阈值电压侦测电路及侦测方法技术

本发明专利技术提供了一种阈值电压侦测电路，其中，该阈值电压侦测电路包括：第一开关(SW_R)，其一端与待侦测器件的一端连接，第一开关(SW_R)在侦测模式中的预充电时导通；侦测线(Sen)，其一端与第一开关(SW_R)的所述一端连接，用于在第一开关(SW_R)导通时，向待侦测器件写入预充电压；采样电容(Cc)，在侦测线(Sen)的寄生电容(Cp)放电完成时与侦测线(Sen)的所述一端连通，用于采集待侦测器件的阈值电压。上述阈值电压侦测电路由第一开关(SW_R)、侦测线(Sen)以及采样电容(Cc)构成，仅通过对侦测线的控制便可实现阈值电压的侦测，侦测电路简单。

【技术实现步骤摘要】
阈值电压侦测电路及侦测方法
本专利技术涉及显示
，具体涉及一种阈值电压侦测电路及阈值电压侦测方法、而且还涉及亮度补偿电路、亮度补偿方法以及显示面板。
技术介绍
AMOLED(ActiveMatrixOrganicLightEmittingDiode，有机发光二极管)平板显示屏采用有机材料制作发光器件，而且器件流过较大电流。显示屏经过长时间使用，不可避免地造成OLED器件劣化，OLED器件的阈值电压发生变化，发光效率降低，进而使得显示屏亮度下降和长期残像。针对上述不足，可以采用OLED器件阈值电压侦测电路对OLED器件的阈值电压进行侦测，根据侦测后的器件阈值电压对OLED器件进行补偿，避免了OLED器件阈值电压变化造成的显示屏亮度下降和长期残像的问题。现有技术中，通常OLED显示屏应用于消费领域，对OLED的寿命要求不是很高，由于器件漏电、补偿运算复杂等原因，使得侦测OLED器件阈值电压会显著增加成本；故现有技术中通常不对OLED器件的阈值电压进行侦测；但在对OLED器件寿命和残像要求较高的领域(如车载或者工控领域)，需要对OLED器件的阈值电压进行侦测，然而，现有技术中OLED器件的阈值电压侦测电路对OLED器件的阈值电压进行侦测的过程较复杂，控制难度大，亟待解决。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种控制方式简单的OLED阈值电压侦测电路、侦测方法、亮度补偿电路、亮度补偿方法以及显示面板。为此，本专利技术提供如下技术方案：本专利技术第一方面，提供一种阈值电压侦测电路，包括：第一开关，其一端与待侦测器件的一端连接，所述第一开关在侦测模式中的预充电时导通；侦测线，其一端与所述第一开关的所述一端连接，用于在所述第一开关导通时，向所述待侦测器件写入预充电压；采样电容，在所述侦测线的寄生电容放电完成时与所述侦测线的所述一端连通，用于采集所述待侦测器件的阈值电压。可选地，所述侦测线与扫描线或电源线交叠形成所述寄生电容。可选地，所述侦测线的寄生电容用于在所述侦测时段内向所述待侦测器件提供电荷，以使所述电荷流经所述待侦测器件直至所述寄生电容的电压与所述待侦测器件的另一端的电压和所述待侦测器件阈值电压之和相等。可选地，还包括：第二开关，其一端与所述侦测线的所述一端连接，其另一端与所述采样电容连接，用于控制所述采样电容与所述侦测线的连通。可选地，还包括：A/D转换器，与所述采样电容连通，在所述采样电容采样完成时，用于将所述采样电容采集到的所述待侦测器件的阈值电压进行A/D转换。可选地，还包括：第三开关，其一端与所述采样电容连接，其另一端与所述A/D转换器连接，用于控制所述A/D转换器与所述采样电容的连通。可选地，所述待侦测器件为OLED。本专利技术第二方面，提供一种阈值电压侦测方法，包括如下步骤：在侦测模式中的预充电时，通过侦测线向待侦测器件写入预充电压，以使得所述待侦测器件的阳极上的电压为所述预充电压；在所述侦测线与所述待侦测器件断开且所述侦测线的寄生电容的电压等于所述待侦测器件的阴极电压和阈值电压之和时，使采样电容与所述侦测线的一端连通；在所述采样电容电压等于待侦测器件上的电压时，采集所述采样电容上的电压值，将所述采样电容上的电压值与所述待侦测器件的阴极电压作差以获得所述待侦测器件的阈值电压。可选地，采集所述采样电容上的电压值的步骤之后，还包括：在所述采样电容完成采样时，将所述阈值电压进行A/D转换。本专利技术第三方面，提供一种亮度补偿电路，包括：本专利技术第一方面中任一所述的阈值电压侦测电路；控制器，用于根据所述阈值电压侦测电路采集到的阈值电压对待侦测器件进行亮度补偿。本专利技术第四方面，提供一种显示面板，包括如本专利技术第一方面中任一所述的阈值电压侦测电路或者本专利技术第二方面中所述的亮度补偿电路。本专利技术第五方面，提供一种亮度补偿方法，包括：根据本专利技术第二方面中任一所述的阈值电压侦测方法获取待侦测器件的当前阈值电压；根据所述当前阈值电压对待侦测器件进行亮度补偿。可选地，根据所述当前阈值电压对待侦测器件进行亮度补偿，包括：根据所述当前阈值电压确定所述当前阈值电压与初始阈值电压的当前阈值电压变化量；根据所述当前阈值电压变化量在预先建立的阈值电压变化量与发光效率的对应关系中查找与所述当前阈值电压变化量对应的当前发光效率；根据所述当前发光效率对待侦测器件进行亮度补偿。可选地，根据所述当前发光效率对待侦测器件进行亮度补偿，包括：根据所述当前发光效率确定补偿后的像素电流；根据所述补偿后的像素电流对待侦测器件进行亮度补偿。可选地，通过如下公式得到补偿后的像素电流，其中，I为补偿后的像素电流；η0为待侦测器件的初始发光效率；η为待侦测器件的当前发光效率；I0为待侦测器件的初始像素电流。可选地，根据所述补偿后的像素电流对待侦测器件进行亮度补偿，包括：根据所述补偿后的像素电流确定补偿后的数据信号电压值；根据所述补偿后的数据信号电压值确定补偿后的灰阶；根据所述补偿后的灰阶对待侦测器件进行亮度控制。可选地，当待侦测器件为OLED且初始像素电流为I0＝k(VELVDD-VDATA)2时，通过如下公式得到补偿后的数据信号电压值，其中，V′DATA为补偿后的数据信号电压值；VELVDD为AMOLED显示屏电源电压；VDATA为补偿前的数据信号电压。本专利技术技术方案，具有如下优点：1.本专利技术提供的阈值电压侦测电路，包括：第一开关，其一端与待侦测器件的一端连接，所述第一开关在侦测模式中的预充电时导通；侦测线，其一端与所述第一开关的所述一端连接，用于在所述第一开关导通时，向所述待侦测器件写入预充电压；采样电容，在所述侦测线的寄生电容放电完成时与所述侦测线的所述一端连通，用于采集所述待侦测器件的阈值电压。上述阈值电压侦测电路由第一开关、侦测线以及采样电容构成，仅通过对侦测线的控制便可实现阈值电压的侦测，侦测电路简单。2.本专利技术提供的阈值电压侦测电路，所述侦测线与扫描线或电源线交叠形成所述寄生电容。上述阈值电压侦测电路中充分利用寄生电容进行阈值电压侦测，节省元器件，节约生产成本。3.本专利技术提供的阈值电压侦测方法，包括如下步骤：在侦测模式中的预充电时，通过侦测线向待侦测器件写入预充电压，以使得所述待侦测器件的阳极上的电压为所述预充电压；在所述侦测线与所述待侦测器件断开且所述侦测线的寄生电容的电压等于所述待侦测器件的阴极电压和阈值电压之和时，使采样电容与所述侦测线的一端连通；在所述采样电容电压等于待侦测器件上的电压时，采集所述采样电容上的电压值，将所述采样电容上的电压值与所述待侦测器件的阴极电压作差以获得所述待侦测器件的阈值电压。上述侦测方法仅通过侦测线便可侦测到阈值电压，无需数据线或者扫描线的配合，侦测控制简单易操作。4.本专利技术提供的亮度补偿电路，包括：上述所提及的任一项所述的阈值电压侦测电路；控制器，用于根据所述阈值电压侦测电路采集到的阈值电压对待侦测器件进行亮度补偿。上述亮度补偿电路由于采用了上述阈值电压侦测电路，也具有电路结构简单的优点。5.本专利技术提供的亮度补偿方法，包括：根据上述阈值电压侦测方法获取待侦测器件的当前阈值电压；根据所述当前阈值电压对待侦测器件进行亮度补偿。亮度补偿方法由于采用了上述阈值电压侦测方法，仅通过侦测线便可侦测到阈值电压，侦测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阈值电压侦测电路，其特征在于，包括：第一开关(SW_R)，其一端与待侦测器件的一端连接，所述第一开关(SW_R)在侦测模式中的预充电时导通；侦测线(Sen)，其一端与所述第一开关(SW_R)的所述一端连接，用于在所述第一开关(SW_R)导通时，向所述待侦测器件写入预充电压；采样电容(Cc)，在所述侦测线(Sen)的寄生电容(Cp)放电完成时与所述侦测线(Sen)的所述一端连通，用于采集所述待侦测器件的阈值电压。

【技术特征摘要】
1.一种阈值电压侦测电路，其特征在于，包括：第一开关(SW_R)，其一端与待侦测器件的一端连接，所述第一开关(SW_R)在侦测模式中的预充电时导通；侦测线(Sen)，其一端与所述第一开关(SW_R)的所述一端连接，用于在所述第一开关(SW_R)导通时，向所述待侦测器件写入预充电压；采样电容(Cc)，在所述侦测线(Sen)的寄生电容(Cp)放电完成时与所述侦测线(Sen)的所述一端连通，用于采集所述待侦测器件的阈值电压。2.根据权利要求1所述的阈值电压侦测电路，其特征在于，所述侦测线与扫描线或电源线交叠形成所述寄生电容；所述侦测线(Sen)的寄生电容(Cp)用于在侦测阶段内向所述待侦测器件提供电荷，以使所述电荷流经所述待侦测器件直至所述寄生电容(Cp)的电压与所述待侦测器件的另一端的电压和所述待侦测器件阈值电压之和相等。3.根据权利要求1所述的阈值电压侦测电路，其特征在于，还包括：第二开关(SMP)，其一端与所述侦测线(Sen)的所述一端连接，其另一端与所述采样电容(Cc)连接，用于控制所述采样电容(Cc)与所述侦测线(Sen)的连通。4.根据权利要求1所述的阈值电压侦测电路，其特征在于，还包括：A/D转换器，与所述采样电容(Cc)连通，在所述采样电容(Cc)采样完成时，用于将所述采样电容(Cc)采集到的所述待侦测器件的阈值电压进行A/D转换。5.根据权利要求4所...

【专利技术属性】
技术研发人员：解红军，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32