多通道光模块误码率测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种多通道光模块误码率测试系统，包括依次电连接的信号发生模块、可调信号线、处理器模块、待测多通道光模块和误码率测试模块；信号发生模块用于输出第一电信号；可调信号线用于将第一电信号衰减并将衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至处理器模块；处理器模块用于获取CTLE值并写入待测多通道光模块；待测多通道光模块用于根据CTLE值对第二电信号进行补偿后再传输至误码率测试模块；误码率测试模块获取误码率信息并判断误码率信息是否满足预设的合格要求，若满足，则测试合格。本发明专利技术还公开了一种多通道光模块误码率测试方法，本发明专利技术不需要更换输入信号线即可完成误码率测试，提高了测试效率，节省人力物力。

【技术实现步骤摘要】
多通道光模块误码率测试系统及方法
本专利技术涉及电子器件
，尤其涉及多通道光模块误码率测试系统及方法。
技术介绍
光模块是一种用于光电转换的电子器件，光模块的发送端把接收到的电信号转换成光信号，通过光纤传输至光模块的接收端，接收端再把光信号转换成电信号输出。多通道光模块是指光模块的金手指连接多通道电接口(例如四通道电接口、八通道电接口)，多通道光模块可以将多通道电信号转换成多路光信号，通过波分复用器汇聚到一根光纤中传输，再将接收到的光信号转换成多通道的电信号并通过多通道电接口输出。光信号在光纤传输过程中根据光纤长度的不同，会相应存在不同程度的衰减，而光模块的接收端能否将衰减后的光信号补偿至要求的误码范围内后再输出，是衡量光模块性能的重要指标之一，这就需要测试多通道电接口各个通道输出电信号的误码率。现有测试误码率的方法通过更换不同长度的输入信号线，使电信号经过不同长度信号线进行不同的衰减后，再输入下一模块测试，通过不同长度信号线对电信号的衰减来模拟实际应用中不同长度的光纤对光信号的衰减，然而，更换不同长度的信号线现在都是由人工完成，为了测试光模块是否能将不同衰减程度的光信号成功补偿，则需要更换多种不同长度的信号线来多次测试，而对于需要测试各个电接口通道误码率的多通道光模块，测试过程中更换信号线的工作量就更大，浪费人力且测试效率低下，并且测试时需要准备多种不同的信号线，也造成了测试成本的增加。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提出一种多通道光模块误码率测试系统及方法，旨在实现不需要更换输入信号线即可完成误码率测试，提高了测试效率，节省人力物力。为实现上述目的，本专利技术提供一种多通道光模块误码率测试系统，包括长度可调节的可调信号线及依次电连接的信号发生模块、处理器模块、待测多通道光模块和误码率测试模块；其中，所述信号发生模块与所述处理器模块通过所述可调信号线电连接；所述信号发生模块，用于输出第一电信号至所述可调信号线；所述可调信号线，用于将所述第一电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量，并将所述衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至所述处理器模块；所述处理器模块，用于获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块；所述处理器模块还用于输出所述第二电信号至所述待测多通道光模块；所述待测多通道光模块，用于根据所述CTLE值对所述第二电信号进行补偿，将补偿后的第二电信号输出至所述误码率测试模块；所述误码率测试模块，用于根据所述补偿后的第二电信号获取所述待测多通道光模块的误码率信息，并判断所述误码率信息是否满足预设的多通道光模块误码率合格要求，若满足，则测试合格。可选地，所述可调信号线包括第一固定连接头、第二固定连接头及差分信号线；所述差分信号线通过所述第一固定连接头电连接于所述信号发生模块；所述第二固定连接头设有射频探针部，所述射频探针部通过所述第二固定连接头与所述处理器模块电连接；所述射频探针部用于在所述差分信号线的自由端移动，以调节所述第一固定连接头与所述射频探针部之间的所述差分信号线的长度；所述第二固定连接头还连接有用于驱动所述射频探针部的驱动装置。可选地，所述驱动装置包括步进电机。可选地，所述差分信号线远离所述第一固定连接头的一端依次电连接有电磁隔离装置及电阻单元；所述射频探针部于所述第一固定连接头与所述电磁隔离装置之间的所述差分信号线上移动。可选地，所述处理器模块还电连接有示波器装置。可选地，所述信号发生模块包括依次电连接的时钟产生器、抖动产生仪及伪随机信号产生仪，所述伪随机信号产生仪用于输出所述第一电信号至所述可调信号线。本专利技术还提供一种使用如上所述系统的多通道光模块误码率测试方法，所述方法包括如下步骤：基于预设条件，所述信号发生模块输出第一电信号至所述可调信号线；所述可调信号线将所述第一电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量，并将所述衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至所述处理器模块；所述处理器模块获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块；所述处理器模块输出所述第二电信号至所述待测多通道光模块；所述待测多通道光模块根据所述CTLE值对所述第二电信号进行补偿，将补偿后的第二电信号输出至所述误码率测试模块；所述误码率测试模块根据所述补偿后的第二电信号获取误码率信息，并判断所述误码率信息是否满足预设的多通道光模块误码率合格要求，若满足，则测试合格。可选地，所述基于预设条件，所述信号发生模块输出第一电信号至所述可调信号线的步骤之前还包括：根据预设的可调信号线的长度，所述驱动装置驱动所述射频探针部在所述差分信号线的自由端移动至相应位置。可选地，所述处理器模块获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块的步骤包括：所述处理器模块接收所述第二电信号并控制所述第二电信号显示于所述示波器装置；所述处理器模块基于预设信号补偿系数补偿所述第二电信号，并获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的CTLE值；所述处理器模块将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块。可选地，所述基于预设条件，所述信号发生模块输出第一电信号至所述可调信号线的步骤包括：基于预设条件，所述时钟产生器输出时钟信号至所述伪随机信号产生仪；所述抖动产生仪输出预设的抖动参数至所述伪随机信号产生仪；基于所述时钟信号及所述抖动参数，所述伪随机信号产生仪输出第一电信号至所述可调信号线。本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：本专利技术误码率测试系统对多通道光模块进行测试时，不再需要人工多次更换不同长度的输入信号线对信号进行衰减模拟，而只需要根据测试需求调节可调信号线的长度，由此就可以将输入电信号衰减与可调信号线当前长度相应的衰减量后再输出至处理器进行下一步测试流程，从而实现了不用更换不同长度的信号线即可模拟不同光纤长度下光信号的衰减来完成对多通道光模块误码率的测试，大大提高了测试效率，节省了人力物力。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术多通道光模块误码率测试系统一优选实施例结构示意图；图2为本专利技术多通道光模块误码率测试方法一优选实施例流程框图。图标：11、时钟产生器；12、抖动产生仪；13、伪随机信号产生仪；21、第一固定连接头；22、第二固定连接头；23、差分信号线；24、射频探针部；25、步进电机；26、电磁隔离装置；27、电阻单元；30、处理器模块；31、示波器装置；41、发送端；42、接收端；43、金手指；44、多通道电接口；50、误码率测试模块。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，包括长度可调节的可调信号线及依次电连接的信号发生模块、处理器模块、待测多通道光模块和误码率测试模块；其中，所述信号发生模块与所述处理器模块通过所述可调信号线电连接；所述信号发生模块，用于输出第一电信号至所述可调信号线；所述可调信号线，用于将所述第一电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量，并将所述衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至所述处理器模块；所述处理器模块，用于获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的连续线性均衡CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块；所述处理器模块还用于输出所述第二电信号至所述待测多通道光模块；所述待测多通道光模块，用于根据所述CTLE值对所述第二电信号进行补偿，将补偿后的第二电信号输出至所述误码率测试模块；所述误码率测试模块，用于根据所述补偿后的第二电信号获取所述待测多通道光模块的误码率信息，并判断所述误码率信息是否满足预设的多通道光模块误码率合格要求，若满足，则测试合格。

【技术特征摘要】
1.一种多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，包括长度可调节的可调信号线及依次电连接的信号发生模块、处理器模块、待测多通道光模块和误码率测试模块；其中，所述信号发生模块与所述处理器模块通过所述可调信号线电连接；所述信号发生模块，用于输出第一电信号至所述可调信号线；所述可调信号线，用于将所述第一电信号衰减与所述可调信号线当前长度相应的衰减量，并将所述衰减后的第一电信号作为第二电信号传输至所述处理器模块；所述处理器模块，用于获取所述第二电信号基于预设信号补偿系数的连续线性均衡CTLE值，并将所述CTLE值写入所述待测多通道光模块；所述处理器模块还用于输出所述第二电信号至所述待测多通道光模块；所述待测多通道光模块，用于根据所述CTLE值对所述第二电信号进行补偿，将补偿后的第二电信号输出至所述误码率测试模块；所述误码率测试模块，用于根据所述补偿后的第二电信号获取所述待测多通道光模块的误码率信息，并判断所述误码率信息是否满足预设的多通道光模块误码率合格要求，若满足，则测试合格。2.如权利要求1所述的多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，所述可调信号线包括第一固定连接头、第二固定连接头及差分信号线；所述差分信号线通过所述第一固定连接头电连接于所述信号发生模块；所述第二固定连接头设有射频探针部，所述射频探针部通过所述第二固定连接头与所述处理器模块电连接；所述射频探针部用于在所述差分信号线的自由端移动，以调节所述第一固定连接头与所述射频探针部之间的所述差分信号线的长度；所述第二固定连接头还连接有用于驱动所述射频探针部的驱动装置。3.如权利要求2所述的多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，所述驱动装置包括步进电机。4.如权利要求2所述的多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，所述差分信号线远离所述第一固定连接头的一端依次电连接有电磁隔离装置及电阻单元；所述射频探针部于所述第一固定连接头与所述电磁隔离装置之间的所述差分信号线上移动。5.如权利要求2所述的多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，所述处理器模块还电连接有示波器装置。6.如权利要求5所述的多通道光模块误码率测试系统，其特征在于，所述信号发生模块包括依...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜源，姚海军，庄礼杰，
申请(专利权)人：深圳市亚派光电器件有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44