一种深度专用塞规制造技术

技术编号:20106077 阅读:40 留言:0更新日期:2019-01-16 08:44
本实用新型专利技术提供一种深度专用塞规,包括过端、止端、手柄和塞尺,所述过端和止端均为圆型,所述手柄为片状。本实用新型专利技术和普通量具相比有测量精度高且使用简单方便的特点,制造成本低,检测效率高,适合与大批量工件检测。

【技术实现步骤摘要】
一种深度专用塞规
本技术涉及机加工量具领域,尤其涉及一种深度专用塞规。
技术介绍
现有的深度量具比如深度卡尺和深度千分尺等,使用过程比较复杂,而且对检验人员的技术要求较高。
技术实现思路
本技术目的是克服
技术介绍
不足,测量精度高,且测量效率高,使用简单方便,适用性很强,适合于大批量工件检测。本技术是通过以下技术方案实现:一种深度专用塞规,包括过端、止端、手柄和塞尺,过端和止端均为圆型,手柄为片状,塞尺为薄片状,其厚度尺寸为工件欲测量槽深度尺寸的公差。进一步,所述过端轴向尺寸为工件欲测量槽深度的最小极限尺寸,所述止端轴向为工件欲测量槽深度的最大极限尺寸。进一步,所述止端直径和过端直径均比工件欲测量槽的最小宽度尺寸小。本技术的优点在于测量精度高,使用简单快捷,测量效率高,适应性很强,适合于大批量工件检测。附图说明图1是本技术的结构示意图;图2是图1俯视图;图3为塞尺结构示意图。图中:1-过端;2-手柄;3-止端;4-塞尺具体实施方式以下结合附图及具体实施例,进一步详细说明本技术。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术,并不是用于限定本技术的保护范围。请参阅图1-图3,一种深度专用塞规,包括过端1、止端3、手柄2和塞尺4,过端1和止端3均为圆型,手柄2为片状,塞尺4为薄片状,其厚度尺寸为工件欲测量槽深度尺寸的公差,过端1轴向尺寸为工件欲测量槽深度的最小极限尺寸,止端3轴向为工件欲测量槽深度的最大极限尺寸,止端3直径和过端1直径均比工件欲测量槽的最小宽度尺寸小。使用时,将过端1插入工件孔内且塞规端面和工件端面没有间隙即可,然后将止端3插入工件孔内且塞规端面和工件端面有间隙,但塞尺4不能塞入即为合格品。以上所述仅为本技术的较佳实施例,不能被认为用于限定本技术,凡在本技术的精神和原则内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本技术的专利涵盖范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种深度专用塞规,包括过端、止端、手柄和塞尺,其特征在于:所述过端和止端均为圆型,所述手柄为片状,所述塞尺为薄片状,其厚度尺寸为工件欲测量槽深度尺寸的公差。

【技术特征摘要】
1.一种深度专用塞规,包括过端、止端、手柄和塞尺,其特征在于:所述过端和止端均为圆型,所述手柄为片状,所述塞尺为薄片状,其厚度尺寸为工件欲测量槽深度尺寸的公差。2.根据权利要求1所述一种深度专用塞规,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:张秀棉
申请(专利权)人:天津科技大学
类型:新型
国别省市:天津,12

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