光学测定装置以及光学测定方法制造方法及图纸

本发明专利技术的光学测定装置包含：主体基座、可移动地结合于所述主体基座的光学基座、固定于所述光学基座的测定光学系统、以及使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动的光学基座移动机构。所述光学基座移动机构使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测定位置与外部测定位置之间进行相对移动。内部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座内的内部测定对象位置的位置。外部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座外的外部测定对象位置的位置。

Optical measuring device and optical measuring method

The optical measuring device of the present invention comprises a main body base, an optical base movably combined with the main body base, a measuring optical system fixed on the optical base, and an optical base moving mechanism for relative movement of the optical base with respect to the main body base. The optical base moving mechanism enables the optical base to move relative to the main base between the internal determination position and the external determination position. The internal determination position refers to the position of the determination object of the measurement optical system located in the position of the internal determination object set in the main body base. The external measuring position refers to the position of the measuring object of the measuring optical system at the position of the external measuring object set outside the main body base.

【技术实现步骤摘要】
光学测定装置以及光学测定方法
本专利技术涉及一种用于执行对测定对象的光学测定的装置以及方法。
技术介绍
日本专利第3533502号公报公开了一种自动化学分析装置，其具备将多个测光单元排列成环状进行保持的转台(turntable)、靠近转台地配置的光源单元、以及靠近相同转台地配置的检测单元。光源单元以及检测单元构成分光测定部。分光测定部对转台所保持的多个测光单元中的一个测光单元执行分光测定。通过转台旋转来更换测定对象的测光单元。由此，能够连续地执行对多个测光单元的测定。
技术实现思路
日本专利第3533502号公报的装置内置有转台，因此，大型且装置设置面积较大、零件个数较多、构成复杂、制造成本高。与其对应地，装置的价格变得较高，因此，不需要对许多测定对象进行连续测定的用户可能会认为不具备转台的构成的装置更理想。因而，装置制造商(maker)要根据转台的有无来准备单独设计的至少两个型号，并分别进行制造以及售卖。但是，对于装置制造商而言，因具备这样的多个型号，除了设计成本会增加，而且还必须准备各自型号的专用零件。另一方面，对于用户而言，在购买了无转台的型号之后，在产生对许多测定对象进行连续测定的需求时，必须重新购买带转台的型号，经济上的负担会增大。同样的课题不仅会在有无转台的情况下产生，在准备与测定对象对应的保持零件等的情况下也会产生。本专利技术的一实施方式提供能够应对用户的各种需求的光学测定装置以及光学测定方法。本专利技术的一实施方式提供一种光学测定装置，其包含：主体基座；光学基座，能够移动地结合于所述主体基座；测定光学系统，固定于所述光学基座；以及光学基座移动机构，使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动。所述光学基座移动机构使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测定位置与外部测定位置之间相对移动。内部测定位置是指基于所述测定光学系统的测定对象位置成为设定在所述主体基座内(更具体而言为光学测定装置的壳体内)的内部测定对象位置的位置。外部测定位置是指基于所述测定光学系统的测定对象位置成为设定在所述主体基座外(更具体而言为光学测定装置的壳体外)的外部测定对象位置的位置。所述测定光学系统也可以构成为：对测定对象位置照射光且检测在所述测定对象位置散射的光。更具体而言，所述测定光学系统也可以包含：光源单元，产生照射至测定对象位置的光；光投射透镜，使所述光源单元的光在测定对象位置聚光；以及检测透镜，供从所述测定对象位置散射的散射光射入。在该情况下，光投射透镜的焦点位置或者其附近为测定对象位置。光学基座相对于主体基座的移动包含平行移动以及旋转移动中的一方或者两方。平行移动的方向包含水平方向分量以及垂直方向分量中的一方或者两方。旋转移动可以是绕沿着包含水平方向分量以及垂直方向分量中的一方或者两方的方向的旋转轴线的旋转。在本专利技术的一实施方式中，还包含被所述主体基座支承并配置有用于保持试样的试样保持器的试样载置台。所述内部测定对象位置与所述试样保持器所保持的试样的位置对应。所述试样保持器也可以构成为保持容纳有试样的试样单元(cell)。在本专利技术的一实施方式中，所述光学测定装置还包含使所述试样载置台相对于所述主体基座进行相对移动的试样载置台移动机构。所述试样载置台移动机构使所述试样载置台相对于所述主体基座在将所述试样保持器所保持的试样配置在所述内部测定对象位置的测定载置台位置与不会阻碍基于所述测定光学系统的所述外部测定对象位置处的测定的退避载置台位置之间进行相对移动。在本专利技术的一实施方式中，所述光学基座移动机构构成为：使所述光学基座沿着所述光学基座相对于所述试样保持器所保持的试样接近/分离的第一方向，在所述内部测定位置与所述外部测定位置之间移动(例如俯视时呈直线移动)。此外，所述试样载置台移动机构构成为：使所述试样载置台沿着与所述第一方向交叉的第二方向，在所述测定载置台位置与所述退避载置台位置之间移动(例如俯视时呈直线移动)。在本专利技术的一实施方式中，所述试样载置台具备用于使所述试样保持器相对于该试样载置台进行拆装的拆装部。优选试样载置台构成为：以能够更换的方式将保持一个试样(例如保持一个试样单元)的第一试样保持器和保持多个试样(例如保持多个试样单元)的第二试样保持器装接于所述试样载置台。在本专利技术的一实施方式中，所述试样保持器构成为：沿着所述第二方向将多个试样保持在所述试样载置台上(例如保持多个试样单元)。所述试样载置台移动机构以在所述内部测定对象位置配置所述多个试样中的任意一个(例如配置多个试样单元中的任意一个)的方式使所述试样载置台移动。在本专利技术的一实施方式中，所述光学测定装置还包含：外部测定基座，构成为能够结合于所述主体基座；以及外部试样保持器，被所述外部测定基座支承。外部试样保持器在所述外部测定基座装配于所述主体基座时以将试样呈现(配置)在所述外部测定对象位置的方式保持该试样。所述外部试样保持器也可以构成为经由容纳有试样的容器或者供试样流通的配管来保持试样。在本专利技术的一实施方式中，所述外部试样保持器构成为保持多个试样。所述光学测定装置还包含使所述外部试样保持器在所述外部测定基座上移动来将所述多个试样中的任意一个呈现(配置)在所述外部测定对象位置的外部试样移动机构。在本专利技术的一实施方式中，所述外部试样保持器构成为保持容纳试样的烧杯或者试管、或者供流体状的试样流通的配管构件。在本专利技术的一实施方式中，所述测定光学系统构成为：向测定对象位置照射光，检测从所述测定对象位置散射的散射光，输出与所检测到的该散射光对应的检测信号(例如光信号或者电信号)。所述光学测定装置还包含基于所述测定光学系统所输出的检测信号，来解析所述试样中所包含的粒子的粒径的粒径解析装置。在本专利技术的一实施方式中，所述粒径解析装置通过动态光散射法来解析粒径。在本专利技术的一实施方式中，提供一种使用具有所述特征的光学测定装置来进行对试样的光学测定的方法。光学测定也可以是基于动态光散射法的粒径的测定。更具体而言，本专利技术的一实施方式提供一种光学测定方法，其使用包含主体基座、能够移动地结合于主体基座的光学基座、以及固定于所述光学基座的测定光学系统的光学测定装置。该方法包含：通过使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动，来将所述测定光学系统的测定对象位置配置在设定于所述主体基座外(更具体而言为光学测定装置的壳体外)的外部测定对象位置的步骤。所述方法包含将试样配置在所述外部测定对象位置的步骤。所述方法包含在所述测定光学系统的测定对象位置配置在所述外部测定对象位置且在所述外部测定对象位置配置有试样的状态下，取得所述测定光学系统的检测信号的步骤。在本专利技术的一实施方式中，通过使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动，能够使所述测定光学系统的测定对象位置在设定于所述主体基座内(更具体而言为光学测定装置的壳体内)的内部测定对象位置与所述外部测定对象位置之间移动。然后，所述光学测定装置包含被所述主体基座支承并配置有用于保持试样的试样保持器的试样载置台。而且，所述光学测定方法包含使所述试样载置台从将所述试样呈现在所述内部测定对象位置的测定载置台位置退避的步骤。此外，在本专利技术的一实施方式中，所述测定光学系统构成为：向测定对象位置照射光，检测从所述测定对象位置散射的散射光，输出与所检测到本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学测定装置，包含：主体基座；光学基座，能够移动地结合于所述主体基座；测定光学系统，固定于所述光学基座；以及光学基座移动机构，使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测定位置与外部测定位置之间进行相对移动，所述内部测定位置是基于所述测定光学系统的测定对象位置成为设定在所述主体基座内的内部测定对象位置的位置，所述外部测定位置是基于所述测定光学系统的测定对象位置成为设定在所述主体基座外的外部测定对象位置的位置。

【技术特征摘要】
2017.07.05 JP 2017-1322061.一种光学测定装置，包含：主体基座；光学基座，能够移动地结合于所述主体基座；测定光学系统，固定于所述光学基座；以及光学基座移动机构，使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测定位置与外部测定位置之间进行相对移动，所述内部测定位置是基于所述测定光学系统的测定对象位置成为设定在所述主体基座内的内部测定对象位置的位置，所述外部测定位置是基于所述测定光学系统的测定对象位置成为设定在所述主体基座外的外部测定对象位置的位置。2.根据权利要求1所述的光学测定装置，其中，还包含：试样载置台，被支承于所述主体基座，配置有用于保持试样的试样保持器，所述内部测定对象位置与所述试样保持器所保持的试样的位置对应。3.根据权利要求2所述的光学测定装置，其中，还包含：试样载置台移动机构，使所述试样载置台相对于所述主体基座在测定载置台位置与退避载置台位置之间进行相对移动，所述测定载置台位置是将所述试样保持器所保持的试样配置于所述内部测定对象位置的位置，所述退避载置台位置是不会阻碍基于所述测定光学系统的所述外部测定对象位置处的测定的位置。4.根据权利要求3所述的光学测定装置，其中，所述光学基座移动机构构成为：使所述光学基座沿着所述光学基座相对于所述试样保持器所保持的试样接近/分离的第一方向，在所述内部测定位置与所述外部测定位置之间移动，所述试样载置台移动机构构成为：使所述试样载置台沿着与所述第一方向交叉的第二方向，在所述测定载置台位置与所述退避载置台位置之间移动。5.根据权利要求4所述的光学测定装置，其中，所述试样保持器构成为：沿着所述第二方向将多个试样保持在所述试样载置台上，所述试样载置台移动机构以将所述多个试样中的任意一个配置在所述内部测定对象位置的方式使所述试样载置台移动。6.根据权利要求1至5中任一项所述的光学测定装置，其中，还包含：外部测定基座，构成为能够结合于所述主体基座；以及外部试样保持器，被所述外部测定基座支承，在所述外部测定基座装配于所述主体基座时，以将试样呈现在所述外部测定对象位置的方式保持该试样。7.根据权利要求6所述的光学测定装置，其中，所述外部试样保持器构成为保持多个试样，所述光学测定装置还包含：...

【专利技术属性】
技术研发人员：泉谷悠介，若山育央，
申请(专利权)人：大塚电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP