一种芯片引脚检测装置制造方法及图纸

技术编号:20093172 阅读:16 留言:0更新日期:2019-01-15 12:36
本发明专利技术提供一种芯片引脚检测装置,它包括底座(1),其特征在于:在底座(1)内设有芯片固定装置(2),在底座(1)两侧分别设有立板(3),在两个立板(3)之间跨设有横梁(4),在横梁(4)上设有通孔,在通孔内穿设有螺杆(5),在横梁(4)上还设有与螺杆(5)对应配合的旋转螺母(6),在螺杆(5)下端部设有与芯片引脚对应配合的引脚插孔(5b)。本发明专利技术结构简单、操作方便,在对芯片引脚进行弯曲试验时芯片引脚受力均匀等优点。

A Chip Pin Detection Device

The invention provides a chip pin detection device, which comprises a base (1). Its characteristics are as follows: a chip fixing device (2) is arranged in the base (1), a vertical plate (3) is arranged on both sides of the base (1), a cross beam (4) is arranged between the two vertical plates (3), a through hole is arranged on the cross beam (4), a screw (5) is pierced in the through hole, and a cross beam (4) is arranged with a cross beam (4). A rotating nut (6) corresponding to the screw (5) is provided with a pin jack (5b) corresponding to the pin of the chip at the lower end of the screw (5). The invention has the advantages of simple structure, convenient operation, uniform force on the chip pin during bending test, etc.

【技术实现步骤摘要】
一种芯片引脚检测装置
:本专利技术涉及一种芯片检测装置,具体地说就是一种芯片引脚检测装置。
技术介绍
:在对直插微电子器件(包括集成电路、分立器件、电阻、电容等)进行弯曲试验时,受试器件的引脚(引线)或引出端要受到足以使其弯曲的力,在一个方向上弯曲一个角度,这个角度应足以使引线保持15°的永久弯曲,在初始弯曲结束后,引线应恢复到接近原来的位置。而全部引线的弯曲角度相同,使得弯曲后的引脚在同一个平面上而又不会限制引脚的活动。但该项试验一般是实验员手持镊子或夹钳进行操作,弯曲点不得出现在引线根部,以免造成根部损伤。但不同的技术人员所用力的大小、角度等均不相同,无法保证该试验的可靠性、稳定性和可重复性。
技术实现思路
:本专利技术就是为了克服现有技术中的不足,提供一种芯片引脚检测装置。本专利技术提供以下技术方案:一种芯片引脚检测装置,它包括底座,其特征在于:在底座内设有芯片固定装置,在底座两侧分别设有立板,在两个立板之间跨设有横梁,所述横梁两端分别与对应的立板铰接,在横梁上设有通孔,在通孔内穿设有螺杆,在横梁上还设有与螺杆对应配合的旋转螺母,在螺杆下端部设有与芯片引脚对应配合的引脚插孔。在上述技术方案的基础上,还可以有以下进一步的技术方案:在所述的其中一个立板上设有量角器,在所述量角器为透明材料制成,在量角器一侧的横梁上还设有与量角器上刻度对应配合的指示标。在立板上设有一个竖直分布的调节插孔,在调节插孔内设有锁紧螺钉,所述锁紧螺钉的一端插入底座内。所述的芯片固定装置包括在底座设有横向滑轨,在滑轨上设有对应配合的底层滑块,在底层滑块上设有与滑轨对应配合的下锁紧销;在底层滑块上设有纵向滑轨,在纵向滑轨上设有对应配合的上层滑块,在上层滑块一侧穿设有上锁紧销,在上层滑块上设有芯片放置槽,在芯片放置槽的四面槽壁上分别设有一个螺栓,位于芯片放置槽内的螺栓端部均设有与芯片对应配合的压板。专利技术优点:本专利技术结构简单、操作方便,在对芯片引脚进行弯曲试验时芯片引脚受力均匀,在进行芯片引脚弯曲试验时随时查看引脚弯曲的角度,有效的保证了引脚角度均相同,使得试验的具有可靠性、稳定性和可重复性。附图说明:图1是本专利技术的结构示意图;图2是图1的左视图。具体实施方式:如图1和2所示,一种芯片引脚检测装置,它包括一个槽形的底座1,在槽形的底座1内的槽底面上设有芯片固定装置2。所述的芯片固定装置2包括在槽底面上横向设有横向滑轨2a,在滑轨2a上设有对应配合的矩形的底层滑块2b,在底层滑块2b上设有与滑轨2a对应配合的下锁紧销2c。底层滑块2b可以在横向滑轨2a上左右横向移动,并通过下锁紧销固定在合适位置。在锁紧销2c一侧的底层滑块2b的上表面上设有一对纵向滑轨2d,所述纵向滑轨2d的延伸方向与横向滑轨2a的延伸方向相互垂直。在一对纵向滑轨2d上架设有一个对应配合的矩形的上层滑块2e,在上层滑块2e一侧穿设有上锁紧销2f。上层滑块2e可以在纵向滑轨2d上前后移动,并通过上锁紧销固定在合适位置。在上层滑块2e上设有一个矩形的芯片放置槽8,使得在俯视上层滑块2e时其呈现出回字形结构。在芯片放置槽8的四面槽壁上分别穿设有一个螺栓8a,且位于芯片放置槽8内的螺栓8a端部上均设有与芯片9对应配合的压板8b。当待检测的芯片9放入芯片放置槽8,使得芯片9的引脚9a向上伸出芯片放置槽8,而后通过旋转螺栓使得压板8b从四个方向压紧并固定住芯片9。在底座1两侧分别设有一个立板3,在立板3上设有一个竖直分布的腰圆形的调节插孔3b,在调节插孔3b内设有锁紧螺钉3a,所述锁紧螺钉3a一端与底座1侧壁的螺孔连接配合,所述锁紧螺钉3c另一端的螺帽部位于立板3外侧并与立板3形成压紧配合。当需要调节立板3的高度时,只需要旋松锁紧螺钉3a,即可拉动立板3沿调节插孔3b上下移动,在移动到合适位置时,再旋紧锁紧螺钉3a即可锁死立板3。在立板3一侧的底座1上设有一组竖直分布的刻度线1a,在立板3上设有与刻度线1a对应配合的标线3c。在两个立板3之间跨设有一个门型的横梁4,所述横梁4两端分别与对应的立板3铰接。在横梁4的中部上设有竖直分布的通孔4a,在通孔4a内穿设有螺杆5,在通孔4a上端的横梁4上还设有与螺杆5对应配合的旋转螺母6。在螺杆5下端部设有与芯片引脚对应配合的引脚插孔5b,所述的引脚插孔6与螺杆5同轴分布。在螺杆5上端部设有球头5a。在所述的其中一个立板3上设有量角器7,在所述量角器7的为透明材料制成,在量角器7一侧的横梁4上还设有与量角器7上刻度对应配合的指示标4b。工作过程:第一步:将待检测的芯片放入芯片放置槽内使其引脚向上伸出芯片放置槽,而后旋转螺栓压紧固定住芯片。第二步:正向转动旋转螺母,使得螺杆下端下降到横梁与立板铰接点的同一水平面。第三步:先调整下层滑块横向上的左右位置,再调整上层滑块纵向的前后位置,使得芯片中的一个引脚与螺杆同轴。第四步:通过锁紧螺钉调整立板的高度,使得螺杆下降,芯片9的引脚9a插入引脚插孔内一段距离,而后旋紧锁紧螺钉固定立板,并记录立板的高度数值。第五步:手持螺杆上端的球头向下搬动螺杆,使得横梁开始转动,直至指示标指示到量角器上试验所要求的角度,而后反向转动旋转螺母使得引脚从引脚插孔内脱出。即可完成了芯片其中一根引脚的弯曲试验。而后整个装置复位到第二步,并使用第四步和第五步中角度数据和立板的高度数据,反复进行第三到第五步从而完成所有引脚的弯曲试验,从而可以保证所有引脚的弯曲点在同一水平面上,且弯曲角度一致。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片引脚检测装置,它包括底座(1),其特征在于:在底座(1)内设有芯片固定装置(2),在底座(1)两侧分别设有立板(3),在两个立板(3)之间跨设有横梁(4),所述横梁(4)两端分别与对应的立板(3)铰接,在横梁(4)上设有通孔,在通孔内穿设有螺杆(5),在横梁(4)上还设有与螺杆(5)对应配合的旋转螺母(6),在螺杆(5)下端部设有与芯片引脚对应配合的引脚插孔(5b)。

【技术特征摘要】
1.一种芯片引脚检测装置,它包括底座(1),其特征在于:在底座(1)内设有芯片固定装置(2),在底座(1)两侧分别设有立板(3),在两个立板(3)之间跨设有横梁(4),所述横梁(4)两端分别与对应的立板(3)铰接,在横梁(4)上设有通孔,在通孔内穿设有螺杆(5),在横梁(4)上还设有与螺杆(5)对应配合的旋转螺母(6),在螺杆(5)下端部设有与芯片引脚对应配合的引脚插孔(5b)。2.根据权利要求1中所述的一种芯片引脚检测装置,其特征在于:在所述的其中一个立板(3)上设有量角器(7),在所述量角器(7)为透明材料制成,在量角器(7)一侧的横梁(4)还设有与量角器(7)上刻度对应配合的指示标(4a)。3.根据权利要求1中所述的一种芯片引脚检测装置,其特征在于:在立板(3...

【专利技术属性】
技术研发人员:潘延龙赵磊王勇孙小进万国士
申请(专利权)人:北方电子研究院安徽有限公司
类型:发明
国别省市:安徽,34

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