用于验证图像的光源的方法和电子设备技术

一种电子设备包括：包括像素阵列的图像传感器；以及与所述图像传感器电连接的图像处理器。所述图像处理器被配置为：从所述像素阵列获取对象的基于第一组光路生成的第一图像，并获取所述对象的基于第二组光路生成的第二图像，所述第二组光路与所述第一组光路具有相位差；以像素为单位对所述第一图像中包括的像素值和所述第二图像中包括的像素值进行归一化；以及基于与归一化的所述像素值的变化相关联的参数，验证由所述对象反射的光的光源或从所述对象产生的光的光源。

Methods and electronic devices for verifying light sources of images

An electronic device includes an image sensor including a pixel array and an image processor electrically connected with the image sensor. The image processor is configured to obtain the first image generated by the first set of optical paths of the object from the pixel array and the second image generated by the second set of optical paths of the object, the second set of optical paths having a phase difference from the first set of optical paths, and the pixel values included in the first image and the pixels included in the second image in pixels. Values are normalized; and based on parameters associated with changes in normalized pixel values, sources of light reflected by the object or generated from the object are verified.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于验证图像的光源的方法和电子设备
本公开一般涉及一种用于在拍摄对象的照片时通过使用出现相位差的传感器的图像来验证光源的方法，以及执行该方法的电子设备。
技术介绍
随着IT技术的高度发展，相机已经从传统的胶片相机发展成数码相机。数码相机可以将光转换为电图像信号，并且可以将电图像信号存储为数字数据(图像数据)。与传统的胶片相机不同，数码相机可以考虑到在拍摄时施加到对象的光的色温而执行白平衡以校正到对象的特定中性色。通常，白平衡技术已经跟踪了在所拍摄图像的一些或所有像素中的非彩色区域，并且已经基于该非彩色区域的像素值调整了整个图像的色温。
技术实现思路
技术问题然而，根据一般的白平衡技术，由于在所拍摄的对象的图像中混合了光源的颜色和对象的特定颜色，因此可能无法准确或精确地估计应用白平衡技术所必需的光源的色温和类型。而且，如果使用一般的白平衡技术，由于需要分别考虑到用于验证典型光源的方法和用于验证异常光源的方法而实现算法，所以电子设备(例如，相机)的计算资源已被过度地使用，从而导致大量增加了功率和时间的消耗。问题的解决方案本公开的示例方面至少解决上述问题和/或缺点，并至少提供下述优点。因此，本公开的示例方面要提供一种用于使用所拍摄的图像来验证由对象反射的光的光源或从该对象产生的光的光源的方法以及执行该方法的电子设备。本公开的另一示例方面要提供一种用于基于经验证的光源来执行白平衡的方法以及执行该方法的电子设备。根据本公开的示例方面，一种电子设备包括：图像传感器，所述图像传感器包括像素阵列；以及与所述图像传感器电连接的图像处理器。所述图像处理器被配置为：从所述像素阵列获取对象的基于第一组光路生成的第一图像，并获取所述对象的基于第二组光路生成的第二图像，所述第二组光路与所述第一组光路具有相位差；以像素为单位对所述第一图像中包括的像素值和所述第二图像中包括的像素值进行归一化；以及基于与归一化的所述像素值的变化相关联的参数，验证由所述对象反射的光的光源和/或从所述对象产生的光的光源。根据本公开的另一示例方面，一种方法包括：获取对象的基于第一组光路生成的第一图像，并获取所述对象的基于第二组光路生成的第二图像，所述第二组光路与所述第一组光路具有相位差；以像素为单位对所述第一图像中包括的像素值和所述第二图像中包括的像素值进行归一化；以及基于与归一化的所述像素值的变化相关联的参数，验证由所述对象反射的光的光源或从所述对象产生的光的光源。通过以下结合附图公开了本公开的各种示例实施例的详细描述，本公开的其他方面、优点和显著特征将变得对于本领域技术人员显而易见。附图说明根据以下结合附图的详细描述，本公开的上述和其他方面、特征和附带的优点将更加明显并且易于理解，附图中同样的附图标记表示同样的元件，附图中：图1是示出根据各种示例实施例的网络环境中的示例电子设备的示图；图2是示出根据各种示例实施例的示例电子设备的框图；图3是示出根据各种示例实施例的示例程序模块的框图；图4是示出根据本公开的示例实施例的示例电子设备的框图；图5是示出根据示例实施例的图像传感器的示例配置的图，图6是示出根据各种示例实施例的光电元件的示例布局的图；图7是示出根据示例实施例的用于获取相位差图像的示例方法的图；图8是示出根据示例实施例的示例光源验证方法的流程图；图9是示出根据另一示例实施例的示例光源验证方法的流程图；图10是示出根据示例实施例的对象的图像；图11是示出根据示例实施例的三维地绘制了第一图像组和第二图像组的像素值的示例的图表；图12是示出根据示例实施例的三维地绘制了第一图像组和第二图像组的归一化像素值的示例的图表；图13是示出根据示例实施例的导出K参数的示例的图表；图14是示出白炽灯下方的示例非彩色对象和在拍摄该非彩色对象时的归一化像素值的三维曲线图的图。图15是示出根据示例实施例的通过使用光圈来获取相位差图像的示例方法的示图；图16是示出根据示例实施例的使用OIS驱动器模块获取相位差图像的示例方法的示图；图17是示出根据另一示例实施例的示例光源验证方法的流程图；以及图18是示出根据另一示例实施例的导出K参数的示例的图表。贯穿整个附图，应当注意，同样的附图标记用于描绘相同或相似的元件、特征和结构。具体实施方式可以参照附图描述本公开的各种示例实施例。因此，本领域普通技术人员将认识到，在不脱离本公开的范围和精神的情况下，可以对本文描述的各种实施例进行各种修改、等同形式和/或替换。关于附图的描述，相似的元件可以用相似的附图标记进行标记。在本公开中，本文使用的表述“具有”、“可以具有”、“包括”和“包含”，或“可以包括”和“可以包含”表示存在相应的特征(例如，诸如数字值、功能、操作或组件的元件)但不排除存在其他特征。在本公开中，本文使用的表述“A或B”、“A或/和B中的至少一个”或“A或/和B中的一个或更多个”等可以包括一个或更多个相关所列术语的任何和所有组合。例如，术语“A或B”、“A和B中的至少一个”或“A或B中的至少一个”可以指包括下列所有情况：(1)包括至少一个A；(2)包括至少一个B；或(3)包括至少一个A和至少一个B两者。本文使用的诸如“第一”、“第二”等术语可以指代本公开的各种实施例的各种元件，但是不限制这些元件。例如，“第一用户设备”和“第二用户设备”不管用户设备的顺序或优先级指示了不同的用户设备。例如，在不脱离本公开的范围的情况下，第一元件可以被称为第二元件，并且类似地，第二元件可以被称为第一元件。应当理解，当元件(例如，第一元件)被称为“(可操作地或通信地)与另一元件(例如，第二元件)耦接”/“(可操作地或通信地)耦接到另一元件(例如，第二元件)”或“(可操作地或通信地)连接到另一元件(例如，第二元件)”时，它可以与其他元件直接耦接/耦接到其他元件或连接到其他元件，或者可以存在中间元件(例如，第三元件)。另一方面，当元件(例如，第一元件)被称为“与另一元件(例如，第二元件)直接耦接”/“直接耦接到另一元件(例如，第二元件)”或“直接连接到另一元件(例如，第二元件)”时，应当理解不存在中间元件(例如，第三元件)。根据情况，本文使用的“被配置为”的表述可以用作例如“适合于”、“有能力”、“设计为”、“适应于”、“用做”或“能够”。术语“被配置为”并不仅指硬件中的“专门设计”。相反，表述“被配置为……的设备”可以指代“能够”与另一设备或其他组件一起工作的设备。CPU，例如，“被配置为执行A、B和C的处理器”可以指用于执行相应操作的专用处理器(例如，嵌入式处理器)或通用处理器(例如，中央处理单元(CPU)或应用处理器)，该通用处理器可以通过执行存储在存储器设备中的一个或更多个软件程序来执行相应的操作。本公开中使用的术语被用于描述本公开的各种示例实施例，但不旨在限制本公开的范围。除非另有说明，否则单数形式的术语可以包括复数形式。本文使用的所有术语(包括技术或科学术语)可以具有本领域技术人员通常理解的相同含义。将进一步理解的是，在字典中定义并且通常使用的术语也应当被解释为在相关的现有领域中的惯例，而不是理想化或过于正式的检测，除非本文在本公开的各种示例实施例中明确地如此定义。在一些情况下，即使术语是在本公开中定义的术语，它们也可以不被解释为排本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子设备，所述电子设备包括：图像传感器，所述图像传感器包括像素阵列；以及与所述图像传感器电连接的图像处理器，其中，所述图像处理器被配置为：从所述像素阵列获取对象的基于第一组光路生成的第一图像，并获取所述对象的基于第二组光路生成的第二图像，所述第二组光路与所述第一组光路具有相位差，以像素为单位对所述第一图像中包括的像素值和所述第二图像中包括的像素值进行归一化，以及基于与归一化的所述像素值的变化相关联的参数，验证由所述对象反射的光的光源和/或从所述对象产生的光的光源。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.05.12 KR 10-2016-00579481.一种电子设备，所述电子设备包括：图像传感器，所述图像传感器包括像素阵列；以及与所述图像传感器电连接的图像处理器，其中，所述图像处理器被配置为：从所述像素阵列获取对象的基于第一组光路生成的第一图像，并获取所述对象的基于第二组光路生成的第二图像，所述第二组光路与所述第一组光路具有相位差，以像素为单位对所述第一图像中包括的像素值和所述第二图像中包括的像素值进行归一化，以及基于与归一化的所述像素值的变化相关联的参数，验证由所述对象反射的光的光源和/或从所述对象产生的光的光源。2.根据权利要求1所述的电子设备，其中，所述图像处理器被配置为：基于所述与归一化的所述像素值的变化相关联的参数，验证施加到所述对象的光的光源或从所述对象产生的光的光源的类型和/或色温。3.根据权利要求1所述的电子设备，还包括：存储器，所述存储器被配置为存储数据，在所述数据中指定光源的类型和与所述指定光源中的像素值的变化相关联的参数是彼此相关的，其中，所述图像处理器被配置为：通过将所述与归一化的所述像素值的变化相关联的参数与被存储在所述存储器中的数据进行比较，验证由所述对象反射的所述光的光源的类型和/或从所述对象产生的所述光的光源的类型。4.根据权利要求1所述的电子设备，还包括：存储器，所述存储器被配置为存储数据，在所述数据中指定光源的色温和与所述指定光源中的像素值的变化相关联的参数是彼此相关的，其中，所述图像处理器被配置为：通过将所述与归一化的所述像素值的变化相关联的参数与被存储在所述存储器中的数据进行比较，验证由所述对象反射的所述光的光源的色温和/或从所述对象产生的所述光的光源的色温。5.根据权利要求1所述的电子设备，其中，所述像素阵列包括多个像素，其中所述多个像素中的每个包括：微透镜；第一光电探测器；以及第二光电探测器，其中，所述图像处理器被配置为：使用所述多个像素中的每个像素中包括的所述第一光电探测器来获取所述第一图像，以及使用所述多个像素中的每个像素中包括的所述第二光电探测器来获取所述第二图像。6.根据权利要求1所述的电子设备，还包括：透镜，所述透镜被配置为允许由所述对象反射的光和/或从所述对象产生的光被导向所述像素阵列；以及驱动器模块，所述驱动器模块包括被配置为动态地控制所述透镜或所述像素阵列的布置的...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴宰亨，李正源，朴景台，南贤智，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国,KR