一种用于单IC测试的通用治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于单IC测试的通用治具，包括底座和上压板，所述上压板铰接在所述底座的上端面，还包括多块根据不同IC的形状设置的IC固定板，所述IC固定板上设有与IC形状相适配的固定孔，所述底座上设有通孔，所述多块IC固定板根据IC的形状选择其中与所述IC相匹配的一块可拆卸安装在所述通孔内，所述底座的下端面设有PCB转接板，所述PCB转接板的一端设有多根依照IC上的焊盘排布的测针，所述测针穿过所述固定孔，所述上压板上与所述通孔对应的位置设有与所述通孔形状相适配的压块。本实用新型专利技术适用于多种形状的IC的测试，节省了成本。

【技术实现步骤摘要】
一种用于单IC测试的通用治具
本技术涉及治具
，具体涉及一种用于单IC测试的通用治具。
技术介绍
指纹模组是以IC为主要器件的触控产品，其功能性直接影响到产品良率，在制作过程中为有效确认IC从大板到已喷涂分粒的单粒产品及操作过程中有没损坏以及该过程品质监控，直接影响到SMT后产品的功能良率。市场上IC均为标准大板，切割成单粒的尺寸是依据各手机方案商整机上的需求执行，这使得IC的外形没有固定，如果做测试治具，就需要依同一外形尺寸来制作，严重增加测试成本。
技术实现思路
本技术所要解决的问题是：提供一种用于单IC测试的通用治具,适用于多种形状的IC的测试，节省了成本。本技术为解决上述问题所提供的技术方案为：一种用于单IC测试的通用治具，包括底座和上压板，所述上压板铰接在所述底座的上端面，还包括多块根据不同IC的形状设置的IC固定板，所述IC固定板上设有与IC形状相适配的固定孔，所述底座上设有通孔，所述多块IC固定板根据IC的形状选择其中与所述IC相匹配的一块可拆卸安装在所述通孔内，所述底座的下端面设有PCB转接板，所述PCB转接板的一端设有多根依照IC上的焊盘排布的测针，所述测针穿过所述固定孔，所述上压板上与所述通孔对应的位置设有与所述通孔形状相适配的压块。所述多块根据不同IC的形状设置的IC固定板包括矩形IC固定板、圆形IC固定板和椭圆形IC固定板，所述矩形IC固定板上设有矩形固定孔，所述圆形IC固定板上设有圆形固定孔，所述椭圆形IC固定板上设有椭圆形固定孔。矩形IC固定板能够实行对矩形IC的固定，圆形IC固定板能够实现对圆形IC的固定，椭圆形IC固定板能够实现对椭圆形IC的固定，通过这些IC固定板能够实现三种形状IC的固定。优选的，还包括上压板固定装置，所述上压板固定装置包括施力块、弹簧、旋转轴卡扣和卡块，所述施力块垂直设置在所述卡扣的一端，所述底座上设有安装槽，所述卡扣通过所述旋转轴铰接在所述安装槽内，所述弹簧一端和所述卡扣连接，所述弹簧的另一端和所述安装槽的底部连接，所述卡块设置在所述上压板上与所述卡扣对应的位置上。当需要对上压板进行固定时，用手按住施力块往弹簧压缩的方向施力，然后将上压板与底座贴合，然后停止施力，卡扣在弹簧的作用下与上压板上的卡块扣合从而实现对上班的固定。与现有技术相比，本技术的优点是：本技术通过可拆卸安装在底座上的IC固定板，使得只要更换简单的IC固定板就能实现同一颗IC不论做哪种外形都能测试，从而大大节省了治具成本，同时为生产提供了便捷的测试方式。附图说明此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。图1是本技术的整体结构示意图；图2是本技术图1中A处的放大示意图；图3是本技术的PCB转接板的示意图；图4是本技术上压板固定装置的示意图；图5是本技术几种IC固定板的示意图；附图标注：1、底座，2、卡扣，3、圆形IC固定板，4、压块，5、上压板，6、卡块，7、PCB转接板，8、测针，9、施力块，10、弹簧，11、椭圆形IC固定板，12、矩形IC固定板，13、旋转轴。具体实施方式以下将配合附图及实施例来详细说明本技术的实施方式，藉此对本技术如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。本技术的具体实施例如图1至图5所示,一种用于单IC测试的通用治具，包括底座1和上压板5，上压板5铰接在底座1的上端面，还包括多块根据不同IC的形状设置的IC固定板，IC固定板上设有与IC形状相适配的固定孔，底座1上设有通孔，多块IC固定板根据IC的形状选择其中与IC相匹配的一块可拆卸安装在通孔内，底座1的下端面设有PCB转接板7，PCB转接板7的一端设有多根依照IC上的焊盘排布的测针8，测针8穿过固定孔，上压板5上与通孔对应的位置设有与通孔形状相适配的压块4。其中多块根据不同IC的形状设置的IC固定板包括矩形IC固定板12、圆形IC固定板3和椭圆形IC固定板11，矩形IC固定板12上设有矩形固定孔，圆形IC固定板3上设有圆形固定孔，椭圆形IC固定板11上设有椭圆形固定孔。还包括上压板固定装置，上压板固定装置包括施力块9、弹簧10、旋转轴13、卡扣2和卡块6，施力块9垂直设置在卡扣2的一端，底座1上设有安装槽，卡扣2通过旋转轴13铰接在安装槽内，弹簧10一端和卡扣2连接，弹簧10的另一端和安装槽的底部连接，卡块6设置在上压板5上与卡扣2对应的位置上。本技术的有益效果是：本技术通过可拆卸安装在底座上的IC固定板，使得只要更换简单的IC固定板就能实现同一颗IC不论做哪种外形都能测试，从而大大节省了治具成本，同时为生产提供了便捷的测试方式。以上仅就本技术的最佳实施例作了说明，但不能理解为是对权利要求的限制。本技术不仅局限于以上实施例，其具体结构允许有变化。凡在本技术独立权利要求的保护范围内所作的各种变化均在本技术保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于单IC测试的通用治具，包括底座(1)和上压板(5)，所述上压板(5)铰接在所述底座(1)的上端面，其特征在于：还包括多块根据不同IC的形状设置的IC固定板，所述IC固定板上设有与IC形状相适配的固定孔，所述底座(1)上设有通孔，所述多块IC固定板根据IC的形状选择其中与所述IC相匹配的一块可拆卸安装在所述通孔内，所述底座(1)的下端面设有PCB转接板(7)，所述PCB转接板(7)的一端设有多根依照IC上的焊盘排布的测针(8)，所述测针(8)穿过所述固定孔，所述上压板(5)上与所述通孔对应的位置设有与所述通孔形状相适配的压块(4)。

【技术特征摘要】
1.一种用于单IC测试的通用治具，包括底座(1)和上压板(5)，所述上压板(5)铰接在所述底座(1)的上端面，其特征在于：还包括多块根据不同IC的形状设置的IC固定板，所述IC固定板上设有与IC形状相适配的固定孔，所述底座(1)上设有通孔，所述多块IC固定板根据IC的形状选择其中与所述IC相匹配的一块可拆卸安装在所述通孔内，所述底座(1)的下端面设有PCB转接板(7)，所述PCB转接板(7)的一端设有多根依照IC上的焊盘排布的测针(8)，所述测针(8)穿过所述固定孔，所述上压板(5)上与所述通孔对应的位置设有与所述通孔形状相适配的压块(4)。2.根据权利要求1所述的一种用于单IC测试的通用治具，其特征在于：所述多块根据不同IC的形状设置的IC固定板包括矩形I...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘国安，郑国清，
申请(专利权)人：江西合力泰科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江西,36