一种用于芯片金线检测的真空吸附固定装置制造方法及图纸

技术编号:20108281 阅读:23 留言:0更新日期:2019-01-16 10:15
本实用新型专利技术公开了一种用于芯片金线检测的真空吸附固定装置,包括载板、抽真空组件、载框、胶带,所述载板内部设有抽真空通道,所述载板上开设有吸气孔,所述吸气孔与所述抽真空组件连通,所述载板表面设置有限位槽,所述限位槽中开设有通风孔,所述吸气孔、所述通风孔均与所述抽真空通道的位置相对应且相互连通,所述胶带贴于所述载框上,芯片贴于所述胶带上,整体置于所述限位槽上。本实用新型专利技术的优点是将芯片设于贴有胶带的载框上,芯片固定方便快速,载板的结构设计巧妙,通过对载板内部进行抽真空,使载框稳定地吸附于载板表面,避免检测过程中芯片移动导致检测出错,保证检测的准确率,兼容性强,提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片金线检测的真空吸附固定装置
本技术涉及固定装置,尤其涉及一种真空吸附固定装置。
技术介绍
芯片生产完成后,需要对芯片进行检测,检查是否有金线断线或者重合,需要剔除不良品,保证芯片质量。目前通常人工对芯片进行检测,检测效率低,漏检、错检较多,不适应规模化和自动化生产。芯片金线检测时,首选需要对芯片进行固定,部分芯片较小,不易固定,芯片在检测过程中移动会影响检测的准确性,较难实现批量检测,检测效率低。
技术实现思路
技术目的:针对上述问题,本技术的目的是提供一种芯片金线检测时使用的真空吸附固定装置,批量固定芯片,提高检测的稳定性和效率。技术方案:一种用于芯片金线检测的真空吸附固定装置,包括载板、抽真空组件、载框、胶带,所述载板内部设有抽真空通道,所述载板上开设有吸气孔,所述吸气孔与所述抽真空组件连通,所述载板表面设置有限位槽,所述限位槽中开设有通风孔,所述吸气孔、所述通风孔均与所述抽真空通道的位置相对应且相互连通,所述胶带贴于所述载框上,芯片贴于所述胶带上,整体置于所述限位槽上。优选的,为了加强真空吸附作用力,所述抽真空通道包括横向通道、纵向通道,所述横向通道与所述吸气孔相对应,所述纵向通道开设多个,且均与所述通风孔相对应。优选的,所述横向通道中设有隔断,所述抽真空通道分为两部分,且通过两侧的所述吸气孔分别与所述抽真空组件连通,隔断两侧的限位槽均可放置载框单独使用,相互之间不影响。优选的,所述纵向通道从所述载板一侧开设,并利用螺钉进行密封,载板加工方便,降低生产成本。优选的,为了便于载框的取放,所述载板一侧开设有方形凹槽。具体的,所述抽真空组件包括气管、真空发生器,所述气管两端分别与所述吸气孔、所述真空发生器连通,所述真空发生器另一端通过所述气管连接至空压机。优选的,为了实现自动化控制,所述抽真空组件还包括电磁阀,所述电磁阀设于所述真空发生器与所述空压机之间。具体的,所述抽真空组件还包括一分二气阀,所述一分二气阀设于所述真空发生器与所述电磁阀之间,使气管分为两根支管,同时对载板两侧进行抽真空。有益效果:与现有技术相比,本技术的优点是将芯片设于贴有胶带的载框上,芯片固定方便快速,载板的结构设计巧妙,通过对载板内部进行抽真空,使载框稳定地吸附于载板表面,避免检测过程中芯片移动导致检测出错,保证检测的准确率,提高检测效率,加工方便,成本低,兼容性强,适用范围广。附图说明图1为本技术的结构示意图;图2为载板的结构示意图;图3为载框的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例,进一步阐明本技术,应理解这些实施例仅用于说明本技术而不用于限制本技术的范围,在阅读了本技术之后,本领域技术人员对本技术的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。如图1-2所示,一种用于芯片金线检测的真空吸附固定装置,包括载板1、抽真空组件、载框2、胶带3,抽真空组件包括气管11、真空发生器12、电磁阀13、一分二气阀14。载板1从左右两侧分别开设有横向通道7,横向通道7未贯穿载板1开设,横向通道7中留有隔断9,横向通道7的两端对应设置吸气孔4,吸气孔4与抽真空组件连通。载板1从顶部沿竖直方向平行开设有多条纵向通道8,纵向通道8的顶部利用螺钉进行密封安装。横向通道7和纵向通道8相互贯穿构成抽真空通道。隔断9使左右两侧相对独立,形成两个抽真空通道。载板1的前侧面设置有五个限位槽5,限位槽5中开设有多排通风孔6,通风孔6的位置与纵向通道8相对应。如图3所示,胶带3贴于载框2上,芯片15贴于胶带3上,整体置于限位槽5上,限位槽5中放置贴有芯片15的载框2。为了便于载框2的放入和取出,限位槽5的底部开设有五个方形凹槽10。抽真空组件包括气管11、真空发生器12、电磁阀13、一分二气阀14。气管11两端分别与吸气孔4、真空发生器12连通,真空发生器12另一接口通过气管11汇集至一分二气阀14,一分二气阀14再通过气管11连接至电磁阀13,电磁阀13另一端通过气管11连接至空压机。该装置包括以下几个操作步骤:(1)将多个芯片贴于贴有胶带的载框上,将载框放置于载板前表面的限位槽中。五个限位槽可同时放置五组贴有芯片的载框,也可以单独放置左侧两组载框或右侧三组载框。(2)开启空压机和电磁阀,对载板内部进行抽真空,使载框上的胶带稳定地吸附于载板前表面,再进行后续芯片金线检测。(3)检测完成后,关闭空压机和电磁阀,取下检测完成的芯片载框。该装置使芯片大批量固定于载框的胶带上,载板的结构设计巧妙,通过对载板内部进行抽真空,使载框上的芯片稳定地吸附于载板表面,避免检测过程中芯片移动,保证检测的准确率,提高检测效率,载板加工方便,成本低,该装置兼容性强,适用范围广。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于芯片金线检测的真空吸附固定装置,其特征在于:包括载板(1)、抽真空组件、载框(2)、胶带(3),所述载板(1)内部设有抽真空通道,所述载板(1)上开设有吸气孔(4),所述吸气孔(4)与所述抽真空组件连通,所述载板(1)表面设置有限位槽(5),所述限位槽(5)中开设有通风孔(6),所述吸气孔(4)、所述通风孔(6)均与所述抽真空通道的位置相对应且相互连通,所述胶带(3)贴于所述载框(2)上,芯片贴于所述胶带(3)上,整体置于所述限位槽(5)上。

【技术特征摘要】
1.一种用于芯片金线检测的真空吸附固定装置,其特征在于:包括载板(1)、抽真空组件、载框(2)、胶带(3),所述载板(1)内部设有抽真空通道,所述载板(1)上开设有吸气孔(4),所述吸气孔(4)与所述抽真空组件连通,所述载板(1)表面设置有限位槽(5),所述限位槽(5)中开设有通风孔(6),所述吸气孔(4)、所述通风孔(6)均与所述抽真空通道的位置相对应且相互连通,所述胶带(3)贴于所述载框(2)上,芯片贴于所述胶带(3)上,整体置于所述限位槽(5)上。2.根据权利要求1所述的一种用于芯片金线检测的真空吸附固定装置,其特征在于:所述抽真空通道包括横向通道(7)、纵向通道(8),所述横向通道(7)与所述吸气孔(4)相对应,所述纵向通道(8)开设多个,且均与所述通风孔(6)相对应。3.根据权利要求2所述的一种用于芯片金线检测的真空吸附固定装置,其特征在于:所述横向通道(7)中设有隔断(9),所述抽真空通道分为两部分,且通过两侧的所述吸气孔(4)分别与所述抽真空组件连通。4...

【专利技术属性】
技术研发人员:熊舒华
申请(专利权)人:江苏亿可得电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:江苏,32

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