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一种利用反应等离子沉积技术生长宽光谱MGZO-TCO薄膜的方法及应用技术

技术编号:20089677 阅读:35 留言:0更新日期:2019-01-15 08:48
一种利用反应等离子沉积技术生长宽光谱MGZO‑TCO薄膜的方法及其应用,属于光电子器件领域。以组分纯度为99.99%的MgO和Ga2O3掺杂的ZnO靶材即ZnO:Ga2O3:MgO陶瓷靶作为靶材原料,溅射气体为Ar气,镀膜过程中引入少量H2或O2,基片偏压0‑150V;衬底温度为室温‑200度,得到结构为glass/MGZO薄膜。器件界面生长缓冲层SnOx,获得复合结构SnOx/MGZO薄膜。本发明专利技术薄膜具有宽光谱透过率,并且维持优良的电学特性和表面结构,应用于晶硅异质结太阳电池器件,可提高晶体硅异质结太阳电池等器件效率。

【技术实现步骤摘要】
一种利用反应等离子沉积技术生长宽光谱MGZO-TCO薄膜的方法及应用
本专利技术属于光电子器件(如太阳电池)领域,特别是一种反应等离子体沉积室温生长宽光谱MGZO透明导电薄膜及太阳电池(如硅基和CIGS等器件)应用。
技术介绍
透明导电氧化物(transparentconductiveoxide-TCO)薄膜材料是太阳电池的重要组成部分,参见文献:A.V.Shah,H.Schade,M.Vanecek,etal.ProgressinPhotovoltaics12(2004)113-142、J.Müller,B.Rech,J.Springer,etal.SolarEnergy77(2004)917-930。当前薄膜电池中应用最为广泛的TCO薄膜是F掺杂SnO2薄膜(SnO2:F)和Sn掺杂In2O3薄膜(In2O3:Sn)。F掺杂SnO2(FTO)薄膜通常是利用常压CVD(APCVD)技术制备,生长温度较高(~500℃),这对于低温沉积和强H等离子体环境中生长的材料而言,将限制其进一步应用,参见文献:S.Major,S.Kumar,M.Bhatnagar,etal.AppliedPhysicsLetters49(1986)394-396。Sn掺杂In2O3(ITO)薄膜由于In的成本较高,并且在强H等离子体环境中性能容易恶化,也限制了其在太阳电池中的广泛应用。相比于其他TCO薄膜材料,ZnO薄膜具有源材料丰富,无毒且相对生长温度低(室温-300℃)和在强H等离子体环境中性能稳定等特点获得了广泛研究和应用。ZnO-TCO薄膜在多种光电器件(如太阳电池,发光二极管等)中扮演着重要的角色。硅基太阳电池如晶硅异质结太阳电池(SHJ)和CIGS太阳电池是具有重要商业应用价值的研究课题,其顶部需要透明导电层需要较好的导电性和良好的透过率,以获得高效率电池。对于太阳电池方面的应用来说,TCO可作为硅异质结太阳电池,硅基薄膜太阳电池、铜铟镓硒薄膜太阳电池和碲化镉薄膜太阳电池的透明电极和反射层。考虑到本征氧化锌较差的导电性能,III族元素例如B,Ga,Al等作为掺杂剂改善本征ZnO的光电属性。在众多掺杂剂中,Ga离子与Zn离子半径相似,从而在掺杂时造成较少的晶格失配,并且替位的Ga离子能够作为施主改善薄膜的电学性能。作为硅异质结太阳电池或CIGS等窗口电极层,TCO应该在约320-1200nm有很高的透过率,对于传统的Ga掺杂ZnO即GZO或者Al掺杂ZnO即AZO来说,很难平衡近红外(NIR)与近紫外(NUV)的透过率。当载流子浓度提高,由于B-M效应造成带隙展宽获得更好的NUV透过率时,由于高的载流子浓度增加载流子的吸收因而导致了NIR透过率的减小。为了能够解决这种矛盾,由于MgO具有较宽的带隙(~7.8eV),考虑引入Mg作为一种掺杂剂。许多研究已经报道通过Mg的引入,ZnO的带隙可以从3.3eV调节增加到7.8eV,参考文献:S.H.Jang,S.F.Chichibu,.Structural,elastic,andpolarizationparametersandbandstructuresofwurtziteZnOandMgO,JournalofAppliedPhysics,2012,112:073503-073506;X.Gu,L.Zhu,Z.Ye,etal.HighlytransparentandconductiveZn0.85Mg0.15O:Althinfilmspreparedbypulsedlaserdeposition,SolarEnergyMaterialsandSolarCells,2008,92:343-347;S.W.Shin,I.Y.Kim,G.H.Lee,etal,DesignandgrowthofquaternaryMgandGacodopedZnOthinfilmswithtransparentconductivecharacteristics,CrystalGrowth&Design,2011,11:4819-4824。这样既展宽了带隙,又不会因为高的载流子减少了近红外边的透过率,这将同时改善近红外和近紫外的透过率。因此,这将有利于改善硅基太阳电池的量子效率。适当的Mg和Ga共同引入ZnO中能够同时改善NUV和NIR透过率并保证优良的电学性能。此外,引入氢气能够改善ZnO薄膜的电学性能,参考文献:Y.R.Park,J.Kim,Y.S.Kim,.EffectofhydrogendopinginZnOthinfilmsbypulsedDCmagnetronsputtering,AppliedSurfaceScience,2009,255:9010-9014.),H能够作为浅施主改善薄膜的特性,参见文献:ChrisG.VandeWalle.HydrogenasaCauseofDopinginZincOxide,PhysicalReviewLetters85(2000)1012-1015。生长ZnO-TCO薄膜方法很多,有磁控溅射技术,金属有机化学其相沉积技术和溶胶-凝胶技术,反应等离子体沉积技术等。其中反应等离子体沉积具有生长温度低,离子轰击小,高沉积速率和大面积镀膜等优点。本专利技术利用反应等离子体沉积技术(RPD)室温生长MgO和Ga2O3掺杂的ZnO-TCO即MGZO薄膜,并获得复合结构SnOx/MGZO,将其应用于硅基太阳电池(如晶硅异质结或CIGS太阳电池),其中ZnO陶瓷靶材(掺杂剂为MgO和Ga2O3)作为原材料,Ar气体作为溅射气体,同时生长过程中可引入H2气体和O2气体以及基片偏压。上述技术特征区别于当前其他镀膜生长获得的ZnO薄膜的方法。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对上述技术分析,提供一种用反应等离子沉积(RPD)技术低温(如室温)生长MgO和Ga2O3掺杂的ZnO-TCO即MGZO薄膜并应用于太阳电池(尤其晶硅异质结太阳电池)。本方法解决常规镀膜技术生长ZnO薄膜光学和电学性能差、衬底温度高和对器件材料损伤等缺点,通过RPD技术生长获得离子能量轰击小,宽光谱高透过率和低电阻率MGZO薄膜;并设计了一种超薄缓冲层SnOx,形成复合结构SnOx/MGZO。该专利技术实现的ZnO-TCO薄膜可应用于太阳电池,有效地提高了器件效率。本专利技术的技术方案:一种利用反应等离子沉积技术生长宽光谱MGZO-TCO薄膜的方法,以组分纯度为99.99%的MgO和Ga2O3掺杂的ZnO靶材即ZnO:Ga2O3:MgO陶瓷靶作为靶材原料,溅射气体为Ar气,镀膜过程中引入少量H2或O2,基片偏压0-150V;在玻璃衬底上生长MGZO薄膜,衬底温度为室温-200度,得到结构为glass/MGZO薄膜。进一步地,设计并生长超薄SnOx缓冲层,得到复合结构SnOx/MGZO薄膜。所述的ZnO陶瓷靶中靶材组分Ga2O3的重量百分比均为0.5-2.0%;靶材组分MgO的重量百分比均为1.0-8.0%。所述的MGZO薄膜厚度为100-2000nm。所述的气体Ar气的气压为1.0-6.0mTorr;过程中引入氢气的流量为0sccm至10sccm;过程中引入氧气的流量为0sccm至10sccm。所述的本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种利用反应等离子沉积技术生长宽光谱MGZO‑TCO薄膜的方法,其特征是:以组分纯度为99.99%的MgO和Ga2O3掺杂的ZnO靶材即ZnO:Ga2O3:MgO陶瓷靶作为靶材原料,溅射气体为Ar气,镀膜过程中引入少量H2或O2,基片偏压0‑150V;在玻璃衬底上生长MGZO薄膜,衬底温度为室温‑200度,得到结构为glass/MGZO薄膜。

【技术特征摘要】
1.一种利用反应等离子沉积技术生长宽光谱MGZO-TCO薄膜的方法,其特征是:以组分纯度为99.99%的MgO和Ga2O3掺杂的ZnO靶材即ZnO:Ga2O3:MgO陶瓷靶作为靶材原料,溅射气体为Ar气,镀膜过程中引入少量H2或O2,基片偏压0-150V;在玻璃衬底上生长MGZO薄膜,衬底温度为室温-200度,得到结构为glass/MGZO薄膜。2.根据权利要求1所述的利用反应等离子沉积技术生长宽光谱MGZO-TCO薄膜的方法,其特征是:结合超薄SnOx缓冲层,得到复合结构SnOx/MGZO薄膜。3.根据权利要求1所述的利用反应等离子沉积技术生长宽光谱MGZO-TCO薄膜的方法,其特征是:所述ZnO陶瓷靶中靶材组分Ga2O3的重量百分比均为0.5-2.0%;ZnO陶瓷靶中靶材组分MgO的重量百分比均为1.0-8.0%。4.根据权利要求1所述的利用反应等离子沉积技术生长宽光谱MGZO-TCO薄膜的方法,其特征是:所述薄膜厚度为100-2000nm。5.根据权利要求1所述的利用反应等离子沉积技术生长宽光谱MGZO-TCO薄膜的方法,其特征是:气体Ar气的气压为1.0-6.0mTorr;过程中引入氢气的流量为0sccm至10sccm;过程中引入氧气的流量为0sccm至10sccm;衬底温度为...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈新亮张晓丹赵颖周忠信李盛喆
申请(专利权)人:南开大学
类型:发明
国别省市:天津,12

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