A defect detection device and method for large-aperture birefringent crystal are described. The device includes 532-nm detection laser, first mirror and frame, 1-m focal cylindrical mirror, second mirror and frame, one-dimensional moving platform for side motor, CCD lens set, sampling CCD, one-dimensional moving platform for front motor, horizontal base of machine tool, large-aperture birefringent crystal, etc. The control part includes a main control computer and a control cabinet. The invention is a convenient and fast detection device for defects in large-aperture birefringent crystals, which can ensure the detection of defects in large-aperture birefringent crystals with full-aperture and multi-depth, avoid the imaging duplication of defects caused by birefringence, and ensure the accuracy of defect detection in crystals. The invention makes in vivo defect detection of large-aperture birefringent crystal convenient, fast, accurate and automatic.
【技术实现步骤摘要】
大口径双折射晶体的体内缺陷探测装置和探测方法
本专利技术涉及光学、晶体材料以及高功率激光器领域,特别是一种大口径双折射晶体的体内缺陷探测装置和探测方法。
技术介绍
在点火装置的高功率激光器的应用中,一般使用430mm×430mm×10mm的大口径双折射晶体。一般生长的晶体中存在包裹体等缺陷,通过缺陷的大小和数目来评估晶体质量的好坏。目前对于小口径双折射晶体的体内缺陷采用普通的探测方式,参见图4,即从双折射晶10的正面引入探测光,在侧面安装采样CCD7和CCD镜头组8,对体内缺陷进行采样图片时,每一个采样点需要手动位移与手动拍图,加上晶体的双折射问题出现重影的现象,并且由于安装平台的空间限制以及正面一维移动平台移动改变采样CCD7焦距深度有限,只能在一定范围内对晶体的部分区域进行体内缺陷探测,而对于大口径双折射晶体体内缺陷的全口径探测是不能实现的。目前市面上也没有全口径评估大口径双折射晶体体内缺陷探测装置和方法。所以才改进了现有的普通探测装置以及探测方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述现有技术的不足,提供一种大口径双折射晶体的体内缺陷探测装置和探测方法,该装置方法能够方便快捷地实现大口径双折射晶体体内缺陷的全口径探测,并具有稳定、精准、快速和自动化的特点。本专利技术的技术解决方案如下:一种大口径双折射晶体的体内缺陷探测装置,包括正面电机一维移动平台、采样CCD、CCD镜头组、机床水平基座、主控电脑、控制柜、探测激光器,其特点在于还包括第一反射镜与镜架、1m焦距柱面镜、第二反射镜与镜架和侧面电机一维移动平台,所述的探测激光器为532nm激光器,所述的 ...
【技术保护点】
1.一种大口径双折射晶体的体内缺陷探测装置,包括正面电机一维移动平台(6)、采样CCD(7)、CCD镜头组(8)、机床水平基座(9)、主控电脑(11)、控制柜(12)、探测激光器,其特征在于还包括第一反射镜与镜架(2)、1m焦距柱面镜(3)、第二反射镜与镜架(5)和侧面电机一维移动平台(4),所述的探测激光器为532nm激光器(1),所述的机床水平基座(9)供所述的大口径双折射晶体(10)放置,在所述的机床水平基座(9)的正面设置所述的光学平台(13),在所述的光学平台(13)上正对所述的大口径双折射晶体(10)的正面设置正面电机一维移动平台(6),在所述的大口径双折射晶体(10)的侧面设置侧面电机一维移动平台(4),在所述的正面电机一维移动平台(6)上设置所述的CCD镜头组(8)和采样CCD(7),所述的CCD镜头组(8)与所述的采样CCD(7)组合成一整体并正对所述的大口径双折射晶体(10)的正面,在所述的侧面电机一维移动平台(4)上设置第二反射镜与镜架(5),在所述的光学平台(13)上设置所述的532nm激光器(1)、第一块反射镜与镜架(2)、1m焦距柱面镜(3),沿所述的532 ...
【技术特征摘要】
1.一种大口径双折射晶体的体内缺陷探测装置,包括正面电机一维移动平台(6)、采样CCD(7)、CCD镜头组(8)、机床水平基座(9)、主控电脑(11)、控制柜(12)、探测激光器,其特征在于还包括第一反射镜与镜架(2)、1m焦距柱面镜(3)、第二反射镜与镜架(5)和侧面电机一维移动平台(4),所述的探测激光器为532nm激光器(1),所述的机床水平基座(9)供所述的大口径双折射晶体(10)放置,在所述的机床水平基座(9)的正面设置所述的光学平台(13),在所述的光学平台(13)上正对所述的大口径双折射晶体(10)的正面设置正面电机一维移动平台(6),在所述的大口径双折射晶体(10)的侧面设置侧面电机一维移动平台(4),在所述的正面电机一维移动平台(6)上设置所述的CCD镜头组(8)和采样CCD(7),所述的CCD镜头组(8)与所述的采样CCD(7)组合成一整体并正对所述的大口径双折射晶体(10)的正面,在所述的侧面电机一维移动平台(4)上设置第二反射镜与镜架(5),在所述的光学平台(13)上设置所述的532nm激光器(1)、第一块反射镜与镜架(2)、1m焦距柱面镜(3),沿所述的532nm激光器(1)的激光输出方向依次是所述的第一反射镜、1m焦距柱面镜(3)、第二反射镜和所述的大口径双折射晶体(10)的侧面,所述的采样CCD(7)的输出端与所述的主控电脑(11)的输入端相连,所述的正面电机一维移动平台(6)与所述的侧面电机一维移动平台(4)的控制端与所述的控制柜(12)的输出端相连,所述的主控电脑(11)的输出端与所述的控制柜(12)的控制端相连,所述的主控电脑(11)与所述机床水平基座(9)的控制端相连。2.利用权利要求1所述的大口径双折射晶体的体内缺陷探测装置进行大口径双折射晶体的体内缺陷的探测方法,其特征在于该方法包括下列步骤:1)先将大口径双折射晶体(10)安装在所述的机床水平基座(9)上;2)调整光路:接通电源后打开所述的532nm激光器(1),并且调节到较小的功率输出微弱的53...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵元安,杨留江,胡国行,邵建达,柯立公,刘晓凤,李大伟,
申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所,
类型:发明
国别省市:上海,31
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