深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备制造技术

技术编号:20053801 阅读:6 留言:0更新日期:2019-01-09 08:28
一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,所述深度信息摄像模组包括一激光投射模块,供投射一激光至一被测目标;一深度成像模块,所述深度成像模块配合所述激光投射模块获取该被测目标的深度信息;一电路板,所述激光投射模块和所述深度成像模块可导通地连接于所述电路板;和一激光监控系统,所述激光监控系统集成于所述深度信息摄像模组,所述激光监控系统包括一检测模块和一控制模块,其中,所述检测模块供检测所述激光投射模块的该激光光强信息,所述控制模块可通信地连接于所述检测模块,以根据所述检测模块所提供的该激光光强信息,控制所述激光投射模块的工作模式。

【技术实现步骤摘要】
深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备
本技术涉及一摄像模组领域,尤其涉及一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备。
技术介绍
随着光学测量以及计算机视觉的发展,光学三维测量技术逐渐成熟,并被广泛地应用于诸如场景建模、手势交互、人脸识别等技术中。基于结构光的深度信息摄像模组和基于TOF(TimeofFlight)深度信息摄像模组是其中两个热门的技术方向。相类似地,在工作过程中,不论是结构光深度信息摄像模组还是TOF深度信息摄像模组,其皆需要藉由一激光投射模块出射一激光,以藉由该激光(变形或飞行时间)获得被测目标的深度信息。众所周知,激光是物质受激辐射所发出的光,其具有高亮度、方向性和相干性好等特征,然而,如果控制不当,激光会对人体组织特别是眼和皮肤会造成一定的危害。虽然行业内设有诸如Class1~class4的激光器安全标准,但是,在该激光投射模块实际的工作过程中,该激光投射模块的所出射的激光强度却受诸多因素,例如温度,气候等因素。更具体地说,在使用过程中,温度对该激光投射模块的激光光源和光学元件有较大的影响,因此,当该激光投射模块工作一段时间之后,出射的激光强度很可能地变得超过安全标准,对使用人员造成损害。此外,由于气候原因,水汽凝结在该激光投射模块的光学元件上,导致该光学元件的光学性能发生改变,进而影响到该激光最终出射的强度。换言之,即使该激光投射器模块在设计和出场测试时,该激光投射模块的所出射的激光光强满足激光安全标准,但是在实际的工作使用过程中,由于该激光投射模块的工作性能受诸多因素影响不够稳定,很有可能对人体组织,尤其是人眼和皮肤,造成不可逆的损伤。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中所述深度信息摄像模组包括一激光监控系统,供检测所述深度信息摄像模组的一激光投射模块的工作状态,并根据检测到的信息,调整所述激光投射模块的工作模式,通过这样的方式,确保所述激光投射模块所出射的激光满足安全标准。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中所述激光监控系统供实时地检测所述激光投射模块的工作状态,从而当所述激光投射模块受相关因素影响,例如温度,气候等,而发生波动时,所述激光监控系统能及时作出应答。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中所述深度信息摄像模组的安装和测试过程中,所述激光监控系统,一方面,可为相关人员提供所述激光投射模块的性能参数,另一方面,可防止在安装、测试过程中,对安装人员和检测人员造成不可逆的伤害。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,在本技术中,所述激光监控系统包括一检测模块和一控制模块,所述检测模块被设置用以检测所述激光投射模块的激光光强信息,所述控制模块可通信地连接于所述检测模块,以根据所述检测模块所检测的激光光强信息,控制所述激光投射模块的工作模式。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,所述检测模块邻近地设置于所述激光投射模块的激光投射路径附近,以确保在不影响该激光传播的前提下,可实时检测所述激光投射模块所投射的激光的光强信息。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,在本技术的一实施例中,所述控制模块可被集成于所述深度信息摄像模组,从而一方面,所述深度信息摄像模组具有相对较高的集成度,另一方面,在生产,制备和测试的所述深度信息摄像模组的过程中,所述激光监控系统可实时地对所述激光投射模块进行监控,以避免在生产,制备和测试的过程中对相关人员造成不可逆的损伤。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,在本技术的一实施例中,所述控制模块可被集成于一电子设备,从而当所述结构光深度信息摄像组装于该电子设备时,集成于该电子设备的所述控制模块可配合安装于所述激光投射模块的所述检测模块,实现对所述深度信息摄像模组的激光监控功能。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中所述激光监控系统还包括一检测光路形成模块,供在所述激光投射模块与所述检测模块之间形成一检测光路,为所述检测模块提供一检测激光。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,在本技术的一实施例中,所述检测光路形成模块包括至少一散射粒子,其中所述散射粒子设置于所述激光投射模块的激光投射路径周缘,以使得该激光在所述至少一散射粒子处发生散射,并辐射至所述检测模块。也就是说,在本技术的该实施例中,所述激光监控系统,藉由所述散射粒子,在所述激光投射模块和所述检测模块之间搭建一光路桥梁。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,在本技术的一实施例中,所述检测光路形成模块包括至少一散射粒子,其中所述散射粒子被设置于所述激光投射模块的激光投射路径周缘,以使得当该激光投射至所述散射粒子时,所述散射粒子可吸收该具有特定波段的激光,并向四周重新散射出一检测激光至所述检测模块。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,在本技术的一实施例中,所述散射粒子被安装于所述第二光学元件朝向所述激光投射模块的所述激光出射端的一侧,且所述散射粒子安装于所述第二光学元件的位置对应于该激光中杂光的投射路径,由此,所述散射粒子不仅在所述激光投射模块和所述检测模块之间搭建一光路桥梁,还具有优化杂光的功能。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,在本技术的一实施例中,所述散射粒子在吸收该激光中的杂光或部分杂光之后,其所散射出的用以形成检测光路的激光的波段与由所述激光光源所投射的工作激光处于同一波段。也就是说,在本技术的该优选实施中,所述散射粒子还具有净化该激光的功能。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,在本技术的一实施例中,所述激光监控系统还包括一阻光层,所述阻光层位于所述激光投射模块的激光出射端处,供防止外界激光辐射至所述检测模块,通过这样的方式,提高检测精度。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,在本技术的一实施例中,所述检测模块通过一LDS(LaserDirectStructuring)电路扩展层连接于电连接于所述深度信息摄像模组的一电路板,通过这样的方式,导通并向所述检测模块供电。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,在本技术的一实施例中,所述检测光路形成模块包括一导光道,所述导通道延伸于所述激光投射模块和所述检测模块之间,以藉由所述导光道向所述检测模块提供被测激光。本技术的另一目的在于提供一深度信息摄像模组及其激光投射模块和电子设备,其中,在本技术的一实施例中,所述激光投射模块的一壳体预加工形成至少一安装孔,以藉由所述至少一安装孔,将所述检测模块分别安装于所述激光投射模块内部,通过这样的方式,以使本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一深度信息摄像模组,其特征在于,包括:一激光投射模块,供投射一激光至一被测目标;一深度成像模块,所述深度成像模块配合所述激光投射模块获取该被测目标的深度信息;一电路板,所述激光投射模块和所述深度成像模块可导通地连接于所述电路板;和一激光监控系统,所述激光监控系统集成于所述深度信息摄像模组,所述激光监控系统包括一检测模块和一控制模块,其中,所述检测模块邻近地设置于所述激光投射模块所设定的一激光投射路径,供检测所述激光投射模块的该激光光强信息,其中,所述控制模块可通信地连接于所述检测模块,以根据所述检测模块所提供的该激光光强信息,控制所述激光投射模块的工作模式。

【技术特征摘要】
1.一深度信息摄像模组,其特征在于,包括:一激光投射模块,供投射一激光至一被测目标;一深度成像模块,所述深度成像模块配合所述激光投射模块获取该被测目标的深度信息;一电路板,所述激光投射模块和所述深度成像模块可导通地连接于所述电路板;和一激光监控系统,所述激光监控系统集成于所述深度信息摄像模组,所述激光监控系统包括一检测模块和一控制模块,其中,所述检测模块邻近地设置于所述激光投射模块所设定的一激光投射路径,供检测所述激光投射模块的该激光光强信息,其中,所述控制模块可通信地连接于所述检测模块,以根据所述检测模块所提供的该激光光强信息,控制所述激光投射模块的工作模式。2.如权利要求1所述的深度信息摄像模组,其中,所述激光投射模块包括一激光光源,一光学调制单元和形成一激光出射端的一壳体,其中,所述激光光源和所述光学调制单元安装于所述壳体内,所述激光光源供产生一具有预设波长的一激光,所述光学调制单元对应于所述激光光源,供对由所述激光光源产生的该激光进行调制,其中,所述检测模块邻近地设置于所述激光光源,供检测所述激光光源所产生的激光光强信息。3.如权利要求2所述的深度信息摄像模组,其中,所述激光监控系统还包括一检测光路形成模块,所述检测光路形成模块供在所述激光投射模块和所述检测模块之间形成一检测光路,以提供一检测激光至所述检测模块。4.如权利要求3所述的深度信息摄像模组,其中,所述检测光路形成模块包括至少一散射粒子,所述至少一散射粒子安装于该激光投射路径周缘,以使得当由所述激光光源所产生的该激光抵至所述散射粒子时,该激光被所述至少一散射粒子散射以形成该检测激光至所述检测模块。5.如权利要求3所述的深度信息摄像模组,其中,所述检测光路形成模块包括至少一散射粒子,所述至少一散射粒子安装于该激光投射路径周缘,其中,当由所述激光光源所产生的该激光抵至所述至少一散射粒子时,所述至少一散射粒子吸收该激光,并周向地散射一特定波段的激光以形成该检测激光至所述检测模块。6.如权利要求5所述的深度信息摄像模组,其中,所述光学调制单元包括一第一光学元件、和一第二光学元件,其中所述第二光学元件对应于所述第一光学元件,且所述第二光学元件相间于所述第一光学元件,以藉由所述第一光学元件和所述第二光学元件对由所述激光光源所产生的该激光进行调制,其中,通过所述激光光源,所述第一光学元件,所述第二光学元件和所述激光出射端设定该激光投射路径。7.如权利要求6所述的深度信息摄像模组,其中,所述激光监控系统还包括一阻光层,所述阻光层设置于所述壳体的所述激光出射端,以防止外界杂光抵至所述检测模块而影响检测结果。8.如权利要求7所述的深度信息摄像模组,其中,所述至少一散射粒子位于该激光投射路径周缘,并安装于所述第二光学元件朝向所述激光投射模块的所述激光出射端的一侧,或安装于所述第二光学元件和所述激光出射端之间,或安装于所述第二光学元件朝向所述第一光学元件的一侧,或安装于所述第一光学元件和所述第二光学元件之间,或安装于所述第一光学元件朝向于所述第二光学元件的一侧,或安装于所述第一光学元件朝向所述激光光源的一侧,或安装于所述激光光源和所述第一光学元件之间。9.如权利要求7所述的深度信息摄像模组,其中,所述至少一散射粒子的安装位置对应于该激光中一杂光的投射路径。10.如权利要求3所述的深度信息摄像模组,其中,所述检测光路形成模块包括至少一导光道,所述至少一导光道延伸于所述激光投射模块和所述检测模块之间,通过这样方式,形成该检测激光至所述激光投射模块。11.如权利要求10所述的深度信息摄像模组,其中,所述光学调制单元包括一第一光学元件、和一第二光学元件,其中,所述第二光学元件对应于所述第一光学元件,且所述第二光学元件相间于所述第一光学元件,以藉由所述第一光学元件和所述第二光学元件对由所述激光光源所产生的该激光进行调制,其中通过所述激光光源,所述第一光学元件,所述第二光学元件和所述激光出射端设定该激光投射路径。12.权利要求11所述的深度信息摄像模组,其中,所述导光道包括一采光端,一出光端和延伸于所述采光端和所述出光端之间的一导通通路,其中所述采光端位于所述激光光源和所述第一光学元件之间,所述出光端对应于所述检测模块,该检测激光藉由所述导通通路抵至所述检测模块。13.如权利要求11所述的深度信息摄像模组,其中,所述导光道包括一采光端,一出光端和延伸于所述采光端和所述出光端之间的一导通通路,其中所述采光端位于所述第一光学元件和所述第二光学元件之间,所述出光端对应于所述检测模块,该检测激光藉由所述导通通路抵至所述检测模块。14.如权利要求11所述的深度信息摄像模组,其中,所述导光道包括一采光端,一出光端和延伸于所述采光端和所述出光端之间的一导通通路,其中所述采光端位于所述第二光学元件和所述激光出射端之间,所述出光端对应于所述检测模块,该检测激光藉由所述导通通路抵至所述检测模块...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈振宇陈飞帆潘民杰
申请(专利权)人:宁波舜宇光电信息有限公司
类型:新型
国别省市:浙江,33

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