测试插头31位置的定位锁紧组件33，定位锁紧组件33卡设有用于固定快换测试插头31位置的锁止块331，定位锁紧组件33还设有第一固定块331和第二固定块333，第一固定块331和第二固定块333分别位于收容槽321两侧，第一固定块331和第二固定块333分别与安装基板32形成有第一卡位332和第二卡位334，锁止块331两端分别卡入第一卡位332和第二卡位334，以将快换测试插头31固定于收容槽321内，第一固定块331和第二固定块333均设有用于卡住锁止块331的弹簧销335，锁止块331设有与弹簧销335对应的凹点3311，弹簧销335可卡入所述凹点3311内，本实施例的快换测试插头31设有与待测试产品插接的插头部311和与测试设备连接的插座部312，插座部312的高度大于插头部311的高度，在实际应用过程中，先将快换测试插头31放置在收容槽321内，再将锁止块331两端对应卡入第一卡位332和第二卡位334，在锁止块331卡入过程中，安装在固定块的弹簧销335处于压缩状态，到达锁止块331的凹点3311位置时，由于弹簧销335的弹性作用，弹簧销335卡入所述凹点3311内，锁止块331由此锁定在收容槽321的开口位置，此时，锁止块331刚好压接于插座部312外壁，快换测试插头31被锁紧在收容槽321内，需要更换测试插头时，施加一个更大的拉力，可将锁止块331抽出，实现快速更换，本实施例采用弹簧销335为滚珠弹簧销335。图1示出，本实施例的推送机构2设有推送气缸21和位于测试机构3两端的导向导轨22，使用更为稳定。图3示出，本实施例的压紧机构4设有用于压紧待测试产品外壳的第一压紧块组件41和用于压紧待测试产品插脚的第二压紧块组件42，第二压紧块组件42设有用于压紧待测试产品插脚的第一压块421和第二压块422，第一压块421和第二压块422分别压紧待测试产品插脚的根部和端部，第一压块421和第二压块422均连接有缓冲弹簧423，起到缓冲作用，避免压紧过程中，压坏待测试产品。图1示出，本实施例设有四个对接工位，数量可根据实际需要进行设计，本实施例应用在测试设备时，该测试设备还设有用于放置产品的治具、用于传送治具的输送机构以及用于将治具顶升至本对接机构的测试插头的高度位置的顶升机构，顶升机构顶升治具至预设高度，压紧机构能够压紧待测试产品，以进行对接动作。以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试设备用的对接机构，其特征在于，包括推送机构、与推送机构连接的测试机构以及用于压紧待测试产品的压紧机构，压紧机构装设于测试机构上方，测试机构卡设有快换测试插头，推送机构驱动测试机构移动以快换测试插头插接或脱离于待测试产品。

【技术特征摘要】
1.一种测试设备用的对接机构，其特征在于，包括推送机构、与推送机构连接的测试机构以及用于压紧待测试产品的压紧机构，压紧机构装设于测试机构上方，测试机构卡设有快换测试插头，推送机构驱动测试机构移动以快换测试插头插接或脱离于待测试产品。2.根据权利要求1所述的一种测试设备用的对接机构，其特征在于，测试机构设有与推送机构连接的安装基板，安装基板设有用于放置快换测试插头的收容槽和用于固定快换测试插头位置的定位锁紧组件，定位锁紧组件卡设有用于固定快换测试插头位置的锁止块。3.根据权利要求2所述的一种测试设备用的对接机构，其特征在于，定位锁紧组件还设有第一固定块和第二固定块，第一固定块和第二固定块分别位于收容槽两侧，第一固定块和第二固定块分别与安装基板形成有第一卡位和第二卡位，锁止块两端分别卡入第一卡位和第二卡位，以将快换测试插头固定于收容槽内。4.根据权利要求3所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：王海勇，
申请(专利权)人：东莞市冠佳电子设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44