一种断层侧向封闭性定量评价方法技术

本发明专利技术提出一种断层侧向封闭性定量评价方法，属于油气勘探领域，该方法考虑地层压实校正，能够准确评价油气成藏期至今的多个时期断层侧向封闭演化特征。该评价方法包括如下步骤：针对油气成藏期至现今时期之前的每个时间单元，通过去压实校正法对油气成藏期至现今时期之前的每个时间单元的地层进行恢复，分别计算每个时间单元时不同深度单砂层所对应的古泥岩涂抹因子、古泥岩涂抹势和古断层泥比率；计算现今时期对应的现今泥岩涂抹因子、现今泥岩涂抹势和现今断层泥比率；当古时期和现今时期对应的泥岩涂抹因子、泥岩涂抹势和断层泥比率均达到门限要求时，断层侧向封闭；否则，断层曾侧向开启。

【技术实现步骤摘要】
一种断层侧向封闭性定量评价方法
本专利技术属于油气勘探领域，尤其涉及一种断层侧向封闭性定量评价方法。
技术介绍
在断陷盆地中，断层对油气的运移和聚集具有非常重要的控制作用：断层活动时，可作为油气运移的重要输导通道；当断层停止活动后，可作为油气聚集的重要遮挡条件。在油气勘探工作中，确定断层遮挡油气的好与坏，是判断圈闭有效性的基础，也是探井部署成功的一个重要前提。因而，准确评价断层侧向封闭性，有助于分析圈闭的有效封闭面积、位置及圈闭最大封闭油气柱高度，进而帮助正确认识现今油气分布特征，有效的指导勘探。目前，断层侧向封闭性的定量评价方法主要包括排替压力法(吕延防，2016)、泥岩涂抹势CSP(Bouvier，1989)、泥岩涂抹因子SSF(Lindsay，1993)、断层泥比率SGR(Yielding，1997)四种方法。其中，排替压力法需要实验室模拟设备的支撑，成本较高，且对现场取心有较高依赖性，严重制约了在油田勘探中的广泛推广。CSP、SSF和SGR法均是通过计算公式来判断断层面附近形成的泥岩涂抹情况，方法实用简单，是近些年被广泛使用的定量评价断层封闭性的有效方法。然而，CSP、SSF和SGR法仍存在一定的局限和不足。根据定义，这三种算法的计算过程中使用了被错断地层的泥岩厚度和断距大小这两个参数，但这两个参数均是统计的现今地质数据。换言之，利用CSP、SSF和SGR法得到的评价结果仅可以被称之为“现今断层侧向封闭性”，并非油气成藏期的封闭特征。用这三种算法得出的评价结果，常常会出现断层侧向封闭性非常好的圈闭却无油气成藏或仅有油气显示的情况，这可能是由于油气成藏时期或从成藏期到现今的时间段内，断层的古侧向封闭能力弱于封闭油气下限，从而导致油气散失。在这种情况下，原有的CSP、SSF和SGR算法已无法满足评价要求。王超(2017)曾提出利用同一个地层压实校正公式还原古参数，从而改进SGR的算法，但其忽视了断层两盘地层存在差异压实的特征，且不同地层、不同岩性之间也存在差异压实，因此不能用同一公式对断层两盘不同地层的古厚度进行恢复。此外，王超提出的方法中必须依赖于泥质含量测井曲线数据进行计算，而在实际中该测井数据的普及率较低，因此该方法不能得到广泛应用。因而，在考虑地层压实校正的前提下，对原有CSP、SSF和SGR法进行改进，提出一种能够准确评价油气成藏时期至今多个时期的断层侧向封闭性的方法，具有重要意义。
技术实现思路
本专利技术针对现有断层侧向封闭性的定量评价方法存在的上述不足，提出一种断层侧向封闭性定量评价方法，该方法考虑地层压实校正，能够准确评价油气成藏期至今的多个时期断层侧向封闭演化特征。为了达到上述目的，本专利技术采用的技术方案为：一种断层侧向封闭性定量评价方法，包括如下步骤：(一)针对油气成藏期至现今时期之前的每个时间单元，通过去压实校正法，逐一恢复每一时间单元时被错断的每一地层的古厚度和古断距；针对每一地层中不同深度的单砂层，计算每一时间单元时累计涂抹过所述单砂层的泥岩古厚度；(二)分别计算在油气成藏期至现今时期之前每个时间单元时，不同深度单砂层所对应的古泥岩涂抹因子、古泥岩涂抹势和古断层泥比率；针对某一时间单元，深度为h的单砂层的古泥岩涂抹因子、古泥岩涂抹势和古断层泥比率的计算公式分别如下：CSP古(h)＝∑{[Dm古(h)]2÷L古(h)}(2)SGR古(h)＝∑[Dm古(h)]÷L古(h)(3)其中，SSF古(h)为深度为h的单砂层在所述时间单元时对应的古泥岩涂抹因子；CSP古(h)为深度为h的单砂层在所述时间单元时对应的古泥岩涂抹势；SGR古(h)为深度为h的单砂层在所述时间单元时对应的古断层泥比率；L古(h)为所述时间单元时深度为h的单砂层所在地层的古断距；Dm古(h)为所述时间单元时累计涂抹过深度为h的单砂层的泥岩古厚度；(三)根据地质资料，统计被错断的每一地层的现今断距，并针对每一地层中不同深度的单砂层，统计累计涂抹过所述单砂层的现今泥岩厚度，进而计算不同深度单砂层所对应的现今泥岩涂抹因子、现今泥岩涂抹势和现今断层泥比率，深度为h的单砂层的现今泥岩涂抹因子、现今泥岩涂抹势和现今断层泥比率的计算公式分别如下：CSP现今(h)＝∑{[Dm现今(h)]2÷L现今(h)}(5)SGR现今(h)＝∑[Dm现今(h)]÷L现今(h)(6)其中，SSF现今(h)为深度为h的单砂层的现今泥岩涂抹因子；CSP现今(h)为深度为h的单砂层的现今泥岩涂抹势；SGR现今(h)为深度为h的单砂层的现今断层泥比率；L现今(h)为深度为h的单砂层所在地层的现今断距；Dm现今(h)为现今时期时累计涂抹过深度为h的单砂层的现今泥岩厚度；(四)根据断层所在区域的油气显示情况，确定断层侧向封闭时所对应的泥岩涂抹因子上限、泥岩涂抹势下限和断层泥比率下限，从而对断层在不同深度的侧向封闭性进行评价；评价标准为：当某深度范围内的所有单砂层对应的全部古泥岩涂抹因子和现今泥岩涂抹因子均小于泥岩涂抹因子上限，全部古泥岩涂抹势和现今泥岩涂抹势均大于泥岩涂抹势下限，且全部古断层泥比率和现今断层泥比率均大于断层泥比率下限时，断层在该深度范围内均侧向封闭；否则，断层在该深度范围内曾侧向开启。作为优选，步骤(一)中，针对某一时间单元，通过去压实校正法恢复所述时间单元时被错断的每一地层的古厚度和古断距的具体步骤为：(a)根据地质资料，分别拟合断层上盘和下盘中每一地层所对应的孔隙度随深度变化的函数关系式；(b)抛除所述时间单元之后沉积的上覆地层，利用所述孔隙度随深度变化的函数关系式，通过定积分的方式，从所述时间单元时的地表层至深层，逐层计算所述时间单元时被错断的每一地层在断层上盘和下盘中顶界面古深度、底界面古深度及其古厚度，进而计算所述时间单元时被错断的每一地层的古断距；针对某一被错断的地层，计算公式分别如下：H古厚＝H底古-H顶古(9)H'古厚＝H'底古-H'顶古(10)L古＝H'底古-H底古(11)其中，Φ(H)为断层上盘中所述地层的孔隙度随深度变化的函数关系式；H顶现今为断层上盘中所述地层的顶界面现今深度；H底现今为断层上盘中所述地层的底界面现今深度；H顶古为所述时间单元时断层上盘中所述地层的顶界面古深度；H底古为所述时间单元时断层上盘中所述地层的底界面古深度；Φ'(H)为断层下盘中所述地层的孔隙度随深度变化的函数关系式；H'顶现今为断层下盘中所述地层的顶界面现今深度；H'底现今为断层下盘中所述地层的底界面现今深度；H'顶古为所述时间单元时断层下盘中所述地层的顶界面古深度；H'底古为所述时间单元时断层下盘中所述地层的底界面古深度；H古厚为所述时间单元时断层上盘中所述地层在古厚度；H'古厚为所述时间单元时断层下盘中所述地层在古厚度；L古为所述时间单元时所述地层的古断距。作为优选，步骤(一)中，针对深度为h的单砂层，计算某一时间单元时累计涂抹过所述单砂层的泥岩古厚度的具体步骤为：利用所述时间单元时所述单砂层所在地层在断层上盘中的古厚度与其现今厚度的比例关系，将所述时间单元时涂抹过所述单砂层的深度范围换算成对应的现今深度范围，统计在该现今深度范围内的泥岩总厚度Dm(h)，利用公式(12)计算所述时间单元时累计涂抹过所述单砂层的泥岩古厚度Dm古(h)本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种断层侧向封闭性定量评价方法，其特征在于，包括如下步骤：(一)针对油气成藏期至现今时期之前的每个时间单元，通过去压实校正法，逐一恢复每一时间单元时被错断的每一地层的古厚度和古断距；针对每一地层中不同深度的单砂层，计算每一时间单元时累计涂抹过所述单砂层的泥岩古厚度；(二)分别计算在油气成藏期至现今时期之前每个时间单元时，不同深度单砂层所对应的古泥岩涂抹因子、古泥岩涂抹势和古断层泥比率；针对某一时间单元，深度为h的单砂层的古泥岩涂抹因子、古泥岩涂抹势和古断层泥比率的计算公式分别如下：

【技术特征摘要】
1.一种断层侧向封闭性定量评价方法，其特征在于，包括如下步骤：(一)针对油气成藏期至现今时期之前的每个时间单元，通过去压实校正法，逐一恢复每一时间单元时被错断的每一地层的古厚度和古断距；针对每一地层中不同深度的单砂层，计算每一时间单元时累计涂抹过所述单砂层的泥岩古厚度；(二)分别计算在油气成藏期至现今时期之前每个时间单元时，不同深度单砂层所对应的古泥岩涂抹因子、古泥岩涂抹势和古断层泥比率；针对某一时间单元，深度为h的单砂层的古泥岩涂抹因子、古泥岩涂抹势和古断层泥比率的计算公式分别如下：CSP古(h)＝∑{[Dm古(h)]2÷L古(h)}(2)SGR古(h)＝∑[Dm古(h)]÷L古(h)(3)其中，SSF古(h)为深度为h的单砂层在所述时间单元时对应的古泥岩涂抹因子；CSP古(h)为深度为h的单砂层在所述时间单元时对应的古泥岩涂抹势；SGR古(h)为深度为h的单砂层在所述时间单元时对应的古断层泥比率；L古(h)为所述时间单元时深度为h的单砂层所在地层的古断距；Dm古(h)为所述时间单元时累计涂抹过深度为h的单砂层的泥岩古厚度；(三)根据地质资料，统计被错断的每一地层的现今断距，并针对每一地层中不同深度的单砂层，统计累计涂抹过所述单砂层的现今泥岩厚度，进而计算不同深度单砂层所对应的现今泥岩涂抹因子、现今泥岩涂抹势和现今断层泥比率，深度为h的单砂层的现今泥岩涂抹因子、现今泥岩涂抹势和现今断层泥比率的计算公式分别如下：CSP现今(h)＝∑{[Dm现今(h)]2÷L现今(h)}(5)SGR现今(h)＝∑[Dm现今(h)]÷L现今(h)(6)其中，SSF现今(h)为深度为h的单砂层的现今泥岩涂抹因子；CSP现今(h)为深度为h的单砂层的现今泥岩涂抹势；SGR现今(h)为深度为h的单砂层的现今断层泥比率；L现今(h)为深度为h的单砂层所在地层的现今断距；Dm现今(h)为现今时期时累计涂抹过深度为h的单砂层的现今泥岩厚度；(四)根据断层所在区域的油气显示情况，确定断层侧向封闭时所对应的泥岩涂抹因子上限、泥岩涂抹势下限和断层泥比率下限，从而对断层在不同深度的侧向封闭性进行评价；评价标准为：当某深度范围内的所有单砂层对应的全部古泥岩涂抹因子和现今泥岩涂抹因子均小于泥岩涂抹因子上限，全部古泥岩涂抹势和现今泥岩涂抹势均大于泥岩涂抹势下限，且全部古断层泥比率和现今断层...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋有录，赵凯，胡洪瑾，刘华，
申请(专利权)人：中国石油大学华东，
类型：发明
国别省市：山东,37