The invention discloses a moisture content measuring instrument based on dielectric method and a measuring method for measuring the moisture content of flour or similar substances; the moisture content measuring instrument includes a testing circuit and a display circuit; the testing circuit mainly includes a signal source circuit, a parallel two-bar probe, and a phase difference detecting circuit using AD8302; and the display circuit includes an ARM processor circuit and an LCD display screen. The parallel double-bar probe is placed in the sample of flour or similar substances; the signal is generated by the active crystal oscillator used in the signal source circuit; the signal is propagated through the parallel double-bar probe in the sample of flour or similar substances; the signal generated by the signal source and the signal transmitted by the probe are detected respectively by the phase difference detection circuit; the phase difference is measured; the calibration curve is drawn; and the calibration curve is calculated. The water content corresponding to the VPHS value above. The invention can realize fast non-destructive detection of water content, is economical and efficient, has high application value, and is worth popularizing and applying.
【技术实现步骤摘要】
基于介电法的面粉或类似物质含水量测定仪及测定方法
本专利技术属于农作物含水量测定
,涉及面粉或类似物质含水量测定技术,尤其涉及一种基于介电法的面粉或类似物质含水量测定仪及测定方法。
技术介绍
农作物含水量测定技术,特别是面粉或类似物质含水量测定应用广泛,有很高的应用和经济价值。如面粉含水量测量在面点加工工厂有举足轻重的作用。面粉含水量的不同会影响酵母的活性,含水量少的面团发酵速度要低于水分适当的面团发酵速度,在同等发酵时间里,含水量过少会使产气量不足,需要较长的时间才可以达到正常的蓬发体积。但面团含水量也不应过高,含水量过高将会导致PH值降低、酸度增加、面团弹性不足等一系列问题。在面点生产车间,仅凭面点师傅的经验对面团发酵的含水量进行监控,既不经济也难以实现,并且会造成产品质量良莠不齐。目前面团含水量的管理和监控主要通过各种传感器以及机械的自动调节,这是面粉或类似物质含水量测定仪的主要应用范围。现有水分测定方法繁多,大都通过物理方法进行测量,被测物体中的水分经干燥、烘干或者蒸馏分离,通过被测物体的重量变化确定含水量。采用物理方法测定水分存在耗时长、对物质本身有较大损耗、检测过程复杂、对测量样本要求较高等缺点。新型测量方法大多利用物质特性进行含水量快速测量,初步解决了传统含水量测定方法中耗时长、对物质本身存在损耗的问题。如:利用水分对某一波长的红外光的吸收程度与水分在样品中含量的关系测定水分含量;运用微波衰减原理以及水分对微波衰减的特点来进行水分测量;利用微波红外测温方法快速测量水分等等。但这些方法大多需要专业器材,且器材价格昂贵,不被小型商家所接受。 ...
【技术保护点】
1.一种基于介电法的含水量测定方法,其特征是,待测介质为面粉或类似物质;将平行双棒式探针的发射探针和接收探针插入待测介质中,计算发射探针发出的波形和接收探针收到的波形的相位差,通过相位差和介电常数的关系实现对介质介电常数的测量;根据不同含水量的介质介电常数不同以及介电常数与相位差的关系,将相位差测量电压值与已知介电质含水量数值进行标定,得到标定曲线模型;利用此标定曲线模型求得介质的含水量;;包括如下步骤:1)将平行双棒式探针置于面粉或类似物质样本中;2)通过信号源电路采用有源晶振产生100MHz测试信号;3)该信号经平行双棒式探针在面粉或类似物质样本中传播;4)通过相位差检测电路分别检测步骤2)信号源电路产生的信号和步骤3)经平行双棒式探针传输后的信号两信号间的相位差;所述相位差检测电路采用用于射频RF/中频IF幅度和相位测量的单片集成电路AD8302;5)相位差检测电路针对两信号进行相位差测量,获得相位差检测电压VPHS;以面粉或类似物质作为测量样本,通过式6表示得相位差检测电压VPHS和介电常数的关系以及介电常数与含水量的关系,实现对待测样本含水量的测量:
【技术特征摘要】
1.一种基于介电法的含水量测定方法,其特征是,待测介质为面粉或类似物质;将平行双棒式探针的发射探针和接收探针插入待测介质中,计算发射探针发出的波形和接收探针收到的波形的相位差,通过相位差和介电常数的关系实现对介质介电常数的测量;根据不同含水量的介质介电常数不同以及介电常数与相位差的关系,将相位差测量电压值与已知介电质含水量数值进行标定,得到标定曲线模型;利用此标定曲线模型求得介质的含水量;;包括如下步骤:1)将平行双棒式探针置于面粉或类似物质样本中;2)通过信号源电路采用有源晶振产生100MHz测试信号;3)该信号经平行双棒式探针在面粉或类似物质样本中传播;4)通过相位差检测电路分别检测步骤2)信号源电路产生的信号和步骤3)经平行双棒式探针传输后的信号两信号间的相位差;所述相位差检测电路采用用于射频RF/中频IF幅度和相位测量的单片集成电路AD8302;5)相位差检测电路针对两信号进行相位差测量,获得相位差检测电压VPHS;以面粉或类似物质作为测量样本,通过式6表示得相位差检测电压VPHS和介电常数的关系以及介电常数与含水量的关系,实现对待测样本含水量的测量:其中:f=100MHz,c为光速,ε是面粉的介电常数,s为固定的传播距离,VΦ为斜率,VPHS为相位比较输出;6)根据介质的介电常数与测量相位差的关系,将电压值VPHS与待测物质进行标定,绘制标定曲线模型;执行如下操作:61)选取多组不同含水量与待测物质相同的物质,执行步骤1)~5)进行多次测定,测得物质的VPHS;采用卤素水分测定仪多次测量,测得物质的确切含水量,即每ml物质中含水的ml数;分别记录;62)将得到的物质的VPHS与物质的确切含水量分别作为x轴和y轴描点拟合,绘制得到标定曲线模型;7)利用步骤6)得到的标定曲线模型,对未知含水量的面粉或类似物质进行含水量测定;具体将待测样本的相位差测量电压VPHS由模拟量转换为数字量,并通过显示电路显示;再计算标定曲线上VPHS值对应的含水量数值,并通过显示电路显示。2.如权利要求1所述基于介电法的含水量测定方法,其特征是,待测介质为面粉;标定得到的标定曲线表示如下:含水量=(6.383*VPHS-4.158*VPHS2+0.9634*VPHS3-3.037)%即可通过测量面粉的VPHS值得到面粉的含水量。3.如权利要求1所述基于介电法的含水...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴静珠,刘茜,王克栋,刘翠玲,余乐,李慧,
申请(专利权)人:北京工商大学,
类型:发明
国别省市:北京,11
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