一种对焦方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种对焦方法、装置、电子设备及介质，该方法包括：以目标图为参考图像，对测试摄像模组中位于初始位置的传感器和透镜进行对焦，并在对焦前和对焦后分别获取目标图在传感器上形成的对焦前图像和对焦后图像，其中，目标图上设置有参考图形；获取参考图形在对焦前图像上的第一尺寸和在对焦后图像上的第二尺寸，并根据第一尺寸和第二尺寸确定校准参数；根据校准参数，以目标图为参考图像，对目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜进行对焦。本发明专利技术提供的方法、装置、电子设备及介质用以解决现有技术中摄像模组对焦耗时较长，单位时间的产量较低的计算问题，实现了节约对焦耗时，提高产量的技术效果。

A Focusing Method, Device, Electronic Equipment and Media

The present invention discloses a focusing method, device, electronic equipment and medium. The method includes: focusing the sensor and lens at the initial position in the test camera module with the target image as the reference image, and acquiring the pre-focusing image and post-focusing image formed by the target image on the sensor respectively before and after focusing, in which the reference image is set on the target image; The first size of the reference image on the pre-focusing image and the second size on the post-focusing image are obtained, and the calibration parameters are determined according to the first size and the second size. According to the calibration parameters, the sensor and lens located at the initial position in the target camera module are focused with the target image as the reference image. The method, device, electronic equipment and medium provided by the invention are used to solve the calculation problem of long focusing time and low output per unit time of the camera module in the prior art, thus realizing the technical effect of saving focusing time and improving output.

【技术实现步骤摘要】
一种对焦方法、装置、电子设备及介质
本专利技术涉及摄像装置
，尤其涉及一种对焦方法、装置、电子设备及介质。
技术介绍
摄像模组的装配过程中需要进行主动对准(ActiveAlignment，AA)，即对传感器组件和透镜组件的中心线进行对准并对焦。现有的AA过程为：固定透镜组件，将安装有传感器组件的电路板安放于初始位置，再缓慢移动该电路板，每移动一个距离，对准机台抓取该位置处传感器获取的参考图像的分辨率，从而通过持续移动形成离焦曲线(横坐标表示移动距离，纵坐标表示分辨率)，以离焦曲线上分辨率最高的点所处的位置作为最佳位置，完成对焦。采用现有的AA过程来对焦，由于需要逐步移动传感器或透镜来形成离焦曲线，寻找最佳成像位置，一般耗时较长，单位时间的产量较低。
技术实现思路
鉴于上述问题，提出了本专利技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的对焦方法、装置、电子设备及介质。第一方面，提供一种对焦方法，包括：以目标图为参考图像，对测试摄像模组中位于初始位置的传感器和透镜进行对焦，并在对焦前和对焦后分别获取所述目标图在所述传感器上形成的对焦前图像和对焦后图像，其中，所述目标图上设置有参考图形；获取所述参考图形在所述对焦前图像上的第一尺寸和在所述对焦后图像上的第二尺寸，并根据所述第一尺寸和所述第二尺寸确定校准参数；根据所述校准参数，以所述目标图为参考图像，对目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜进行对焦。可选的，所述参考图形为两个标记点，所述第一尺寸为所述两个标记点在所述对焦前图像上的两个成像点之间的距离，所述第二尺寸为所述两个标记点在所述对焦后图像上的两个成像点之间的距离；或者，所述参考图形为标记线段，所述第一尺寸为所述标记线段在所述对焦前图像上的成像的长度，所述第二尺寸为所述标记线段在所述对焦后图像上的成像的长度；或者，所述参考图形为标记圆，所述第一尺寸为所述标记圆在所述对焦前图像上的成像的直径，所述第二尺寸为所述标记圆在所述对焦后图像上的成像的直径。可选的，所述根据所述第一尺寸和所述第二尺寸确定校准参数，包括：计算所述第一尺寸和所述第二尺寸的差值，以所述差值作为所述校准参数；或者，计算所述第一尺寸和所述第二尺寸的比值，以所述比值作为所述校准参数。可选的，根据所述校准参数，以所述目标图为参考图像，对目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜进行对焦，包括：以所述目标图为参考图像，采用目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜获取初始图像；根据所述参考图形在所述初始图像上成像的初始尺寸和所述校准参数，计算出对焦移动距离；基于所述对焦移动距离，调整所述目标摄像模组中的传感器和透镜的相对位置。可选的，所述对目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜进行对焦之后，还包括：采用主动对准技术，调整所述目标摄像模组中的传感器和透镜的相对位置。第二方面，提供一种对焦装置，包括：测试模块，用于以目标图为参考图像，对测试摄像模组中位于初始位置的传感器和透镜进行对焦，并在对焦前和对焦后分别获取所述目标图在所述传感器上形成的对焦前图像和对焦后图像，其中，所述目标图上设置有参考图形；获取模块，用于获取所述参考图形在所述对焦前图像上的第一尺寸和在所述对焦后图像上的第二尺寸，并根据所述第一尺寸和所述第二尺寸确定校准参数；对焦模块，用于根据所述校准参数，以所述目标图为参考图像，对目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜进行对焦。可选的，所述对焦模块还用于：以所述目标图为参考图像，采用目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜获取初始图像；根据所述参考图形在所述初始图像上成像的初始尺寸和所述校准参数，计算出对焦移动距离；基于所述对焦移动距离，调整所述目标摄像模组中的传感器和透镜的相对位置。可选的，所述对焦装置还包括：调整模块，用于采用主动对准技术，调整所述目标摄像模组中的传感器和透镜的相对位置。第三方面，提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：以目标图为参考图像，对测试摄像模组中位于初始位置的传感器和透镜进行对焦，并在对焦前和对焦后分别获取所述目标图在所述传感器上形成的对焦前图像和对焦后图像，其中，所述目标图上设置有参考图形；获取所述参考图形在所述对焦前图像上的第一尺寸和在所述对焦后图像上的第二尺寸，并根据所述第一尺寸和所述第二尺寸确定校准参数；根据所述校准参数，以所述目标图为参考图像，对目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜进行对焦。第四方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现以下步骤：以目标图为参考图像，对测试摄像模组中位于初始位置的传感器和透镜进行对焦，并在对焦前和对焦后分别获取所述目标图在所述传感器上形成的对焦前图像和对焦后图像，其中，所述目标图上设置有参考图形；获取所述参考图形在所述对焦前图像上的第一尺寸和在所述对焦后图像上的第二尺寸，并根据所述第一尺寸和所述第二尺寸确定校准参数；根据所述校准参数，以所述目标图为参考图像，对目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜进行对焦。本专利技术实施例中提供的技术方案，至少具有如下技术效果或优点：本专利技术实施例提供的对焦方法、装置、电子设备及介质，先采用常规对焦手段对测试摄像模组进行对焦来获得校准参数，具体以设有参考图形的目标图为参考图像，获得对焦前后目标图在传感器上的成像，并根据参考图形在对焦前及对焦后图像上的两个尺寸确定校准参数。然后在后续对目标摄像模组进行对焦时，不采用常规的步进式对焦，直接根据校准参数快速的完成目标摄像模组的初步对焦，以节约对焦耗时，提高产量。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1为本专利技术实施例中对焦方法的流程图；图2为本专利技术实施例中对焦方法的示意图；图3为本专利技术实施例中装置的结构示意图；图4为本专利技术实施例中电子设备的结构示意图；图5为本专利技术实施例中存储介质的结构示意图。具体实施方式本专利技术实施例中的技术方案，总体思路如下：本实施例先采用常规对焦手段，以设有参考图形的目标图为参考图像，获得对焦前后目标图在传感器上的成像，并根据参考图形在对焦前及对焦后图像上的两个尺寸确定校准参数。然后在后续对目标摄像模组进行对焦时，直接根据校准参数快速的完成目标摄像模组的初步对焦，以节约对焦耗时，提高产量。下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。实施例一本实施例提供了一种对焦方法，请参考图1，图1为本专利技术实施例中对焦方法的流程图，包括：步骤S101本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种对焦方法，其特征在于，包括：以目标图为参考图像，对测试摄像模组中位于初始位置的传感器和透镜进行对焦，并在对焦前和对焦后分别获取所述目标图在所述传感器上形成的对焦前图像和对焦后图像，其中，所述目标图上设置有参考图形；获取所述参考图形在所述对焦前图像上的第一尺寸和在所述对焦后图像上的第二尺寸，并根据所述第一尺寸和所述第二尺寸确定校准参数；根据所述校准参数，以所述目标图为参考图像，对目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜进行对焦。

【技术特征摘要】
1.一种对焦方法，其特征在于，包括：以目标图为参考图像，对测试摄像模组中位于初始位置的传感器和透镜进行对焦，并在对焦前和对焦后分别获取所述目标图在所述传感器上形成的对焦前图像和对焦后图像，其中，所述目标图上设置有参考图形；获取所述参考图形在所述对焦前图像上的第一尺寸和在所述对焦后图像上的第二尺寸，并根据所述第一尺寸和所述第二尺寸确定校准参数；根据所述校准参数，以所述目标图为参考图像，对目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜进行对焦。2.如权利要求1所述的对焦方法，其特征在于：所述参考图形为两个标记点，所述第一尺寸为所述两个标记点在所述对焦前图像上的两个成像点之间的距离，所述第二尺寸为所述两个标记点在所述对焦后图像上的两个成像点之间的距离；或者，所述参考图形为标记线段，所述第一尺寸为所述标记线段在所述对焦前图像上的成像的长度，所述第二尺寸为所述标记线段在所述对焦后图像上的成像的长度；或者，所述参考图形为标记圆，所述第一尺寸为所述标记圆在所述对焦前图像上的成像的直径，所述第二尺寸为所述标记圆在所述对焦后图像上的成像的直径。3.如权利要求1所述的对焦方法，其特征在于，所述根据所述第一尺寸和所述第二尺寸确定校准参数，包括：计算所述第一尺寸和所述第二尺寸的差值，以所述差值作为所述校准参数；或者，计算所述第一尺寸和所述第二尺寸的比值，以所述比值作为所述校准参数。4.如权利要求1所述的对焦方法，其特征在于，根据所述校准参数，以所述目标图为参考图像，对目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜进行对焦，包括：以所述目标图为参考图像，采用目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜获取初始图像；根据所述参考图形在所述初始图像上成像的初始尺寸和所述校准参数，计算出对焦移动距离；基于所述对焦移动距离，调整所述目标摄像模组中的传感器和透镜的相对位置。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对目标摄像模组中位于所述初始位置的传感器和透镜进行对焦之后，还包括：采用主动对准技术，调整所述目标摄像模组中的传感器和透镜的相对位置。6.一种对焦装置，其特征在于，包括：测试模块，用于以目标图为参考图像，对测试摄像模组中位于初始位置的传感器和透镜...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱才建，王安良，
申请(专利权)人：昆山丘钛微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32